CN209182270U - Xrf检测仪 - Google Patents

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朱焱
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Abstract

本实用新型涉及一种XRF检测仪,包括机箱、光源模块、样品室、探测器、控制与处理电路和平板电脑,光源模块、样品室、探测器及控制与处理电路均设于机箱内,平板电脑设于机箱外部,光源模块和探测器均与样品室连接,探测器与平板电脑均与控制与处理电路连接,光源模块用于发射X射线以激发样品的特征X射线荧光,探测器用于接收特征X射线荧光并处理分析数据,控制与处理电路将分析数据发送至平板电脑中,样品室上设有用于启动光源模块的快门触点。上述XRF检测仪,光源模块、样品室、探测器等零部件均置于机箱内,结构紧凑,体积小重量轻,便于检测人员借助该XRF检测仪在现场对土壤的重金属元素的成分含量进行实时检测和分析。

Description

XRF检测仪
技术领域
本实用新型涉及用于检测测量材料元素组分的分析仪器,特别是涉及一种XRF检测仪。
背景技术
近年来,由于工业发展迅猛,固体废物不断向土壤表面堆放,有害废水不断向土壤中渗透,大气中的有害气体及飘尘也不断随雨水降落在土壤中,导致了严重的土壤重金属污染。土壤重金属污染直接影响土壤生态系统的结构和功能,最后将对生态安全和人们的健康构成威胁。因此若要对土地进行开发利用,必须先对该地土壤中重金属元素进行检测和分析。
现有技术中多采用X射线荧光(XRF)检测设备对土壤重金属元素进行检测和分析。然而现有技术中的台式X射线荧光光谱仪体积较大且较为笨重,不便于检测人员在现场直接对土壤进行检测和分析。
实用新型内容
基于此,有必要针对现有技术中的台式X射线荧光光谱仪体积较大且较为笨重,不便于检测人员在现场直接对土壤进行检测和分析的问题,提供一种XRF检测仪。
一种XRF检测仪,包括机箱、光源模块、样品室、探测器、控制与处理电路、平板电脑和快门触点,所述光源模块、样品室、探测器及控制与处理电路均设置于机箱内,所述平板电脑设置于机箱的外部,所述光源模块和探测器均与样品室连接,所述探测器与平板电脑均与控制与处理电路连接,所述光源模块用于发射X射线以激发出样品室内样品的特征X射线荧光,所述探测器用于接收特征X射线荧光并处理生成的分析数据,所述控制与处理电路将分析数据发送至平板电脑中,所述快门触点设置于样品室上用于启动所述光源模块。
在其中一个实施例中,所述光源模块与样品室的一侧壁连接,所述探测器与样品室的相邻另一侧壁连接,所述光源模块与探测器之间呈90度摆放。
在其中一个实施例中,所述探测器的窗口至样品室的距离为1mm。
上述XRF检测仪,探测器与样品室之间的距离设置为1mm,使特征X射线荧光在空气中的行程较短,减小其在空气中的损耗,增加了检测结果的精准度。
在其中一个实施例中,所述机箱包括盒体和与盒体的开口端结合的盖体,所述样品室包括样品仓和滑动设置于样品仓开口端的顶盖,所述样品室设置于盒体内,所述顶盖和盖体位于同一水平面上。
在其中一个实施例中,,所述样品室与光源模块连接的侧壁上依次设置有准直器和滤波片组件,所述滤波片组件伸出所述样品室相邻的另一侧壁。
在其中一个实施例中,所述机箱内设置有电源模块,所述机箱外表面上设置有用于控制电源模块启闭的电源开关。
在其中一个实施例中,所述机箱的外表面设置有辐射指示灯,所述辐射指示灯分别与光源模块、探测器以及控制与处理电路连接。
在其中一个实施例中,所所述机箱的外侧面设置有提手。
在其中一个实施例中,所述机箱内设置有若干个散热风扇,上述散热风扇均与电源模块连接。
在其中一个实施例中,所述机箱上设置有USB集线器,所述USB集线器与平板电脑连接。
上述XRF检测仪,光源模块、样品室、探测器、以及控制与处理电路等零部件均置于机箱内部,结构紧凑,体积小重量轻,便于检测人员借助该XRF检测仪在现场对土壤的重金属元素成分含量进行实时检测和分析。
附图说明
图1为一实施例的XRF检测仪的整体结构示意图;
图2为图1所示XRF检测仪的内部结构示意图;
图3为图2所示XRF检测仪中的光源模块、样品室和探测器连接处的局部结构示意图。
