CN209513206U - 一种跌落测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试设备领域，具体公开了一种跌落测试设备。跌落测试设备包括夹持机构，夹持机构包括基架组件、底托组件和侧夹组件。底托组件设置于基架组件上，通过底托组件托住和取消托住电子产品的底部；侧夹组件设置于基架组件上，且位于底托组件的上部。角跌落测试时底托组件托住电子产品，通过侧夹组件能够夹持电子产品，以使电子产品平稳的放置于底托组件和侧夹组件之间，底托组件取消托住电子产品，侧夹组件取消夹持电子产品后，电子产品自由掉落完成角跌落测试。本实用新型的跌落测试设备能在进行角跌落测试时自动夹持电子产品，减小角跌落测试中的人为操作误差。

Description

一种跌落测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种跌落测试设备。

背景技术

跌落测试是用于测试产品抗撞击、跌落能力的测试项目，实际测试过程中会先将电子产品固定到预定高度的位置上，然后松开电子产品使其做自由落体运动跌落到底面上。其中，面跌落测试时电子产品的测试面正对地面，着地时测试面首先着地；角跌落测试时电子产品相对地面呈倾斜状态，电子产品的待测试的顶角位于最底部，着地时待测试的顶角首先着地。

目前的跌落测试虽然已在使用一些跌落测试设备，该类设备存在较多的问题：1、角跌落测试时需要人工辅助夹持固定住电子产品的位置，人工操作导致电子产品倾斜角度易变动，自动化水平低，人为因素不便控制，试验误差大；2、测试设备一般只能对特定尺寸大小的电子产品进行跌落测试，不能满足多种尺寸电子产品的跌落测试，测试设备使用灵活性差；3、一般的半自动跌落测试设备对产品进行角跌落测试时，产品相对底部的倾斜角度固定不可变，导致不能进行不同倾斜角度下的角跌落测试，可测试项目有限。

因此，亟需提供一种跌落测试设备能解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种跌落测试设备，能在进行角跌落测试时自动夹持电子产品，减小角跌落测试中人工辅助夹持造成的人为操作误差。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

本实用新型提供的一种跌落测试设备，包括夹持机构，所述夹持机构包括：

基架组件；

底托组件，设置于所述基架组件上；以及

侧夹组件，设置于所述基架组件上，且位于所述底托组件的上部；

所述夹持机构被配置为角跌落测试时，所述底托组件用于托住或取消托住电子产品，所述侧夹组件用于夹持或松开所述电子产品。

可选地，所述侧夹组件包括两个侧部夹板，两个所述侧部夹板分别沿水平方向相对设置于所述基架组件上，所述电子产品能够被固定在两个所述侧部夹板之间。

可选地，所述侧部夹板的用于固定所述电子产品的侧面上设置有凹槽，所述凹槽被配置为抵接所述电子产品的顶角。

可选地，所述凹槽为沿竖直方向设置的条形槽。

可选地，所述条形槽的截面形状为V型。

可选地，所述侧部夹板的远离所述底托组件的一端设置有限位杆，所述限位杆位于所述底托组件的上方，且与所述底托组件之间的距离可调。

可选地，所述底托组件包括两个沿所述水平方向相对设置的底部托板，所述底部托板转动设置于所述基架组件上，以托住或取消托住所述电子产品。

可选地，所述基架组件包括两个支撑板和间距调节件；两个所述支撑板沿所述水平方向相对设置于所述间距调节件上，所述底托组件以及所述侧夹组件分别设置于两个所述支撑板上，所述间距调节件被配置为能够调节两个所述支撑板沿所述水平方向的间距。

可选地，所述间距调节件包括：

基架；

调距丝杆，沿水平方向设置于所述基架上，两个所述支撑板分别与所述调距丝杆螺纹配合，且两个所述支撑板的一端可沿所述水平方向滑动的连接于所述基架上；所述调距丝杆被配置为能够调节两个所述支撑板沿所述水平方向的间距。

