CN209296951U - 毫米波/太赫兹波成像设备 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。

Description

毫米波/太赫兹波成像设备

技术领域

本公开涉及安检技术领域，特别是涉及一种毫米波/太赫兹波成像设备。

背景技术

在当前国内外防恐形势日益严峻的形势下，恐怖分子利用隐匿方式随身携带刀具、枪支、爆炸物等危险物品对公共安全构成了严重的威胁。基于被动式毫米波/太赫兹波的人体安检技术，具有独特的优点，通过检测目标本身的毫米波/太赫兹波辐射实现成像，无需主动辐射，对人体进行安检，利用毫米波/太赫兹波的穿透能力实现藏匿危险物的检测。根据成像体制的不同，被动式毫米波和太赫兹波成像技术可以分为焦平面成像体制和基于机械扫描的成像体制。

基于焦平面成像技术的毫米波太赫兹相机使用复杂的技术而且需要特殊的装置，其基本原理是通过分布在焦平面上的众多单元天线以及适当的反射镜、透镜对目标的不同位置同时成像。如美国Northrop Grumman公司的NGC系统，使用焦平面阵列天线可以实现实时成像，但是系统复杂，例如NGC系统在水平15°，垂直10°的视场分辨率为0.5°的角分辨率，需要1040个探测器。为了降低系统成本和复杂度，当前主流的解决方案是一维线性探测器阵列加上机械扫描的方式对整个视场进行扫描成像。

典型的探测器阵列呈线性分布且探测器圆锥扫描时，探测器的线性布置导致图像在视场的中间部分相比边缘的采样密度低很多，而边缘区域相比中心区域是我们更不关心的地方。此外，对这样的布置，旋转图像(不旋转整个相机)可能导致损失一些潜在信息。

实用新型内容

本公开的目的在于提供一种毫米波/太赫兹波成像设备，以使得图像在视场的采样密度比较均匀。

根据本公开一个方面的实施例，提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备，其包括：准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置，

所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括多个适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个所述反射板与被检对象所在的视场法向之间的角度是不同的，且多个所述反射板与水平面之间的角度是不同的；

所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束；以及

所述反射板调节装置包括旋转机构，所述旋转机构适用于驱动多个所述反射板在水平方向上的旋转运动，以使得多个所述反射板依次对所述被检对象位于所述视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射。

在一些实施例中，多个所述反射板中的至少一个所述反射板与水平面之间的角度是可调节的。

在一些实施例中，所述旋转机构包括：

基座；和

转台，所述转台与所述基座转动式连接，多个所述反射板安装在所述转台上，以在所述转台的带动下在水平方向上旋转运动；

转台驱动装置，所述转台驱动装置与所述转台连接，适用于驱动所述转台转动。

在一些实施例中，所述转台包括

转台本体，所述转台本体适用于与所述基座转动式连接；和

倒置的L形支架，所述L形支架的一端部与所述转台本体连接，所述L形支架的另一端部与所述反射板连接。

在一些实施例中，还包括适用于调节所述反射板与所述水平面之间的角度的俯仰摆动机构。

在一些实施例中，所述俯仰摆动机构包括：

曲柄连杆机构，所述曲柄连杆机构的曲柄与所述反射板连接，并与所述L形支架转动式连接，所述曲柄连杆机构的连杆与所述L形支架滑动连接，以通过所述连杆相对于所述L形支架的滑动来带动所述曲柄的转动，进而带动所述反射板的俯仰摆动；

俯仰摆动驱动装置，所述俯仰摆动驱动装置适用于驱动所述连杆相对于所述L形支架的滑动运动。

在一些实施例中，所述曲柄采用半圆形板，所述半圆形板的直径部分与所述反射板连接。

在一些实施例中，所述L形支架上设置有导向件，所述曲柄连杆机构的连杆滑动地套设在所述导向件内。

在一些实施例中，所述转台上设置有角位移测量机构，用于测量所述转台的角位移。

在一些实施例中，所述基座呈L形结构，并包括水平部以及与所述水平部连接的竖直部。

在一些实施例中，毫米波/太赫兹波成像设备还包括适用于安装所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的探测器平台，所述探测器平台固定在所述L形结构的竖直部上。

