CN209433250U - 一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，用于调整可相互移动的第一零件和第二零件，包括固定块、调整块、调整手柄、止动片和微分头；固定块用于与第一零件固定，固定块上设置有通孔；所述调整块位于固定块下方，用于与第二零件固定，调整块上设置有螺纹通孔和安装孔，螺纹孔与安装孔平行；调整手柄上端设置有螺纹，调整手柄顶端无螺纹且设置有环槽，调整手柄依次穿设在调整块、固定块和止动片中，止动片卡设在调整手柄的环槽中；微分头固定在调整块的安装孔中。本实用新型位置调整装置结构简单、驱动力大、精度高、通用性好，可满足光学试验过程中的微调和测量需求。

Description

一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置

技术领域

本实用新型涉及工装夹具技术，尤其涉及一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置。

背景技术

光学试验领域常需要采用微调结构驱动零件以进行微调，总结现有的微调结构：滑台虽然精度较高，但精密螺纹脆弱，承载能力和驱动能力弱，难以微调重零件；机械领域内可提供较大驱动力的装置结构复杂，灵活性差，调整精度差；采用全自动闭环控制驱动的结构成本高、通用性差，不适合临时试验装置的搭建。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对现有微调结构在承载力和驱动能力、灵活性、精度、成本及通用性等方面不能满足光学实验领域的应用需求的问题。提出一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，该装置在简单灵活的直线驱动结构上，加装了测试装置，可实现简单地手动微调和实时测量。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，用于调整可相互移动(根据零件的安装方向不同可实现不同方向的相对移动)的第一零件和第二零件，包括固定块、调整块、调整手柄、止动片和微分头；

所述固定块用于与第一零件固定，所述固定块上设置有通孔；所述调整块位于固定块下方，用于与第二零件固定，所述调整块上设置有螺纹通孔和安装孔，所述螺纹孔与安装孔平行；所述调整手柄上端设置有螺纹，所述调整手柄顶端无螺纹且设置有环槽，所述调整手柄依次穿设在调整块、固定块和止动片中，所述调整手柄上端螺纹与调整块螺纹孔配合，所述调整手柄顶端无螺纹部分与固定块的通孔滑动配合，所述止动片卡设在调整手柄的环槽中；所述微分头固定在调整块的安装孔中，所述微分头的探测端朝向固定块。

进一步地，所述固定块上的通孔垂直于第一零件。

进一步地，所述调整块上的螺纹孔垂直于第一零件。

进一步地，所述止动片为内轮廓与固定块边缘相配合的槽钢。

进一步地，所述固定块通过第一手动螺钉与第一零件固定。

进一步地，所述调整块未与固定块上下重叠的部分通过第二手动螺钉与第二零件固定。

进一步地，所述调整手柄在驱动方向上，旋入时被螺纹止动，旋出时被止动片卡住止动。所述调整手柄在驱动方向上实现止动的具体方式为：所述调整手柄顶端无螺纹且设置有环槽，所述调整手柄顶端无螺纹部分与固定块上的通孔相配合，所述止动片卡住调整手柄顶端的环槽，当调整手柄旋入时被螺纹止动，旋出时被止动片卡住。

进一步地，所述微分头测量位移的轴线与调整手柄的运动轴线相平行。

进一步地，所述调整手柄末端设置有把手。

本实用新型一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置工作时，调整手柄通过螺纹驱动调整块运动，从而改变固定块和调整快之间的位置，在调整过程中，可用微分头精确测量固定块和调整块之间的位置变化，即能够精确测量出调整的量，达到实时测量的目的。

本实用新型一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置结，采用了螺纹进行驱动，驱动力较大；采用微分头进行反馈测量，精度高、通用性好；采用手动螺钉进行紧固，方便安装、调整和拆卸。微调装置结构简单、成本低、灵活性好，能够实现较大承载力微调的同时对调整量进行观测，满足光学试验的微调需求，适用于多种场合下试验装置的搭建。

