CN209841682U - 一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，包括薄膜电容卷绕机本体，薄膜电容卷绕机本体内设有用以检测金属膜镀层厚度的金属膜透光率检测装置，金属膜透光率检测装置包括固定支架和激光线性传感器，固定支架包括上下相对设置的悬臂板和连接两块悬臂板的连接板，连接板与薄膜电容卷绕机本体中的垂直基本固连，激光线性传感器包括检测头和控制器，检测头包括发光器和接光器，发光器固设在位于上方的悬臂板端部，接光器固设在位于下方的悬臂板端部，发光器与接光器相对设置；发光器与接光器均与控制器相连。本实用新型根据透光率了解到金属膜上镀层厚度情况，进而判断是否需要停止卷绕工作，能保证卷绕出的电容器质量情况。

Description

一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机

技术领域

本实用新型涉及一种薄膜电容卷绕机，更具体地说，涉及一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机。

背景技术

薄膜电容器是以金属箔当电极，将其和聚乙酯，聚丙烯，聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜，从两端重叠后，卷绕成圆筒状的构造之电容器。由于通常情况下，金属膜上镀层的表面是不平整，不连续的，且金属膜上镀层内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等，又由于金属膜上镀层的厚度是一个非常重要的参数，直接关系到电容器的质量，因此为了保证薄膜电容器卷绕设备卷绕出的电容器的质量就需要在薄膜电容器卷绕设备上设计一款能够能够实时了解金属膜上镀层厚度的机构。

发明内容

1.实用新型要解决的技术问题

本实用新型的目的在于克服上述的不足，提供了一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，采用本实用新型的技术方案，结构简单，连接方便，透光率了解到金属膜上镀层厚度情况，进而判断是否需要停止卷绕工作，能保证卷绕出的电容器质量情况。

2.技术方案

为达到上述目的，本实用新型提供的技术方案为：

本实用新型的一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，包括薄膜电容卷绕机本体，所述的薄膜电容卷绕机本体内设有用以检测金属膜镀层厚度的金属膜透光率检测装置，所述的金属膜透光率检测装置包括固定支架和激光线性传感器，所述的固定支架包括上下相对设置的悬臂板和连接两块悬臂板的连接板，所述的连接板与薄膜电容卷绕机本体中的垂直基本固连，所述的激光线性传感器包括检测头和控制器，所述的检测头包括发光器和接光器，所述的发光器固设在位于上方的悬臂板端部，接光器固设在位于下方的悬臂板端部，发光器与接光器相对设置；所述的发光器与接光器均与控制器相连，该控制器与用以控制薄膜电容卷绕机本体工作的PLC控制器相连。。

更进一步地，所述的发光器的型号为HL-T1005AP，接光器的型号为HL-T1005AD，控制器的型号为HL-AC1。

3.有益效果

采用本实用新型提供的技术方案，与已有的公知技术相比，具有如下有益效果：

(1)本实用新型的一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，其由于激光线性传感器本身精度高，细微的光量差异也能进行高精度判断，可以在快速卷绕的同时测量金属膜上镀层厚度变化的情况，发光器发射光束穿过金属膜，接光器接收穿过金属膜的光束，控制器根据光量差异得出透光率，可以根据透光率了解到金属膜上镀层厚度变化情况，而控制器与PLC控制器相连，控制器将数据传输至PLC控制器内，检测到的数据与PLC控制器内本身设定好的数据范围进行比较，若不在设定的数据范围内，则PLC控制器控制薄膜电容卷绕机本体停止卷绕工作，这样可以减少金属膜的浪费率，大大提高了卷绕出的电容器的质量。

附图说明

图1为本实用新型的一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机中金属膜透光率检测装置的结构示意图。

示意图中的标号说明：1-1、悬臂板；1-2、连接板；2-1、控制器；2-2、发光器；2-3、接光器；3、金属膜；4、PLC控制器。

具体实施方式

为进一步了解本实用新型的内容，结合附图和实施例对本实用新型作详细描述。

实施例

结合图1，本实施例的一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，包括薄膜电容卷绕机本体，薄膜电容卷绕机本体内设有用以检测金属膜3镀层厚度的金属膜透光率检测装置，金属膜透光率检测装置包括固定支架和激光线性传感器，固定支架包括上下相对设置的悬臂板1-1和连接两块悬臂板的连接板1-2，连接板1-2与薄膜电容卷绕机本体中的垂直基本固连，激光线性传感器包括检测头和控制器2-1，检测头包括发光器2-2和接光器2-3，发光器2-2固设在位于上方的悬臂板1-1端部，接光器2-3固设在位于下方的悬臂板1-1端部，发光器2-2与接光器2-3相对设置；发光器2-2与接光器2-3均控制器2-1相连，该控制器2-1与用以控制薄膜电容卷绕机本体工作的PLC控制器4相连，由于激光线性传感器本身精度高，细微的光量差异也能进行高精度判断，可以根据透光率了解到金属膜上镀层厚度变化情况，而控制器与PLC控制器相连，控制器将数据传输至PLC控制器内，检测到的数据与PLC控制器内本身设定好的数据范围进行比较，若不在设定的数据范围内，则PLC控制器控制薄膜电容卷绕机本体停止卷绕工作，这样可以减少金属膜的浪费率，大大提高了卷绕出的电容器的质量，本领域的技术人员了解上述硬件(激光线性传感器、控制器与PLC控制器)，也了解如何将上述硬件连接在一起后实施检测操作的，其中PLC控制器中所使用到的计算程序是现有较为常见的，直接拿来使用即可，且该计算程序也不是本申请所要保护的内容；本实施例中激光线性传感器是现有设备，由日本松下公司生产制造，发光器2-2的型号为HL-T1005AP，接光器2-3的型号为HL-T1005AD，控制器2-1的型号为HL-AC1。

本实用新型的一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，结构简单，连接方便，根据透光率了解到金属膜上镀层厚度情况，进而判断是否需要停止卷绕工作，能保证卷绕出的电容器质量情况。

以上示意性的对本实用新型及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。所以，如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (2)

1.一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，包括薄膜电容卷绕机本体，其特征在于：所述的薄膜电容卷绕机本体内设有用以检测金属膜(3)镀层厚度的金属膜透光率检测装置，所述的金属膜透光率检测装置包括固定支架和激光线性传感器，所述的固定支架包括上下相对设置的悬臂板(1-1)和连接两块悬臂板的连接板(1-2)，所述的连接板(1-2)与薄膜电容卷绕机本体中的垂直基本固连，所述的激光线性传感器包括检测头和控制器(2-1)，所述的检测头包括发光器(2-2)和接光器(2-3)，所述的发光器(2-2)固设在位于上方的悬臂板(1-1)端部，接光器(2-3)固设在位于下方的悬臂板(1-1)端部，发光器(2-2)与接光器(2-3)相对设置；所述的发光器(2-2)与接光器(2-3)均与控制器(2-1)相连，该控制器(2-1)与用以控制薄膜电容卷绕机本体工作的PLC控制器(4)相连。

2.根据权利要求1所述的一种具有金属膜透光率检测装置的薄膜电容卷绕机，其特征在于：所述的发光器(2-2)的型号为HL-T1005AP，接光器(2-3)的型号为HL-T1005AD，控制器(2-1)的型号为HL-AC1。