在一些实施例中，所述准光学组件还包括适用于汇聚来自所述反射板的波束的聚焦透镜，所述聚焦透镜沿所述波束的路径位于所述反射板和所述毫米波/太赫兹波探测器阵列之间。

在一些实施例中，还包括适用于安装所述聚焦透镜的透镜支架，所述透镜支架设置在所述L形结构的竖直部上。

在一些实施例中，所述准光学组件还包括适用于汇聚来自所述被检对象的波束的聚焦透镜，所述聚焦透镜位于所述反射板和被检对象之间。

在一些实施例中，所述毫米波/太赫兹波探测器阵列中的多个毫米波/太赫兹波探测器呈线性分布或双列交错分布。

在一些实施例中，多个所述反射板等间隔地分布在以所述旋转机构的旋转轴线为圆心的假想圆上。

在一些实施例中，所述反射板是平面的。

在一些实施例中，所述反射板采用光滑的金属表面或金属栅网格。

在一些实施例中，所述反射板是菲涅尔反射镜或抛物面反射镜。

在一些实施例中，还包括：

数据处理装置，所述数据处理装置与所述毫米波/太赫兹波探测器阵列连接以接收来自所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的对于被检对象的扫描数据并生成毫米波/太赫兹波图像；和

显示装置，所述显示装置与所述数据处理装置相连接，用于接收和显示来自数据处理装置的毫米波/太赫兹波图像。

根据本公开上述各种实施例所述的毫米波/太赫兹波成像设备，通过旋转机构带动多个反射板同时转动，以使得多个所述反射板依次对所述被检对象位于所述视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波进行反射，以对视场进行全面反射，采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。

附图说明

图1为根据本公开的一实施例的毫米波/太赫兹波成像设备的结构示意图；

图2为图1所示的毫米波/太赫兹波成像设备上仅设置一个反射板的结构示意图；

图3为根据本公开的一种毫米波/太赫兹波成像设备的原理示意图；

图4为根据本公开的另一实施例的毫米波/太赫兹波成像设备的示意图；

图5为根据本公开的一个实施例的反射板俯仰摆动与视场竖直范围的示意图；

图6为透镜成像的示意图；

图7为根据本公开的又一实施例的聚焦透镜位于被检对象和反射板之间的结构示意图；

图8为根据本公开的一个实施例的毫米波/太赫兹波成像设备的工作示意图；

图9为根据本公开的另一实施例的毫米波/太赫兹波成像设备的工作不意图；

图10为根据本公开的再一实施例的毫米波/太赫兹波成像设备的工作示意图；以及

图11为根据本公开的一种利用毫米波/太赫兹波成像设备对人体或物品进行检测的方法的流程图。

具体实施方式

虽然将参照含有本公开的较佳实施例的附图充分描述本公开，但在此描述之前应了解本领域的普通技术人员可修改本文中所描述的公开，同时获得本公开的技术效果。因此，须了解以上的描述对本领域的普通技术人员而言为一广泛的揭示，且其内容不在于限制本公开所描述的示例性实施例。

另外，在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本披露实施例的全面理解。然而明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。在其他情况下，公知的结构和装置以图示的方式体现以简化附图。

图1和图2示意性地示出了根据本公开的一实施例的毫米波/太赫兹波成像设备。该成像设备包括准光学组件、反射板调节装置和毫米波/太赫兹波探测器阵列2，其中准光学组件适用于将被检对象31自发辐射的波束反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列2，并包括三个适用于接收并反射来自被检对象31的波束的反射板1A、1B、1C和适用于汇聚来自各反射板1A、1B、1C的波束的聚焦透镜4，其中，三个反射板1A、1B、1C与被检对象31所在的视场法向之间的角度是不同的，且多个反射板1A、1B、1C与水平面之间的角度也是不同的。在这里，视场法向(如图1和图2中的空心箭头所示)指的是从反射板1的中心到视场3的纵向中心线的水平连线的方向。毫米波/太赫兹波探测器阵列2适用于接收由准光学组件反射并汇聚后的波束。反射板调节装置包括旋转机构6，该旋转机构6适用于驱动反射板1在水平方向上旋转运动，由于三个反射板1A、1B、1C与被检对象所在的视场法向之间的角度是不同的，因此在旋转机构6的驱动下可以使反射板1A、1B、1C依次对被检对象31自发辐射的波束进行反射，此外，由于三个反射板1A、1B、1C与水平面之间的角度也是不同的，因此可以使得三个反射板1A、1B、1C对被检对象31位于视场3不同竖直位置的部分自发辐射的波束进行反射。

