CN209311633U - 高精度温度传感器矩阵测试系统 - Google Patents

Abstract

一种高精度温度传感器矩阵测试系统，在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器、电源接线柱、矩阵控制端、温度传感器测试端和数据流输出端，双刀继电器形成30位矩阵开关组，还包括程控电源、程控开关、程控万用表、DUT插座、恒温槽，所述数据流输出端与程控万用表连接，所述程控电源、所述继电器的常开接点、温度传感器测试端、DUT插座和程控万用表构成测试回路，所述程控开关和双刀继电器线圈串接后连接继电器组供电系统，所述程控电源、程控开关和程控万用表通过GPIB连接线与上位机连接。可实现混合集成电路的自动化测试，缩短了混合集成电路的测试时间，而且节省了人力资源，减轻了测试操作工的劳动强度，从精度和准确度上都有很大程度的提高。

Description

高精度温度传感器矩阵测试系统

技术领域

本实用新型涉及温度传感器电路测试系统，进一步来说，涉及一种高精度温度传感器矩阵式程控测试系统。

背景技术

以往的高精度温度传感器测试，都是采用人工手动测试，需要两个测试操作工配合才能进行测试。具体过程为：一个操作工通过手动搬动开关，使测试硬件调节到对应参数的测试电路，再通过数字万用表、示波器、网络分析仪、阻抗分析仪等测试设备进行人为读数，通过口述的方式让另一个测试操作工进行测试数据的记录，这种测试方式生产效率特别低，而且容易使测试数据的读取和记录发生错记或者漏记的现象，或者因为误操作硬件测试电路的切换开关，引起测试电路的错误搭接从而导致器件烧毁。由于温度传感器的生产成本高，销售价格昂贵，因此这些因为读数、记录数据和硬件操作上所发生的错误都会给企业带来不必要的重大损失，并且工人的工作量特别大，工作效率非常低。此外，由于温度传感器的特殊性，测试环境温度要求非常高，对于高精度的温度传感器要求则更高，所以以往的测试方案都会带来很大的测试偏差。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种高精度温度传感器矩阵测试系统，能实现高精度温度传感器的矩阵式自动测试，通过控制矩阵阵列排布，能一次性顺序自动测试28个产品，从而大大的提高了生产效率，而且节省大量的人力物力财力，保证了产品批量生产的准确性、稳定性和一致性；缩短了测试时间，而且节省了人力资源，测试操作工也只需要输入管号并确认就能完成测试，大大减轻了测试操作工的劳动强度。

本实用新型的技术解决方案是：

一种高精度温度传感器矩阵测试系统，包括PCB矩阵板，其特殊之处是：在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器、电源接线柱、矩阵控制端、温度传感器测试端和数据流输出端，所述15个双刀继电器形成30位矩阵开关组，该测试系统还包括程控电源、程控开关、程控万用表、DUT插座、恒温槽，所述程控开关通过插针、矩阵测试端和所述双刀继电器线圈连接，所述温度传感器测试端与DUT插座之间通过插针连接，所述数据流输出端与程控万用表连接，所述程控电源、所述继电器的常开接点、温度传感器测试端、DUT插座和程控万用表构成测试回路，所述程控开关和双刀继电器线圈串接后连接继电器组供电系统，所述程控电源、程控开关和程控万用表通过GPIB连接线与上位机连接，所述继电器用于切换测试具体参数对应的电路，通过程控开关实现测试的逻辑控制。

进一步，所述DUT插座由四个上下布置的插座单元构成，每个插座单元包括圆形PCB板，所述圆形PCB板上表面设置呈周向间隔布置的七个插座，圆形PCB板的上表面中心设有螺杆、下表面中心设有螺孔，上下相邻的圆形PCB板通过对应的螺孔和螺杆实现螺纹连接。

进一步地，所述数据流输出口和程控万用表分别有二个且对应连接，从而提高测试效率。

本实用新型的有益效果是：可实现混合集成电路的自动化测试，缩短了混合集成电路的测试时间，而且节省了人力资源，测试操作工也只需要输入管号并确认就能完成测试，大大减轻了测试操作工的劳动强度，采用程控方式从精度和准确度上都有很大程度的提高。该测试系统可用于专用的电路测试，不局限于固化好的测试模式，可以进行灵活的搭配使用，从而实现对每个参数、每种产品的独立测试。