可选地，还包括升降机构，所述基架组件与所述升降机构连接，所述升降机构被配置为驱动所述基架组件沿垂直方向移动。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型的跌落测试设备，其包括夹持机构，夹持机构包括基架组件、底托组件和侧夹组件。底托组件设置于基架组件上，通过底托组件托住和取消托住电子产品的底部；侧夹组件设置于基架组件上，且位于底托组件的上部。角跌落测试时底托组件托住电子产品，通过侧夹组件能够夹持电子产品，以使电子产品平稳的放置于底托组件和侧夹组件之间，底托组件取消托住电子产品，侧夹组件取消夹持电子产品后，电子产品自由掉落完成角跌落测试。本实用新型的跌落测试设备能在进行角跌落测试时自动夹持电子产品，减小角跌落测试中人工辅助夹持造成的人为操作误差。

附图说明

图1是本实施例提供的跌落测试设备结构示意图；

图2是本实施例提供的夹持机构结构示意图；

图3是图2中A处的局部放大图；

图4是图2中B处的局部放大图；

图5是本实施例提供的侧夹组件结构示意图；

图6是本实施例提供的底托组件结构示意图；

图7是本实施例提供的基架组件结构示意图；

图8是本实施例提供的跌落测试设备(去除夹持机构)结构示意图。

图中：

1-夹持机构；

11-基架组件；12-底托组件；13-侧夹组件；

111-支撑板；112-间距调节件；121-底部托板；122-托板驱动件；131-侧部夹板；132-夹板驱动件；

1111-侧夹组件支架；1112-底托组件支架；1121-基架；1122-导轨；1123-滑块；1124-调距丝杆；1125-第一转轮；1211-铰接耳板；1212-连接轴；1221-铰接头；1311-凹槽；1312-限位杆；1313-支板；1314-橡胶头；

11121-托板驱动件铰接头；11122-托板驱动件穿孔；11123-旋转耳板；

2-升降机构；

21-升降块；22-升降架；23-第二转轮；

221-升降轴；222-升降丝杆；

3-平台。

具体实施方式

为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

图1是本实施例提供的跌落测试设备结构示意图；图2是本实施例提供的夹持机构结构示意图；图3是图2中A处的局部放大图；图4是图2中B处的局部放大图；图5是本实施例提供的侧夹组件结构示意图；图6是本实施例提供的底托组件结构示意图；图7是本实施例提供的基架组件结构示意图；图8是本实施例提供的跌落测试设备(去除夹持机构)结构示意图。

本实施例提供了一种跌落测试设备，用于对电子产品进行角跌落和面跌落测试。如图1所示，跌落测试设备包括夹持机构1、升降机构2和平台3。升降机构2设置在平台3上，夹持机构1设置在升降机构2上。升降机构2能够驱动夹持机构1沿垂直方向上下移动，以调整夹持机构1的高度进行不同高度的跌落测试。夹持机构1能够在进行跌落测试时首先夹持固定住电子产品，然后松开电子产品使其自由落体完成跌落测试。

如图2所示，夹持机构1包括基架组件11、底托组件12和侧夹组件13。底托组件12设置于基架组件11上。侧夹组件13设置于基架组件11上，且侧夹组件13位于底托组件12的上部。当进行面跌落测试时，将电子产品放置在底托组件12上，且使得电子产品的待测试面正对朝下，然后底托组件12取消托住电子产品，使得电子产品做自由落体运动，完成面跌落测试；当进行角跌落测试时，将电子产品倾斜的放置在夹持机构1中，通过底托组件12从底部拖住电子产品的待测试的顶角，并通过侧夹组件13从两侧抵靠住电子产品使其位置不发生移动，然后底托组件12取消托住电子产品，侧夹组件13从两侧取消抵靠电子产品，使得电子产品做自由落体运动，完成角跌落测试。本实施例的跌落测试设备既可以进行面跌落测试也可以进行角跌落测试，实现了角跌落测试时对电子产品的自动夹持，减小角跌落测试中通过人工辅助夹持固定电子产品所造成的人为操作误差，测试数据更加准确。