根据本公开的实施例，该毫米波/太赫兹波成像设备通过反射板1接收并反射由被检对象31自发辐射的波束，并经聚焦透镜4的汇聚作用后由毫米波/太赫兹波探测器阵列2接收(如图3所示)。由于三个反射板1A、1B、1C与被检对象31所在的视场法向之间的角度是不同的，因此在旋转机构6的驱动下可以使反射板1A、1B、1C依次对被检对象31自发辐射的波束进行反射，此外，由于三个反射板1A、1B、1C与水平面之间的角度也是不同的，因此可以使得多个反射板1A、1B、1C对被检对象31位于视场3不同竖直位置的部分自发辐射的波束进行反射，从而使反射板1对视场3进行全面反射，且采样密集点集中在全视场3中间，此外，在视场3的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。

需要说明的是，虽然在该实施例中，反射板1A、1B、1C反射的波束是被检对象31自发辐射的毫米波或太赫兹波，然而本领域的技术人员应当理解，该波束也可以为照射到被检对象31并经被检对象31反射回来的毫米波/太赫兹波。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，三个反射板1A、1B、1C中的至少一个反射板与水平面之间的角度是可调节的。为了便于调节反射板1A、1B、1C与水平面之间的角度，优选该毫米波/太赫兹波成像设备还包括用于调节各反射板1A、1B、1C与水平面之间的角度的俯仰摆动机构7A、7B、7C。当反射板1A、1B、1C在旋转机构6的带动下每旋转一定角度，俯仰摆动机构7A、7B、7C驱动与其连接的反射板1A、1B、1C在竖直方向上进行俯仰摆动，以增大与该反射板对应的视场3的竖直范围，从而能够使毫米波/太赫兹波成像设备在不增加毫米波/太赫兹波探测器数量的情况下能够满足更大竖直范围的视场3。

需要说明的是，本领域的技术人员应当理解，在本公开的其它一些实施例中，反射板1A、1B、1C与水平面之间的角度也可以是固定的(如图4所示)。当整个视场竖直范围所对应的视场角度为θm，则三个反射板1A、1B、1C与水平面的偏离角度分别为

其中，α为反射板1B与水平面之间的角度，优选α为45°，需要说明的是，本领域的技术人员应当理解，在本发明的其他一些实施例中，d也可以为其它数值，例如α在30°至60°的范围内等。

如果毫米波/太赫兹波探测器阵列的静态视场为H₀，那么总的视场高度约为3H₀。静态视场H₀的大小取决于毫米波/太赫兹波探测器的个数和中心间距。

需要说明的是，虽然在这里示出三个反射板，但是本领域的技术人员应当理解，反射板的数量也可以为其它数值，例如2个、4个、5个、6个等，优选为4个、5个或6个。在一些实施例中，多个反射板等间隔地分布在以旋转机构6的旋转轴线为圆心的假想圆上

