CN209606476U - Ic测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电学测试设备领域，旨在解决现有的IC测试座体积变小，IC测试座上的手扣力臂变短，导致压合力变大的问题，提供IC测试座，其包括上接触器组件、上盖、下接触器组件和底座；扣合组件包括上手扣、下手扣和第一弹簧，上手扣包括按压板和竖向设置于按压板底侧的铰接座，下手扣包括受力板和竖向设置于受力板一侧的扣合板，扣合板的朝向底座的一侧的底端设置有能够与扣合台阶配合的扣合件；上手扣套于受力板的顶侧，按压板部分与受力板的顶部贴合，铰接座与扣合板同轴铰接于底座。扣合组件采用上手扣和下手扣，上手扣和下手扣做成分体式的，上手扣采用杠杆原理设计，使得上盖和底座打开关闭更省力，方便快捷。

Description

IC测试座

技术领域

本实用新型涉及电学测试设备领域，具体而言，涉及IC测试座。

背景技术

目前市场上IC测试座本体偏大，鉴于测试板费用及操作空间限制，需开发一款小的IC测试座，由于IC测试座座子本体变小，打开IC测试座上盖的手扣变小，力臂变短，导致压合力变大，十分费力。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种IC测试座，以解决现有的IC测试座体积变小，IC测试座上的手扣力臂变短，导致压合力变大的问题。

本实用新型的实施例是这样实现的：

本实用新型实施例提供IC测试座，

包括上接触器组件、上盖、下接触器组件和底座，所述上接触器组件设置于所述上盖，所述下接触器组件设置于所述底座，所述上盖的一端转动设置于所述底座的一端，所述上盖的另一端与所述底座的另一端通过扣合组件可拆卸地连接，所述上接触器组件和所述下接触器组件相对设置；所述底座的朝向所述扣合组件的一端端面设置有扣合台阶；

所述扣合组件包括上手扣、下手扣和第一弹簧，所述上手扣包括按压板和竖向设置于所述按压板底侧的铰接座，所述下手扣包括受力板和竖向设置于所述受力板一侧的扣合板，所述扣合板的朝向所述底座的一侧的底端设置有能够与所述扣合台阶配合的扣合件；所述上手扣套于所述受力板的顶侧，所述按压板部分与所述受力板的顶部贴合，所述铰接座与所述扣合板同轴铰接于所述底座，所述第一弹簧支撑于所述底座和所述受力板之间。

