CN208661819U - 一种芯片的漏电流测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种芯片的漏电流测试装置，包括装置本体，所述装置本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，本实用新型通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，分拣机构根据控制模块的判定结果分别将良品放入良品箱或将废品放入废品箱，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。

Description

一种芯片的漏电流测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，特别涉及一种芯片的漏电流测试装置。

背景技术

理想条件下，芯片的引脚和大地之间是开路的，但实际情况下，它们之间为高阻状态，加上电压时可能会有微小的电流流过，这种电流称为漏电流。在芯片流片之后，需要测试芯片的漏电流是否达标，如果芯片的漏电流过大，比如应用到手机、笔记本电脑等需要电池供电的电子设备上，芯片会严重的影响待机时间，影响产品的质量，因此漏电流需要慎重考虑。

近年来，随着集成电路的发展，各种芯片引脚越来越密，引脚越来越多，引脚间距也越来越小，给生产、维修、组装和测试带来不少的困难。现有的漏电流测量方法，通常为人工采用测试治具和万用表，逐个测试芯片引脚的漏电流，该方法测试效率十分低下，测试精度无法得到保证，大大影响了生产和加工效率。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

为了解决上述问题，本实用新型提供了一种芯片的漏电流测试装置，通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，分拣机构根据控制模块的判定结果分别将良品放入良品箱或将废品放入废品箱，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。

(二)技术方案

一种芯片的漏电流测试装置，包括装置本体，所述装置本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从动辊之间设有传送带，所述传送带上均匀的设有若干放置槽，所述放置槽位于所述传送带的中轴线上，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机相背的位于所述底座的横部两端，所述第一旋转电机的第一旋转轴贯穿所述底座的一个竖部并伸出所述底座的一个竖部外，伸出于所述底座的一个竖部外的所述第一旋转轴与所述第一从动辊之间设有第一张紧皮带，所述第二旋转电机的第二旋转轴贯穿所述底座的另一个竖部并伸出所述底座的另一个竖部外，伸出于所述底座的另一个竖部外的所述第二旋转轴与所述第一从动辊之间设有第二张紧皮带，所述传送带上设有测试机构，所述测试机构包括测试架，所述测试架为倒U型结构，所述测试架的一个竖部与所述第一侧板相连接，所述测试架的另一个竖部与所述第二侧板相连接，所述测试架的横部内设有控制模块，所述测试架的横部底侧居中的设有第一直线电机，所述第一直线电机的第一伸缩杆的端部设有连接板，所述连接板内设有多路模拟选择开关，所述连接板的底部设有若干测试探针，所述测试探针的位置和数量与待测芯片的引脚相对应，所述测试探针与所述多路模拟选择开关电性连接，所述多路模拟选择开关通过数据传输线与所述控制模块电性连接，所述传送带上还设有分拣机构，所述分拣机构靠近所述第二从动辊，所述分拣机构包括良品箱和废品箱，所述良品箱与所述第一侧板的外侧相连接，所述废品箱与所述第二侧板的外侧相连接，所述良品箱与所述废品箱之间设有分拣架，所述分拣架也为倒U型结构，所述分拣架的一个竖部与所述良品箱的外侧相连接，所述分拣架的另一个竖部与所述废品箱的外侧相连接，所述分拣架的两个竖部之间设有丝杆，所述丝杆通过丝杆座水平的固定于所述分拣架上，所述丝杆上设有滑块，所述滑块的底部设有第二直线电机，所述第二直线电机的第二伸缩杆的端部连接真空吸盘，所述测试探针通过所述多路模拟选择开关和所述数据传输线连接所述控制模块的输入端，所述控制模块的输出端分别连接所述第一旋转电机、所述第二旋转电机、所述第一直线电机、所述第二直线电机和所述丝杆，外部电源为所述装置本体提供工作电压。

