CN208539154U - 具有新型内导体针管结构的射频测试头 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种具有新型内导体针管结构的射频测试头，涉及射频测试领域，包括法兰、绝缘体、一体式的内导体针管、外壳、弹簧、针轴以及外导体接触头；内导体针管的一端设有SMA母头插孔，另一端设有滑动腔，弹簧容置在滑动腔内；针轴部分安装在滑动腔内；绝缘体套装在内导体针管和针轴外侧；外壳套设在绝缘体的一端，法兰套设在绝缘体的另一端，法兰的一端与外壳的一端固定连接；外导体接触头固定在外壳的另一端头。内导体针管的一端设置SMA母头插孔，即将SMA母头插孔与内导体针管设计为一体式结构，能更好的控制关键尺寸的公差，从而提高产品的稳定性和一致性；取消了锡焊焊接的连接方式，从而消除了因锡焊焊接的带来的质量风险及缺陷。

Description

具有新型内导体针管结构的射频测试头

技术领域

本实用新型涉及受射频测试领域，尤其是涉及一种具有新型内导体针管结构的射频测试头。

背景技术

随着射频测试行业的发展，射频测试头要求在越来越局促的空间内容纳越来越小的互连，改善射频测试头内导体各段连接的方式已经成为必然的趋势。在现有的射频测试头中SMA母头插孔与内导体连接是通过锡焊焊接的方式进行连接。然而，上述产品却存在着如下的问题和缺陷：

1.SMA母头插孔插孔与内导体被分为多个零件分别加工，不能一次加工成型，造成各零件的尺寸公差较难控制，连接后造成的内导体尺寸偏差增大，致使产品的整体性能降低。

2.SMA母头插孔与内导体通过锡焊焊接的方式连接，容易出现漏焊、虚焊，直接造成产品各项指标降低，甚至直接报废。

3.通过锡焊焊接的方式连接，因SMA母头插孔与内导体均采用铜镀金的材质，而锡焊在金表面的附着能力不足，致使产品在生产和使用过程中，都容易出现松动或脱落的情况，对产品的生产和使用都存在潜在的质量风险。

综上所述，分体式的SMA母头插孔和内导体的加工方式，以及对锡焊焊接的连接方式，不仅对产品各零部件有较高的加工要求，甚至在生产和使用过程中隐藏着较大的质量风险。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种的具有新型内导体针管结构的射频测试头，采用SMA母头插孔与内导体针管一体式结构，提高产品生产、加工和使用过程中品质；消除采用多个零部件分别加工以及锡焊焊接方式带来的风险和缺陷。

为解决上述问题，本实用新型提供的一种具有新型内导体针管结构的射频测试头，包括法兰、绝缘体、一体式的内导体针管、外壳、弹簧、针轴以及外导体接触头；所述内导体针管的一端设有SMA母头插孔，另一端设有滑动腔，所述弹簧容置在滑动腔内；所述针轴部分安装在滑动腔内；所述绝缘体套装在内导体针管和针轴外侧；所述外壳套设在绝缘体的一端，所述法兰套设在绝缘体的另一端，所述法兰的一端与外壳的一端固定连接；所述外导体接触头固定在外壳的另一端头。

在上述技术方案中，进一步的，所述绝缘体上设有相互连通的针管容置腔以及针轴容置腔，所述针管容置腔的一端设有第一限位台阶，所述针轴容置腔的内径小于针管容置腔的内径以在针管容置腔的另一端形成第二限位台阶；所述内导体针管位于针管容置腔内，并被第一限位台阶和第二限位台阶夹持固定；所述针轴包括尾部段和头部段，所述尾部段位于滑动腔内，且被弹簧和第二限位台阶夹持，所述头部段位于针轴容置腔内。

在上述技术方案中，进一步的，所述绝缘体包括与针管容置腔相对的第一段绝缘体和与针轴容置腔相对的第二段绝缘体，所述第二段绝缘体的直径小于第一段绝缘体的直径；所述外导体接触头套设在绝缘体的一端，且外导体接触头的一端抵在第二段绝缘体的端部，在一些实施例中，接触头一端通过大弹簧、衬套抵在第二段绝缘体端部，外导体接触头的另一端设有第三限位台阶，所述外壳上设有限位勾爪，所述限位勾爪与第三限位台阶适配连接。

在上述技术方案中，进一步的，所述滑动腔的开口端不设缩口结构。

相较于现有技术，本实用新型提供的具有新型内导体针管结构的射频测试头，内导体针管的一端设置SMA母头插孔，即将SMA母头插孔与内导体针管设计为一体式结构，一次加工成型，能更好的控制关键尺寸的公差，从而提高产品的稳定性和一致性；一体式设计，取消了锡焊焊接的连接方式，从而消除了因锡焊焊接的带来的质量风险及缺陷；一体式设计，直接去掉了锡焊焊接的工位，节省人力，提高了生产效率，同时降低了产品的质量缺陷和风险。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的具有新型内导体针管结构的射频测试头的结构示意图；

