CN208984009U - 一种电容传感器的老化检测装置以及系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及老化检测装置领域，具体涉及一种电容传感器的老化检测装置以及系统，所述老化检测装置包括导轨、驱动组件、数控系统，所述数控系统包括用于接收电容传感器反馈的距离信号的数据接收模块、存储有多种检测步骤的存储模块、依次根据检测步骤控制驱动组件工作的驱动模块、根据测碰模块的碰撞次数判断电容传感器正常或异常的判断模块。所述电容传感器设在导轨上，所述导轨与电容传感器随动，模拟真实操作场景，循环运动一定时间后，得出老化检测结果，操作人员只需直接观察电容传感器的碰撞次数，即可得出电容传感器的质量情况。

Description

一种电容传感器的老化检测装置以及系统

技术领域

本实用新型涉及老化检测装置领域，具体涉及一种电容传感器的老化检测装置以及系统。

背景技术

电子产品如各类传感器等在出厂前，通常需要进行一定时间的老化，以期在日后使用时性能稳定，尽早剔除残次品，以便进行相应的技术改进，是品质控制的一项重要手段。

电容传感器是一种安装激光切割头下部的电子部件，用于感应切割头的喷嘴与待切割工件的距离。电容传感器的功能稳定性对于生产加工来说非常重要，因此，厂家在生产电容传感器时，需要对其进行老化测试。

但是，电容传感器的不稳定可能仅存在很短的时间，过后又恢复正常。传统的老化测试办法是安排一个岗位，测试人员采用信号接收装置对电容信号进行接收，和采用示波器观察信号情况，这样即使通过了老化测试还是难以保证它长时间的运行稳定性，并且，该种老化检测方法需要消耗大量的人力物力，工作效率不高。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电容传感器的老化检测装置以及系统，解决电容传感器的老化检测问题。

为解决该技术问题，本实用新型提供一种电容传感器的老化检测装置，所述老化检测装置包括用于放置电容传感器以使电容传感器可移动设置的导轨、用于驱动电容传感器沿着导轨移动的驱动组件、用于检测电容传感器是否碰撞测试工件的测碰模块、分别与电容传感器、驱动组件和测碰模块连接的数控系统，所述数控系统包括用于接收电容传感器反馈的距离信号的数据接收模块、存储有多种检测步骤的存储模块、依次根据检测步骤控制驱动组件工作的驱动模块、根据测碰模块的碰撞次数判断电容传感器正常或异常的判断模块。

其中，较佳方案是：所述驱动组件包括伺服驱动器和在伺服驱动器的伺服控制下转动的电机，所述伺服驱动器分别连接数控系统和电机。

其中，较佳方案是：所述导轨包括轨道和活动设置在轨道上且用于放置电容传感器的滑块，所述滑块在电机的带动下沿着轨道移动。

其中，较佳方案是：所述老化检测装置包括根据驱动组件驱动电容传感器沿着导轨移动的距离判断电容传感器的距离信号正确或异常的第一检测模块，所述第一检测模块设置在电容传感器与数控系统之间。

其中，较佳方案是：所述老化检测装置还包括用于检测电容传感器是否位于导轨上，并把形成的第二检测结果发送到数控系统的第二检测模块，所述第二检测模块连接数控系统。

其中，较佳方案是：所述老化检测装置还包括用于显示电容传感器与测试工件的碰撞次数、显示异常报警信息的显示器，所述显示器连接数控系统。

其中，较佳方案是：所述老化检测装置还包括一与数控系统连接的控制平台，所述数控系统根据控制平台的指令依次或选择性进行对应的检测步骤。

其中，较佳方案是：所述数控系统包括一累加器，所述累加器累加测碰模块的碰撞次数。

本实用新型还提供一种电容传感器的老化检测系统，所述老化检测系统包括测试工件，以及设置在测试工件上且如上所述的老化检测装置，所述老化检测装置的导轨垂直于测试工件表面设置。

其中，较佳方案是：所述老化检测系统包括多个设置在测试工件上的老化检测装置。

本实用新型的有益效果在于，与现有技术相比，本实用新型通过设计一种电容传感器的老化检测装置以及系统，所述电容传感器设在导轨上，所述导轨与电容传感器随动，模拟真实操作场景，循环运动一定时间后，得出老化检测结果，操作人员只需直接观察电容传感器的碰撞次数，即可得出电容传感器的质量情况。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型老化检测装置的示意图；

