CN208451439U - 一种方形光学元件检测清洗工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种方形光学元件检测清洗工装，包括基板，基板上平面间隔设置有两个能够调节间距的调节基座，两个调节基座的中部均设置有一插接孔，两个调节基座的插接孔内均插接有一根高度小于1m的固定杆，两跟固定杆上均安装有能够沿对应方向进行锁紧夹持产品的夹持件，两跟固定杆上间隔设置有若干个调节孔，夹持件包括有一根横向的锁紧螺杆和两根导向杆，锁紧螺杆的一端设有一夹持块，锁紧螺杆的另一端设有旋钮，夹持块的一侧面设有至少一条横向或纵向的夹持凹槽。本实用新型采用可以左右上下调节的工装，针对各种不同尺寸大小的光学元件进行夹持，方便光学元件检测、清洗等工艺流程的操作。

Description

一种方形光学元件检测清洗工装

技术领域

本实用新型涉及光学元件检测夹持设备，特别涉及一种方形光学元件检测清洗工装。

背景技术

光学元件制作完成后，需要对光学元件的各项指标进行检测和对光学元件清洗，检测和清洗的过程中需要将光学元件固定在支架上，方便光学元件的固定和直立。为了可以将各种尺寸的光学元件更方便的夹持检测，特设计了本技术产品。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的上述缺陷，提供一种方形光学元件检测清洗工装。

为解决现有技术的上述缺陷，本实用新型提供的技术方案是：一种方形光学元件检测清洗工装，包括基板，所述基板上平面间隔设置有两个能够调节间距的调节基座，两个所述调节基座的中部均设置有一插接孔，两个所述调节基座的插接孔内均插接有一根高度小于1m的固定杆，两跟所述固定杆上均安装有能够沿对应方向进行锁紧夹持产品的夹持件，两跟所述固定杆上间隔设置有若干个调节孔，所述夹持件包括有一根横向的锁紧螺杆和两根导向杆，所述锁紧螺杆的一端设有一夹持块，所述锁紧螺杆的另一端设有旋钮，所述夹持块的一侧面设有至少一条横向或纵向的夹持凹槽。

作为本实用新型方形光学元件检测清洗工装的一种改进，所述夹持凹槽的横截面呈U形、C形或方形。

作为本实用新型方形光学元件检测清洗工装的一种改进，所述夹持块的边缘轮廓呈正方体或长方体。

作为本实用新型方形光学元件检测清洗工装的一种改进，所述锁紧螺杆和两根导向杆均从所述固定杆的调节孔穿入，所述锁紧螺杆位于两根所述导向杆之间。

作为本实用新型方形光学元件检测清洗工装的一种改进，所述基板上间隔设有多组安装所述调节基座的螺孔，所述调节基座选择任意一组螺孔进行安装固定。

作为本实用新型方形光学元件检测清洗工装的一种改进，所述基板的上平面中部设有突出平台，所述突出平台的上平面设有两条相互平行的导向块，两条导向块之间形成一个卡槽。

作为本实用新型方形光学元件检测清洗工装的一种改进，所述调节孔分为多组，每组由三个调节孔组成，上下两个调节孔与中间调节孔之间的距离和两个导向杆到锁紧螺杆之间的距离相同。

与现有技术相比，本实用新型的优点是：本实用新型采用可以左右上下调节的工装，针对各种不同尺寸大小的光学元件进行夹持，方便光学元件检测、清洗等工艺流程的操作。夹持块上的夹持凹槽和突出平台的上的卡槽形成三点固定夹持的作用，可以防止光学元件在检测、清洗的过程中位移或松动。本产品结构简单，使用方便，可以有效提高光学元件的生产效率。

附图说明

下面就根据附图和具体实施方式对本实用新型及其有益的技术效果作进一步详细的描述，其中：

图1是本实用新型立体结构示意图。

图2是本实用新型主视图。

附图标记名称：1、基板 2、调节基座 3、插接孔 4、固定杆 5、夹持件 6、调节孔 7、螺孔 8、突出平台 9、导向块 10、卡槽 51、锁紧螺杆 52、导向杆 53、夹持块 54、旋钮 55、夹持凹槽。