进一步的，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机均选用RS-380SH型步进电机。

进一步的，所述多路模拟选择开关选用16路模拟开关CD4067。

进一步的，所述滑块的初始位置位于所述丝杆的中间。

进一步的，所述真空吸盘选用软硅胶材料制成。

进一步的，所述控制模块选用16位单片机MC95S12DJ128。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种芯片的漏电流测试装置，将待测芯片正面朝下的放入传送带上的放置槽内，控制模块控制第一旋转电机和第二旋转电机同步工作，第一旋转电机和第二旋转电机分别通过第一张紧皮带和第二张紧皮带同时驱动第一从动辊转动，第一从动辊通过传送带带动第二从动辊跟随转动，从而使传送机构将待测芯片往测试机构方向传送，当待测芯片进入测试机构内时，第一直线电机将测试探针放下，测试探针与待测芯片的引脚相连接，测得待测芯片的引脚的漏电流数据，漏电流数据经连接板内的多路模拟选择开关和数据传输线送入控制模块的A/D转换器进行处理，判定引脚的漏电流数据是否达标，从而判定待测芯片为良品或废品，同时控制模块将相应的判定结果发送给丝杆，当待测芯片进入分拣机构内时，第二直线电机将真空吸盘放下吸附起待测芯片，丝杆根据控制模块的判定结果相应的往良品箱放下旋进或往废品箱放下旋进，从而将待测芯片放入良品箱或废品箱，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率，其结构简单，设计巧妙，检测精度高，响应速度快，稳定性和可靠性好，具有良好的实用性和可扩展性，可广泛的应用于芯片测试的其它场合。

附图说明

图1为本实用新型所涉及的一种芯片的漏电流测试装置的结构示意图。

图2为本实用新型所涉及的一种芯片的漏电流测试装置的传送机构的正面结构示意图。

图3为本实用新型所涉及的一种芯片的漏电流测试装置的测试机构的正面结构示意图。

图4为本实用新型所涉及的一种芯片的漏电流测试装置的分拣机构的正面结构示意图。

图5为本实用新型所涉及的一种芯片的漏电流测试装置的系统工作原理图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型所涉及的实施例做进一步详细说明。

结合图1～图5，一种芯片的漏电流测试装置，包括装置本体，装置本体包括底座1，底座1为U型结构，底座1的一个竖部上连接第一侧板2，底座1的另一个竖部上连接第二侧板3，第一侧板2和第二侧板3为水平相对，第一侧板2和第二侧板3之间设有传送机构，传送机构包括第一从动辊4和第二从动辊5，第一从动辊4的一端贯穿第一侧板2的一端并伸出第一侧板2外，第一从动辊4的另一端贯穿第二侧板3的一端并伸出第二侧板3外，第二从动辊5的一端贯穿第一侧板2的另一端并伸出第一侧板2外，第二从动辊5的另一端贯穿第二侧板3的另一端并伸出第二侧板3外，第一从动辊4和第二从动辊5之间设有传送带6，传送带6上均匀的设有若干放置槽7，放置槽7位于传送带6的中轴线上，底座1的横部上分别设有第一旋转电机8和第二旋转电机11，第一旋转电机8和第二旋转电机11相背的位于底座1的横部两端，第一旋转电机8的第一旋转轴9贯穿底座1的一个竖部并伸出底座1的一个竖部外，伸出于底座1的一个竖部外的第一旋转轴9与第一从动辊4之间设有第一张紧皮带10，第二旋转电机11的第二旋转轴12贯穿底座1的另一个竖部并伸出底座1的另一个竖部外，伸出于底座1的另一个竖部外的第二旋转轴12与第一从动辊4之间设有第二张紧皮带13，传送带6上设有测试机构，测试机构包括测试架14，测试架14为倒U型结构，测试架14的一个竖部与第一侧板2相连接，测试架14的另一个竖部与第二侧板3相连接，测试架14的横部内设有控制模块15，测试架14的横部底侧居中的设有第一直线电机16，第一直线电机16的第一伸缩杆17的端部设有连接板18，连接板18内设有多路模拟选择开关，连接板18的底部设有若干测试探针19，测试探针19的位置和数量与待测芯片的引脚相对应，测试探针19与多路模拟选择开关电性连接，多路模拟选择开关通过数据传输线20与控制模块15电性连接，传送带6上还设有分拣机构，分拣机构靠近第二从动辊5，分拣机构包括良品箱21和废品箱22，良品箱21与第一侧板2的外侧相连接，废品箱22与第二侧板3的外侧相连接，良品箱21与废品箱22之间设有分拣架23，分拣架23也为倒U型结构，分拣架23的一个竖部与良品箱21的外侧相连接，分拣架23的另一个竖部与废品箱22的外侧相连接，分拣架23的两个竖部之间设有丝杆24，丝杆24通过丝杆座25水平的固定于分拣架23上，丝杆24上设有滑块26，滑块26的底部设有第二直线电机27，第二直线电机27的第二伸缩杆28的端部连接真空吸盘29，测试探针19通过多路模拟选择开关和数据传输线20连接控制模块15的输入端，控制模块15的输出端分别连接第一旋转电机8、第二旋转电机11、第一直线电机16、第二直线电机27和丝杆24，外部电源为装置本体提供工作电压。

