CN209371975U - 一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺、测量尺和定位结构，所述测量尺上设置有刻度线，定位结构的上表面和/或下表面为平面，所述直尺的长度方向与测量尺的长度方向垂直，测量尺的长度方向与定位结构的上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺与定位结构或直尺固定连接，测量尺与定位结构固定连接时，测量尺和定位结构能相对直尺上下移动；测量尺与直尺固定连接时，定位结构能相对测量尺上下移动。本实用新型结构简单、使用方便，能够帮助口腔正畸医生更快更方便的准确测量出Spee曲线深度，使得计算牙齿移动所需的间隙量更准确，从而为病人制定更精确的治疗方案。
Description
技术领域
本实用新型属于口腔正畸工具技术领域，具体涉及一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器。
背景技术
在口腔正畸学领域，Spee曲线通常是指下颌牙列中前牙切缘到后牙颊尖在矢状方向形成的圆弧上的一段截弧，其标志为从下颌中切牙近中切缘，下颌侧切牙切缘，下颌尖牙牙尖，下颌第一、第二前磨牙颊尖，下颌第一磨牙近中颊尖到远中颊尖的连线为一条凹向上的曲线。错牙合畸形伴深覆牙合病例常伴有Spee曲线异常。有研究者提出平直的Spee曲线，其口腔咀嚼能力强，过深的Spee曲线会造成咀嚼肌失衡，严重可导致咬合功能障碍，Spee曲线的深度大小影响着正畸治疗后复发的可能性，且临床治疗中存在一定难度。所以准确测量Spee曲线深度以及整平Spee曲线对于每位正畸医生均相当重要，临床上Spee曲线的测量值为牙齿左右两侧测量值相加除以2即取平均数。常规测量时用直尺放于牙齿石膏模型的下切牙与第二恒磨牙颊沟处，测量牙合曲线最低点至直尺的垂直距离，但牙合曲线最低点与直尺并不在同一竖直平面内，两者间相距一定水平距离，所以临床测量主要通过目测或分规平移，而分规针是尖端细末端粗，所以平移测量会存在一定误差，从而影响正畸医生准确掌握Spee曲线真实深度，影响正畸医生的治疗方案。
专利文献CN201510052303公开了一种Spee曲线深度测量装置，其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在下颌牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右下颌牙列正上方的两块测量板，测量板的前或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面。但是该发明的结构复杂，使用不方便。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，以解决背景技术中提出的简单方便的测量Spee曲线深度的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供了一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺、测量尺和定位结构，所述测量尺上设置有刻度线，定位结构的上表面和/或下表面为平面，所述直尺的长度方向与测量尺的长度方向垂直，测量尺的长度方向与定位结构上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺与定位结构或直尺固定连接，测量尺与定位结构固定连接时，测量尺和定位结构能相对直尺上下移动；测量尺与直尺固定连接时，定位结构能相对测量尺上下移动。
进一步地，所述直尺上设置有刻度线，且直尺的最小刻度为0.5mm或1mm，所述直尺的长度为6cm以上，直尺上设置的零刻度线位于直尺的一端，直尺与测量尺相连的位置位于距离直尺零刻度线3～5cm的位置。
进一步地，所述直尺的长度为10～20cm。
进一步地，所述测量尺与定位结构固定连接时，测量尺上设置的零刻度线位于与定位结构的上表面或下表面等高的位置，直尺底面与测量尺交点处的测量尺读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度；所述测量尺与直尺固定连接时，测量尺上设置的零刻度线位于与直尺的底面等高的位置，定位结构上表面或下表面与测量尺交点处的测量尺读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度。
进一步地，所述定位结构上表面内的任意两点之间的直线长度小于等于5cm。
进一步地，所述测量尺的刻度范围长度为5mm以上。
进一步地，所述测量尺的刻度范围长度为6～15mm，测量尺的最小刻度为0.5mm。
进一步地，所述测量器还包括测量丝，测量丝的一端与直尺的一端相连。
进一步地，所述测量丝为柔性金属丝，测量丝的长度大于等于直尺的刻度范围长度。
进一步地，所述测量丝为黄铜丝，测量丝不与直尺相连的一端还设置有卡扣可以将测量丝卡在直尺上固定住。
相比于现有技术，本实用新型具有以下有益效果：
本实用新型结构简单、使用方便，能够帮助口腔正畸医生更快更方便的准确测量出 Spee曲线深度，使得计算得到的牙齿移动所需的间隙量更准确，从而为病人制定更精确的治疗方案。
除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本实用新型作进一步详细的说明。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
图1是本实用新型一种实施例的示意图；
图2是本实用新型另一种实施例的示意图；
其中，1、直尺；2、测量尺；3、定位结构；4、测量丝；11、导轨。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以根据权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
实施例1
如图1所示，本实用新型提供的一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺1、测量尺2和定位结构3，所述测量尺2上设置有刻度线，定位结构3的上表面和/或下表面为平面，所述直尺1的长度方向与测量尺2的长度方向垂直，测量尺2的长度方向与定位结构3上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺2与定位结构3固定连接，测量尺2 和定位结构3能相对直尺1上下移动。且具体在直尺1上设置竖直方向的导轨11，使得测量尺2可以沿导轨上下滑动。本实用新型中，测量尺2与定位结构3固定连接，是指二者在上下方位的位置关系不能变化，但定位结构3可以设置为在测量尺2上等高旋转；或者圆柱形的测量尺2不仅可以在圆柱形导轨11中上下移动，还可以在导轨中旋转(如图 1所示)。
