CN208284456U - 一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型半导体封装集成块检测涉及附属装置的技术领域，特别是涉及一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备；包括放置箱、上放置板、下放置板和四组支架，放置箱内部设置有放置腔，放置箱右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖，放置箱前侧壁设置有盛放箱，盛放箱内部设置有盛放腔，盛放箱顶端连通设置有盛放口；还包括八组螺纹管和八组螺纹杆，下放置板顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片；还包括推板、推杆和推块；挡盖外侧轴连接有支撑杆，并在支撑杆的另一端设置有吸铁石片，放置箱顶端设置有铁片，挡盖左端下方与放置箱右侧下方分别设置有吸铁石块和铁块。
Description
技术领域
本实用新型半导体封装集成块检测涉及附属装置的技术领域，特别是涉及一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备。
背景技术
众所周知，半导体封装集成块分类检测用辅助设备是一种用于半导体封装集成块检测过程中，对半导体封装集成块进行分类放置，使其更好进行检测的辅助装置，其在半导体封装集成块分类检测的领域中得到了广泛的使用；现有的半导体封装集成块分类检测用辅助设备包括放置箱、上放置板、下放置板和四组支架，四组支架的顶端分别安装在放置箱底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，放置箱内部设置有放置腔，放置箱右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖，上放置板和下放置板均安装在放置腔内部，放置箱前侧壁设置有盛放箱，盛放箱内部设置有盛放腔，盛放箱顶端连通设置有盛放口；现有的半导体封装集成块分类检测用辅助设备使用时，将同类半导体封装集成块均放置在上放置板顶端、下放置板顶端或放置腔内底侧壁即可，盛放箱用于盛放检测仪器；现有的半导体封装集成块分类检测用辅助设备使用中发现，其上放置板和下放置板间距以及下放置板与放置腔内底侧壁间距固定，无法方便根据半导体封装集成块型号尺寸进行调节，导致其适应能力较差；并且盛放箱内部检测仪器不能方便进行取放，导致其实用性较差；而且挡盖打开时不能方便进行限位，从而导致其使用较为不便。
实用新型内容
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种其上放置板和下放置板间距以及下放置板与放置腔内底侧壁间距均可以方便根据半导体封装集成块型号尺寸进行调节，提高其适应能力；并且盛放箱内部检测仪器能够方便进行取放，提高其实用性；而且挡盖打开时可以方便进行限位，从而使其使用较为方便的半导体封装集成块分类检测用辅助设备。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，包括放置箱、上放置板、下放置板和四组支架，放置箱内部设置有放置腔，放置箱右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖，上放置板和下放置板均安装在放置腔内部，放置箱前侧壁设置有盛放箱，盛放箱内部设置有盛放腔，盛放箱顶端连通设置有盛放口；还包括八组螺纹管和八组螺纹杆，下放置板顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片，八组螺纹管的底端分别插入至八组滚珠轴承内部并分别与八组限位片连接，八组螺纹杆底端分别插入并螺装至八组螺纹管顶端内部，八组螺纹杆的顶端均与上放置板底端或下放置板顶端连接；还包括推板、推杆和推块，推块位于盛放腔内部，推杆顶端与推块底端连接，推杆底端穿过盛放箱底侧壁并伸出至盛放箱下方与推板连接，推块顶端设置有十字型分隔板，十字型分隔板位于盛放腔内部；挡盖左端上方与放置箱右侧上方铰接，挡盖外侧轴连接有支撑杆，并在支撑杆的另一端设置有吸铁石片，放置箱顶端设置有铁片，吸铁石片与铁片吸附，挡盖左端下方与放置箱右侧下方分别设置有吸铁石块和铁块，吸铁石块与铁块吸附。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，还包括两组上支撑块、两组挤压弹簧和两组下支撑块，两组上支撑块分别安装在盛放箱底端左侧和右侧，两组挤压弹簧的顶端分别与两组上支撑块底端连接，两组挤压弹簧的底端分别与两组下支撑块顶端连接，两组下支撑块均安装在推板顶端。