CN208796957U - 一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置，包括背浆网版、背场铝浆网版，所述背浆网版上开设有若干间隔设置的背浆开口，所述背场铝浆网版上对应所述背浆开口开设有间隔设置的背场开口，所述背浆开口与所述背场开口的对应设置使得所述多晶硅片背面上印刷的所述背面银电极和所述背场铝电极依次相连且部分重叠，以使得所述背面银电极和所述背场铝电极形成串联电极，所述背浆开口比所述背场开口多一个；还包括一电阻测试装置，所述电阻测试装置用于测试首尾背面银电极间的电阻值。本实用新型装置使用快速、简便，浆料厂家内部就能测试银铝接触的方法。
Description
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池片技术领域，尤其涉及一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置。
背景技术
太阳能电池利用了半导体P－N结的光生伏特效应。光照射到P－N结上，产生电子－空穴对，当外电路形成回路时，产生的光生电子朝着太阳电池正表面的栅线运动，被栅线收集，空穴朝着背电极运动。形成电流流到外电路，之后，电子从电池的背面进入，与空穴复合，形成回路。
回路中的电子从汇流带先导入背面银电极，再从背面银电极导入背场铝电极，再进入电池中。在导入过程中，由于银电极与铝背场需要一定的共烧合金，以降低两者的接触电阻，提高电池片转化效率。
浆料厂家在研发新品或生产背浆及铝浆时，都需要对两者的接触进行检测，最好的办法就是把产品应用到电池片厂家生产线上，印刷电池片，进行批量验证，但这样缺点是周期长，成本高。
实用新型内容
本实用新型提供一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置，快速、简便，浆料厂家自己内部就能采用本装置测试银铝接触。
本实用新型的技术方案如下：
一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置，包括背浆网版、背场铝浆网版，所述背浆网版上开设有若干间隔设置的背浆开口，所述背浆开口用于将背面浆料印刷到一多晶硅片背面上以形成背面银电极，所述背场铝浆网版上对应所述背浆开口开设有间隔设置的背场开口，所述背场开口用于将背场铝浆印刷到所述多晶硅片背面上以形成背场铝电极，所述背浆开口与所述背场开口的对应设置使得所述多晶硅片背面上印刷的所述背面银电极和所述背场铝电极依次相连且部分重叠，以使得所述背面银电极和所述背场铝电极形成串联电极，所述背浆开口比所述背场开口多一个；还包括一电阻测试装置，所述电阻测试装置用于测试首尾背面银电极间的电阻值。
优选的，所述背浆网版、所述背场铝浆网版上设置有标记点。所述标记点可对所述背浆网版和所述背场铝浆网版进行快速定位，以在所述多晶硅片背面上快速的印刷所述背面银电极和所述背场铝电极并且使之精准的依次相连且部分重叠。
优选的，所述背浆开口的个数为10-30。
优选的，所述背场开口沿电极串联方向等间距设置。
优选的，所述背浆开口沿电极串联方向等间距设置。
优选的，所述背场铝电极302与背面银电极301的每个部分重叠点的接触面积为1～3mm2。
优选的，所述电阻测试装置为微欧计。
使用本实用新型装置测试银电极两端的电阻R。电阻值越大，说明背浆及铝浆的接触越差，反之则越好。通过使用本装置进行测试可以放大接触电阻的值，由原来的毫偶(mΩ)级变至欧姆(Ω)级，消除了测试过程中因人为测量因素带来的偏差，有利于测试结果的判别。同时又大大提高了检验的效率。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
本实用新型装置使用简单，直接通过背浆网版、背场铝浆网版在多晶硅片背面形成银电极、铝电极而实现对背浆及铝浆接触进行检测，不需要在电池片厂家生产线上印刷电池片，进行批量验证；
另外，本实用新型通过背浆网版、背场铝浆网版上对应的开口的设置使得多晶硅片背面上印刷的背面银电极和背场铝电极依次相连且部分重叠，进一步可得到由背面银电极和所述背场铝电极形成串联电极，以放大背银浆料银铝接触测试，使得测试结果更准确。
当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
图1为本实用新型实施例的太阳能背银浆料银铝接触测试装置的结构示意图；
图2为本实用新型实施例的背浆网版的结构示意图；
图3为本实用新型实施例的背场铝浆网版的结构示意图；
图中标记：1-背浆网版；101-背浆开口；2-背场铝浆网版；201-背场开口；3-多晶硅片背面；301-背面银电极；302-背场铝电极；4-电阻测试装置。
具体实施方式
下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。应该理解，这些实施例仅用于说明本实用新型，而不用于限定本实用新型的保护范围。在实际应用中本领域技术人员根据本实用新型做出的改进和调整，仍属于本实用新型的保护范围。
为了更好的说明本实用新型，下方结合附图对本实用新型进行详细的描述。
实施例
