CN209947444U - 一种用于内存卡的无损检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种用于内存卡的无损检测装置，该无损检测装置包括检测台；检测台设置有检测工位；检测工位设置有用于与内存卡的金手指电连接的触点；检测台还设置有用于防止内存卡沿触点前后窜动的限位组件，以及压持内存卡的压持组件；与以往采取将内存卡插入进行检测的方式相比，本装置检测操作简单且对内存卡的金手指不会造成损伤，有利于提高客户满意度。
Description
技术领域
本实用新型涉及内存卡检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于内存卡的无损检测装置。
背景技术
内存卡，又名SD卡或存储卡，由于具备体积小、数据传输速度快、可热插拔等优良特性，已被广泛地于应用在手机、数码相机、便携式电脑、MP3和其他数码产品上。在售往市场前，多会采用插入式检测方式对内存卡进行检测，判断是否存在质量问题，在插入、拔出内存卡的过程中，会刮损或刮花内存卡上的金手指，导致消费者认为产品为残次品或二手内存卡，降低了用户体验。因此，仍需对检测装置进行进一步改良，以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种用于内存卡的无损检测装置和一种用于内存卡的无损检测方法。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
构造一种用于内存卡的无损检测装置，包括检测台；所述检测台设置有检测工位；所述检测工位设置有用于与内存卡的金手指电连接的触点；其特征在于，所述检测台还设置有用于防止内存卡沿所述触点前后窜动的限位组件，以及压持内存卡的压持组件。
优选的，所述压持组件包括压持内存卡的压片，以及固定在所述检测台上用于吸附所述压片的磁铁；所述压片为铁片。
优选的，所述检测工位设置在所述检测台的边缘；所述压片一端通过合页与所述检测台连接，且另一端伸出所述检测台的边缘。
优选的，所述压片朝向内存卡的一侧固定有用于粘取所述检测工位上内存卡的双面胶。
优选的，所述压片设置有避让用户手指供其取下所述双面胶上内存卡的避让槽；所述检测工位设置有用于容纳内存卡的容纳槽；所述内存卡的侧表面设置有凸块；
所述限位组件包括左限位片和右限位片；所述右限位片设置有与所述凸块对应的限位缺口；所述容纳槽内设置有所述触点，以及分布在所述触点两侧的所述左限位片和所述右限位片。
优选的，所述检测台上设置有呈横向排列的多个所述检测工位；所述无损检测装置还包括横向贯穿多个所述压片的方形卸料顶杆；所述压片设置有分布在所述卸料顶杆上下两侧的两张所述双面胶，以及与所述卸料顶杆对应的倒L形活动槽；所述卸料顶杆通过弹性橡胶条与所述压片连接；
所述活动槽包括纵向的子活动槽A，和横向的子活动槽B；所述子活动槽A与所述压片上设置有所述双面胶的侧表面连通；所述子活动槽B的深度不小于所述卸料顶杆的二分之一高度。
优选的，所述卸料顶杆上套设有用于防止所述压片窜动的轴套；相邻两块所述压片间设置有一所述轴套。
优选的，所述检测台上设置有呈横向排列的多个所述检测工位；所述无损检测装置还包括横向贯穿多个所述压片的I形卸料管；所述压片上设置有分布在所述卸料管上下两侧的两张所述双面胶，以及安装所述卸料管的安装槽；所述卸料管为中空结构，包括管体和固定在所述管体两端的两块挡片；所述挡片开设有与所述管体的内部空间连通的进气口；所述管体上设置有多个与所述双面胶上内存卡正对的出气口；所述出气口与所述管体的内部空间连通。
优选的，所述管体设置有呈C形排列的三个平面；三个所述平面，包括纵向平面，以及上平面和下平面；所述纵向平面和所述上平面均粘接固定有防滑橡胶块；所述下平面与所述安装槽的侧壁粘接固定。
另一方面，提供了一种用于内存卡的无损检测方法，基于上述的无损检测装置，其中，包括：
步骤一:将内存卡放至检测工位上，通过限位组件完成内存卡的限位工作，使得所述检测工位上的触点与内存卡的金手指正对；
步骤二:通过压持组件下压内存卡，使得内存卡的金手指与所述检测工位上的触点紧密贴合；
步骤三:完成内存卡的检测后，移开所述压持组件，即可取出内存卡。
本实用新型的有益效果在于：与以往采取将内存卡插入进行检测的方式相比，本装置检测操作简单且对内存卡的金手指不会造成损伤，有利于提高客户满意度。具体的，将内存卡放至检测工位上，通过限位组件完成内存卡的限位工作，进而通过压持组件下压内存卡，使得内存卡的金手指与检测工位上的触点紧密贴合，完成内存卡的检测后，移开所述压持组件，即可取出内存卡。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：