附图说明

图1是本实用新型的系统结构示意图；

图2是本实用新型的PCB板结构示意图；

图3是本实用新型的DUT插座结构示意图；

图4是图3的俯视图

图中：1.上位机、2.GPIB连接线、3.程控电源、4.PCB矩阵板，401.双刀继电器、402.电源接线柱、403.数据流输出端、404.矩阵控制端、405.温度传感器测试端、5.恒温槽、6.DUT插座、7.继电器组供电系统、8.程控开关、9.程控万用表、10.插针、11.插针、601.圆形PCB板、602.插座、603.螺杆、604.插孔。

具体实施方式

如图所示，该高精度温度传感器矩阵测试系统，包括PCB矩阵板4，在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器401、电源接线柱402、矩阵控制端404、温度传感器测试端405和数据流输出端403，所述15个双刀继电器形成30位矩阵开关组，数据流输出端403有二个，该测试系统还包括程控电源3、程控开关8、程控万用表9、DUT插座6、恒温槽5，所述恒温槽5通过温控系统实现恒温功能。所述程控万用表9有二个且采用数字表，所述程控开关8通过插针10、矩阵控制端404和所述双刀继电器401线圈连接，所述温度传感器测试端405与DUT插座6之间通过插针11连接，所述数据流输出端403与程控万用表9连接，所述程控电源3、双刀继电器401常开接点、温度传感器测试端405、DUT插座6和程控万用表9构成测试回路，所述程控开关8和双刀继电器401线圈串接后接继电器组供电系统7，所述程控电源3、程控开关8和程控万用表9通过GPIB连接线2与上位机1连接，所述双刀继电器401用于切换测试具体参数对应的电路，通过程控开关8实现测试的逻辑控制。

所述DUT插座6由四个上下布置的插座单元构成，每个插座单元包括圆形PCB板601，所述圆形PCB板601上表面设置呈周向间隔布置的七个插座602，圆形PCB板601的上表面中心设有螺杆603、下表面中心设有螺孔604，上下相邻的圆形PCB板通过对应的螺孔604和螺杆603实现螺纹连接。

该测试系统运行过程如下：

首先将器件分别插入到4X7DUT插座中，然后将DUT插座整体放入恒温槽，将恒温槽温度调至所需温度后密封恒温半小时后开始测试，恒温槽温度范围在-95～140摄氏度，精度0.02摄氏度。

通过VEE编程实现上位机对程控电源、程控开关、程控数字表的控制，采用加压测流的方式对器件进行电流测试，程控开关对PCB矩阵板控制位进行逐一控制，使继电器常开接点逐一接通，对28支器件逐一测试(也可通过程控开关使一对继电器常开接点同时接通，实现一次测得二支器件的参数)通过反馈端反馈到上位机，实现数据输出。继电器线圈采用独立供电，程控开关与PCB矩阵板相连接的部分采用插针式连接，而程控开关内只走控制信号不走采样信号。通过独立控制继电器通断实现测试数据流在内部独立流动，使测试数据不受外界干扰。

以上仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种高精度温度传感器矩阵测试系统，包括PCB矩阵板，其特征是：在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器、电源接线柱、矩阵控制端、温度传感器测试端和数据流输出端，所述15个双刀继电器形成30位矩阵开关组，该测试系统还包括程控电源、程控开关、程控万用表、DUT插座、恒温槽，所述程控开关通过插针、矩阵测试端和所述双刀继电器线圈连接，所述温度传感器测试端与DUT插座之间通过插针连接，所述数据流输出端与程控万用表连接，所述程控电源、所述继电器的常开接点、温度传感器测试端、DUT插座和程控万用表构成测试回路，所述程控开关和双刀继电器线圈串接后连接继电器组供电系统，所述程控电源、程控开关和程控万用表通过GPIB连接线与上位机连接，所述继电器用于切换测试具体参数对应的电路，通过程控开关实现测试的逻辑控制。

2.根据权利要求1所述的高精度温度传感器矩阵测试系统，其特征是：所述DUT插座由四个上下布置的插座单元构成，每个插座单元包括圆形PCB板，所述圆形PCB板上表面设置呈周向间隔布置的七个插座，圆形PCB板的上表面中心设有螺杆、下表面中心设有螺孔，上下相邻的圆形PCB板通过对应的螺孔和螺杆实现螺纹连接。

3.根据权利要求1所述的高精度温度传感器矩阵测试系统，其特征是：所述数据流输出口和程控万用表分别有二个且对应连接。