参见图1-3，一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置，包括背浆网版1、背场铝浆网版2，所述背浆网版1上开设有若干间隔设置的背浆开口101，所述背浆开口101用于将背面浆料印刷到一多晶硅片背面3上以形成背面银电极301，所述背场铝浆网版2上对应所述背浆开口101开设有间隔设置的背场开口201，所述背场开口201用于将背场铝浆印刷到所述多晶硅片背面301上以形成背场铝电极302，所述背浆开口101与所述背场开口201的对应设置使得所述多晶硅片背面3上印刷的所述背面银电极301和所述背场铝电极302依次相连且部分重叠，以使得所述背面银电极301和所述背场铝电极302形成串联电极，所述背浆开口101数量上比所述背场开口201多一个；还包括一电阻测试装置4，所述电阻测试装置4用于测试所述串联电极的首尾背面银电极301间的电阻值。参见图3，结合图1-2，为了使得所述背面银电极301和所述背场铝电极302形成串联电极，本实施例中，所述背浆开口101与所述背场开口201的对应设置包括两个相邻的背浆开口101间隔的距离不超过其其间对应的背场开口201的宽度，两个相邻的背场开口201间隔的距离不超过其间对应的背浆开口101的宽度，从而在印刷形成电极后能形成一个完整的串联电极。形成的串联电极的形状可以是长条形、也可以是曲线形、折线形，此处并不限制，只要能形成一完整的串联电极，此串联电极为间隔连接银电极、铝电极，相较于常规测试的一根银电极和一根铝电极接触模式带来的接触电阻太小，测试误差大，本实施例如此设置，放大了接触电阻，误差更小。
进一步的，所述背浆网版1、所述背场铝浆网版2上设置有标记点5。所述标记点5可对所述背浆网版1和所述背场铝浆网版2进行快速定位，以在所述多晶硅片背面3上快速的印刷所述背面银电极301和所述背场铝电极302并且使之精准的依次相连且部分重叠。
进一步的，所述背浆开口的个数为10-30。
进一步的，所述背场开口201沿电极串联方向等间距设置。背场开口201等距设置有利于网版设计制作，减少印刷面积，同时也减少硅片基材对电极电阻测试的测试影响。
进一步的，所述背浆开口101沿电极串联方向等间距设置。背浆开口101等距设置有利于网版设计制作，减少印刷面积，同时也减少硅片基材对电极电阻测试的测试影响。
进一步的，所述背场铝电极302与背面银电极301的每个部分重叠点的接触面积为1～3mm2。
进一步的，所述电阻测试装置4为微欧计，利用四点测量法测试电阻。
参见图2、图3，所述非首尾的背浆开口101尺寸均相等，为9mm*2mm，并同一行等间距设置，间距为1.5mm；位于首尾的背场开口201以及串联电极方向变化的转角处的背场开口201尺寸相等，为5mm*5mm，其他背场开口201尺寸为3.5mm*5mm。如此设置，可加大微欧计测试时接触面积，减少接触电阻。
使用本实用新型装置测试银电极两端的电阻R。电阻值越大，说明背浆及铝浆的接触越差，反之则越好。通过使用本装置进行测试可以放大接触电阻的值，由原来的毫偶(mΩ)20～50mΩ级变至欧姆(Ω)级2.0～3.0Ω，消除了测试过程中因人为测量因素带来的偏差，有利于测试结果的判别。同时又大大提高了检验的效率。
以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (7)
1.一种太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，包括背浆网版、背场铝浆网版，所述背浆网版上开设有若干间隔设置的背浆开口，所述背浆开口用于将背面浆料印刷到一多晶硅片背面上以形成背面银电极，所述背场铝浆网版上对应所述背浆开口开设有间隔设置的背场开口，所述背场开口用于将背场铝浆印刷到所述多晶硅片背面上以形成背场铝电极；所述背浆开口与所述背场开口的对应设置使得所述多晶硅片背面上印刷的所述背面银电极和所述背场铝电极依次相连且部分重叠，以使得所述背面银电极和所述背场铝电极形成串联电极，所述背浆开口比所述背场开口多一个；还包括一电阻测试装置，所述电阻测试装置用于测试首尾背面银电极间的电阻值。
2.根据权利要求1所述的太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，所述背浆网版、所述背场铝浆网版上设置有标记点。
3.根据权利要求1所述的太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，所述背浆开口的个数为10-30。
4.根据权利要求1所述的太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，所述背场开口沿电极串联方向等间距设置。
5.根据权利要求1所述的太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，所述背浆开口沿电极串联方向等间距设置。
6.根据权利要求1所述的太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，所述背场铝电极与所述背面银电极的每个部分重叠点的接触面积为1～3mm2。
7.根据权利要求1-6任一权利要求所述的太阳能背银浆料银铝接触测试装置，其特征在于，所述电阻测试装置为微欧计。
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