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，旋转机构6包括基座61和转台，其中，转台包括转台本体62和两个倒置的L形支架63，其中转动本体62适用于与基座61转动式连接；两个L形支架63对称设置在俯仰摆动机构7的两侧，且两个L形支架63的一端部与转台本体62连接，L形支架63的另一端部与俯仰摆动机构7连接，这样通过转台的转动能够带动俯仰摆动机构7在水平方向上转动，进而带动与俯仰摆动机构7连接的反射板1在水平方向上转动。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，转台包括转台本体62和倒置的L形支架63，其中转动本体621适用于与基座61转动式连接；两个L形支架63对称设置在俯仰摆动机构7的两侧，且L形支架63的一端部与转台本体62连接，L形支架63的另一端部与俯仰摆动机构7连接，这样通过转台的转动能够带动俯仰摆动机构7在水平方向上转动，进而带动与俯仰摆动机构7连接的反射板1在水平方向上转动。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，俯仰摆动机构7包括：曲柄连杆机构，曲柄连杆机构的曲柄采用半圆形板71，半圆形板71的直径部分与反射板1连接，半圆形板71的圆心处通过转轴73分别与两个L形支架63转动式连接；曲柄连杆机构的连杆72与L形支架63滑动连接，以通过连杆72相对于L形支架63的滑动来带动半圆形板71的转动，进而带动反射板1的俯仰摆动，从而调节反射板1与竖直方向之间的角度，实现对被检对象31位于视场3不同竖直位置的部分自发辐射的波束进行反射，即完成视场3竖直方向的数据采集。此外，俯仰摆动机构7还包括适用于驱动连杆72与L形支架63的滑动运动的俯仰摆动驱动装置74，例如线性致动器。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，L形支架63上设置有筒状的导向件，曲柄连杆机构的连杆72滑动地套设在该导向件内，这样可以保证连杆72相对于L形支架63的滑动。

此外，转台上还设置有适用于测量转台的角位移的角位移测量机构(未示出)，以便控制转台的转动幅度，使其仅在视场3的水平范围内进行工作。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，基座61呈L形结构，其包括水平部以及与该水平部基本上垂直设置的竖直部，其中转台转动式地安装在基座61的水平部上。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，该成像设备还包括适用于安装毫米波/太赫兹波探测器阵列2的毫米波/太赫兹波探测器平台8，该毫米波/太赫兹波探测器平台8安装在L形结构的竖直部上，以便于毫米波/太赫兹波探测器阵列2接收来自准光学组件的波束。

如图1至图3所示，在一个示例性实施例中，聚焦透镜4沿波束的路径位于反射板1和毫米波/太赫兹波探测器阵列2之间。需要说明的是，本领域的技术人员应当理解，在本公开的其它一些实施例中，聚焦透镜4也可以设置在反射板1和被检对象31之间，即被检对象31自发辐射的波束经过聚集透镜4，然后被反射板1反射至毫米波/太赫兹波探测器阵列2并由毫米波/太赫兹波探测器阵列2接收，如图7所示。

如图1和图2所示，在一个示例性实施例中，该成像设备还包括适用于安装聚焦透镜4的透镜支架5，该透镜支架5固定在L形结构的竖直部上，并且位于毫米波/太赫兹波探测器平台8与反射板1之间。

在一个示例性实施例中，毫米波/太赫兹波探测器阵列2呈双列交错分布(如图8所示)，每一列的分布方向与视场法向平行。在这里，视场法向指的是指的是从反射板1的中心到视场3的纵向中心线之间的水平连线的方向。毫米波/太赫兹波探测器阵列2中毫米波/太赫兹波探测器的个数根据所需视场大小以及所需分辨率确定，毫米波/太赫兹波探测器的大小根据波长、加工工艺，以及所需采样密度等确定。需要说明的是，本领域的技术人员应当理解，在本公开的其它一些实施例中，毫米波/太赫兹波探测器阵列2也可以呈线性分布，分布方向也与视场法向平行。

此外，需要说明的是，本领域的技术人员应当理解，在本公开的一些实施例中，反射板1可以是平面的，例如光滑的金属表面或金属栅网格，在本公开的另外一些实施例中，反射板1也可以是非平面的，例如菲涅尔反射镜或者抛物面反射镜。

在本公开的一个实施例中，该成像设备还可以包括数据处理装置(未示出)。该数据处理装置与毫米波/太赫兹波探测器阵列2无线连接或有线连接以接收来自毫米波/太赫兹波探测器阵列2的对于被检对象3的扫描数据并生成毫米波/太赫兹波图像。该成像设备还可以包括显示装置，该显示装置与数据处理装置相连接，用于接收和显示来自数据处理装置的毫米波/太赫兹波图像。