附图说明

图1为本实用新型一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置的主视图；

图2为图1的局部剖视图；

图3为本实用新型一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置的左视图；

图4为本实用新型一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置的仰视图。

其中，1.固定块，2.调整块，3.调整手柄，4.止动片，5.微分头，6.第一零件，7.第二零件，8.第一手动螺钉，9.第二手动螺钉。

具体实施方式

以下结合实施例对本实用新型进一步说明：

实施例1

本实施例公开了一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其结构如图1-4所示，该微调装置用于调整可相互移动(根据零件的安装方向不同可实现不同方向的相对移动，如图4所示的安装方向时实现两个零件在平行方向的相对错动，当将两个零件旋转90度安装时，可实现两个零件在垂直方向的相对移动。)的第一零件6和第二零件7，该微调装置包括固定块1、调整块2、调整手柄3、止动片4和微分头5。

所述固定块1通过第一手动螺钉8固定在第一零件6上，所述固定块1上设置有通孔，该通孔垂直于第一零件6的固定面。

所述调整块2位于固定块1下方，所述调整块2未与固定块1上下重叠的部分通过第二手动螺钉9固定在第二零件7上，所述调整块2上设置有螺纹通孔和安装孔，所述螺纹通孔和安装孔垂直于第二零件7的固定面。

所述调整手柄3上端设置有螺纹，所述调整手柄3顶端无螺纹且设置有环槽，所述调整手柄3依次穿设在调整块2、固定块1和止动片4中，具体地，所述调整手柄3通过螺纹旋入调整块2的螺纹孔后顶端穿过固定块1上的通孔；所述止动片4卡住调整手柄3顶端的环槽，所述止动片为内轮廓与固定块1边缘相配合的槽钢。所述调整手柄3末端设置有把手，便于手工操作。

所述微分头5固定在调整块2上的安装孔中，所述微分头5测量位移的轴线与调整手柄3的运动轴线相平行。所述微分头5的探测端朝向固定块1，所述微分头5用于实时测量固定块1与调整块2相临面间距。

本实施例用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，所述调整手柄3顶端无螺纹部分与固定块1上的通孔相配合，调整手柄3在运动方向上旋入时被螺纹止动，旋出时被止动片4卡住止动。

本实施例一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置工作时，旋转调整手柄3通过螺纹驱动调整块2运动，从而改变固定块1和调整快之2间的位置，达到微调第一零件6和第二零件7的目的；在调整过程中，可用微分头5精确测量出固定块1和调整块2之间的位置，即能够测量出调整的量，达到实时测量的目的。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，用于调整可相互移动的第一零件和第二零件，其特征在于，包括固定块、调整块、调整手柄、止动片和微分头；

所述固定块用于与第一零件固定，所述固定块上设置有通孔；所述调整块位于固定块下方，用于与第二零件固定，所述调整块上设置有螺纹通孔和安装孔，所述螺纹通孔与安装孔平行；所述调整手柄上端设置有螺纹，所述调整手柄顶端无螺纹且设置有环槽，所述调整手柄依次穿设在调整块、固定块和止动片中，所述调整手柄上端螺纹与调整块螺纹孔配合，所述调整手柄顶端无螺纹部分与固定块的通孔滑动配合，所述止动片卡设在调整手柄的环槽中；所述微分头固定在调整块的安装孔中，所述微分头的探测端朝向固定块。

2.根据权利要求1所述用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其特征在于，所述固定块上的通孔垂直于第一零件。

3.根据权利要求1所述用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其特征在于，所述调整块上的螺纹孔垂直于第一零件。

4.根据权利要求1所述用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其特征在于，所述止动片为内轮廓与固定块边缘相配合的槽钢。

5.根据权利要求1所述用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其特征在于，所述固定块通过第一手动螺钉与第一零件固定。

6.根据权利要求1所述用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其特征在于，所述调整块未与固定块上下重叠的部分通过第二手动螺钉与第二零件固定。

7.根据权利要求1所述用于光学试验的带有测试功能的位置微调装置，其特征在于，所述微分头测量位移的轴线与调整手柄的运动轴线相平行。