在本实施例的一种实施方式中：

所述铰接座位于所述按压板的底侧中部的靠近底座的一侧。

在本实施例的一种实施方式中：

所述按压板的远离所述底座的一侧向上倾斜设置。

在本实施例的一种实施方式中：

所述下接触器组件包括探针组件和弹片组件，所述底座设置两个，所述探针组件和所述弹片组件分别装配于一个所述底座；

所述探针组件对应的所述底座和所述弹片组件对应的所述底座择一与所述上盖转动连接。

在本实施例的一种实施方式中：

所述底座的与所述上盖转动连接的一端设置有连接座，所述上盖的与所述底座转动连接的一端设置有连接耳把；

所述连接座和所述连接耳把通过连接轴同轴活动连接。

在本实施例的一种实施方式中：

所述连接轴的外侧套设有扭簧；

所述扭簧的扭动端与所述上盖连接，所述扭簧使得所述扭动端回复至原位时，所述上盖处于打开状态。

在本实施例的一种实施方式中：

所述上接触器组件包括压块和第二弹簧；

所述压块摆动设置于所述上盖内侧，所述压块和所述上盖之间支撑设置有第二弹簧，所述压块摆动的两侧分别对应设置至少一个所述第二弹簧。

在本实施例的一种实施方式中：

所述上接触器组件还包括摆动块，所述摆动块的底侧设置有容纳空间；

所述压块位于所述容纳空间内，所述摆动块和所述压块穿设有摆动轴，所述摆动轴的两端设置于所述上盖，所述第二弹簧支撑于所述压块和所述摆动块之间。

在本实施例的一种实施方式中：

所述压块的朝向所述摆动块的一侧设置有柱槽，所述摆动轴的两侧分别设置至少一个所述柱槽，所述第二弹簧置于所述柱槽内。

在本实施例的一种实施方式中：

所述压块的背向所述摆动块的一侧突出设置有按压台。

本实用新型的有益效果是：

IC测试座，扣合组件采用上手扣和下手扣，上手扣和下手扣做成分体式的，上手扣采用杠杆原理设计，使得上盖和底座的打开和关闭，操作的省力，方便快捷。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的IC测试座的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的IC测试座的局部结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的IC测试座的局部结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的IC测试座的局部结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的IC测试座中的扣合组件的结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的IC测试座的爆炸图；

图7为本实用新型实施例提供的IC测试座的另一视角的整体结构示意图。

图标：100-上接触器组件；110-压块；111-柱槽；112-按压台；120-第二弹簧；130-摆动块；140-摆动轴；200-上盖；210-连接耳把；300-下接触器组件；310-探针组件；320-弹片组件；400-底座；410-扣合台阶；420-连接座；430-连接轴；440-扭簧；441-扭动端；500-扣合组件；510-上手扣；511-按压板；512-铰接座；520-下手扣；521-受力板；522-扣合板；523-扣合件；530-第一弹簧。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，若出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，本实用新型的描述中若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，本实用新型的描述中若出现术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例，参照图1至图7。

如图1、图2、图3和图4所示，本实用新型实施例提供IC测试座，包括上接触器组件100、上盖200、下接触器组件300和底座400，上接触器组件100设置于上盖200，下接触器组件300设置于底座400，上盖200的一端转动设置于底座400的一端，上盖200的另一端与底座400的另一端通过扣合组件500可拆卸地连接，上接触器组件100和下接触器组件300相对设置。

打开扣合组件500，上盖200与底座400打开，上盖200能够绕着底座400的一端转动，带动上接触器组件100逐渐远离下接触器组件300。关闭扣合组件500，上盖200扣合于底座400，带动上接触器组件100逐渐靠近下接触器组件300。实际使用时，将测试座锁在PCB板上，然后打开上盖200，将IC元件放置于底座400上，然后盖合上盖200，IC元件被限制在上接触器组件100和下接触器组件300之间，将下接触器组件300与芯片导通，即可进行IC元件的测试。测试完成后，打开上盖200，取出IC元件即可。

由于市场上IC测试座本体偏大，鉴于测试板费用及操作空间限制，需开发一款小的IC测试座，由于IC测试座座子本体变小，打开IC测试座上盖200的手扣变小，力臂变短，导致压合力变大，十分费力。

如图4和图5所示，本实用新型实施例提供IC测试座，底座400的朝向扣合组件500的一端端面设置有扣合台阶410，扣合组件500包括上手扣510、下手扣520和第一弹簧530，上手扣510包括按压板511和竖向设置于按压板511底侧的铰接座512，下手扣520包括受力板521和竖向设置于受力板521一侧的扣合板522，扣合板522的朝向底座400的一侧的底端设置有能够与扣合台阶410配合的扣合件523；上手扣510套于受力板521的顶侧，按压板511部分与受力板521的顶部贴合，铰接座512与扣合板522同轴铰接于底座400，第一弹簧530支撑于底座400和受力板521之间。

扣合组件500利用扣合件523与扣合台阶410的扣合关系实现关闭，扣合组件500利用扣合件523与扣合台阶410的脱离关系实现打开。在第一弹簧530的作用下，下手扣520的扣合件523具有靠近底座400的运动趋势，使得扣合件523与扣合台阶410能够紧密扣合；在外力作用下，下手扣520的扣合件523能够脱离扣合台阶410，实现打开。

