CN208505194U - 一种大尺寸光学元件的测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种大尺寸光学元件的测量装置，包括千分表、测头、平行支架、垂直支架和底座，所述底座上固定有所述垂直支架，所述垂直支架与所述平行支架滑动连接，所述平行支架上设有千分表，所述千分表下方固定有测头，本实用新型的大尺寸光学元件的测量装置不用手执测量量具进行操作，方便易行，且避免了人为误差、提高了测量精度。

Description

一种大尺寸光学元件的测量装置

技术领域

本实用新型涉及光学元件检测设备技术领域，特别是涉及一种大尺寸光学元件的测量装置。

背景技术

现有的对大尺寸光学元件测量外径的装置为千分尺，每把千分尺测量量程范围为25mm，测量范围比较小，而且量程越大，千分尺越大且越重，测量人员在测量大尺寸光学元件时不易操作，易出现误差；在测量多尺寸光学元件时，需要多把千分尺，增加测量成本。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种大尺寸光学元件的测量装置，以解决上述现有技术存在的问题，使测量装置不用手执操作，操作方便易行，且避免了人为误差、提高了测量精度。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：

本实用新型提供了一种大尺寸光学元件的测量装置，包括千分表、测头、平行支架、垂直支架和底座，所述底座上固定有所述垂直支架，所述垂直支架与所述平行支架滑动连接，所述平行支架上设有千分表，所述千分表下方固定有测头。

进一步的，所述底座上还设有第一挡板和第二挡板，所述第一挡板和所述第二挡板之间用于放置光学元件。

进一步的，所述第一挡板和所述第二挡板通过联动装置连接。

进一步的，所述联动装置包括两个齿条及与两个所述齿条均啮合的齿轮，所述底座上设有两个滑槽，所述第一挡板和所述第二挡板的下端分别贯穿一所述滑槽且连接一所述齿条，所述齿轮设置于所述底座内部且与所述底座通过轴承转动连接。

进一步的，所述光学元件的形状为圆形或矩形；所述光学元件的直径或边长大于100mm。

进一步的，所述垂直支架上设有刻度标尺。

进一步的，所述测量装置测量量程为200mm。

进一步的，所述测头为平头测头。

进一步的，所述平头测头的长度为10mm。

进一步的，所述平行支架的一端连接有一滑套，所述滑套套设在所述垂直支架上，所述滑套与所述垂直支架滑动配合。

本实用新型相对于现有技术取得了以下技术效果：

利用本实用新型大尺寸光学元件的测量装置进行测量，测量过程中测量人员不用手执测量量具进行操作，能够规避掉因量具太大太重而产生的不易操作的缺陷，并使测量操作方便易行，并能避免人为误差、提高测量精度；本实用新型大尺寸光学元件的测量装置量程可达到200mm范围，多尺寸光学元件进行测量时，避免测量量具过多，节约测量成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型大尺寸光学元件的测量装置的结构示意图；

其中：1-千分表，2-测头，3-平行支架，4-垂直支架，5-底座，6-第一挡板，7-第二挡板，8-光学元件。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的目的是提供一种大尺寸光学元件的测量装置，以解决上述现有技术存在的问题，使测量装置不用手执操作，操作方便易行，且避免了人为误差、提高测量精度；增加测量量程，节约测量成本。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示：本实施例提供了一种大尺寸光学元件8的测量装置，包括千分表1、测头2、平行支架3、垂直支架4和底座5，底座5上固定有垂直支架4，垂直支架4与底座5可通过螺栓连接或焊接连接，垂直支架4与平行支架3滑动连接，具体地，平行支架3的一端连接有一滑套，滑套套设在垂直支架4上，滑套与垂直支架4滑动配合，滑套与垂直支架4之间还可设有相互配合导向槽，垂直支架4上还设有刻度标尺，测量装置测量量程为200mm，刻度标尺的精度优选为1mm。平行支架3上设有千分表1，千分表1下方固定有测头2，测头2优选为平头测头，平头测头的长度为10mm，平头测头可更精准的找到光学元件8的最高点，避免误差，提高测量精度。千分表1固定在平行支架3上，使得测量装置不再用手执操作，操作简单易行，并能避免人为误差，提高测量装置的测量精度。平行支架3可根据光学元件8的外径大小调节高度，并根据垂直支架4上的刻度标尺和千分表1的读数得到光学元件8外径的精确值，且以滑套的下边与刻度标尺的对齐处为垂直支架4上的读数，从而本实施例通过垂直支架4上的刻度标尺的设置，利用普通的千分表1便能完成大尺寸光学元件的尺寸测量，显著扩大测量装置的测量量程，不仅适用于形状为圆形或矩形且直径或边长小于100mm的光学元件，且能够适用于形状为圆形或矩形且直径或边长大于100mm的光学元件8的测量，并避免了测量量具过大过重而造成的使用不便的技术问题，同时本实施例中测量装置量程可达到200mm范围，大尺寸光学元件进行测量时，避免测量量具过多，节约测量成本。

底座5上还设有第一挡板6和第二挡板7，第一挡板6和第二挡板7之间用于放置光学元件8，使光学元件8不用手执，直接固定在底座5上第一挡板6和第二挡板7之间，进一步的避免了人为误差，且使得测量操作更加的简单方便。第一挡板6和第二挡板7通过联动装置连接，联动装置包括两个齿条及与两个齿条均啮合的齿轮，底座5上设有两个滑槽，第一挡板6和第二挡板7的下端分别贯穿一滑槽且连接一齿条，齿轮设置于底座5内部且与底座5通过轴承转动连接。第一挡板6和第二挡板7可通过联动装置根据光学元件8外径尺寸进行同步调节，便于光学元件8的固定放置。

本说明书中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：包括千分表、测头、平行支架、垂直支架和底座，所述底座上固定有所述垂直支架，所述垂直支架与所述平行支架滑动连接，所述平行支架上设有千分表，所述千分表下方固定有测头。

2.根据权利要求1所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述底座上还设有第一挡板和第二挡板，所述第一挡板和所述第二挡板之间用于放置光学元件。

3.根据权利要求2所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述第一挡板和所述第二挡板通过联动装置连接。

4.根据权利要求3所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述联动装置包括两个齿条及与两个所述齿条均啮合的齿轮，所述底座上设有两个滑槽，所述第一挡板和所述第二挡板的下端分别贯穿一所述滑槽且连接一所述齿条，所述齿轮设置于所述底座内部且与所述底座通过轴承转动连接。

5.根据权利要求2所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述光学元件的形状为圆形或矩形；所述光学元件的直径或边长大于100mm。

6.根据权利要求1所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述垂直支架上设有刻度标尺。

7.根据权利要求6所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述测量装置量程为200mm。

8.根据权利要求1所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述测头为平头测头。

9.根据权利要求8所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述平头测头的长度为10mm。

10.根据权利要求1所述的大尺寸光学元件的测量装置，其特征在于：所述平行支架的一端连接有一滑套，所述滑套套设在所述垂直支架上，所述滑套与所述垂直支架滑动配合。