为了更清楚、完整的介绍跌落测试设备的结构及工作过程，先对跌落测试设备的各个部件进行详细说明。

具体地，如图2-图4所示，侧夹组件13包括两个侧部夹板131，两个侧部夹板131分别沿水平方向相对设置于基架组件11上，电子产品能够被固定在两个侧部夹板131之间。当进行角跌落测试时，底托组件12从底部拖住电子产品的待测试的顶角，一个侧部夹板131沿水平方向抵靠住待测试的顶角的一端位置，另一个侧部夹板131相对的抵靠住电子产品的位于待测试的顶角的体对角线上的对角，进而实现沿水平方向上从电子产品的两侧对其位置进行固定。通过两个侧部夹板131与底托组件12相配合实现了角跌落测试的自动夹持，使得测试误差更小。

为了保证角跌落测试时，两个侧部夹板131能够稳定的抵靠住电子产品，使其位置不发生变动。如图5所示，侧部夹板131的用于固定电子产品的侧面上设置有凹槽1311，凹槽1311能够抵接电子产品的顶角。具体地，在两个侧部夹板131抵靠电子产品的时候，电子产品的待测试的顶角端能够抵接落入到侧部夹板131的凹槽1311内，同时电子产品的位于待测试的顶角的体对角线上的对角也能够抵接落入到另一个侧部夹板131的凹槽1311内，实现对电子产品更稳定的固定。如果不设计凹槽1311，侧部夹板131的用于固定电子产品的侧面过于平滑，很容易造成电子产品无法倾斜放置在两个侧部夹板131之间或者倾斜放置不稳定，因此凹槽1311能够使得电子产品进行角跌落测试时的位置固定更加稳定可靠。

由于不同电子产品的尺寸大小不一，因此角跌落测试时，电子产品抵靠到侧部夹板131上的位置也不同，为了使得不同尺寸的电子产品在进行角跌落测试时，其角部都能够抵靠落入到凹槽1311中，保证夹持的稳定性。如图5所示，凹槽1311为沿竖直方向设置的条形槽。具体地，凹槽1311沿竖直方向从侧部夹板131的一端贯穿到另一端。凹槽1311设计为沿竖直方向的条形槽，可以使得不同尺寸大小的电子产品的角部都能落入到凹槽1311内，提高了跌落测试设备对不同尺寸的电子产品的适用性。

进一步的，根据电子产品的角部位置的形状特点，如图5所示，条形槽的截面形状为V型。角跌落测试时，电子产品的角部抵靠落入到V型的凹槽1311内时，电子产品的角部的侧棱也能够抵靠到凹槽1311的V型槽面上，进而提高侧部夹板131对电子产品位置固定的稳定性。

此外，为了能够对电子产品进行不同倾斜状态下的角跌落测试。如图5所示，侧部夹板131的远离底托组件12的一端设置有限位杆1312，限位杆1312位于底托组件12的上方，且与底托组件12之间的距离可调。当进行角跌落测试时，电子产品倾斜放置在夹持机构1中，此时限位杆1312位于电子产品的正上方位置，当向下移动限位杆1312使得限位杆1312的端部抵靠到电子产品的上倾斜面时，电子产品受到限位杆1312的作用力后会绕电子产品的经过待测试的顶角的体对角线偏转，通过调整限位杆1312向下移动的距离即可改变电子产品的倾斜状态，实现不同倾斜状态下的角跌落测试，提高了跌落测试设备的适用性。