图2为本实用新型提供的内导体针管的结构示意图。

附图标记：

1-绝缘体；2-法兰；3-外壳；4-外导体接触头；5-内导体针管；6-弹簧；7-针轴；51-SMA母头插孔；52-滑动腔。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

图1为本实用新型提供的具有新型内导体针管结构的射频测试头的结构示意图；图2为本实用新型提供的内导体针管的结构示意图。

图1为本实用新型提供的具有新型内导体针管5结构的射频测试头的结构示意图；图2为本实用新型提供的内导体针管5的结构示意图。

参阅图1和图2，本实用新型提供一种具有新型内导体针管5结构的射频测试头，包括法兰2、绝缘体1、一体式的内导体针管5、外壳3、弹簧6、针轴7以及外导体接触头4；所述内导体针管5的一端设有SMA母头插孔51，另一端设有滑动腔52，所述弹簧6容置在滑动腔52内；所述针轴7部分安装在滑动腔52内；所述绝缘体1套装在内导体针管5和针轴7外侧；所述外壳3套设在绝缘体1的一端，所述法兰2套设在绝缘体1的另一端，所述法兰2的一端与外壳3的一端固定连接；所述外导体接触头4固定在外壳3的另一端头。

在一些实施例中，所述绝缘体1上设有相互连通的针管容置腔以及针轴容置腔，所述针管容置腔的一端设有第一限位台阶，所述针轴容置腔的内径小于针管容置腔的内径以在针管容置腔的另一端形成第二限位台阶；所述内导体针管5位于针管容置腔内，并被第一限位台阶和第二限位台阶夹持固定；所述针轴7包括尾部段和头部段，所述尾部段位于滑动腔52内，且被弹簧6和第二限位台阶夹持，所述头部段位于针轴容置腔内。

进一步来说，所述绝缘体1包括与针管容置腔相对的第一段绝缘体1和与针轴容置腔相对的第二段绝缘体1，所述第二段绝缘体1的直径小于第一段绝缘体1的直径；所述外导体接触头4套设在绝缘体1的一端，且外导体接触头4的一端抵在第二段绝缘体1的端部，在一些实施例中，接触头一端通过大弹簧、衬套抵在第二段绝缘体端部，外导体接触头4的另一端设有第三限位台阶，所述外壳3上设有限位勾爪，所述限位勾爪与第三限位台阶适配连接。

相较于现有技术，本实用新型提供的具有新型内导体针管5结构的射频测试头，内导体针管5的一端设置SMA母头插孔51，即将SMA母头插孔51与内导体针管5设计为一体式结构，一次加工成型，能更好的控制关键尺寸的公差，从而提高产品的稳定性和一致性；一体式设计，取消了锡焊焊接的连接方式，从而消除了因锡焊焊接的带来的质量风险及缺陷；一体式设计，直接去掉了锡焊焊接的工位，节省人力，提高了生产效率，同时降低了产品的质量缺陷和风险。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (4)

1.一种具有新型内导体针管结构的射频测试头，其特征在于，包括法兰、绝缘体、一体式的内导体针管、外壳、弹簧、针轴以及外导体接触头；所述内导体针管的一端设有SMA母头插孔，另一端设有滑动腔，所述弹簧容置在滑动腔内；所述针轴部分安装在滑动腔内；所述绝缘体套装在内导体针管和针轴外侧；所述外壳套设在绝缘体的一端，所述法兰套设在绝缘体的另一端，所述法兰的一端与外壳的一端固定连接；所述外导体接触头固定在外壳的另一端头。

2.根据权利要求1所述的具有新型内导体针管结构的射频测试头，其特征在于，所述绝缘体上设有相互连通的针管容置腔以及针轴容置腔，所述针管容置腔的一端设有第一限位台阶，所述针轴容置腔的内径小于针管容置腔的内径以在针管容置腔的另一端形成第二限位台阶；所述内导体针管位于针管容置腔内，并被第一限位台阶和第二限位台阶夹持固定；所述针轴包括尾部段和头部段，所述尾部段位于滑动腔内，且被弹簧和第二限位台阶夹持，所述头部段位于针轴容置腔内。

3.根据权利要求2所述的具有新型内导体针管结构的射频测试头，其特征在于，所述绝缘体包括与针管容置腔相对的第一段绝缘体和与针轴容置腔相对的第二段绝缘体，所述第二段绝缘体的直径小于第一段绝缘体的直径；所述外导体接触头套设在绝缘体的一端，且外导体接触头的一端抵在第二段绝缘体的端部，外导体接触头的另一端设有第三限位台阶，所述外壳上设有限位勾爪，所述限位勾爪与第三限位台阶适配连接。

4.根据权利要求2所述的具有新型内导体针管结构的射频测试头，其特征在于，所述滑动腔的开口端不设缩口结构。