CN208991275U - 用于剔除厚度不合格ptc芯片的装置 - Google Patents
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Abstract
用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,包括工作台,在工作台一侧设有振料盘,在工作台上设有轨道、送料机构、测量装置、剔除装置和控制箱;剔除装置:包括开设在轨道上的第二滑槽,在第二滑槽内设有第二滑块,在第二滑块一侧工作台上设有第二气缸,第二气缸活塞杆与第二滑块连接,在第二滑槽一侧轨道上连接有导块,在导块内开设有第三滑槽,第二气缸推动第二滑块移动到第一滑槽和第三滑槽内,在导块一端安装有弹片,本实用新型要解决的技术问题是提供用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,用于解决现有PTC芯片厚度测量工人劳动强度高和效率低下的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置。
背景技术
PTC芯片在制造完成后需要对其厚度进行测量,以提出厚度差异芯片,现有的测量方式是使用工人使用厚度仪一片一片手动测量,这种测量方式不仅工人劳动强度高,而且效率低下。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,用于解决现有PTC芯片厚度测量工人劳动强度高和效率低下的问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案为:
用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,包括工作台,在工作台一侧设有振料盘,在工作台上设有轨道、送料机构、测量装置、剔除装置和控制箱;
轨道:轨道内设有第一滑槽,振料盘出料口通过滑道连通第一滑槽一端;
送料机构:包括设置在第一滑槽内的第一滑块和固定连接在轨道一端工作台上的第一气缸,第一气缸活塞杆与第一滑块连接,第一气缸推动第一滑块一端在滑道两侧交替运动;
测量装置:包括固定连接在工作台上的支架,在支架上安装有数显百分表,数显百分表测量杆下端安装有轴承架,在轴承架内安装有滚轮,滚轮下端位于第一滑槽内;
剔除装置:包括开设在轨道上的第二滑槽,在第二滑槽内设有第二滑块,在第二滑块一侧工作台上设有第二气缸,第二气缸活塞杆与第二滑块连接,在第二滑槽一侧轨道上连接有导块,在导块内开设有第三滑槽,第二气缸推动第二滑块移动到第一滑槽和第三滑槽内,在导块一端安装有弹片;
控制箱:包括箱体,在箱体内安装有控制器和两个电磁阀,数显百分表将测得数据传送给控制器,控制器通过两个电磁阀分别控制第一气缸和第二气缸。
在第二滑块端面上开设有一个三角形缺口。
在第三滑槽两侧导块一端均为斜面,在各斜面上均安装有弹片。
本实用新型的有益效果是:振料盘将各片PTC芯片由滑道输送到第一滑槽内,接着送料机构推动各片PTC芯片一片接着一片在第一滑槽内移动,当PTC芯片移动到数显百分表下方时,由数显百分表对PTC芯片厚度进行测量,并将数据传送给控制器,由控制器控制剔除装置将厚度不复合标准的芯片推送出第一滑槽,实现PTC芯片厚度的实时监测和剔除,极大降低工人劳动强度,提高了检测效率。
附图说明
下面结合附图对本实用新型做进一步的说明:
图1为本实用新型的主视图,
图2为本实用新型的俯视图,
图3为本实用新型关于测量装置结构示意图。
图4为本实用新型关于送料机构的结构示意图,
图5为本实用新型关于送料机构的俯视结构示意图,
图6为本实用新型关于剔除装置的俯视结构示意图,
图7为本实用新型各电气件间的连接关系示意图。
图中:工作台1、振料盘2、控制箱3、送料机构4、测量装置5、剔除装置6、轨道7、PTC芯片8、滑道21、第一气缸41、第一滑块42、支架51、数显百分表52、轴承架53、滚轮54、第二气缸61、第二滑块62、导块63、弹片64、第二滑槽65、第三滑槽66、第一滑槽71。
具体实施方式
用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,包括工作台1,在工作台1一侧设有振料盘2,在工作台1上设有轨道7、送料机构4、测量装置5、剔除装置6和控制箱3;
如图1所示,轨道7:轨道7内设有第一滑槽71,振料盘2出料口通过滑道21连通第一滑槽71一端,滑道21一端与第一滑槽71侧壁平齐;
如图1、2、4和5所示送料机构4:包括设置在第一滑槽71内的第一滑块42和固定连接在轨道7一端工作台1上的第一气缸41,第一气缸41活塞杆与第一滑块42连接,第一气缸41推动第一滑块42一端在滑道21两侧交替运动,当第一气缸41通过第一滑块42将第一滑槽71内的PTC芯片8向前推送一个工位时,第一滑块42刚好将滑道21一端出口封闭,当第一滑块42缩回后,滑道21一端出口被打开,滑道21中的一块PTC芯片8因为重力会滑入到第一滑槽71内,当第一气缸41活塞杆每往返运动一个行程,则将第一滑槽71内的PTC芯片8向前推送一个工位,并且滑道21向第一滑槽71内补充新的PTC芯片8。
如图3所示,测量装置5:包括固定连接在工作台1上的支架51,在支架51上安装有数显百分表52,数显百分表52测量杆下端安装有轴承架53,在轴承架53内安装有滚轮54,滚轮54下端位于第一滑槽71内;数显百分表52下部的滚轮54式测量头的结构和工作原理可以参考专利号为“CN 202182680 U”、名称为“滚轮54式百分表测量头”。
如图6所示,剔除装置6:包括开设在轨道7上的第二滑槽65,第一滑槽71与第二滑槽65相交90度,在第二滑槽65内设有第二滑块62,在第二滑块62一侧工作台1上设有第二气缸61,第二气缸61活塞杆与第二滑块62连接,在第二滑槽65一侧轨道7上连接有导块63,在导块63内开设有第三滑槽66,第二气缸61推动第二滑块62移动到第一滑槽71和第三滑槽66内,在导块63一端安装有不锈钢弹片64,第一滑槽71、第二滑槽65和第三滑槽66宽度相同,并且底面均在同一水平面上;如图6所示,当第二气缸61通过第二滑块62将PTC芯片8推向第三滑槽66的过程中,靠近贴在弹片64上的一片PTC芯片8克服弹片64阻力,从第三滑槽66中被挤压出,实现对缺陷PTC芯片8的剔除。