在一个示例性实施例中，数据处理装置可以用于生成控制信号并将控制信号发送给转台驱动装置和俯仰摆动驱动装置以驱动转台转动和/或俯仰摆动机构7摆动。在另一示例性实施例中，成像设备也可以包括与数据处理装置相独立的控制装置。

本公开还提供了一种利用被动式毫米波/太赫兹波成像设备对人体或物品进行检测的方法，如图11所示，包括以下步骤：

步骤S1：旋转机构6驱动三个反射板1A、1B、1C在水平方向上旋转，以使得三个反射板1A、1B、1C依次对被检对象31位于视场3不同竖直位置的部分自发辐射的毫米波/太赫兹波进行反射；

步骤S2：将毫米波/太赫兹波探测器阵列2所获得的对于被检对象的扫描数据发送给数据处理装置；和

步骤S3：利用数据处理装置对扫描数据进行重建以生成被检对象的毫米波/太赫兹波图像。

该方法可以准确地对被检对象31进行全方位的成像和检测，其中被检对象31可以是人体，也可以是物品。

优选地，在步骤S1中，旋转机构6驱动三个反射板1A、1B、1C在水平方向上每旋转一定角度，俯仰摆动机构7A、7B、7C同时驱动与其连接的反射板1A、1B、1C在竖直方向上摆动预定角度N_v次，以完成对被检对象位于视场3的相应的预设竖直范围的部分自发辐射的波束进行反射，旋转机构6驱动三个反射板1A、1B、1C在水平方向上旋转N_h次，以完成对被检对象31位于视场3水平范围的部分自发辐射的波束进行反射。在这里需要说明的是，俯仰摆动机构7A、7B、7C驱动与其连接的反射板1A、1B、1C进行摆动可以是同步的，也可以是不同步的。

图5示出了反射板1俯仰摆动与视场竖直范围的示意图。如图5所示，毫米波/太赫兹波探测器阵列2的静态视场为H₀，视场3的中心到反射板1的中心的水平距离为L，竖直视场范围为H，该竖直视场范围H所对应的视场角度为θ_m。反射板1摆动θ，对应的视场角度改变2θ，所以竖直视场范围H所对应的视场角度为θ_m，对应反射板1的摆动角度为θ_m/2。当采用三个反射板1A、1B、1C时，每个反射板完成对被检对象31位于视场3的相应的预设竖直范围H_预的反射所需要摆动的次数N_v通过下式计算：

式中，[]表示向上取整；

L为视场中心到反射板中心的距离；

H₀为毫米波/太赫兹波探测器排列2的静态视场；

θ_预为每个反射板对应的预设视场竖直范围H_预所对应的视场角度。

需要说明的是，反射板是否需要做俯仰摆动以及俯仰摆动的次数，是由毫米波/太赫兹波探测器阵列的静态视场以及反射板的个数决定的。随着反射板个数的增多，反射板无需做俯仰运动的可能性增加。

假定毫米波/太赫兹波探测器的个数为N，两个相邻的毫米波/太赫兹波探测器的中心间距d时，则毫米波/太赫兹波探测器的最大偏馈距离y_m，则

由此可以计算出毫米波/太赫兹波探测器阵列的静态视场为H₀。如图6所示，毫米波/太赫兹波探测器阵列的静态视场H₀与物距L₁、像距L₂需要满足如下关系式

完成对被检对象31位于视场水平范围的部分自发辐射的波束进行反射所需要转动的次数N_h通过下式计算：

式中，[]表示向上取整；

V为水平视场范围；

d为两个相邻的毫米波/太赫兹波探测器的中心间距；

L₁为物距；

L₂为像距。

旋转机构6驱动三个反射板1A、1B、1C在水平方向上每次旋转的角度应根据毫米波/太赫兹波探测器阵列在水平方向上的静态视场来确定。同样地，俯仰摆动机构7所摆动的角度应根据毫米波/太赫兹波探测器阵列在竖直方向上的静态视场来确定。