进一步地，所述直尺1上设置有刻度线，且直尺1的最小刻度为0.5mm或1mm，所述直尺1的长度为6cm以上，直尺1上设置的零刻度线位于直尺1的一端，直尺1与测量尺2相连的位置位于距离直尺1零刻度线3～5cm的位置。测量时，可以前后移动直尺1，使得直尺1与测量尺2相连的位置便于测量所述Spee曲线深度值。直尺1的长度要保证大于下颌牙列中前牙切缘到第二磨牙的远中尖的距离。直尺1与测量尺2相连的位置要保证定位结构3便于放置，定位结构3不与牙列产生干涉。
进一步地，所述直尺1的长度为10～20cm。
进一步地，所述测量尺2与定位结构3固定连接时，测量尺2上设置的零刻度线位于与定位结构3的上表面或下表面等高的位置，直尺1底面与测量尺2交点处的测量尺2读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度。当测量尺2上设置的零刻度线位于与定位结构3的下表面等高的位置时，定位结构3的上下表面之间的距离优选小于0.5mm。
进一步地，所述定位结构3上表面内的任意两点之间的直线长度小于等于5cm。保证定位结构3不与牙列产生干涉。
进一步地，所述测量尺2的刻度范围长度为5mm以上。因为Spee曲线深度常见的最大值为5mm。
进一步地，所述测量尺2的刻度范围长度为6～15mm，测量尺2的最小刻度为0.5mm。
进一步地，所述测量器还包括测量丝4，测量丝4的一端与直尺1的一端相连。设置测量丝4的结构可以直接测量出牙弓的长度。
进一步地，所述测量丝4为柔性金属丝，测量丝4的长度大于等于直尺1的刻度范围长度。
进一步地，所述测量丝4为黄铜丝，测量丝4不与直尺1相连的一端还设置有卡扣可以将测量丝卡在直尺1上固定住。
实施例2
如图2所示，本实用新型提供的一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺1、测量尺2和定位结构3，所述测量尺2上设置有刻度线，定位结构3的上表面和/或下表面为平面，所述直尺1的长度方向与测量尺2的长度方向垂直，测量尺2的长度方向与定位结构3上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺2与直尺1固定连接，定位结构3 能相对测量尺2上下移动。
进一步地，所述直尺1上设置有刻度线，且直尺1的最小刻度为0.5mm或1mm，所述直尺1的长度为6cm以上，直尺1上设置的零刻度线位于直尺1的一端，直尺1与测量尺2相连的位置位于距离直尺1零刻度线3～5cm的位置。
进一步地，所述直尺1的长度为10～20cm。
进一步地，所述测量尺2与直尺1固定连接时，测量尺2上设置的零刻度线位于与直尺1的底面等高的位置，定位结构3上表面或下表面与测量尺2交点处的测量尺2读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度。选择定位结构3上表面还是下表面与测量尺2交点处的测量尺2读数，则是需要具体看Spee曲线最低点位于定位结构3上表面还是下表面的同一平面内。
进一步地，所述定位结构3上表面内的任意两点之间的直线长度小于等于5cm。
进一步地，所述测量尺2的刻度范围长度为5mm以上。
进一步地，所述测量尺2的刻度范围长度为6～15mm，测量尺2的最小刻度为0.5mm。
进一步地，所述测量器还包括测量丝4，测量丝4的一端与直尺1的一端相连。
进一步地，所述测量丝4为柔性金属丝，测量丝4的长度大于等于直尺1的刻度范围长度。
进一步地，所述测量丝4为黄铜丝，测量丝4的长度等于直尺1的长度，测量丝4不与直尺1相连的一端还设置有卡扣可以将测量丝卡在直尺1上固定住。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演和替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，其特征在于，包括直尺(1)、测量尺(2)和定位结构(3)，所述测量尺(2)上设置有刻度线，定位结构(3)的上表面和/或下表面为平面，所述直尺(1)的长度方向与测量尺(2)的长度方向垂直，测量尺(2)的长度方向与定位结构(3)上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺(2)与定位结构(3)或直尺(1)固定连接，测量尺(2)与定位结构(3)固定连接时，测量尺(2)和定位结构(3)能相对直尺(1)上下移动；测量尺(2)与直尺(1)固定连接时，定位结构(3)能相对测量尺(2)上下移动。
2.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述直尺(1)上设置有刻度线，且直尺(1)的最小刻度为0.5mm或1mm，所述直尺(1)的长度为6cm以上，直尺(1)上设置的零刻度线位于直尺(1)的一端，直尺(1)与测量尺(2)相连的位置位于距离直尺(1)零刻度线3～5cm的位置。
3.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述直尺(1)的长度为10～20cm。
4.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述测量尺(2)与定位结构(3)固定连接时，测量尺(2)上设置的零刻度线位于与定位结构(3)的上表面或下表面等高的位置，直尺(1)底面与测量尺(2)交点处的测量尺(2)读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度；所述测量尺(2)与直尺(1)固定连接时，测量尺(2)上设置的零刻度线位于与直尺(1)的底面等高的位置，定位结构(3)上表面或下表面与测量尺(2)交点处的测量尺(2)读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度。
5.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述定位结构(3)上表面内的任意两点之间的直线长度小于等于5cm。
6.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述测量尺(2)的刻度范围长度为5mm以上。
7.根据权利要求6所述的测量器，其特征在于，所述测量尺(2)的刻度范围长度为6～15mm，测量尺(2)的最小刻度为0.5mm。
8.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述测量器还包括测量丝(4)，测量丝(4)的一端与直尺(1)的一端相连。
9.根据权利要求8所述的测量器，其特征在于，所述测量丝(4)为柔性金属丝，测量丝(4)的长度大于等于直尺(1)的刻度范围长度。
10.根据权利要求9所述的测量器，其特征在于，所述测量丝(4)为黄铜丝，测量丝(4)不与直尺(1)相连的一端还设置有卡扣可以将测量丝卡在直尺(1)上固定住。
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