将待测芯片正面朝下的放入传送带6的放置槽7内，即使得待测芯片的引脚朝上。连接外部电源，使得装置本体进入工作状态。控制模块15分别输出两路同步控制信号控制第一旋转电机8和第二旋转电机11工作，第一旋转电机8驱动第一旋转轴9转动，第二旋转电机11驱动第二旋转轴12转动，第一旋转轴9和第二旋转轴12分别通过第一张紧皮带10和第二张紧皮带13同时驱动第一从动辊4转动，第一从动辊4又通过传送带6带动第二从动辊5跟随转动，从而使传送机构往测试机构方向运动，将传送带6上的待测芯片往测试机构方向传送。第一旋转电机8和第二旋转电机11均选用RS-380SH型步进电机，可非常方便的设定旋转电机的步进频率，从而调节旋转轴的旋转速率，以调整传送机构的传送速率。

当待测芯片进入测试机构内，控制模块15控制第一直线电机16工作，第一伸缩杆17将端部的连接板18及测试探针19放下，使得测试探针19压靠在待测芯片的引脚上面，从而使待测芯片的引脚与测试探针19形成测试回路，由测试探针19测得待测芯片的引脚的漏电流数据。连接板18内设有多路模拟选择开关，多路模拟选择开关选用16路模拟开关CD4067，可同时通过16路漏电流数据，满足绝大部分芯片的测试需求。多路模拟选择开关通过数据传输线20与控制模块15相连接，漏电流数据经多路模拟选择开关和数据传输线20被送入控制模块15的模拟信号输入通道。控制模块15的模拟信号输入通道内置A/D转换器，对漏电流数据进行模数转换处理，并判定漏电流数据是否达标。若待测芯片的其中一个引脚的漏电流数据不达标，则控制模块15判定该待测芯片为废品，否则控制模块15判定该待测芯片为良品，控制模块15将判定结果传送给分拣机构的丝杆24以将良品和废品分拣出来。

当待测芯片进入分拣机构内，控制模块15控制第二直线电机27工作，第二伸缩杆28将端部的真空吸盘29放下。设定滑块26的初始位置位于丝杆24的中间，当真空吸盘29被放下时，使其刚好压靠在待测芯片上面，并将待测芯片吸附住。真空吸盘29选用软硅胶材料制成，可紧紧的与待测芯片相贴合，具有更好的吸附效果，提升了吸附效率。待测芯片吸附完毕，丝杆24根据控制模块15的判定结果往良品箱21方向旋进或者往废品箱22方向旋进，从而使滑块26相应的往良品箱21方向移动或往废品箱22方向移动，将待测芯片放入良品箱21或废品箱22内。分拣完毕，丝杆24复位，使滑块26回到初始的中间位置，以进行下一轮分拣。将滑块26的初始位置设置在丝杆24的中间，减少了滑块26的移动距离，也减少了丝杆24的功耗，提升了分拣效率。

控制模块15对测试探针19的输入检测信号进行处理，分别输出控制信号控制第一旋转电机8、第二旋转电机11、第一直线电机16、第二直线电机27和丝杆24进行工作。为了简化电路，降低成本，提高系统后期的可扩展性，控制模块15选用16位单片机MC95S12DJ128，其内置128KB的Flash、8KB的RAM和2KB的EEPROM，具有5V输入和驱动能力，CPU工作频率可达到50MHz。29路独立的数字I/O接口，20路带中断和唤醒功能的数字I/O接口，2个8通道的10位A/D转换器，具有8通道的输入捕捉/输出比较，还具有8个可编程PWM通道。具有2个串行异步通信接口SCI，2个同步串行外设接口SPI，I2C总线和CAN功能模块等，满足设计要求。