图2是本实用新型第一检测模块的示意图；

图3是本实用新型第二检测模块的示意图；

图4是本实用新型显示器的示意图。

具体实施方式

现结合附图，对本实用新型的较佳实施例作详细说明。

如图1至图4所示，本实用新型提供一种电容传感器的老化检测装置的优选实施例。

具体地，参考图1，一种电容传感器10的老化检测装置，所述老化检测装置在电容传感器10出厂前进行老化检测，以此了解电容传感器10的质量情况。所述老化检测装置包括导轨2、驱动组件3、数控系统1和测碰模块，所述导轨2连接驱动组件3，所述数控系统1分别连接驱动组件3、测碰模块和电容传感器10，所述电容传感器10设在导轨2上，在所述数控系统1的控制下，所述驱动组件3驱动电容传感器10沿着导轨2移动，此时，所述电容传感器10和导轨2做随动运动。所述数控系统1包括用于接收电容传感器10反馈的距离信号的数据接收模块、存储有多种检测步骤的存储模块、依次根据检测步骤控制驱动组件3工作的驱动模块、根据测碰模块的碰撞次数判断电容传感器10正常或异常的判断模块。所述电容传感器10连接数据接收模块，所述驱动组件3连接驱动模块，所述测碰模块连接判断模块，此处，所述数控系统1为数控芯片，所述数据接收模块为内嵌或外接数控芯片的子芯片，所述驱动模块为内嵌或外连数控芯片的子芯片，所述判断模块为内嵌或外连数控芯片的子芯片，上述模块皆为实体结构。所述存储模块设有多种检测步骤，随着检测步骤，所述驱动模块控制驱动组件3工作，并接收电容传感器10反馈的距离信号，进行同步修改，检测步骤完成后，所述判断模块接收测碰模块发送的碰撞次数，以此判断电容传感器10正常或者异常，完成老化检测。

优选地，所述老化检测装置还包括一与数控系统1连接的控制平台，所述数控系统1根据控制平台的指令依次或选择性进行对应的检测步骤。所述检测步骤包括检测电容传感器是否正常，以及反复的测碰试验。

其中，所述驱动组件3在两种情况下做驱动工作，第一，所述电容传感器10在起始位置，所述数控系统1间隔第一预设时间后控制驱动组件3驱动电容传感器10在导轨2上移动，所述电容传感器10在移动过程中不断检测与测试工件表面的距离，并形成距离信号反馈到数控系统1，所述数控系统1根据距离信号继续控制驱动组件3做驱动运动，直至电容传感器10与测试工件达到预设距离，例如1毫米，此时电容传感器10停止不动；第二，所述电容传感器10与测试工件达到预设距离后，间隔第二预设时间，所述数控系统1控制驱动组件3驱动电容传感器10在导轨2上返回起始位置，完成其中一个周期的老化检测。优选地，所述第一预设时间为1秒，所述第二预设时间为5秒。当然，所述第一预设时间和第二预设时间也可以为其他时间数值，此处不一一列举。

在上述情况中，所述数控系统1还包括一累加器，所述累加器累加测碰模块的碰撞次数，若电容传感器10有失灵情况，反馈了一个错误的距离信号，此时，所述电容传感器10与测试工件达到预设距离，所述数控系统1依然会控制驱动组件3做驱动工作，所述电容传感器10会撞上测试工件表面，所述测碰模块设定碰撞次数加一次，并将碰撞次数反馈到累加器，所述累加器的碰撞次数也加一次。经过多次周期的老化检测后，根据碰撞次数即可了解电容传感器10的质量情况，从而能够有效改进，降低了工件的潜在故障率。

在本实施例中，所述测碰模块可以为安装在测试工件上的压力传感器，通过检测压力情况即可得知电容传感器是否撞上测试工件。

其中，参考图1，所述驱动组件3包括伺服驱动器32和在伺服驱动器32的伺服控制下转动的电机31，所述伺服驱动器32分别连接数控系统1和电机31，所述电机31安装在导轨2上，所述数控系统1发送伺服控制信号到伺服驱动器32，所述伺服驱动器32驱动电机31转动，所述电机31带动电容传感器10在导轨2上移动。

在本实施例中，所述导轨2包括呈直线设置的轨道以及活动设置在轨道上的滑块，所述滑块用于放置电容传感器10，在电机的驱动下，所述滑块沿着轨道移动，同时带动电容传感器10在轨道上移动。

进一步地，所述检测步骤还包括在测碰试验之前，进行电容传感器10的标定高度检测，所述老化检测装置包括根据驱动组件驱动电容传感器沿着导轨移动的距离判断电容传感器10的距离信号正确或异常的第一检测模块5，所述第一检测模块5设置在电容传感器10与数控系统1之间。在进行测碰试验之前，所述驱动组件3驱动电容传感器10移动到距离测试工件1cm的位置，此时，所述驱动组件3并没有受到电容传感器10反馈的距离信号影响，保证电容传感器10确实处于距离测试工件1cm的位置；所述电容传感器10检测其与测试工件的距离，并形成距离信号，发送到第一检测模块5，若该距离信号也为1cm，所述第一检测模块5判断电容传感器10的高度检测无误；随后，所述驱动组件3再驱动电容传感器10移动到距离测试工件2cm的位置，所述电容传感器10再检测其与测试工件的距离，形成距离信号后发送到第一检测模块5，所述第一检测模块5再次判断电容传感器10的高度检测是否正确；如此重复，直至电容传感器10标定有16个点后，停止标定高度检测。若直至电容传感器10标定到16个点时，得出的距离信号均正确，则所述第一检测模块5判断电容传感器10正常使用；若电容传感器10标定到16个点之前，得出的距离信号有至少一次错误，则所述第一检测模块5判断电容传感器10异常使用，需要更换电容传感器10，直至找到一个能够正常使用的电容传感器10；如此一来，保证所述电容传感器10在进行测碰试验之前是能够正常使用的，才能保证后续的老化检测结果准确。