图1是实施例一提供的用于内存卡的无损检测装置的结构示意图；
图2是实施例一提供的用于内存卡的无损检测装置中压片的结构示意图；
图3是实施例二提供的用于内存卡的无损检测装置的结构示意图；
图4是实施例二提供的用于内存卡的无损检测装置中压片的使用状态图(此时处于内存卡检测状态)；
图5是实施例三提供的用于内存卡的无损检测装置的结构示意图；
图6是实施例三提供的用于内存卡的无损检测装置中压片的使用状态图；
图7是实施例四提供的无损检测方法的实现流程图。
具体实施方式
为了使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的部分实施例，而不是全部实施例。基于本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。
实施例一
本实用新型较佳实施例的一种用于内存卡的无损检测装置如图1和图2所示，包括检测台10；检测台10设置有检测工位11；检测工位11设置有用于与内存卡的金手指电连接的触点12；检测台10还设置有用于防止内存卡沿触点12前后窜动的限位组件13，以及压持内存卡的压持组件14，与以往采取将内存卡插入进行检测的方式相比，本装置检测操作简单且对内存卡的金手指不会造成损伤，有利于提高客户满意度。具体的，将内存卡放至检测工位11上，通过限位组件13完成内存卡的限位工作，进而通过压持组件14下压内存卡，使得内存卡的金手指与检测工位11上的触点紧密贴合，完成内存卡的检测后，移开压持组件14，即可取出内存卡。
如图1和图2所示，压持组件14包括压持内存卡的压片15，以及固定在检测台10上用于吸附压片15的磁铁16；压片15为铁片，压持效果好且成本低。
如图1所示，检测工位11设置在检测台10的边缘；压片15一端通过合页17与检测台10连接，且另一端伸出检测台10的边缘,便于生产人员快速翻开压片15，取出已完成检测的内存卡。
如图1和图2所示，压片15朝向内存卡的一侧固定有用于粘取检测工位11上内存卡的双面胶116，打开压片15的同时又实现取料，提高了生产效率。
如图1和图2所示，压片15设置有避让用户手指供其取下双面胶116上内存卡的避让槽180，预留足够的取料空间，便于生产人员快速取下产品；检测工位11设置有用于容纳内存卡的容纳槽181；内存卡的侧表面设置有凸块；限位组件13包括左限位片18和右限位片19；右限位片19设置有与凸块对应的限位缺口182，结构简单，限位效果好；容纳槽181内设置有触点12，以及分布在触点12两侧的左限位片18和右限位片19。
实施例二
本实用新型较佳实施例的一种用于内存卡的无损检测装置如图3和图4所示，与实施例一相同之处不再赘述，不同之处在于：检测台10上设置有呈横向排列的多个检测工位11，从而可以同时对多张内存卡进行检测；无损检测装置还包括横向贯穿多个压片15的方形卸料顶杆110；压片15设置有分布在卸料顶杆110上下两侧的两张双面胶116，以及与卸料顶杆110对应的倒L形活动槽183；卸料顶杆110通过弹性橡胶条111与压片15连接；活动槽183包括纵向的子活动槽A184，和横向的子活动槽B185；子活动槽A184与压片15上设置有双面胶116的侧表面连通；子活动槽B185的深度不小于卸料顶杆110的二分之一高度，如图4所示，对内存卡进行检测时，压片处于水平状态，子活动槽B185为卸料顶杆110提供了支撑点，弹性橡胶条111不会一直处于被拉伸状态，伸长量小，能保持较好的弹性，避免了过度拉伸导致非落料状态下卸料顶杆110也伸出子活动槽A184的情况；完成检测后，生产人员拉动子活动槽B185内的卸料顶杆110沿着子活动槽A184向外顶推内存卡，使得内存卡从双面胶116上掉落，推动一次卸料顶杆110即可同时取下多个压片15上的内存卡，取料速度快且成本低。
如图3所示，卸料顶杆110上套设有用于防止压片15窜动的轴套112；相邻两块压片15间设置有一轴套112，为了保证转动的顺畅，合页17本身预留了一定的转动间隙，推动卸料顶杆110时，压片15可能沿着合页17的转轴发生水平方向的微小偏移，通过设置轴套112，就保证了相邻两块压片15间的距离是一样的，能有效避免压片15的偏移，使得各压片15间的运动更为一致，取料效果更好。
实施例三