上手扣510和下手扣520分体式设计，利用杠杆原理设计的上手扣510，能够使扣合组件500的打开更加省力。扣合组件500的具体操作过程如下：1、上盖200和底座400初始状态为打开状态，转动上盖200使得上盖200靠近底座400，下手扣520的扣合板522的扣合件523抵触到扣合台阶410后，继续按压上盖200，扣合件523受到底座400扣合台阶410的作用力，向外转动并向下移动，直到扣合件523到达扣合台阶410的端部后，扣合件523滑动扣合在扣合台阶410上，扣合件523在第一弹簧530的作用下牢固扣在扣合台阶410上；2、上盖200和底座400初始状态为关闭状态时，向上抬起上手扣510的按压板511的远离底座400的一端，利用杠杆原理，按压板511的靠近底座400的一端向下转动，抵压位于按压板511底部的受力板521，受力板521受力也向下转动，从而使得扣合板522向外转动，扣合板522的扣合件523从扣合台阶410滑出，扣合组件500打开。

承上述，上盖200在扣合到底座400的过程中，只需要按压上盖200即可，上盖200的受力面积相对较大，不会因为IC测试座的整体体积减小而难以操作；在上盖200打开的过程中，只需要搬动上手扣510，利用杠杆原理，只需要很小的力即可迫使下手扣520转动，同时上手扣510的按压板511的两侧突出铰接座512设置，受力面积可以制作得相对较大，既省力，又方便操作。从而有效克服了IC测试座体积变小，扣合组件500不便操作的问题。

按压板511的远离底座400的一端为操作者作用端，按压板511的靠近底座400的一端为施力端，需向下按压受力板521，要使受力板521更易向外转动，应使得按压板511的靠近底座400的一端获得较大的作用力。根据杠杆原理，当作用端的长度大于施力端的长度时，作用端的力小于施力端的力，也就是省力杠杆，当作用端的长度小于施力端的长度时，作用端的力大于施力端的力，是废力杠杆，因此，应当使得作用端长度大于施力端的长度。

在本实施例的一种实施方式中：如图5所示，铰接座512位于按压板511的底侧中部的靠近底座400的一侧。

为了便于向上扣动按压板511，在本实施例的一种实施方式中：如图5所示，按压板511的远离底座400的一侧向上倾斜设置。向上倾斜设置相当于增大了作用端的长度，更加省力。

上接触器组件100主要用于压住IC元件，下接触器组件300主要用于配合上接触器组件100固定IC元件，并能够与芯片导通，完成测试。

在本实施例的一种实施方式中：

如图6所示，上接触器组件100包括压块110和第二弹簧120；

压块110摆动设置于上盖200内侧，压块110和上盖200之间支撑设置有第二弹簧120，压块110摆动的两侧分别对应设置至少一个第二弹簧120。

IC元件结构参差不齐，压块110主要用于压住固定IC元件，设置第二弹簧120，压块110能够根据IC元件的结构左右摆动，形成避让IC元件的空间，避免压块110压坏IC元件，影响测试结果的准确性。

在本实施例的一种实施方式中：

如图6所示，上接触器组件100还包括摆动块130，摆动块130的底侧设置有容纳空间；

压块110位于容纳空间内，摆动块130和压块110穿设有摆动轴140，摆动轴140的两端设置于上盖200，第二弹簧120支撑于压块110和摆动块130之间。

摆动块130的设置，能够更加稳固地限定压块110地摆动，使得压块110即具有压紧IC元件的作用力，又能够稳定地摆动避让IC元件。也就是防止压块110过度摆动。影响IC元件的测试结果。

在本实施例的一种实施方式中：

如图6所示，压块110的朝向摆动块130的一侧设置有柱槽111，摆动轴140的两侧分别设置至少一个柱槽111，第二弹簧120置于柱槽111内。

设置柱槽111，用于放置第二弹簧120，避免第二弹簧120弹出或者滑出。

在本实施例的一种实施方式中：

如图6所示，压块110的背向摆动块130的一侧突出设置有按压台112。

设置按压台112，缩小按压面积，增大按压压强，从而能够更加紧密地固定IC元件。

现有技术中的IC测试座，兼容性差，不能够更换使用探针测试座和标准弹片座。

在本实施例的一种实施方式中：如图6所示，下接触器组件300包括探针组件310和弹片组件320，底座400设置两个，探针组件310和弹片组件320分别装配于一个底座400；探针组件310对应的底座400和弹片组件320对应的底座400择一与上盖200转动连接。