附图标记:10、机箱;11、盒体;111、左侧板;112、右侧板;113、前侧板;114、后侧板;115、底板;12;盖体;20、光源模块;30、样品室;31、样品仓;32、顶盖;40、快门触点;50、探测器;60、控制与处理电路;70、平板电脑;80、电源模块;90、电源开关;100、准直器;110、滤波片组件;120、电机;130、散热风扇;140、USB集线器;150、辐射指示灯;160、提手。
具体实施方式
如图1和图2所示,一实施例中的XRF检测仪,包括机箱10、光源模块20、样品室30、探测器50、控制与处理电路60、平板电脑70、电源模块80以及电源开关90。光源模块20、样品室30、探测器50、控制与处理电路60以及电源模块80均设置于机箱10内,平板电脑70与电源开关90均设置于机箱10外表面上。光源模块20和探测器50分别与样品室30连接,探测器50与平板电脑70均和控制与处理电路60连接,电源模块80与电源开关90连接并为该XRF检测仪提供电能。其中,光源模块20用于发射X射线以激发出样品室30内样品的特征X射线荧光,探测器50用于接收特征X射线荧光并处理生成分析数据,控制与处理电路60将分析数据发送至平板电脑70。
具体地,机箱10包括盒体11和与盒体11的开口端结合的盖体12,样品室30包括样品仓31和滑动设置于样品仓31上的顶盖32,该样品仓31位于盒体11内,且顶盖32和盖体12位于同一水平面上。该顶盖32全长61.5mm。样品仓31上还设置有用于启动光源模块20的快门触点40。
在具体的一实施例中,该盒体11呈长方体设置,且该盒体11包括左侧板111、右侧板112、前侧板113、后侧板114以及底板115,样品仓31位于后侧板114与右侧板112形成的夹角处,快门触点40位于样品仓31的左上方。
光源模块20与样品室30的一侧壁连接,探测器50与样品室30的相邻另一侧壁连接,且光源模块20与探测器50之间呈90度摆放;能够达到更好的检测效果。光源模块20的窗口至样品仓31的距离为18mm,探测器50的窗口至样品仓31的距离为1mm。其中,探测器50与样品仓31之间的距离设置为1mm,使特征X射线荧光在空气中的行程较短,能够更快地被探测器50所接收,减小其在空气中的损耗,增加了检测结果的精准度。
在具体的一实施例中,光源模块20与探测器50分别与盖体12相距13mm和32mm,控制与处理电路60与盒体11的底板115相距12mm。控制与处理电路60与光源模块20相对设置,且电源模块80位于光源模块20和控制与处理电路60之间。
在具体的一实施例中,光源模块20平行于后侧板114设置,探测器50平行于右侧板112设置,光源模块20可以为M237型光源模块;探测器50可以为FastSDD探测器。
请参阅图3,样品仓31与光源模块20连接的侧壁上依次设置有准直器100与滤波片组件110,部分滤波片组件110伸出样品仓31的另一侧壁。光源模块20发出的X射线经准直器100后能够最大效率地被样品接收,有助于检测过程更高效地进行;并且滤波片组件110的设置可将X射线中的一些谱线滤掉,只留下Ka单色,有效地降低了背景和散射X射线对检测结果的干扰。
进一步地,机箱10内还设置有位于样品仓31另一侧壁外的电机120,该电机120与准直器100连接,且该电机120位于样品仓31的同一侧壁外。该电机120对准直器100进行旋转调节以得到合适的分辨率。
盒体11内还设置有四个散热风扇130,上述散热风扇130均与电源模块80连接,其中两个散热风扇130分别可拆卸连接于机箱10的左侧板111和右侧板112,上述两散热风扇130相对设置,并且左侧板111和右侧板112与散热风扇130连接处均开设有若干散热孔;便于该XRF检测仪的整体散热。剩余两个散热风扇130中其中一个散热风扇130正对光源模块20设置,该散热风扇130位于光源模块20与电源模块80之间;剩余两个散热风扇130中另一个散热风扇130正对探测器50设置,该散热风扇130位于探测器50与电源模块80之间;便于光源模块20、探测器50以及电源模块80的局部散热。
进一步地,盒体11的后侧板114上还设置有USB集线器140,该USB集线器140与平板电脑70连接,且该USB集线器140与左侧板111相距12mm,便于平板电脑70与外界设备进行连接。
再参阅图1,盖体12上设置有辐射指示灯150,该辐射指示灯150分别与光源模块20、探测器50以及控制与处理电路60连接,辐射指示灯150的提示作用有助于检测人员检测操作的安全进行。
