CN208795255U - 集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了集成电路测试装置，包括固定板，固定板的上端对称固定连接有两个卡合机构，卡合机构包括两个卡板，两个卡板的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴，转轴的轴壁固定连接有翻板，翻板的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板，限位板的表面开设有卡口，卡板的上端开设有凹槽，凹槽竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆，伸缩杆远离凹槽内侧壁的一端固定连接有移动杆，移动杆的上端固定连接有与卡口对应的三角卡头，凹槽的内壁与移动杆的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆外的拉力弹簧，翻板远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板。本实用新型能够方便对集成电路板的拆装，便于进行检测测试工作。

Description

集成电路测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及集成电路测试装置。

背景技术

市场上集成电路竞争非常激烈，大部份国内外芯片制造厂都具备各种集成电路的制造能力，从目前的趋势来看，测试是影响价格的关键因素之一。在兼顾测试可靠性的前提下，如何提高测试效率并降低测试成本，是一个非常重要的问题。

在进行集成电路测试的时候需要将集成电路板进行固定以便进行测试工作，目前对于集成电路板的限位固定较为不便，且硬性固定容易造成对集成电路板的损坏，不便于人们的使用。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中对于集成电路板的限位固定较为不便，且硬性固定容易造成对集成电路板的损坏，不便于人们的使用的问题，而提出的集成电路测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

集成电路测试装置，包括固定板，所述固定板的上端对称固定连接有两个卡合机构，所述卡合机构包括两个对称设置的且与固定板上端固定连接的卡板，两个所述卡板的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴，所述转轴的轴壁固定连接有翻板，所述翻板的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板，所述限位板的表面开设有卡口，所述卡板的上端开设有凹槽，所述凹槽竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆远离凹槽内侧壁的一端固定连接有移动杆，所述移动杆的上端固定连接有与卡口对应的三角卡头，所述凹槽的内壁与移动杆的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆外的拉力弹簧，所述翻板远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板。

优选的，所述缓冲机构包括两根与翻板下端铰接，且呈八字形分布的缓冲杆，两根所述缓冲杆之间连接有同一个复位弹簧，所述缓冲杆远离铰接处的一端转动连接有缓冲滑块，所述压板的上端开设有与缓冲滑块相匹配的缓冲滑槽。

优选的，所述复位弹簧的两端均固定连接有锁环，两个所述缓冲杆相向的一侧均铰接有与锁环相匹配的锁扣。

优选的，所述三角卡头的下端水平部与限位板的上端表面平齐。

优选的，所述移动杆位于凹槽内的一端固定连接有限位滑块，所述凹槽的内壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽。

优选的，所述压板的上端四角处与翻板的下端之间均固定连接有弹性伸缩杆，且压板的下端固定设有一层缓冲橡胶垫。

与现有技术相比，本实用新型提供了集成电路测试装置，具备以下有益效果：

1、该集成电路测试装置，通过设有的固定板，将待检测的集成电路板放置在固定板上，翻转翻板，使压板压住集成电路板的侧边，限位板表面开设的卡口挤压三角卡头，利用卡口与三角卡头的斜面相对滑动作用使三角卡头移动，当三角卡头伸出卡口时，拉力弹簧带动移动杆回拉，进而带动三角卡头回拉使三角卡头的水平部回拉至限位板的上端，能够对翻板进行稳固的限位固定，进而能够对集成电路板进行稳固的夹持，且在需要取下集成电路板时，拨动三角卡头，使三角卡头移动至卡口处即可解除对翻板的限位锁定，能够方便对集成电路板的拆装，便于进行检测测试工作。

2、该集成电路测试装置，通过翻板与压板之间设有的多个缓冲机构，在夹持不同厚度的集成电路板时，压板回压缓冲机构，两根缓冲杆利用缓冲滑块在缓冲滑槽内的滑动做相互背离的运动，进而能够改变压板与翻板之间的距离，便于对不同厚度集成电路板的压持使用，复位弹簧回拉两根缓冲杆能够提供挤压力，使压板能够对集成电路板进行稳固夹持，且不会由于硬性夹持造成对集成电路板的损坏。

3、该集成电路测试装置，通过复位弹簧与缓冲杆之间利用锁扣和锁环连接，能够便于对复位弹簧的拆装，进而便于对缓冲机构的维护更换，保证了缓冲机构的使用寿命。

而且该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型能够方便对集成电路板的拆装，便于进行检测测试工作。

附图说明

图1为本实用新型提出的集成电路测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型提出的集成电路测试装置的卡合机构的结构示意图；