作为一个示例性实施例，该方法还可以包括：

步骤S4：在生成人体或物品的毫米波/太赫兹波图像之后，对人体或物品是否带有可疑物以及可疑物的位置进行识别并将结果输出。

在上述步骤S4中，对于可疑物32及其位置的识别可以通过计算机自动识别或是人工识别或是两者相结合的方法来进行。结果输出可以通过例如在显示装置上显示标有直接显示是否带有可疑物32的结论等方式来实现，也可以将检测结果直接打印或发送。

执行检测的安检人员可以根据上述步骤S4给出的检测结果来对人体或物品是否带有可疑物32以及可疑物32的位置进行确认，也可以通过人工检测来进行复核。

如图8所示，在一个示例性实施例中，毫米波/太赫兹波探测器的个数N为20个，并呈一列分布，两个相邻的毫米波/太赫兹波探测器的中心间距d为7mm，最大偏馈距离y_m为7cm。物距L₁为3.5m，像距L₂为0.7m，根据公式(3)可以计算出静态视场H₀＝70cm。采用三个不同角度(θ_A、θ_B、θ_C)设置的反射板1A、1B、1C无需俯仰摆动即能完成对视场竖直范围为2m的反射，对视场水平范围1m所需要转动的次数N_h至少为29，最终形成如图8所示的视场分布。

如图9所示，在一个示例性实施例中，毫米波/太赫兹波探测器个数N为40个，并呈双列交错分布，每一列中相邻的两个毫米波/太赫兹波探测器的中心间距d为14mm，最大偏馈距离y_m＝7cm。物距L₁为3.5m，像距L₂为0.7m，根据公式(3)可以计算出静态视场H₀＝70cm。为了实现对视场竖直范围为2m的反射，采用三个不同角度(θ_A、θ_B、θ_C)设置的反射板1A、1B、1C，此时三个反射板可以静止在相应的角度上，无需俯仰运动即能完成，对视场水平范围为1m所需要转动的次数N_h至少为15，最终形成如图9所示的视场分布。

如图10所示，在一个示例性实施例中，毫米波/太赫兹波探测器个数N为10个，呈线性分布，相邻的两个毫米波/太赫兹波探测器的中心间距d为7mm，最大偏馈距离y_m为7cm。物距L₁为3.5m，像距L₂为0.7m，根据公式(3)可以计算出静态视场H₀＝70cm。为了实现对竖直范围为2m的视场的反射，采用三个可调角度的反射板1A、1B、1C，每个反射板所需要摆动的次数为2，分别为“俯仰上角θ_A上”和“俯仰下角θ_A下”(对应的视场竖直范围为H_A上和H_A下)、“俯仰上角θ_B上”和“俯仰下角θ_B下”(对应的视场竖直范围为H_B上和H_B下)、“俯仰上角θ_C上”和“俯仰下角θ_C下”(对应的视场竖直范围为H_C上和H_C下)。对视场水平范围为1m所需要转动的次数N_h至少为15，最终形成如图10所示的视场分布。

根据本公开上述各种实施例所述的毫米波/太赫兹波成像设备，通过旋转机构6带动多个反射板1同时转动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，以对视场进行全面反射，采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。

本领域的技术人员可以理解，上面所描述的实施例都是示例性的，并且本领域的技术人员可以对其进行改进，各种实施例中所描述的结构在不发生结构或者原理方面的冲突的情况下可以进行自由组合。

在详细说明本公开的较佳实施例之后，熟悉本领域的技术人员可清楚的了解，在不脱离随附权利要求的保护范围与精神下可进行各种变化与改变，且本公开亦不受限于说明书中所举示例性实施例的实施方式。

Claims (20)

1.一种毫米波/太赫兹波成像设备，其特征在于，包括：准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置，

所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括多个适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个所述反射板与被检对象所在的视场法向之间的角度是不同的，且多个所述反射板与水平面之间的角度也是不同的；

所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束；以及

所述反射板调节装置包括旋转机构，所述旋转机构适用于驱动多个所述反射板在水平方向上的旋转运动，以使得多个所述反射板依次对所述被检对象位于所述视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射。