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，上放置板顶端、下放置板顶端或放置腔内底侧壁横向设置有滑槽，还包括三组滑板，三组滑板分别安装在三组滑槽处，且三组滑板分别可相对三组滑槽横向滑动，且三组滑板顶端均设置有防滑突起层。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，四组支架均包括气缸、伸缩杆、上支撑柱、支撑弹簧、下支撑柱和滚轮，四组伸缩杆的顶端分别安装在放置箱底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组伸缩杆的底端分别安装在四组气缸的顶部输出端，四组上支撑柱分别安装在四组气缸的下方，四组支撑弹簧的一端分别与四组上支撑柱连接，四组支撑弹簧的另一端分别与四组下支撑柱连接，四组滚轮分别安装在四组下支撑柱的下方。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，四组气缸外侧均设置有调节螺纹，还包括四组固定装置，四组固定装置均包括滑架、四组支腿和四组吸盘，四组支腿分别安装在滑架侧壁左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组吸盘分别安装在四组支腿的下方，四组滑架分别螺装四组气缸外侧。
与现有技术相比本实用新型的有益效果为：通过上述设置，其可以同步手动旋转处于同一层的四组螺纹管，带动四组螺纹杆纵向移动，使上放置板和下放置板间距以及下放置板与放置腔内底侧壁间距均可以方便根据半导体封装集成块型号尺寸进行调节，提高其适应能力，限位片对螺纹管进行限位，防止其蹿出放置槽，且限位片与螺纹管硬性连接，螺纹管转动时，限位片随其一起转动，并且滚珠轴承位于放置槽内通过螺纹管进行限位从而不会蹿出放置槽；并且能够通过盛放箱方便的对检测仪器进行盛放，当检测仪器过少时，能够通过推动推板，使其带动推块向上推动，使盛放箱内部检测仪器能够方便进行取放，提高其实用性，十字型分隔板将盛放腔分为四组腔室，方便检测仪器分类盛放；而且在挡盖打开时，可以通过吸铁石片与铁片吸附的设计方便进行限位，从而使其使用较为方便，吸铁石片与铁片之间的吸引力足以对挡盖进行限位。
附图说明
图1是本实用新型挡盖打开时的结构示意图；
图2是图1的A部局部放大图；
附图中标记：1、放置箱；2、上放置板；3、下放置板；4、挡盖；5、盛放箱；6、螺纹管；7、螺纹杆；8、推板；9、推杆；10、推块；11、支撑杆；12、吸铁石片；13、铁片；14、吸铁石块；15、铁块；16、挤压弹簧；17、滑板；18、防滑突起层；19、气缸；20、伸缩杆；21、支撑弹簧；22、滚轮；23、滑架；24、吸盘；25、十字型分隔板。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
如图1和图2所示，本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，包括放置箱1、上放置板2、下放置板3和四组支架，放置箱内部设置有放置腔，放置箱右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖4，上放置板和下放置板均安装在放置腔内部，放置箱前侧壁设置有盛放箱5，盛放箱内部设置有盛放腔，盛放箱顶端连通设置有盛放口；还包括八组螺纹管6和八组螺纹杆7，下放置板顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片，八组螺纹管的底端分别插入至八组滚珠轴承内部并分别与八组限位片连接，八组螺纹杆底端分别插入并螺装至八组螺纹管顶端内部，八组螺纹杆的顶端均与上放置板底端或下放置板顶端连接；还包括推板8、推杆9和推块10，推块位于盛放腔内部，推杆顶端与推块底端连接，推杆底端穿过盛放箱底侧壁并伸出至盛放箱下方与推板连接，推块顶端设置有十字型分隔板25，十字型分隔板位于盛放腔内部；挡盖左端上方与放置箱右侧上方铰接，挡盖外侧轴连接有支撑杆11，并在支撑杆的另一端设置有吸铁石片12，放置箱顶端设置有铁片13，吸铁石片与铁片吸附，挡盖左端下方与放置箱右侧下方分别设置有吸铁石块14和铁块15，吸铁石块与铁块吸附；通过上述设置，其可以同步手动旋转处于同一层的四组螺纹管，带动四组螺纹杆纵向移动，使上放置板和