本实用新型较佳实施例的一种用于内存卡的无损检测装置如图5和图6所示，与实施例一相同之处不再赘述，不同之处在于：检测台10上设置有呈横向排列的多个检测工位11，从而可以同时对多张内存卡进行检测；无损检测装置还包括横向贯穿多个压片的I形卸料管113；压片15上设置有分布在卸料管113上下两侧的两张双面胶116，以及安装卸料管113的安装槽186；卸料管113为中空结构，包括管体114和固定在管体114两端的两块挡片115，挡片115能防止管体114发生窜动；挡片115开设有与管体114的内部空间连通的进气口187；管体114上设置有多个与双面胶116上内存卡2正对的出气口188；出气口188与管体114的内部空间连通，卸料管113为中空结构，既能减轻重量，又为气体提供了流动空间，通过向进气口187吹一次气，即可同时取下多个压片15上的内存卡，取料速度快且成本低。
如图6所示，管体114设置有呈C形排列的三个平面；三个平面，包括纵向平面189、上平面1810，以及下平面1811；纵向平面A189和上平面1810均粘接固定有防滑橡胶块117，向管体114内吹气，管体114内会有向外膨胀的趋势，由于防滑橡胶块117是具有弹性的，可以持续保持对管体114的挤压力，能有效防止管体114的变形或扭转；下平面1811与安装槽186的侧壁粘接固定，粘接面积大且不会发生扭转。
实施例四
本实用新型较佳实施例的一种用于内存卡的无损检测方法，如图7所示，基于以上任一实施例所述的无损检测装置，包括：
步骤S101:将内存卡放至检测工位上，通过限位组件完成内存卡的限位工作，使得检测工位上的触点与内存卡的金手指正对。
步骤S102:通过压持组件下压内存卡，使得内存卡的金手指与检测工位上的触点紧密贴合。
步骤S103:完成内存卡的检测后，移开压持组件，即可取出内存卡。
本实施例与以往采取将内存卡插入进行检测的方式相比，本装置检测操作简单且对内存卡的金手指不会造成损伤，有利于提高客户满意度。
应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
Claims (9)
1.一种用于内存卡的无损检测装置，包括检测台；所述检测台设置有检测工位；所述检测工位设置有用于与内存卡的金手指电连接的触点；其特征在于，所述检测台还设置有用于防止内存卡沿所述触点前后窜动的限位组件，以及压持内存卡的压持组件。
2.根据权利要求1所述的无损检测装置，其特征在于，所述压持组件包括压持内存卡的压片，以及固定在所述检测台上用于吸附所述压片的磁铁；所述压片为铁片。
3.根据权利要求2所述的无损检测装置，其特征在于，所述检测工位设置在所述检测台的边缘；所述压片一端通过合页与所述检测台连接，且另一端伸出所述检测台的边缘。
4.根据权利要求3所述的无损检测装置，其特征在于，所述压片朝向内存卡的一侧固定有用于粘取所述检测工位上内存卡的双面胶。
5.根据权利要求4所述的无损检测装置，其特征在于，所述压片设置有避让用户手指供其取下所述双面胶上内存卡的避让槽；所述检测工位设置有用于容纳内存卡的容纳槽；所述内存卡的侧表面设置有凸块；
所述限位组件包括左限位片和右限位片；所述右限位片设置有与所述凸块对应的限位缺口；所述容纳槽内设置有所述触点，以及分布在所述触点两侧的所述左限位片和所述右限位片。
6.根据权利要求4所述的无损检测装置，其特征在于，所述检测台上设置有呈横向排列的多个所述检测工位；所述无损检测装置还包括横向贯穿多个所述压片的方形卸料顶杆；所述压片设置有分布在所述卸料顶杆上下两侧的两张所述双面胶，以及与所述卸料顶杆对应的倒L形活动槽；所述卸料顶杆通过弹性橡胶条与所述压片连接；
所述活动槽包括纵向的子活动槽A，和横向的子活动槽B；所述子活动槽A与所述压片上设置有所述双面胶的侧表面连通；所述子活动槽B的深度不小于所述卸料顶杆的二分之一高度。
7.根据权利要求6所述的无损检测装置，其特征在于，所述卸料顶杆上套设有用于防止所述压片窜动的轴套；相邻两块所述压片间设置有一所述轴套。
8.根据权利要求4所述的无损检测装置，其特征在于，所述检测台上设置有呈横向排列的多个所述检测工位；所述无损检测装置还包括横向贯穿多个所述压片的I形卸料管；所述压片上设置有分布在所述卸料管上下两侧的两张所述双面胶，以及安装所述卸料管的安装槽；所述卸料管为中空结构，包括管体和固定在所述管体两端的两块挡片；所述挡片开设有与所述管体的内部空间连通的进气口；所述管体上设置有多个与所述双面胶上内存卡正对的出气口；所述出气口与所述管体的内部空间连通。
9.根据权利要求8所述的无损检测装置，其特征在于，所述管体设置有呈C形排列的三个平面；三个所述平面，包括纵向平面，以及上平面和下平面；所述纵向平面和所述上平面均粘接固定有防滑橡胶块；所述下平面与所述安装槽的侧壁粘接固定。
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