具体地，如图2和图5所示，限位杆1312为螺旋丝杆，其可转动的沿垂直方向插接在支板1313中，支板1313通过螺栓固定安装在侧部夹板131的远离底托组件12的一端。限位杆1312用于抵靠电子产品的一端上还设有橡胶头1314，采用橡胶材质可以避免对电子产品的划伤。为清楚介绍电子产品倾斜状态的调整过程，以图5所示顺时针方向旋转限位杆1312可以使限位杆1312向下移动为例进行详细说明。通过顺时针旋转限位杆1312可使得限位杆1312靠近底托组件12，以抵靠角跌落测试时电子产品的上部倾斜面，限位杆1312与电子产品的上部倾斜面接触后，继续顺时针旋转限位杆1312，限位杆1312会在接触面上沿旋转方向给电子产品施加扭转力并向下施加下压力进而使得电子产品在扭转力和下压力的作用下绕体对角线旋转，实现对电子产品倾斜状态的调整；此外，逆时针旋转限位杆1312可使得限位杆1312远离底托组件12。

为了实现侧夹组件13能够夹持或松开电子产品的功能。如图4和图5所示，侧夹组件13还包括夹板驱动件132，夹板驱动件132能驱动两个侧部夹板131相互靠近或远离。具体地，夹板驱动件132为直线气缸，其固定安装在基架组件11上，夹板驱动件132的输出端活塞杆与侧部夹板131相连接。两个侧部夹板131相对设置，通过夹板驱动件132的驱动工作使得两个侧部夹板131能够相对运动以夹紧电子产品，相背运动以松开电子产品。

为了实现底托组件12托住和取消托住电子产品的功能。如图3和图4所示。底托组件12包括两个沿水平方向相对设置的底部托板121和托板驱动件122。底部托板121转动设置于基架组件11上，托板驱动件122设置于基架组件11上，托板驱动件122能够驱动底部托板121转动。跌落测试时，托板驱动件122首先推动底部托板121向上转动，以使底部托板121托住电子产品，然后托板驱动件122驱动底部托板121向下转动，以使底部托板121取消托住电子产品。

本实施例的底托组件12和侧夹组件13分别设置在基架组件11组件上。具体地，如图7所示，基架组件11包括两个支撑板111和间距调节件112。两个支撑板111沿水平方向相对设置于间距调节件112上，底托组件12和侧夹组件13分别设置于两个支撑板111上。

具体地，如图2和图7所示，支撑板111上设有侧夹组件支架1111，夹板驱动件132固定安装在侧夹组件支架1111上，相应的支撑板111上还设有底托组件支架1112，底托组件支架1112上设有托板驱动件铰接头11121、托板驱动件穿孔11122和旋转耳板11123。托板驱动件122为圆形气缸，托板驱动件122的一端铰接连接在托板驱动件铰接头11121上，托板驱动件122的输出端连接有铰接头1221，铰接头1221穿过托板驱动件穿孔1112后铰接连接底部托板121的底部上设置的铰接耳板1211，同时底部托板121的侧部还设有连接轴1212，连接轴1212与旋转耳板11123铰接连接，通过托板驱动件122的输出端伸长推动底部托板121绕连接轴1212转动到托住电子产品的位置，通过托板驱动件122的输出端回缩拉动底部托板121绕连接轴1212转动到取消托住电子产品的位置。

当一些电子产品尺寸过大或者过小时无法放置到一般的跌落测试设备上。为了能够对不同尺寸大小的电子产品进行角跌落和面跌落测试。本实施中的间距调节件112能够调节两个支撑板111沿水平方向的间距，从而调整两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距，以适应不同尺寸大小电子产品的测试需要。此外，在其他实施例中，两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距也可以通过单独的机构进行驱动调节，本实施例中通过间距调节件112同时调节两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距，而不必设计两个驱动机构进行间距调节，具有设计结构简洁，使用调节方便的特点。