具体实施方式

下面就根据附图和具体实施例对本实用新型作进一步描述，但本实用新型的实施方式不局限于此。

如图1和图2所示，一种方形光学元件检测清洗工装，包括基板1，基板1上平面间隔设置有两个能够调节间距的调节基座2，两个调节基座2的中部均设置有一插接孔3，两个调节基座2的插接孔3内均插接有一根高度小于1m的固定杆4，两跟固定杆4上均安装有能够沿对应方向进行锁紧夹持产品的夹持件5，两跟固定杆4上间隔设置有若干个调节孔6，夹持件5包括有一根横向的锁紧螺杆51和两根导向杆52，锁紧螺杆51的一端设有一夹持块53，锁紧螺杆51的另一端设有旋钮54，夹持块53的一侧面设有至少一条横向或纵向的夹持凹槽55。

优选的，夹持凹槽55的横截面呈U形、C形或方形。不同形状的夹持凹槽55可以对应不同边缘形状的产品进行夹持固定，使产品边缘与夹持凹槽55之间没有间隙，夹持的更稳固。

优选的，夹持块53的边缘轮廓呈正方体或长方体。夹持块53的的形状可以根据产品的大小厚度进行选择。

优选的，锁紧螺杆51和两根导向杆52均从固定杆的调节孔6穿入，锁紧螺杆51位于两根导向杆之间。

优选的，基板1上间隔设有多组安装调节基座2的螺孔7，调节基座2选择任意一组螺孔7进行安装固定。

优选的，基板1的上平面中部设有突出平台8，突出平台8的上平面设有两条相互平行的导向块9，两条导向块9之间形成一个卡槽10。

优选的，调节孔6分为多组，每组由三个调节孔6组成，上下两个调节孔与中间调节孔之间的距离和两个导向杆52到锁紧螺杆51之间的距离相同。

本实用新型采用可以左右上下调节的工装，针对各种不同尺寸大小的光学元件进行夹持，方便光学元件检测、清洗等工艺流程的操作。夹持块上的夹持凹槽和突出平台的上的卡槽形成三点固定夹持的作用，可以防止光学元件在检测、清洗的过程中位移或松动。本产品结构简单，使用方便，可以有效提高光学元件的生产效率。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和结构的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同范围限定。

Claims (7)

1.一种方形光学元件检测清洗工装，包括基板，其特征在于，所述基板上平面间隔设置有两个能够调节间距的调节基座，两个所述调节基座的中部均设置有一插接孔，两个所述调节基座的插接孔内均插接有一根高度小于1m的固定杆，两跟所述固定杆上均安装有能够沿对应方向进行锁紧夹持产品的夹持件，两跟所述固定杆上间隔设置有若干个调节孔，所述夹持件包括有一根横向的锁紧螺杆和两根导向杆，所述锁紧螺杆的一端设有一夹持块，所述锁紧螺杆的另一端设有旋钮，所述夹持块的一侧面设有至少一条横向或纵向的夹持凹槽。

2.根据权利要求1所述的方形光学元件检测清洗工装，其特征在于，所述夹持凹槽的横截面呈U形、C形或方形。

3.根据权利要求2所述的方形光学元件检测清洗工装，其特征在于，所述夹持块的边缘轮廓呈正方体或长方体。

4.根据权利要求3所述的方形光学元件检测清洗工装，其特征在于，所述锁紧螺杆和两根导向杆均从所述固定杆的调节孔穿入，所述锁紧螺杆位于两根所述导向杆之间。

5.根据权利要求4所述的方形光学元件检测清洗工装，其特征在于，所述基板上间隔设有多组安装所述调节基座的螺孔，所述调节基座选择任意一组螺孔进行安装固定。

6.根据权利要求1所述的方形光学元件检测清洗工装，其特征在于，所述基板的上平面中部设有突出平台，所述突出平台的上平面设有两条相互平行的导向块，两条导向块之间形成一个卡槽。

7.根据权利要求1所述的方形光学元件检测清洗工装，其特征在于，所述调节孔分为多组，每组由三个调节孔组成，上下两个调节孔与中间调节孔之间的距离和两个导向杆到锁紧螺杆之间的距离相同。