本实用新型提供了一种芯片的漏电流测试装置，将待测芯片正面朝下的放入传送带上的放置槽内，控制模块控制第一旋转电机和第二旋转电机同步工作，第一旋转电机和第二旋转电机分别通过第一张紧皮带和第二张紧皮带同时驱动第一从动辊转动，第一从动辊通过传送带带动第二从动辊跟随转动，从而使传送机构将待测芯片往测试机构方向传送，当待测芯片进入测试机构内时，第一直线电机将测试探针放下，测试探针与待测芯片的引脚相连接，测得待测芯片的引脚的漏电流数据，漏电流数据经连接板内的多路模拟选择开关和数据传输线送入控制模块的A/D转换器进行处理，判定引脚的漏电流数据是否达标，从而判定待测芯片为良品或废品，同时控制模块将相应的判定结果发送给丝杆，当待测芯片进入分拣机构内时，第二直线电机将真空吸盘放下吸附起待测芯片，丝杆根据控制模块的判定结果相应的往良品箱放下旋进或往废品箱放下旋进，从而将待测芯片放入良品箱或废品箱，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率，其结构简单，设计巧妙，检测精度高，响应速度快，稳定性和可靠性好，具有良好的实用性和可扩展性，可广泛的应用于芯片测试的其它场合。

上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的构思和范围进行限定。在不脱离本实用新型设计构思的前提下，本领域普通人员对本实用新型的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本实用新型的保护范围，本实用新型请求保护的技术内容，已经全部记载在权利要求书中。

Claims (6)

1.一种芯片的漏电流测试装置，包括装置本体，其特征在于：所述装置本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从动辊之间设有传送带，所述传送带上均匀的设有若干放置槽，所述放置槽位于所述传送带的中轴线上，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机相背的位于所述底座的横部两端，所述第一旋转电机的第一旋转轴贯穿所述底座的一个竖部并伸出所述底座的一个竖部外，伸出于所述底座的一个竖部外的所述第一旋转轴与所述第一从动辊之间设有第一张紧皮带，所述第二旋转电机的第二旋转轴贯穿所述底座的另一个竖部并伸出所述底座的另一个竖部外，伸出于所述底座的另一个竖部外的所述第二旋转轴与所述第一从动辊之间设有第二张紧皮带，所述传送带上设有测试机构，所述测试机构包括测试架，所述测试架为倒U型结构，所述测试架的一个竖部与所述第一侧板相连接，所述测试架的另一个竖部与所述第二侧板相连接，所述测试架的横部内设有控制模块，所述测试架的横部底侧居中的设有第一直线电机，所述第一直线电机的第一伸缩杆的端部设有连接板，所述连接板内设有多路模拟选择开关，所述连接板的底部设有若干测试探针，所述测试探针的位置和数量与待测芯片的引脚相对应，所述测试探针与所述多路模拟选择开关电性连接，所述多路模拟选择开关通过数据传输线与所述控制模块电性连接，所述传送带上还设有分拣机构，所述分拣机构靠近所述第二从动辊，所述分拣机构包括良品箱和废品箱，所述良品箱与所述第一侧板的外侧相连接，所述废品箱与所述第二侧板的外侧相连接，所述良品箱与所述废品箱之间设有分拣架，所述分拣架也为倒U型结构，所述分拣架的一个竖部与所述良品箱的外侧相连接，所述分拣架的另一个竖部与所述废品箱的外侧相连接，所述分拣架的两个竖部之间设有丝杆，所述丝杆通过丝杆座水平的固定于所述分拣架上，所述丝杆上设有滑块，所述滑块的底部设有第二直线电机，所述第二直线电机的第二伸缩杆的端部连接真空吸盘，所述测试探针通过所述多路模拟选择开关和所述数据传输线连接所述控制模块的输入端，所述控制模块的输出端分别连接所述第一旋转电机、所述第二旋转电机、所述第一直线电机、所述第二直线电机和所述丝杆，外部电源为所述装置本体提供工作电压。

2.根据权利要求1所述的一种芯片的漏电流测试装置，其特征在于：所述第一旋转电机和所述第二旋转电机均选用RS-380SH型步进电机。

3.根据权利要求1所述的一种芯片的漏电流测试装置，其特征在于：所述多路模拟选择开关选用16路模拟开关CD4067。

4.根据权利要求1所述的一种芯片的漏电流测试装置，其特征在于：所述滑块的初始位置位于所述丝杆的中间。

5.根据权利要求1所述的一种芯片的漏电流测试装置，其特征在于：所述真空吸盘选用软硅胶材料制成。

6.根据权利要求1所述的一种芯片的漏电流测试装置，其特征在于：所述控制模块选用16位单片机MC95S12DJ128。