具体地，如图7所示，本实施例中的间距调节件112包括基架1121、导轨1122、两个滑块1123和调距丝杆1124。调距丝杆1124沿水平方向设置于基架1121上，导轨1122沿水平方向设置于基架1121上。两个滑块1123滑动插接于导轨1122上，两个支撑板111的一端分别连接滑块1123从而将支撑板111可滑动的连接在基架1121上，两个支撑板111同时分别与调距丝杆1124螺纹配合。其中，调距丝杆1124为调距丝杆，两个支撑板111中的一个设置在左旋段，另一个设置在右旋端，调距丝杆1124通过顺时针旋转能够使两个支撑板111沿水平方向靠近，通过逆时针旋转则相互远离。

间距调节件112的优点在于实际跌落测试时，一方面可以根据电子产品的尺寸大小来调整两个支撑板111的间距，进而初步调整两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距，从而能够对不同尺寸的电子产品进行跌落测试。另一方面，对于同一产品，在进行角跌落测试时，通过调整两个支撑板111的间距，进而可以调整电子产品夹持在两个侧部夹板131之间时电子产品与水平面之间形成的倾斜角度，进而可以对同一电子产品进行不同倾斜角度下的角跌落测试，使得跌落测试设备可以测试的项目更多，提高了跌了测试设备的使用灵活性，更加适用于不同尺寸电子产品的跌落测试以及同一电子产品的不同倾斜角度下的角跌落测试实验。

此外，如图7所示，调距丝杆1124的端部还同轴设有第一转轮1125，通过转动第一转轮1125即可转动调距丝杆1124，进而调整两个支撑板111的间距，使用方便简洁。

此外，本实施例通过升降机构2实现了对夹持机构1的高度的调节，进而可以进行不同高度下的跌落测试。具体地，如图8所示，升降机构2包括升降块21、升降架22和第二转轮23。升降架22包括升降轴221和升降丝杆222。升降架22垂直的固定安装在平台3上。升降块21套设在升降轴221和升降丝杆222上，夹持机构1通过基架1121固定连接在升降块21上。通过顺逆时针旋转升降丝杆222可以提升或降低夹持机构1的高度。

此外，如图8所示，升降丝杆222的端部还同轴设置有第二转轮23，通过转动第二转轮23即可转动升降丝杆222，进而调整夹持机构1的高度，使用方便简洁。

为了清楚的了解本实施例的跌落测试设备在面跌落测试和角跌落测试中的工作过程，先对其进行以下详述。

在进行面跌落测试时：

首先，根据产品的尺寸大小通过转动调距丝杆1124来初步调整两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距，使得电子产品测试面正对向下的状态下能够刚好放置到两个底部托板121上；

其次，托板驱动件122驱动底部托板121转动到托住电子产品的水平位置上，电子产品放置到底部托板121上；同时，夹板驱动件132驱动两个侧部夹板131从电子产品的两侧对其位置进行进一步固定，使得电子产品的放置更加稳固；

然后，启动升降机构2，将电子产品提升到进行跌落测试的高度上，完成各项准备工作；

最后，托板驱动件122驱动底部托板121转动到取消托住电子产品的位置上，夹板驱动件132驱动两个侧部夹板131取消夹住电子产品，电子产品在重力作用下做自由落体运动，完成面跌落测试。

在进行角跌落测试时：

首先，根据产品的尺寸大小通过转动调距丝杆1124来初步调整两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距，使得电子产品在顶角位于最底部且电子产品整体倾斜的状态下能够刚好放置到两个底部托板121上；

其次，两个托板驱动件122中的一个驱动相应的底部托板121转动到托住电子产品的水平位置上，另一个托板驱动件122则保持另外一个底部托板121转动到取消托住电子产品的位置上；夹板驱动件132驱动两个侧部夹板131运动到夹持电子产品的位置上；