本技术方案可以让探针测试座和标准弹片座两种测试座之间可更换使用。使测试座具有更好的兼容性。

探针测试座和标准弹片座之间的更换采用如下的方式，在本实施例的一种实施方式中：

如图7所示，底座400的与上盖200转动连接的一端设置有连接座420，上盖200的与底座400转动连接的一端设置有连接耳把210；连接座420和连接耳把210通过连接轴430同轴活动连接。

拆换时，将连接轴430取下，拆开底座400和上盖200，即可更换底座400。结构简单，更换快接方便。

在本实施例的一种实施方式中：

如图7所示，连接轴430的外侧套设有扭簧440；

扭簧440的扭动端441与上盖200连接，扭簧440使得扭动端441回复至原位时，上盖200处于打开状态。

在扣合组件500打开后，上盖200和底座400打开，在扭动端441的作用下，上盖200不会自动盖合到底座400上，也就是需要有一个能够克服扭簧440回复力的力才能够使得上盖200盖合，这样能够方便放入IC元件，也更易将IC元件放置在准确的测试位置。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种IC测试座，其特征在于：

包括上接触器组件、上盖、下接触器组件和底座，所述上接触器组件设置于所述上盖，所述下接触器组件设置于所述底座，所述上盖的一端转动设置于所述底座的一端，所述上盖的另一端与所述底座的另一端通过扣合组件可拆卸地连接，所述上接触器组件和所述下接触器组件相对设置；所述底座的朝向所述扣合组件的一端端面设置有扣合台阶；

所述扣合组件包括上手扣、下手扣和第一弹簧，所述上手扣包括按压板和竖向设置于所述按压板底侧的铰接座，所述下手扣包括受力板和竖向设置于所述受力板一侧的扣合板，所述扣合板的朝向所述底座的一侧的底端设置有能够与所述扣合台阶配合的扣合件；所述上手扣套于所述受力板的顶侧，所述按压板部分与所述受力板的顶部贴合，所述铰接座与所述扣合板同轴铰接于所述底座，所述第一弹簧支撑于所述底座和所述受力板之间。

2.根据权利要求1所述的IC测试座，其特征在于：

所述铰接座位于所述按压板的底侧中部的靠近所述底座的一侧。

3.根据权利要求2所述的IC测试座，其特征在于：

所述按压板的远离所述底座的一侧向上倾斜设置。

4.根据权利要求1所述的IC测试座，其特征在于：

所述下接触器组件包括探针组件和弹片组件，所述底座设置两个，所述探针组件和所述弹片组件分别装配于一个所述底座；

所述探针组件对应的所述底座和所述弹片组件对应的所述底座择一与所述上盖转动连接。

5.根据权利要求4所述的IC测试座，其特征在于：

所述底座的与所述上盖转动连接的一端设置有连接座，所述上盖的与所述底座转动连接的一端设置有连接耳把；

所述连接座和所述连接耳把通过连接轴同轴活动连接。

6.根据权利要求5所述的IC测试座，其特征在于：

所述连接轴的外侧套设有扭簧；

所述扭簧的扭动端与所述上盖连接，所述扭簧使得所述扭动端回复至原位时，所述上盖处于打开状态。

7.根据权利要求1所述的IC测试座，其特征在于：

所述上接触器组件包括压块和第二弹簧；

所述压块摆动设置于所述上盖内侧，所述压块和所述上盖之间支撑设置有第二弹簧，所述压块摆动的两侧分别对应设置至少一个所述第二弹簧。

8.根据权利要求7所述的IC测试座，其特征在于：

所述上接触器组件还包括摆动块，所述摆动块的底侧设置有容纳空间；

所述压块位于所述容纳空间内，所述摆动块和所述压块穿设有摆动轴，所述摆动轴的两端设置于所述上盖，所述第二弹簧支撑于所述压块和所述摆动块之间。

9.根据权利要求8所述的IC测试座，其特征在于：

所述压块的朝向所述摆动块的一侧设置有柱槽，所述摆动轴的两侧分别设置至少一个所述柱槽，所述第二弹簧置于所述柱槽内。

10.根据权利要求8所述的IC测试座，其特征在于：

所述压块的背向所述摆动块的一侧突出设置有按压台。