盒体11的一组相对外表面上固定连接有提手160,便于操作人员搬运该XRF检测仪。
借助上述XRF检测仪检测土壤样品的重金属元素组分时,先取样品放入样品仓31内,关闭顶盖32,并触动快门触点40,光源模块20发射X射线至样品仓31内,样品接收X射线后激发出的特征X射线荧光被探测器50接收,经探测器50处理后的数据被发送至控制与处理电路60中进行分析,而分析后的数据再被输送至平板电脑70中,再由内置于平板电脑70内的分析算法软件计算出土壤样品的重金属元素的成分含量,且最终结果于平板电脑70上显示。
上述XRF检测仪,光源模块20、样品室30、探测器50以及控制与处理电路60等零部件均置于机箱10内部,结构紧凑,体积小重量轻,便于检测人员借助该XRF检测仪在现场对土壤的重金属元素的成分含量进行实时检测和分析。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种XRF检测仪,其特征在于,包括机箱(10)、光源模块(20)、样品室(30)、探测器(50)、控制与处理电路(60)、平板电脑(70)和快门触点(40),所述光源模块(20)、样品室(30)、探测器(50)及控制与处理电路(60)均设置于机箱(10)内,所述平板电脑(70)设置于机箱(10)的外部,所述光源模块(20)和探测器(50)均与样品室(30)连接,所述探测器(50)与平板电脑(70)均与控制与处理电路(60)连接,所述光源模块(20)用于发射X射线以激发出样品室(30)内样品的特征X射线荧光,所述探测器(50)用于接收特征X射线荧光并处理生成的分析数据,所述控制与处理电路(60)将分析数据发送至平板电脑(70)中,所述快门触点(40)设置于样品室(30)上用于启动所述光源模块(20)。
2.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述光源模块(20)与样品室(30)的一侧壁连接,所述探测器(50)与样品室(30)的相邻另一侧壁连接,所述光源模块(20)与探测器(50)之间呈90度摆放。
3.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述探测器(50)的窗口至样品室(30)的距离为1mm。
4.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述机箱(10)包括盒体(11)和与盒体(11)的开口端结合的盖体(12),所述样品室(30)包括样品仓(31)和滑动设置于样品仓(31)开口端的顶盖(32),所述样品室(30)设置于盒体(11)内,所述顶盖(32)和盖体(12)位于同一水平面上。
5.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述样品室(30)与光源模块(20)连接的侧壁上依次设置有准直器(100)和滤波片组件(110),所述滤波片组件(110)伸出所述样品室(30)相邻的另一侧壁。
6.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述机箱(10)内设置有电源模块(80),所述机箱(10)外表面上设置有用于控制电源模块(80)启闭的电源开关(90)。
7.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述机箱(10)的外表面设置有辐射指示灯(150),所述辐射指示灯(150)分别与光源模块(20)、探测器(50)以及控制与处理电路(60)连接。
8.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述机箱(10)的外侧面设置有若干提手(160)。
9.根据权利要求6所述的XRF检测仪,其特征在于,所述机箱(10)内设置有若干个散热风扇(130),上述散热风扇(130)均与电源模块(80)连接。
10.根据权利要求1所述的XRF检测仪,其特征在于,所述机箱(10)上设置有USB集线器(140),所述USB集线器(140)与平板电脑(70)连接。
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