2.根据权利要求1所述的成像设备，其特征在于，多个所述反射板中的至少一个所述反射板与水平面之间的角度是可调节的。

3.根据权利要求1所述的成像设备，其特征在于，所述旋转机构包括：

基座；和

转台，所述转台与所述基座转动式连接，多个所述反射板安装在所述转台上，以在所述转台的带动下在水平方向上旋转运动；

转台驱动装置，所述转台驱动装置与所述转台连接，适用于驱动所述转台转动。

4.根据权利要求3所述的成像设备，其特征在于，所述转台包括

转台本体，所述转台本体适用于与所述基座转动式连接；和

倒置的L形支架，所述L形支架的一端部与所述转台本体连接，所述L形支架的另一端部与所述反射板连接。

5.根据权利要求4所述的成像设备，其特征在于，还包括适用于调节所述反射板与所述水平面之间的角度的俯仰摆动机构。

6.根据权利要求5所述的成像设备，其特征在于，所述俯仰摆动机构包括：

曲柄连杆机构，所述曲柄连杆机构的曲柄与所述反射板连接，并与所述L形支架转动式连接，所述曲柄连杆机构的连杆与所述L形支架滑动连接，以通过所述连杆相对于所述L形支架的滑动来带动所述曲柄的转动，进而带动所述反射板的俯仰摆动；

俯仰摆动驱动装置，所述俯仰摆动驱动装置适用于驱动所述连杆相对于所述L形支架的滑动运动。

7.根据权利要求6所述的成像设备，其特征在于，所述曲柄采用半圆形板，所述半圆形板的直径部分与所述反射板连接。

8.根据权利要求6所述的成像设备，其特征在于，所述L形支架上设置有导向件，所述曲柄连杆机构的连杆滑动地套设在所述导向件内。

9.根据权利要求3所述的成像设备，其特征在于，所述转台上设置有角位移测量机构，用于测量所述转台的角位移。

10.根据权利要求3所述的成像设备，其特征在于，所述基座呈L形结构，并包括水平部以及与所述水平部连接的竖直部。

11.根据权利要求10所述的成像设备，其特征在于，还包括适用于安装所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的探测器平台，所述探测器平台固定在所述L形结构的竖直部上。

12.根据权利要求11所述的成像设备，其特征在于，所述准光学组件还包括适用于汇聚来自所述反射板的波束的聚焦透镜，所述聚焦透镜沿所述波束的路径位于所述反射板和所述毫米波/太赫兹波探测器阵列之间。

13.根据权利要求12所述的成像设备，其特征在于，还包括适用于安装所述聚焦透镜的透镜支架，所述透镜支架设置在所述L形结构的竖直部上。

14.根据权利要求1所述的成像设备，其特征在于，所述准光学组件还包括适用于汇聚来自所述被检对象的波束的聚焦透镜，所述聚焦透镜位于所述反射板和被检对象之间。

15.根据权利要求1所述的成像设备，其特征在于，所述毫米波/太赫兹波探测器阵列中的多个毫米波/太赫兹波探测器呈线性分布或双列交错分布。

16.根据权利要求1所述的成像设备，其特征在于，多个所述反射板等间隔地分布在以所述旋转机构的旋转轴线为圆心的假想圆上。

17.根据权利要求1-13中的任一项所述的成像设备，其特征在于，所述反射板是平面的。

18.根据权利要求14所述的成像设备，其特征在于，所述反射板采用光滑的金属表面或金属栅网格。

19.根据权利要求1-13中的任一项所述的成像设备，其特征在于，所述反射板是菲涅尔反射镜或抛物面反射镜。

20.根据权利要求1-13中的任一项所述的成像设备，其特征在于，还包括：

数据处理装置，所述数据处理装置与所述毫米波/太赫兹波探测器阵列连接以接收来自所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的对于被检对象的扫描数据并生成毫米波/太赫兹波图像；和

显示装置，所述显示装置与所述数据处理装置相连接，用于接收和显示来自数据处理装置的毫米波/太赫兹波图像。