CN208636260U - 一种用于超声扫描显微镜的定位系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于超声扫描显微镜的定位系统，该系统包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽前方且与所述水槽的前面板平行的X方向定位组件，以及固定设置于所述水槽侧方且与所述水槽的侧面板平行的YZ方向定位组件，所述X方向定位组件和所述YZ方向定位组件分别与处理器电连接。本实用新型提供的技术方案可准确获知待测件在超声扫描显微镜水槽中的位置，从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞。

Description

一种用于超声扫描显微镜的定位系统

技术领域

本实用新型涉及超声扫描显微镜技术领域，尤其涉及一种用于超声扫描显微镜的定位系统。

背景技术

在使用常规超声扫描显微镜对待测件进行扫描前，需要首先将待测件放入超声扫描显微镜探头下方的水槽内，然后通过控制软件调整超声扫描显微镜的X、Y、Z方向滑轨，使探头位于待测件上方合适位置处。但是在调整探头位置的实际操作过程中，操作人员需要来回多次观测控制软件界面上的实时数据以及探头的实际位置，并根据肉眼观测的位置信息逐步调整软件设定数据，效率较低。另外，由于实验需要，待测件通常位于水槽内水面下方，在探头接近水面或者进入水下后，由于折射与观测视角等原因，将导致操作人员可能对探头实际位置的观测出现偏差，特别是对探头与待测件之间Z方向上的距离很有可能会出现观测误差。如果继续按原有方式调整探头位置，将有可能使探头碰撞到待测件而发生刮擦或损坏。

实用新型内容

为了准确获知待测件在超声扫描显微镜水槽中的位置，从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞，本实用新型提供一种用于超声扫描显微镜的定位系统。

本实用新型提供一种用于超声扫描显微镜的定位系统，包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽前方且与所述水槽的前面板平行的X方向定位组件，以及固定设置于所述水槽侧方且与所述水槽的侧面板平行的YZ方向定位组件，所述X方向定位组件和所述YZ方向定位组件分别与处理器电连接。

本实用新型提供的用于超声扫描显微镜的定位系统的有益效果是：通过位于超声扫描显微镜前方的X方向定位组件确定水槽内待测件的X方向定位数据，以及通过位于超声扫描显微镜侧方的YZ方向定位组件确定待测件的Y方向定位数据和Z方向定位数据。由于超声扫描显微镜探头、水槽及水槽内的待测件可位于相同坐标系内，确定了待测件的定位数据后，在进行调整探头时，不再需要在控制软件界面和工作台之间来回观察，而是可以根据定位数据获得探头与待测件间之间的三维相对距离，并在控制软件界面直接输入三维相对距离或基于此距离的安全值，使探头能够快速准确移动到可以对待测件进行扫描的安全工作位置。从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞。

在上述技术方案的基础上，本实用新型还可以做如下改进。

进一步，所述X方向定位组件包括第一导轨、第一激光笔、第一滑块、第一滑动变阻器和第一滑片；所述第一导轨固定设置于所述水槽前方且与所述水槽的前面板平行，所述第一滑块滑动设置于所述第一导轨的滑槽内，所述第一导轨面向所述水槽的侧面设置有第一条形通孔，背向所述水槽的侧面固定设置有所述第一滑动变阻器，所述第一激光笔滑动设置于所述第一条形通孔内，所述第一激光笔的一端垂直指向所述前面板，另一端固定于所述第一滑块上，所述第一滑片的一端固定于所述第一滑块上，另一端与所述第一滑动变阻器的电阻丝抵接；所述第一滑动变阻器与所述处理器电连接。

采用上述进一步方案的有益效果是：在第一导轨的滑槽内滑动固定有第一激光笔的第一滑块，使第一激光笔指向待测件的例如X方向中心线处。此时，随第一滑块一同运动的第一滑片将改变第一滑动变阻器的输出阻值。需要注意的是，第一滑片与第一滑动变阻器为点接触，且第一滑片与第一激光笔位于同一垂直于水槽前面板的平面上。因此，第一滑动变阻器的变化阻值可以反映出第一激光笔的X方向位置信息，也就是待测件的X方向位置信息。处理器根据这一阻值变化信息可确定待测件的X方向定位数据。

进一步，所述第一滑动变阻器的长度与所述前面板的长度相同，且所述第一滑动变阻器的两端与所述前面板的横向两端对齐，所述第一导轨的表面上设置有与所述第一滑动变阻器长度匹配的刻度尺。

