CN2098006U - 光干涉膨胀仪测长装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于光干涉膨胀测量技术领域,是一
种测量固体材料膨胀系数的装置。光干涉膨胀仪测
长装置其样品测试空间采用双层黑体空腔式结构,温
度计选择与样品的形状、尺寸基本相同,二者的放置
按对称分布,方向一致,双层黑体空腔式结构的外侧
套置液氮冷却槽,冷却槽设置有充氮入口和出口,冷
却槽的四周充填低黑度的绝热屏蔽层,通过外壳,上
盖等部件将其固定,以此来制造从低温到高温的宽温
度变化范围的温度环境。
Description
本实用新型属于光干涉膨胀测量技术领域,是一种测量固体材料膨胀系数的装置。
目前,大部份光干涉膨胀仪的温度测量范围是从室温到高温区,少数几种可进行低温区超低膨胀系数测量的光干涉膨胀仪系统庞大,结构复杂,试样必须是上下表面严格平行的块状试样,其加工精度高、制作困难。实用新型专利90210353.9光干涉测长计恒温槽提供了良好的等温场并具有结构简单、测试方便的特点,但该实用新型专利适于测量室温至高温区的膨胀系数。
在此基础上,本实用新型的目的在于提供一种测量精度高、测量范围宽、能实现低温至高温较大温度范围的光干涉膨胀仪测长装置,以满足科研与生产的需要。
本实用新型的目的通过如下技术措施实现:光干涉膨胀仪测长装置其样品测试空间采用双层黑体空腔式结构,温度计选择与样品的形状、尺寸基本相同,二者的放置按对称分布,方向一致,双层黑体空腔式结构的外侧套置液氮冷却槽,在其周围和上下表面附置绝热层,以此来制造从低温到高温的宽温度变化范围的温度环境。
结合附图对本实用新型的具体结构作进一步详细的描述。
图1是本实用新型的结构示意图。
图1是本实用新型的实施例。
参照图1,本实用新型由底座1、密封环2、下绝热层3、下侧绝热层4、外壳5、冷却槽6、密封塑料7、上侧绝热层8、上外壳9、上盖10、上绝热层11、真空室窗口法兰12、真空室窗口13、密封圈14、外腔体加热支架15、外防震件16、电热体17、内防震件18、上干涉片19、铂温度计20、试样21、内腔体试样架22、下干涉片23、支座24、密封金属板25、密封法兰26组成,试样21与铂温度计的外形及尺寸基本相同,相互对称地放置在试样架22中,并处于同一热等势面上,上干涉片19落置在内腔体试样架22上,内腔体试样架22座落于下干涉片23上,下干涉片23固定于支座24、支座24的孔27便于抽真空,电热体17均布于加热体支架15内,加热体支架15座落在支座24上,由加热体支架15与支座24构成双层黑体空腔式测试空间,防震件16和18起到防震及定位作用,冷却槽6套置于双层黑体空腔结构外侧,冷却槽6设置充氮口28及出口29,在冷却槽6的四周充填低黑度的热屏蔽绝热层3、4、8、11,由底座1、外壳5、上外壳9、上盖10将其固定,其中外壳5通过密封环2与底座1配合,上外壳9通过塑料密封7与外壳5配合,上盖10通过塑料密封7盖在上外壳9上,上盖10的环形槽内镶有密封圈14,真空室窗口13座落于环形密封圈上,真空室窗口法兰12与真空室窗口13紧配合,底座1的下端设置光路通道口31,导线引出端30,抽真空口32、冷却槽6的充氮口28由密封法兰26通过密封金属板25与底座1紧配合。
本实用新型由于采用上述结构,具有如下特点:
1、冷却槽采用液氮制冷,可以实现90K~293.15K,低温范围内的实验测量;
2、利用真空区的热传导及热幅射促使腔内的温度分布尽量均匀;
3、选用低黑度的热屏蔽绝热层保证腔内横向,纵向温差达到最低的程度。
Claims (1)
1、光干涉膨胀仪测长装置,该装置由底座1、密封环2、下绝热层3、下侧绝热层4、外壳5、冷却槽6、密封塑料7、上侧绝热层8、上外壳9、上盖10、上绝热层11、真空室窗口法兰12、真空室窗口13、密封圈14、外腔体加热支架15、外防震件16、电热体17、内防震件18、上干涉片19、铂温度计20、试样21、内腔体试样架22、下干涉片23、支座24、密封金属板25、密封法兰26组成,试样21与铂温度计的外形及尺寸基本相同,相互对称地放置在试样架22中,并处于同一热等势面上,上干涉片19落置在内腔体试样架22上,内腔体试样架22座落于下干涉片23上,下干涉片23固定于支座24,支座24的孔27便于抽真空,电热体17均布于加热体支架15内,加热体支架15座落在支座24上,由加热体支架15与支座24构成双层黑体空腔式测试空间,其特征在于:冷却槽6套置于双层黑体空腔结构外侧,冷却槽6设置充氮口28及出口29,在冷却槽6的四周充填低黑度的热屏蔽绝热层3、4、8、11,由底座1、外壳5、上外壳9、上盖10将其固定,其中外壳5通过密封环2与底座1配合,上外壳9通过塑料密封7与外壳5配合,上盖10通过塑料密封7盖在上外壳9上,上盖10的环形槽内镶有密封圈14,真空室窗口13座落于环形密封圈上,真空室窗口法兰12与真空室窗口13紧配合,底座1的下端设置光路通道口31,导线引出端30,抽真空口32,冷却槽6的充氮口28由密封法兰26通过密封金属板25与底座1紧配合。
Priority Applications (1)
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CN 91210705 CN2098006U (zh) | 1991-06-08 | 1991-06-08 | 光干涉膨胀仪测长装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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CN 91210705 CN2098006U (zh) | 1991-06-08 | 1991-06-08 | 光干涉膨胀仪测长装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN2098006U true CN2098006U (zh) | 1992-03-04 |
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ID=4919474
Family Applications (1)
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CN 91210705 Withdrawn CN2098006U (zh) | 1991-06-08 | 1991-06-08 | 光干涉膨胀仪测长装置 |
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CN (1) | CN2098006U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100334425C (zh) * | 2005-05-18 | 2007-08-29 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种测量焦平面探测器低温形变的方法及专用杜瓦 |
CN100422717C (zh) * | 2004-05-11 | 2008-10-01 | 深圳大学 | 一种用于椭圆偏振光谱测量的光学低温恒温器 |
-
1991
- 1991-06-08 CN CN 91210705 patent/CN2098006U/zh not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100422717C (zh) * | 2004-05-11 | 2008-10-01 | 深圳大学 | 一种用于椭圆偏振光谱测量的光学低温恒温器 |
CN100334425C (zh) * | 2005-05-18 | 2007-08-29 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种测量焦平面探测器低温形变的方法及专用杜瓦 |
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C19 | Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |