CN208672755U - 一种cob测试电路结构 - Google Patents
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Abstract
一种COB测试电路结构，在进行测试前，先将待测试的PCB板放置在探针底座上，通电源，随后闭合气缸控制电路结构中的开关，使气缸控制电路闭合，从而电磁阀得电，并控制气压缸动作，气压缸带动压板下压，同时，压板下压待测试的PCB板，使待测试的PCB板上的每个pcs与对应的探针底座上的探针组接触，从而使每个探针组中的两个探针连通，以使发光二极管控制电路闭合，当待测试的PCB板上的pcs为良品时，与其相对应的发光二极管则亮灯，当待测试的PCB板上的pcs为不良品时，与其相对应的发光二极管则不亮灯，测试效率高，省时省力，且测试结果精准。
Description
技术领域
本实用新型涉及COB测试电路结构。
背景技术
COB封装工艺是电子行业中的常见工艺，在COB封装工艺过程中，需要对进行了COB封装工艺的PCB板进行检测，以检测每个pcs上的线路是否正常。
目前，COB测试都是人工采用放大镜来完成，即测试人员用读卡器对每块待测的PCB板进行检测，耗时耗力，工作效率低，人力成本高，且人工检测容易出现漏检或错检的情况。
实用新型内容
本实用新型旨在提供一种能高效、快速检测PCB板上的每个pcs是否为良品的COB测试电路结构，省时省力，降低人力成本，提高检测的准确率。
本实用新型所述的一种COB测试电路结构，包括气缸控制电路结构以及发光二极管控制电路结构；所述气缸控制电路结构包括电磁阀、开关以及第一电源，所述电磁阀、开关以及第一电源通过线路串联连接为一体，所述电磁阀与气压缸连接为一体，气压缸的伸缩轴上连接有压板；所述发光二极管控制电路结构包括设置在所述压板下方的探针底座、第二电源以及发光二极管线路板，所述探针底座上设置有多组探针组，每组探针组均包括两根探针，所述发光二极管线路板上设置有数量与探针组的组数一致的多个发光二极管，每个发光二极管与每组探针组中的其中一根探针串联，第二电源的其中一极分别与多组探针组中未连接发光二极管的另一探针串联，第二电源的另一极与发光二极管线路板串联。
本实用新型所述的一种COB测试电路结构，在进行测试前，先将待测试的PCB板放置在探针底座上，通电源，随后闭合气缸控制电路结构中的开关，使气缸控制电路闭合，从而电磁阀得电，并控制气压缸动作，气压缸带动压板下压，同时，压板下压待测试的PCB板，使待测试的PCB板上的每个pcs与对应的探针底座上的探针组接触，从而使每个探针组中的两个探针连通，以使发光二极管控制电路闭合，当待测试的PCB板上的pcs为良品时，与其相对应的发光二极管则亮灯，当待测试的PCB板上的pcs为不良品时，与其相对应的发光二极管则不亮灯，测试效率高，省时省力，且测试结果精准。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图2为图1中A部分局部放大图。
具体实施方式
一种COB测试电路结构，如图1和图2所示，包括气缸控制电路结构以及发光二极管控制电路结构；所述气缸控制电路结构包括电磁阀1、开关2以及第一电源3，所述电磁阀1、开关2以及第一电源3通过线路串联连接为一体，所述电磁阀1与气压缸4连接为一体，气压缸4的伸缩轴上连接有压板5；所述发光二极管控制电路结构包括设置在所述压板5下方的探针底座6、第二电源7以及发光二极管线路板8，所述探针底座6上设置有多组探针组9，每组探针组9均包括两根探针，所述发光二极管线路板8上设置有数量与探针组9的组数一致的多个发光二极管10，每个发光二极管10与每组探针组9中的其中一根探针串联，第二电源7的其中一极分别与多组探针组9中未连接发光二极管10的另一探针串联，第二电源7的另一极与发光二极管线路板8串联。所述探针底座6上的多组探针组9的布置与待测试的PCB板11上的多个pcs的布置一致，以使待测试的PCB板11上的多个pcs与探针底座6上的多个探针组9的良好接触。
所述发光二极管控制电路结构还包括有变压器12，所述变压器12与发光二极管控制电路结构中的第二电源7串联连接，通过设置变压器12，以控制第二电源7输出的电压，避免发光二极管10因高电压而损坏。
所述探针底座6上设置有导柱13，便于稳固待测试的PCB板11，避免其在测试过程中移位。
Claims (3)
1.一种COB测试电路结构，其特征在于：包括气缸控制电路结构以及发光二极管控制电路结构；所述气缸控制电路结构包括电磁阀(1)、开关(2)以及第一电源(3)，所述电磁阀(1)、开关(2)以及第一电源(3)通过线路串联连接为一体，所述电磁阀(1)与气压缸(4)连接为一体，气压缸(4)的伸缩轴上连接有压板(5)；所述发光二极管控制电路结构包括设置在所述压板(5)下方的探针底座(6)、第二电源(7)以及发光二极管线路板(8)，所述探针底座(6)上设置有多组探针组(9)，每组探针组(9)均包括两根探针，所述发光二极管线路板(8)上设置有数量与探针组(9)的组数一致的多个发光二极管(10)，每个发光二极管(10)与每组探针组(9)中的其中一根探针串联，第二电源(7)的其中一极分别与多组探针组(9)中未连接发光二极管(10)的另一探针串联，第二电源(7)的另一极与发光二极管线路板(8)串联。
2.根据权利要求1所述的一种COB测试电路结构，其特征在于：所述发光二极管控制电路结构还包括有变压器(12)，所述变压器(12)与发光二极管控制电路结构中的第二电源(7)串联连接。
3.根据权利要求1或2所述的一种COB测试电路结构，其特征在于：所述探针底座(6)上设置有导柱(13)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201820838832.4U CN208672755U (zh) | 2018-06-01 | 2018-06-01 | 一种cob测试电路结构 |
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| CN201820838832.4U CN208672755U (zh) | 2018-06-01 | 2018-06-01 | 一种cob测试电路结构 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN208672755U true CN208672755U (zh) | 2019-03-29 |
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ID=65823690
Family Applications (1)
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| CN201820838832.4U Active CN208672755U (zh) | 2018-06-01 | 2018-06-01 | 一种cob测试电路结构 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN208672755U (zh) |
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2018
- 2018-06-01 CN CN201820838832.4U patent/CN208672755U/zh active Active
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