采用上述进一步方案的有益效果是：由于第一滑动变阻器与水槽前面板的长度相同，当第一滑片随第一激光笔和第一滑块移动时，可通过读取第一滑片对应刻度值的方式直接确定待测件的X方向定位数据，不需要通过变化阻值进行转换，更为直观，也使对待测件的定位方式更灵活，方便操作人员使用。

进一步，所述YZ方向定位组件包括两个平行且间隔设置的第二导轨、两个平行且间隔设置的支撑杆、第二滑动变阻器、第二滑片和包括指向所述水槽的第二激光笔的Z方向定位组件；两个所述第二导轨均设置于所述水槽的一侧，并与所述水槽的侧面板平行，且两个所述第二导轨与所述侧面板的距离相同，两个所述第二导轨的两端分别通过两个所述支撑杆固定连接，所述第二导轨背向所述水槽的侧面固定设置有所述第二滑动变阻器，所述Z方向定位组件的两端分别滑动设置于两个所述第二导轨的滑槽内，所述第二滑片的一端固定于所述Z方向定位组件上，另一端与所述第二滑动变阻器的电阻丝抵接；所述第二滑动变阻器与所述处理器电连接。

进一步，所述Z方向定位组件还包括第三导轨、第二滑块、第三滑动变阻器和第三滑片；所述第三导轨的两端分别滑动设置于两个所述第二导轨的滑槽内，所述第二滑块滑动设置于所述第三导轨的滑槽内，所述第二滑块上固定设置有垂直指向所述侧面板的所述第二激光笔，所述第三导轨的侧面固定设置有所述第三滑动变阻器，所述第三滑片的一端固定于所述第二滑块上，另一端与所述第三滑动变阻器的电阻丝抵接，所述第二滑片的一端固定于所述第三导轨上，另一端与所述第二滑动变阻器的电阻丝抵接；所述第三滑动变阻器与所述处理器电连接。

采用上述进一步方案的有益效果是：首先使第二激光笔和第二滑块位于初始位置，也就是第三导轨最下方，在两个第二导轨的滑槽内滑动第三导轨，使第二激光笔指向待测件的例如Y方向中心线处。此时，随第三导轨一同运动的第二滑片将改变第二滑动变阻器的输出阻值。需要注意的是，第二滑片与第二滑动变阻器为点接触，且第二滑片与第二激光笔位于同一垂直于水槽侧面板的平面上。因此，第二滑动变阻器的变化阻值可以反映出第二激光笔的Y方向位置信息，也就是待测件的Y方向位置信息。处理器根据这一阻值变化信息可确定待测件的Y方向定位数据。

在确定了Y方向定位数据后，在第三导轨的滑槽内滑动固定有第二激光笔的第二滑块，使第二激光笔指向待测件的例如Z方向顶点位置处。此时，随第三导轨一同运动的第三滑片将改变第三滑动变阻器的输出阻值。需要注意的是，第三滑片与第三滑动变阻器为点接触，且第三滑片与XY平面平行并与第二激光笔垂直。因此，第三滑动变阻器的变化阻值可以反映出第二激光笔的Z方向位置信息，也就是待测件的Z方向位置信息。处理器根据这一阻值变化信息可确定待测件的Z方向定位数据。

进一步，所述第二滑动变阻器的长度与所述侧面板的长度相同，且所述第二滑动变阻器的两端与所述侧面板的横向两端对齐，所述第二导轨的表面上设置有与所述第二滑动变阻器长度匹配的刻度尺。

采用上述进一步方案的有益效果是：由于第二滑动变阻器与水槽侧面板的长度相同，当第二滑片随第二激光笔和第三导轨移动时，可通过读取第二滑片对应刻度值的方式直接确定待测件的Y方向定位数据，不需要通过变化阻值进行转换，更为直观，也使对待测件的定位方式更灵活，方便操作人员使用。

进一步，所述第三导轨的侧面设置有第二条形通孔，所述第二滑块面向所述第二条形通孔的表面设置有螺纹孔，所述第三导轨与所述第二滑块通过穿过所述第二条形通孔并旋紧于所述螺纹孔内的螺栓固定连接。

采用上述进一步方案的有益效果是：由于第二激光笔随第二滑块在第三导轨内上下滑动，为了避免由于重力原因使第二激光笔及第二滑块滑落，可以在确定了第二激光笔准确指向待测件时，通过螺栓将第二滑块固定于第三导轨上。