控制箱3:包括箱体,在箱体内安装有PLC控制器和两个电磁阀,数显百分表52将测得数据传送给PLC控制器,控制器通过两个电磁阀分别控制第一气缸41和第二气缸61。其中所使用的数显百分表52可以选用“MIKIHOUSE”牌、0-25.4mm的数显百分表52,该百分表自带数据接口,可通过RS232数据线PLC控制器通讯。
在第二滑块62端面上开设有一个三角形缺口。三角形缺口能够对PTC芯片8起到自动校正和定位的作用,使第二滑块62能够顺利的将PTC芯片8推向第三滑槽66。
在第三滑槽66两侧导块63一端均为斜面,在各斜面上均安装有弹片64。由两块弹片64对第三滑槽66内的PTC芯片8进行阻隔,以避免在第二气缸61未运动的情况下,第一滑槽71内的良好PTC芯片8进入第三滑槽66中。
本实用新型的工作过程为:
第一步:振料盘2启动后,振料盘2中的PTC芯片8进入到滑道21中,与此同时,第一气缸41往复运动,以将芯片8一个接着一个推送到第一滑槽71内。
第二步:随着PTC芯片8在第一滑槽71内运动,PTC芯片8从一个一个从数显百分表52滚轮54下面经过,此时数显百分表52测量PTC芯片8厚度,并将厚度数据传送给PLC控制器。
第三步:当测量到芯片8厚度超出预设值时,设定该芯片8为不合格芯片8,此时第一气缸41活塞杆继续往复运动,同时PLC控制器开始记录控制第一气缸41电磁阀的通断次数,当次数达到设定值后例如:图2中第一气缸41往复运动7次,不合格芯片8向第二滑槽65移动7个芯片8的位置,该芯片8刚好由数显百分表52滚轮54移动到第二滑块62一侧,随后第二气缸61驱动第二滑块62运动,以将不合格芯片8推送到第三滑槽66中;并且要求第二滑块62推动芯片8的过程中,第一气缸41处于收缩状态,避免第一滑块42推送的芯片8受到第二滑块62阻挡而错位。
第四步:按照第三步的方法,不合格芯片8逐渐在第三滑槽66中累加,并随着第二滑块62的往复运动,第三滑槽66内的不合格芯片8被推出第三滑槽66,而良好芯片8则由第一滑槽71另外一端被推送到接料框中。
Claims (3)
1.用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,包括工作台(1),在工作台(1)一侧设有振料盘(2),其特征在于:在工作台(1)上设有轨道(7)、送料机构(4)、测量装置(5)、剔除装置(6)和控制箱(3);
轨道(7):轨道(7)内设有第一滑槽(71),振料盘(2)出料口通过滑道(21)连通第一滑槽(71)一端;
送料机构(4):包括设置在第一滑槽(71)内的第一滑块(42)和固定连接在轨道(7)一端工作台(1)上的第一气缸(41),第一气缸(41)活塞杆与第一滑块(42)连接,第一气缸(41)推动第一滑块(42)一端在滑道(21)两侧交替运动;
测量装置(5):包括固定连接在工作台(1)上的支架(51),在支架(51)上安装有数显百分表(52),数显百分表(52)测量杆下端安装有轴承架(53),在轴承架(53)内安装有滚轮(54),滚轮(54)下端位于第一滑槽(71)内;
剔除装置(6):包括开设在轨道(7)上的第二滑槽(65),在第二滑槽(65)内设有第二滑块(62),在第二滑块(62)一侧工作台(1)上设有第二气缸(61),第二气缸(61)活塞杆与第二滑块(62)连接,在第二滑槽(65)一侧轨道(7)上连接有导块(63),在导块(63)内开设有第三滑槽(66),第二气缸(61)推动第二滑块(62)移动到第一滑槽(71)和第三滑槽(66)内,在导块(63)一端安装有弹片(64);
控制箱(3):包括箱体,在箱体内安装有控制器和两个电磁阀,数显百分表(52)将测得数据传送给控制器,控制器通过两个电磁阀分别控制第一气缸(41)和第二气缸(61)。
2.用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,其特征在于:在第二滑块(62)端面上开设有一个三角形缺口。
3.用于剔除厚度不合格PTC芯片的装置,其特征在于:在第三滑槽(66)两侧导块(63)一端均为斜面,在各斜面上均安装有弹片(64)。
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CN201821784104.6U CN208991275U (zh) | 2018-10-31 | 2018-10-31 | 用于剔除厚度不合格ptc芯片的装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN111570303A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-08-25 | 李秀碧 | 一种芯片筛选设备 |
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2018
- 2018-10-31 CN CN201821784104.6U patent/CN208991275U/zh active Active
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CN111570303A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-08-25 | 李秀碧 | 一种芯片筛选设备 |
CN111570303B (zh) * | 2020-05-22 | 2021-10-15 | 江苏爱矽半导体科技有限公司 | 一种芯片筛选设备 |
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