再进一步地，参考图3，所述老化检测装置还包括第二检测模块6，所述第二检测模块6连接数控系统1，所述第二检测模块6用于检测电容传感器10是否位于导轨2上，并把形成的第二检测结果发送到数控系统1。所述第二检测结果为异常或者不异常，若为异常，则发出报警信号，并停止老化检测；若为不异常，则继续老化检测。所述第二检测模块6可以为常规的传感器，所述传感器发送信号到导轨2上，若没有接收到反馈信号，则说明电容传感器10没有设在导轨2上，发出报警信号提醒操作人员。

在本实施例中，参考图4，所述老化检测装置还包括显示器7，所述显示器7连接数控系统1，所述数控系统1将电容传感器10与测试工件的碰撞次数、第一检测结果和第二检测结果发送到显示器7，所述显示器7即时显示碰撞次数、第一检测结果和第二检测结果，如此一来，操作人员只需直接观察显示器7，即可得出电容传感器10的质量情况以及得出老化检测装置是否有异常，减少了操作人员的工作量。

优选地，所述导轨2和驱动组件3均设有两个，所述第一检测模块5和第二检测模块6也均设有两个，上述子部件均连接数控系统1，可以同时对两个电容传感器10进行老化检测。当然，此处数目不做限定，上述子部件也可以设为两个以上。

本实用新型还提供一种电容传感器的老化检测系统的较佳实施例。

具体地，所述老化检测系统包括测试工件，以及设置在测试工件上且如上所述的老化检测装置，所述老化检测装置的导轨垂直于测试工件表面设置，所述老化检测装置与测试工件配合，对电容传感器进行老化检测。

进一步地，所述老化检测系统包括多个设置在测试工件上的老化检测装置，实现对多个电容传感器的老化检测，提高工作效率。

综上所述，以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的保护范围。凡在本实用新型的精神和原则之内所做的任何修改，等同替换，改进等，均应包含在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电容传感器的老化检测装置，其特征在于：所述老化检测装置包括用于放置电容传感器以使电容传感器可移动设置的导轨、用于驱动电容传感器沿着导轨移动的驱动组件、用于检测电容传感器是否碰撞测试工件的测碰模块、分别与电容传感器、驱动组件和测碰模块连接的数控系统，所述数控系统包括用于接收电容传感器反馈的距离信号的数据接收模块、存储有多种检测步骤的存储模块、依次根据检测步骤控制驱动组件工作的驱动模块、根据测碰模块的碰撞次数判断电容传感器正常或异常的判断模块。

2.根据权利要求1所述的老化检测装置，其特征在于：所述驱动组件包括伺服驱动器和在伺服驱动器的伺服控制下转动的电机，所述伺服驱动器分别连接数控系统和电机。

3.根据权利要求2所述的老化检测装置，其特征在于：所述导轨包括轨道和活动设置在轨道上且用于放置电容传感器的滑块，所述滑块在电机的带动下沿着轨道移动。

4.根据权利要求1所述的老化检测装置，其特征在于：所述老化检测装置包括根据驱动组件驱动电容传感器沿着导轨移动的距离判断电容传感器的距离信号正确或异常的第一检测模块，所述第一检测模块设置在电容传感器与数控系统之间。

5.根据权利要求1所述的老化检测装置，其特征在于：所述老化检测装置还包括用于检测电容传感器是否位于导轨上，并把形成的第二检测结果发送到数控系统的第二检测模块，所述第二检测模块连接数控系统。

6.根据权利要求5所述的老化检测装置，其特征在于：所述老化检测装置还包括用于显示电容传感器与测试工件的碰撞次数、显示异常报警信息的显示器，所述显示器连接数控系统。

7.根据权利要求1所述的老化检测装置，其特征在于：所述老化检测装置还包括一与数控系统连接的控制平台，所述数控系统根据控制平台的指令依次或选择性进行对应的检测步骤。

8.根据权利要求1所述的老化检测装置，其特征在于：所述数控系统包括一累加器，所述累加器累加测碰模块的碰撞次数。

9.一种电容传感器的老化检测系统，其特征在于：所述老化检测系统包括测试工件，以及设置在测试工件上且如权利要求1至8任一所述的老化检测装置，所述老化检测装置的导轨垂直于测试工件表面设置。

10.根据权利要求9所述的老化检测系统，其特征在于：所述老化检测系统包括多个设置在测试工件上的老化检测装置。