进一步，所述第三滑动变阻器的长度与所述侧面板的高度相同，且所述第三滑动变阻器的两端与所述侧面板的竖向两端对齐，所述第三导轨的表面上设置有与所述第三滑动变阻器长度匹配的刻度尺。

采用上述进一步方案的有益效果是：由于第三滑动变阻器与水槽侧面板的高度相同，当第三滑片随第二激光笔和第二滑块移动时，可通过读取第三滑片对应刻度值的方式直接确定待测件的Z方向定位数据，不需要通过变化阻值进行转换，更为直观，也使对待测件的定位方式更灵活，方便操作人员使用。

进一步，所述系统还包括显示装置，所述显示装置与所述处理器电连接。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过定位系统获得的不同方位的定位数据可直观显示于显示装置上，便于操作人员直接对超声扫描显微镜的探头进行相应操作。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例的超声扫描显微镜的结构示意图；

图2为本实用新型实施例的用于超声扫描显微镜的定位系统的结构示意图；

图3为本实用新型实施例的用于超声扫描显微镜的定位系统的电路连接示意图；

图4为本实用新型实施例的X方向定位组件的结构示意图；

图5为本实用新型实施例的YZ方向定位组件的结构示意图；

图6为本实用新型实施例的YZ方向定位组件的结构示意图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

11、探头，12、X方向探头滑轨，13、Y方向探头滑轨，14、Z方向探头滑轨，2、水槽，3、待测件，4、X方向定位组件，41、第一导轨，411、第一条形通孔，42、第一激光笔，43、第一滑块，44、第一滑动变阻器，45、第一滑片，5、YZ方向定位组件，51、第二导轨，52、支撑杆，53、第二滑动变阻器，54、第二滑片，55、第三导轨，551、第二条形通孔，56、第二激光笔，57、第二滑块，571、螺纹孔，58、第三滑动变阻器，59、第三滑片。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的范围。

如图1所示，超声扫描显微镜通常包括工作台及位于工作台下方的透明水槽。以PVA超声扫描显微镜AM300基本型为例进行说明，工作台包括X方向探头滑轨12，Y方向探头滑轨13和Z方向探头滑轨14，探头11安装于Z方向探头滑轨14上，指向下方水槽2，通过控制软件调整各方向的滑轨，使探头11最终指向水槽2内的待测件3。

如图2和图3所示，本实用新型实施例提供的用于超声扫描显微镜的定位系统包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽2前方且与水槽2的前面板平行的X方向定位组件4，以及固定设置于水槽2侧方且与水槽2的侧面板平行的YZ方向定位组件5，X方向定位组件4和YZ方向定位组件5分别与处理器电连接。

处理器可用于根据X方向定位组件4对水槽2内待测件3的测量值获得待测件3的X方向定位数据，并根据YZ方向定位组件5对待测件3的测量值分别获得待测件3的Y方向定位数据和Z方向定位数据。

在本实施例中，通过位于超声扫描显微镜前方的X方向定位组件确定水槽内待测件的X方向定位数据，以及通过位于超声扫描显微镜侧方的YZ方向定位组件确定待测件的Y方向定位数据和Z方向定位数据。由于超声扫描显微镜探头、水槽及水槽内的待测件可位于相同坐标系内，确定了待测件的定位数据后，在进行调整探头时，不再需要在控制软件界面和工作台之间来回观察，而是可以根据定位数据获得探头与待测件间之间的三维相对距离，并在控制软件界面直接输入三维相对距离或基于此距离的安全值，使探头能够快速准确移动到可以对待测件进行扫描的安全工作位置。从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞。

处理器可以为支持上述控制软件运行的处理器，处理器可连接显示装置。例如，控制软件运行于PC机上，X方向定位组件和YZ方向定位组件也连接于此PC机上。相应地，获得的X、Y、Z方向定位数据也可嵌入显示于此控制软件上，方便操作人员调整探头的位置。

实际操作过程中，例如确定待测件3的X、Y、Z方向定位数据分别为50，50，10，而探头的定位数据是在控制软件界面内已知的，为30，30，30。则可确定二者之间的相对定位数据为20，20，-20，由于在Z方向需要保证一定的安全余量5，则相对定位数据安全值为20，20，-15。通过在控制软件界面中输入上述安全值，探头2将快速而准确移动至待测件3正上方安全扫描距离处。