图3为本实用新型提出的集成电路测试装置A部分的结构示意图。

图中：1固定板、2卡板、3翻板、4限位板、5卡口、6凹槽、7伸缩杆、8移动杆、9三角卡头、10拉力弹簧、11压板、12缓冲杆、13复位弹簧、14缓冲滑块、15缓冲滑槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3，集成电路测试装置，包括固定板1，固定板1的上端对称固定连接有两个卡合机构，卡合机构包括两个对称设置的且与固定板1上端固定连接的卡板2，两个卡板2的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴，转轴的轴壁固定连接有翻板3，翻板3的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板4，限位板4的表面开设有卡口5，卡板2的上端开设有凹槽6，凹槽6竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆7，伸缩杆7远离凹槽6内侧壁的一端固定连接有移动杆8，移动杆8的上端固定连接有与卡口5对应的三角卡头9，凹槽6的内壁与移动杆8的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆7外的拉力弹簧10，翻板3远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板11。

缓冲机构包括两根与翻板3下端铰接，且呈八字形分布的缓冲杆12，两根缓冲杆12之间连接有同一个复位弹簧13，缓冲杆12远离铰接处的一端转动连接有缓冲滑块14，压板11的上端开设有与缓冲滑块14相匹配的缓冲滑槽15。

复位弹簧13的两端均固定连接有锁环，两个缓冲杆12相向的一侧均铰接有与锁环相匹配的锁扣。

三角卡头9的下端水平部与限位板4的上端表面平齐。

移动杆8位于凹槽6内的一端固定连接有限位滑块，凹槽6的内壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽。

压板11的上端四角处与翻板3的下端之间均固定连接有弹性伸缩杆，且压板11的下端固定设有一层缓冲橡胶垫。

本实用新型中，使用时，通过设有的固定板1，将待检测的集成电路板放置在固定板1上，翻转翻板3，使压板11压住集成电路板的侧边，限位板4表面开设的卡口挤压三角卡头9，利用卡口5与三角卡头9的斜面相对滑动作用使三角卡头9移动，当三角卡头9伸出卡口5时，拉力弹簧10带动移动杆8回拉，进而带动三角卡头9回拉使三角卡头9的水平部回拉至限位板4的上端，能够对翻板3进行稳固的限位固定，进而能够对集成电路板进行稳固的夹持，且在需要取下集成电路板时，拨动三角卡头9，使三角卡头9移动至卡口5处即可解除对翻板3的限位锁定，能够方便对集成电路板的拆装，便于进行检测测试工作，通过翻板3与压板11之间设有的多个缓冲机构，在夹持不同厚度的集成电路板时，压板回压缓冲机构，两根缓冲杆12利用缓冲滑块14在缓冲滑槽15内的滑动做相互背离的运动，进而能够改变压板11与翻板3之间的距离，便于对不同厚度集成电路板的压持使用，复位弹簧13回拉两根缓冲杆12能够提供挤压力，使压板11能够对集成电路板进行稳固夹持，且不会由于硬性夹持造成对集成电路板的损坏，通过复位弹簧13与缓冲杆12之间利用锁扣和锁环连接，能够便于对复位弹簧13的拆装，进而便于对缓冲机构的维护更换，保证了缓冲机构的使用寿命。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.集成电路测试装置，包括固定板(1)，其特征在于，所述固定板(1)的上端对称固定连接有两个卡合机构，所述卡合机构包括两个对称设置的且与固定板(1)上端固定连接的卡板(2)，两个所述卡板(2)的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴，所述转轴的轴壁固定连接有翻板(3)，所述翻板(3)的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板(4)，所述限位板(4)的表面开设有卡口(5)，所述卡板(2)的上端开设有凹槽(6)，所述凹槽(6)竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆(7)，所述伸缩杆(7)远离凹槽(6)内侧壁的一端固定连接有移动杆(8)，所述移动杆(8)的上端固定连接有与卡口(5)对应的三角卡头(9)，所述凹槽(6)的内壁与移动杆(8)的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆(7)外的拉力弹簧(10)，所述翻板(3)远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板(11)。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述缓冲机构包括两根与翻板(3)下端铰接，且呈八字形分布的缓冲杆(12)，两根所述缓冲杆(12)之间连接有同一个复位弹簧(13)，所述缓冲杆(12)远离铰接处的一端转动连接有缓冲滑块(14)，所述压板(11)的上端开设有与缓冲滑块(14)相匹配的缓冲滑槽(15)。

3.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述复位弹簧(13)的两端均固定连接有锁环，两个所述缓冲杆(12)相向的一侧均铰接有与锁环相匹配的锁扣。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述三角卡头(9)的下端水平部与限位板(4)的上端表面平齐。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述移动杆(8)位于凹槽(6)内的一端固定连接有限位滑块，所述凹槽(6)的内壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述压板(11)的上端四角处与翻板(3)的下端之间均固定连接有弹性伸缩杆，且压板(11)的下端固定设有一层缓冲橡胶垫。