下放置板间距以及下放置板与放置腔内底侧壁间距均可以方便根据半导体封装集成块型号尺寸进行调节，提高其适应能力，限位片对螺纹管进行限位，防止其蹿出放置槽，且限位片与螺纹管硬性连接，螺纹管转动时，限位片随其一起转动，并且滚珠轴承位于放置槽内通过螺纹管进行限位从而不会蹿出放置槽；并且能够通过盛放箱方便的对检测仪器进行盛放，当检测仪器过少时，能够通过推动推板，使其带动推块向上推动，使盛放箱内部检测仪器能够方便进行取放，提高其实用性，十字型分隔板将盛放腔分为四组腔室，方便检测仪器分类盛放；而且在挡盖打开时，可以通过吸铁石片与铁片吸附的设计方便进行限位，从而使其使用较为方便，吸铁石片与铁片之间的吸引力足以对挡盖进行限位。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，还包括两组上支撑块、两组挤压弹簧16和两组下支撑块，两组上支撑块分别安装在盛放箱底端左侧和右侧，两组挤压弹簧的顶端分别与两组上支撑块底端连接，两组挤压弹簧的底端分别与两组下支撑块顶端连接，两组下支撑块均安装在推板顶端；通过上述设置，其可以通过两组挤压弹簧方便将推块底端与盛放腔内底侧壁接触，保证了盛放箱的正常使用。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，上放置板顶端、下放置板顶端或放置腔内底侧壁横向设置有滑槽，还包括三组滑板17，三组滑板分别安装在三组滑槽处，且三组滑板分别可相对三组滑槽横向滑动，且三组滑板顶端均设置有防滑突起层18；通过上述设置，其可以通过滑出滑板进一步方便工作人员进行半导体封装集成块检测，防滑突起层增加滑板滑动时半导体封装集成块放置稳定性。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，四组支架均包括气缸19、伸缩杆20、上支撑柱、支撑弹簧21、下支撑柱和滚轮22，四组伸缩杆的顶端分别安装在放置箱底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组伸缩杆的底端分别安装在四组气缸的顶部输出端，四组上支撑柱分别安装在四组气缸的下方，四组支撑弹簧的一端分别与四组上支撑柱连接，四组支撑弹簧的另一端分别与四组下支撑柱连接，四组滚轮分别安装在四组下支撑柱的下方；通过上述设置，其可以通过四组气缸带动四组伸缩杆进行纵向调节，使放置箱高度能够方便进行调节，降低其使用局限性，四组滚轮方便移动，并且当路面不够平坦时，可以通过四组支撑弹簧进行缓冲，以便于整体维持水平状态，提高其可靠性，需要注意的是，伸缩杆高度调节时需要四组同步。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，四组气缸外侧均设置有调节螺纹，还包括四组固定装置，四组固定装置均包括滑架23、四组支腿和四组吸盘24，四组支腿分别安装在滑架侧壁左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组吸盘分别安装在四组支腿的下方，四组滑架分别螺装四组气缸外侧；通过上述设置，其可以通过四组支腿组和四组吸盘组方便稳定和提高支撑效果，当整体需要稳定时，向下转动滑架，使四组吸盘组底端位于四组滚轮下方，从而方便稳定，而当整体需要移动时，向上转动滑架，使四组吸盘组底端位于四组滚轮上方，从而方便整体移动，更加实用。
本实用新型的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其在工作时，可以同步手动旋转处于同一层的四组螺纹管，带动四组螺纹杆纵向移动，使上放置板和下放置板间距以及下放置板与放置腔内底侧壁间距均可以方便根据半导体封装集成块型号尺寸进行调节，提高其适应能力，限位片对螺纹管进行限位，防止其蹿出放置槽，且限位片与螺纹管硬性连接，螺纹管转动时，限位片随其一起转动，并且滚珠轴承位于放置槽内通过螺纹管进行限位从而不会蹿出放置槽；并且能够通过盛放箱方便的对检测仪器进行盛放，当检测仪器过少时，能够通过推动推板，使其带动推块向上推动，使盛放箱内部检测仪器能够方便进行取放，提高其实用性，十字型分隔板将盛放腔分为四组腔室，方便检测仪器分类盛放；而且在挡盖打开时，可以通过吸铁石片与铁片吸附的设计方便进行限位，从而使其使用较为方便，吸铁石片与铁片之间的吸引力足以对挡盖进行限位；可以通过两组挤压弹簧方便将推块底端与盛放腔内底侧壁接触，保证了盛放箱的正常使用；可以通过滑出滑板进一步方便工作人员进行半导体封装集成块检测，防滑突起层增加滑板滑动时半导体封装集成块放置稳定性；可以通过四组气缸带动四组伸缩杆进行纵向调节，使放置箱高度能够方便进行调节，降低其使用局限性，四组滚轮方便移动，并且当路面不够平坦时，可以通过四组支撑弹簧进行缓冲，以便于整体维持水平状态，提高其可靠性，需要注意的是，伸缩杆高度调节时需要四组同步；可以通过四组支腿组和四组吸盘组方便稳定和提高支撑效果，当整体需要稳定时，向下转动滑架，使四组吸盘组底端位于四组滚轮下方，从而方便稳定，而当整体需要移动时，向上转动滑架，使四组吸盘组底端位于四组滚轮上方，从而方便整体移动，更加实用。