优选地，如图4所示，X方向定位组件4包括第一导轨41、第一激光笔42、第一滑块43、第一滑动变阻器44和第一滑片45；所述第一导轨41固定设置于所述水槽2前方且与所述水槽2的前面板平行，第一导轨41水平设置，所述第一滑块43滑动设置于所述第一导轨41的滑槽内，所述第一导轨41面向所述水槽2的侧面设置有第一条形通孔411，背向所述水槽2的侧面固定设置有所述第一滑动变阻器44，所述第一激光笔42滑动设置于所述第一条形通孔411内，所述第一激光笔42的一端垂直指向所述前面板，另一端固定于所述第一滑块43上，所述第一滑片45的一端固定于所述第一滑块43上，另一端与所述第一滑动变阻器44的电阻丝抵接；所述第一滑动变阻器44与所述处理器电连接。

所述处理器可用于当所述第一激光笔42在X方向移动并指向所述水槽2内的所述待测件3时，根据所述第一滑动变阻器44的变化阻值获得所述X方向定位数据。

在第一导轨41的滑槽内滑动固定有第一激光笔42的第一滑块43，使第一激光笔42指向待测件3的例如X方向中心线处。此时，随第一滑块43一同运动的第一滑片45将改变第一滑动变阻器44的输出阻值。需要注意的是，第一滑片45与第一滑动变阻器44为点接触，且第一滑片45与第一激光笔42位于同一垂直于水槽2前面板的平面上。因此，第一滑动变阻器44的变化阻值可以反映出第一激光笔42的X方向位置信息，也就是待测件3的X方向位置信息。处理器根据这一阻值变化信息可确定待测件3的X方向定位数据。

优选地，第一导轨41背向水槽2的侧面也设置有条形通孔，且第一滑块43面向该条形通孔的一面设置有螺纹孔，第一导轨41与第一滑块43通过穿过该条形通孔并旋紧于该螺纹孔内的螺栓固定连接。

由于第一滑块43在第一导轨41内滑动，为了避免外界环境影响导致第一滑块43不稳定，可以在确定了第一激光笔42准确指向待测件3时，通过螺栓将第一滑块43固定于第一导轨41上。

优选地，第一滑动变阻器44的长度与所述前面板的长度相同，且第一滑动变阻器44的两端与所述前面板的横向两端对齐，第一导轨41的表面上设置有与第一滑动变阻器44长度匹配的刻度尺。

由于第一滑动变阻器44与水槽2前面板的长度相同，当第一滑片45随第一激光笔42和第一滑块43移动时，可通过读取第一滑片45对应刻度值的方式直接确定待测件3的X方向定位数据，不需要通过变化阻值进行转换，更为直观，也使对待测件3的定位方式更灵活，方便操作人员使用。

需要注意的是，刻度尺可以是标刻或贴设于导轨表面的一系列刻度值。

优选地，如图5和图6所示，YZ方向定位组件5包括两个平行且间隔设置的第二导轨51、两个平行且间隔设置的支撑杆52、第二滑动变阻器53、第二滑片54和包括指向水槽2的第二激光笔56的Z方向定位组件；两个第二导轨51均设置于水槽2的一侧，并与水槽2的侧面板平行，第二导轨51水平设置，且两个第二导轨51与所述侧面板的距离相同，两个第二导轨51的两端分别通过两个支撑杆52固定连接，一个第二导轨51背向水槽2的侧面固定设置有第二滑动变阻器53，由于待测件3通常置于水槽2的底面板上，此处的第二导轨51通常为在Z方向上靠下的一个第二导轨，所述Z方向定位组件的两端分别滑动设置于两个第二导轨51的滑槽内，第二滑片54的一端固定于所述Z方向定位组件上，另一端与第二滑动变阻器53的电阻丝抵接；第二滑动变阻器53与所述处理器电连接。

优选地，所述Z方向定位组件还包括第三导轨55、第二滑块57、第三滑动变阻器58和第三滑片59；第三导轨55的两端分别滑动设置于两个第二导轨51的滑槽内，第三导轨55竖直设置，第二滑块57滑动设置于第三导轨55的滑槽内，第二滑块57上固定设置有垂直指向所述侧面板的第二激光笔56，第三导轨55的侧面固定设置有第三滑动变阻器58，第三滑片59的一端固定于第二滑块57上，另一端与第三滑动变阻器58的电阻丝抵接，第二滑片54的一端固定于第三导轨55上，另一端与第二滑动变阻器53的电阻丝抵接；第三滑动变阻器58与所述处理器电连接。