然后，将电子产品放置在夹持机构1，且使得电子产品的待测试的顶角托靠到两个底部托板121中的一个底部托板121上，且同时电子产品的该角部位置落入到位于该底部托板121同侧的侧部夹板131上的凹槽1311中，同时将电子产品的与待测的顶角相对的体对角抵靠到另外一个侧部夹板131上的凹槽1311中，实现将电子产品倾斜的放置在夹持机构1的功能；此外，通过转动调距丝杆1124调整两个底部托板121的间距以及两个侧部夹板131的间距，即可调整电子产品与水平面之间的倾斜角度进行不同倾斜角度的角跌落测试；同时，通过旋转限位杆1312可使得限位杆1312抵靠电子产品的上部倾斜面，限位杆1312在接触面上沿旋转方向给电子产品施加扭转力并向下施加下压力进而使得电子产品绕体对角线旋转，实现对电子产品倾斜状态的调整，进而完成角跌落测试时对电子产品的放置准备工作；

最后，托板驱动件122驱动底部托板121转动到取消托住电子产品的位置上，夹板驱动件132驱动两个侧部夹板131取消夹住电子产品，电子产品在重力作用下做自由落体运动，完成角跌落测试。

以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种跌落测试设备，包括夹持机构(1)，其特征在于，所述夹持机构(1)包括：

基架组件(11)；

底托组件(12)，设置于所述基架组件(11)上；以及

侧夹组件(13)，设置于所述基架组件(11)上，且位于所述底托组件(12)的上部；

所述夹持机构(1)被配置为角跌落测试时，所述底托组件(12)用于托住或取消托住电子产品，所述侧夹组件(13)用于夹持或松开所述电子产品。

2.如权利要求1所述的跌落测试设备，其特征在于，所述侧夹组件(13)包括两个侧部夹板(131)，两个所述侧部夹板(131)分别沿水平方向相对设置于所述基架组件(11)上，所述电子产品能够被固定在两个所述侧部夹板(131)之间。

3.如权利要求2所述的跌落测试设备，其特征在于，所述侧部夹板(131)的用于固定所述电子产品的侧面上设置有凹槽(1311)，所述凹槽(1311)被配置为抵接所述电子产品的顶角。

4.如权利要求3所述的跌落测试设备，其特征在于，所述凹槽(1311)为沿竖直方向设置的条形槽。

5.如权利要求4所述的跌落测试设备，其特征在于，所述条形槽的截面形状为V型。

6.如权利要求2所述的跌落测试设备，其特征在于，所述侧部夹板(131)的远离所述底托组件(12)的一端设置有限位杆(1312)，所述限位杆(1312)位于所述底托组件(12)的上方，且与所述底托组件(12)之间的距离可调。

7.如权利要求2-6中任一项所述的跌落测试设备，其特征在于，所述底托组件(12)包括两个沿所述水平方向相对设置的底部托板(121)，所述底部托板(121)转动设置于所述基架组件(11)上，以托住或取消托住所述电子产品。

8.如权利要求7所述的跌落测试设备，其特征在于，所述基架组件(11)包括两个支撑板(111)和间距调节件(112)；两个所述支撑板(111)沿所述水平方向相对设置于所述间距调节件(112)上，所述底托组件(12)以及所述侧夹组件(13)分别设置于两个所述支撑板(111)上，所述间距调节件(112)被配置为能够调节两个所述支撑板(111)沿所述水平方向的间距。

9.如权利要求8所述的跌落测试设备，其特征在于，所述间距调节件(112)包括：

基架(1121)；

调距丝杆(1124)，沿水平方向设置于所述基架(1121)上，两个所述支撑板(111)分别与所述调距丝杆(1124)螺纹配合，且两个所述支撑板(111)的一端可沿所述水平方向滑动的连接于所述基架(1121)上；所述调距丝杆(1124)被配置为能够调节两个所述支撑板(111)沿所述水平方向的间距。

10.如权利要求1-6、8-9中任一项所述的跌落测试设备，其特征在于，还包括升降机构(2)，所述基架组件(11)与所述升降机构(2)连接，所述升降机构(2)被配置为驱动所述基架组件(11)沿垂直方向移动。