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，包括放置箱（1）、上放置板（2）、下放置板（3）和四组支架，放置箱（1）内部设置有放置腔，放置箱（1）右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖（4），上放置板（2）和下放置板（3）均安装在放置腔内部，放置箱（1）前侧壁设置有盛放箱（5），盛放箱（5）内部设置有盛放腔，盛放箱（5）顶端连通设置有盛放口；其特征在于，还包括八组螺纹管（6）和八组螺纹杆（7），下放置板（3）顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片，八组螺纹管（6）的底端分别插入至八组滚珠轴承内部并分别与八组限位片连接，八组螺纹杆（7）底端分别插入并螺装至八组螺纹管（6）顶端内部，八组螺纹杆（7）的顶端均与上放置板（2）底端或下放置板（3）顶端连接；还包括推板（8）、推杆（9）和推块（10），推块（10）位于盛放腔内部，推杆（9）顶端与推块（10）底端连接，推杆（9）底端穿过盛放箱（5）底侧壁并伸出至盛放箱（5）下方与推板（8）连接，推块（10）顶端设置有十字型分隔板（25），十字型分隔板（25）位于盛放腔内部；挡盖（4）左端上方与放置箱（1）右侧上方铰接，挡盖（4）外侧轴连接有支撑杆（11），并在支撑杆（11）的另一端设置有吸铁石片（12），放置箱（1）顶端设置有铁片（13），吸铁石片（12）与铁片（13）吸附，挡盖（4）左端下方与放置箱（1）右侧下方分别设置有吸铁石块（14）和铁块（15），吸铁石块（14）与铁块（15）吸附。
2.如权利要求1所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，还包括两组上支撑块、两组挤压弹簧（16）和两组下支撑块，两组上支撑块分别安装在盛放箱（5）底端左侧和右侧，两组挤压弹簧（16）的顶端分别与两组上支撑块底端连接，两组挤压弹簧（16）的底端分别与两组下支撑块顶端连接，两组下支撑块均安装在推板（8）顶端。
3.如权利要求2所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，上放置板（2）顶端、下放置板（3）顶端或放置腔内底侧壁横向设置有滑槽，还包括三组滑板（17），三组滑板（17）分别安装在三组滑槽处，且三组滑板（17）分别可相对三组滑槽横向滑动，且三组滑板（17）顶端均设置有防滑突起层（18）。
4.如权利要求3所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，四组支架均包括气缸（19）、伸缩杆（20）、上支撑柱、支撑弹簧（21）、下支撑柱和滚轮（22），四组伸缩杆（20）的顶端分别安装在放置箱（1）底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组伸缩杆（20）的底端分别安装在四组气缸（19）的顶部输出端，四组上支撑柱分别安装在四组气缸（19）的下方，四组支撑弹簧（21）的一端分别与四组上支撑柱连接，四组支撑弹簧（21）的另一端分别与四组下支撑柱连接，四组滚轮（22）分别安装在四组下支撑柱的下方。
5.如权利要求4所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，四组气缸（19）外侧均设置有调节螺纹，还包括四组固定装置，四组固定装置均包括滑架（23）、四组支腿和四组吸盘（24），四组支腿分别安装在滑架（23）侧壁左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组吸盘（24）分别安装在四组支腿的下方，四组滑架（23）分别螺装四组气缸（19）外侧。
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