所述处理器可用于当第二激光笔56在Y方向移动并指向水槽2内的待测件3时，根据第二滑动变阻器53的变化阻值获得所述Y方向定位数据，当第二激光笔56在Z方向移动并指向待测件3时，根据第三滑动变阻器58的变化阻值获得所述Z方向定位数据。

首先使第二激光笔56和第二滑块57位于初始位置，也就是第三导轨55最下方，在两个第二导轨51的滑槽内滑动第三导轨55，使第二激光笔56指向待测件3的例如Y方向中心线处。此时，随第三导轨55一同运动的第二滑片54将改变第二滑动变阻器53的输出阻值。需要注意的是，第二滑片54与第二滑动变阻器53为点接触，且第二滑片54与第二激光笔56位于同一垂直于水槽2侧面板的平面上。因此，第二滑动变阻器53的变化阻值可以反映出第二激光笔56的Y方向位置信息，也就是待测件3的Y方向位置信息。处理器根据这一阻值变化信息可确定待测件3的Y方向定位数据。

在确定了Y方向定位数据后，在第三导轨55的滑槽内滑动固定有第二激光笔56的第二滑块57，使第二激光笔56指向待测件3的例如Z方向顶点位置处。此时，随第三导轨55一同运动的第三滑片59将改变第三滑动变阻器58的输出阻值。需要注意的是，第三滑片59与第三滑动变阻器58为点接触，且第三滑片59与XY平面平行并与第二激光笔56垂直。因此，第三滑动变阻器58的变化阻值可以反映出第二激光笔56的Z方向位置信息，也就是待测件3的Z方向位置信息。处理器根据这一阻值变化信息可确定待测件3的Z方向定位数据。

优选地，所述第二滑动变阻器53的长度与所述侧面板的长度相同，且所述第二滑动变阻器53的两端与所述侧面板的横向两端对齐，所述第二导轨51的表面上设置有与所述第二滑动变阻器53长度匹配的刻度尺。

由于第二滑动变阻器53与水槽2侧面板的长度相同，当第二滑片54随第二激光笔56和第三导轨55移动时，可通过读取第二滑片54对应刻度值的方式直接确定待测件3的Y方向定位数据，不需要通过变化阻值进行转换，更为直观，也使对待测件3的定位方式更灵活，方便操作人员使用。

优选地，第二导轨51的背向水槽2的侧面设置有条形通孔，第三导轨55背向水槽2的侧面两端分别设置有螺纹孔，第二导轨51与第三导轨55通过穿过该条形通孔并旋紧于该螺纹孔内的螺栓固定连接。

由于第三导轨55在第二导轨51内滑动，为了避免外界环境影响导致第三导轨55不稳定，可以在确定了第二激光笔56准确指向待测件3时，通过螺栓将第三导轨55固定于第二导轨51上。

优选地，第三导轨55的侧面设置有第二条形通孔551，第二滑块57面向第二条形通孔551的表面设置有螺纹孔571，第三导轨55与第二滑块57通过穿过第二条形通孔551并旋紧于螺纹孔571内的螺栓固定连接。

由于第二激光笔56随第二滑块57在第三导轨55内上下滑动，为了避免由于重力原因使第二激光笔56及第二滑块57滑落，可以在确定了第二激光笔56准确指向待测件3时，通过螺栓将第二滑块57固定于第三导轨55上。

优选地，所述第三滑动变阻器58的长度与所述侧面板的高度相同，且所述第三滑动变阻器58的两端与所述侧面板的竖向两端对齐，所述第三导轨55的表面上设置有与所述第三滑动变阻器58长度匹配的刻度尺。

由于第三滑动变阻器58与水槽2侧面板的高度相同，当第三滑片59随第二激光笔56和第二滑块57移动时，可通过读取第三滑片59对应刻度值的方式直接确定待测件3的Z方向定位数据，不需要通过变化阻值进行转换，更为直观，也使对待测件3的定位方式更灵活，方便操作人员使用。

需要注意的是，上述各导轨上刻度尺的刻度值可根据原有探头三维位置坐标系来标定的，以使刻度尺组成的三维坐标系与探头三维坐标系、变阻器阻值测量得到的三维坐标系吻合。

读者应理解，在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽(2)前方且与所述水槽(2)的前面板平行的X方向定位组件(4)，以及固定设置于所述水槽(2)侧方且与所述水槽(2)的侧面板平行的YZ方向定位组件(5)，所述X方向定位组件(4)和所述YZ方向定位组件(5)分别与处理器电连接。

2.根据权利要求1所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述X方向定位组件(4)包括第一导轨(41)、第一激光笔(42)、第一滑块(43)、第一滑动变阻器(44)和第一滑片(45)；所述第一导轨(41)固定设置于所述水槽(2)前方且与所述水槽(2)的前面板平行，所述第一滑块(43)滑动设置于所述第一导轨(41)的滑槽内，所述第一导轨(41)面向所述水槽(2)的侧面设置有第一条形通孔(411)，背向所述水槽(2)的侧面固定设置有所述第一滑动变阻器(44)，所述第一激光笔(42)滑动设置于所述第一条形通孔(411)内，所述第一激光笔(42)的一端垂直指向所述前面板，另一端固定于所述第一滑块(43)上，所述第一滑片(45)的一端固定于所述第一滑块(43)上，另一端与所述第一滑动变阻器(44)的电阻丝抵接；所述第一滑动变阻器(44)与所述处理器电连接。

3.根据权利要求2所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述第一滑动变阻器(44)的长度与所述前面板的长度相同，且所述第一滑动变阻器(44)的两端与所述前面板的横向两端对齐，所述第一导轨(41)的表面上设置有与所述第一滑动变阻器(44)长度匹配的刻度尺。

4.根据权利要求1至3任一项所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述YZ方向定位组件(5)包括两个平行且间隔设置的第二导轨(51)、两个平行且间隔设置的支撑杆(52)、第二滑动变阻器(53)、第二滑片(54)和包括指向所述水槽(2)的第二激光笔(56)的Z方向定位组件；两个所述第二导轨(51)均设置于所述水槽(2)的一侧，并与所述水槽(2)的侧面板平行，且两个所述第二导轨(51)与所述侧面板的距离相同，两个所述第二导轨(51)的两端分别通过两个所述支撑杆(52)固定连接，一个所述第二导轨(51)背向所述水槽(2)的侧面固定设置有所述第二滑动变阻器(53)，所述Z方向定位组件的两端分别滑动设置于两个所述第二导轨(51)的滑槽内，所述第二滑片(54)的一端固定于所述Z方向定位组件上，另一端与所述第二滑动变阻器(53)的电阻丝抵接；所述第二滑动变阻器(53)与所述处理器电连接。

5.根据权利要求4所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述第二滑动变阻器(53)的长度与所述侧面板的长度相同，且所述第二滑动变阻器(53)的两端与所述侧面板的横向两端对齐，所述第二导轨(51)的表面上设置有与所述第二滑动变阻器(53)长度匹配的刻度尺。

6.根据权利要求4所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述Z方向定位组件还包括第三导轨(55)、第二滑块(57)、第三滑动变阻器(58)和第三滑片(59)；所述第三导轨(55)的两端分别滑动设置于两个所述第二导轨(51)的滑槽内，所述第二滑块(57)滑动设置于所述第三导轨(55)的滑槽内，所述第二滑块(57)上固定设置有垂直指向所述侧面板的所述第二激光笔(56)，所述第三导轨(55)的侧面固定设置有所述第三滑动变阻器(58)，所述第三滑片(59)的一端固定于所述第二滑块(57)上，另一端与所述第三滑动变阻器(58)的电阻丝抵接，所述第二滑片(54)的一端固定于所述第三导轨(55)上，另一端与所述第二滑动变阻器(53)的电阻丝抵接；所述第三滑动变阻器(58)与所述处理器电连接。

7.根据权利要求6所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述第三导轨(55)的侧面设置有第二条形通孔(551)，所述第二滑块(57)面向所述第二条形通孔(551)的表面设置有螺纹孔(571)，所述第三导轨(55)与所述第二滑块(57)通过穿过所述第二条形通孔(551)并旋紧于所述螺纹孔(571)内的螺栓固定连接。

8.根据权利要求6或7所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述第三滑动变阻器(58)的长度与所述侧面板的高度相同，且所述第三滑动变阻器(58)的两端与所述侧面板的竖向两端对齐，所述第三导轨(55)的表面上设置有与所述第三滑动变阻器(58)长度匹配的刻度尺。

9.根据权利要求1至3、5至7任一项所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述系统还包括显示装置，所述显示装置与所述处理器电连接。