CN208254385U - 检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种检测装置，涉及检测技术领域，主要目的是用于检测待测柱形元件的多种检测数据，以提高检测效率。本实用新型的主要技术方案为：一种检测装置，包括：限位部，所述限位部上设有第一限位面和第二限位面，所述第一限位面为平面，所述第二限位面垂直于所述第一限位面，当待测柱形元件的圆柱面放置在第二限位面上时，所述待测柱形元件的端面能够抵顶在所述第一限位面上；检测表，所述检测表上设有检测探针，所述检测探针的端部用于抵顶在所述待测柱形元件上，所述检测表用于显示所述检测探针的收缩长度。本实用新型主要用于检测柱形元件的垂直度和椭圆度。

Description

检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤其涉及一种检测装置。

背景技术

柱形元件是机械制造、光学制造领域常用的规格形状元件，而柱形元件在于其他元件进行装配时，需要保证柱形元件中圆柱面的椭圆度以及圆柱面与上下端面之间的垂直度，否则无法实现柱形元件的装配工作。

柱形元件在生产过程中，需要严格保证柱形元件的生产精度，这样柱形元件加工完成后，就需要对柱形元件检测，而现有技术中，对于柱形元件的椭圆度以及垂直度通常需要采用不同检测设备进行检测，这样在对椭圆元件进行检测时，就需要携带多个检测设备，增加了检测难度，降低了检测效率。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供一种检测装置，主要目的是用于检测待测柱形元件的多种检测数据，以提高检测效率。

为达到上述目的，本实用新型主要提供如下技术方案：

本实用新型实施例提供了一种检测装置，包括：

限位部，所述限位部上设有第一限位面和第二限位面，所述第一限位面为平面，所述第二限位面垂直于所述第一限位面，当待测柱形元件的圆柱面放置在第二限位面上时，所述待测柱形元件的端面能够抵顶在所述第一限位面上；

检测表，所述检测表上设有检测探针，所述检测探针的端部用于抵顶在所述待测柱形元件上，所述检测表用于显示所述检测探针的收缩长度。

可选地，所述第二限位面为V型面或弧形面。

可选地，所述第一限位面和所述第二限位面相互衔接。

可选地，所述的检测装置，还包括：

连接部，所述连接部的一端活动连接于所述限位部，另一端连接所述检测表，所述连接部用于在至少两个位置限定所述检测探针与所述限位部之间的相对位置关系，使所述检测探针能够接触所述限位部上的待测柱形元件的待测面上。

可选地，所述连接部包括连接件和连接架，所述连接件活动连接于所述限位部，所述连接件的一端固定连接于所述连接件，另一端固定连接于所述检测表。

可选地，所述连接件磁性连接于所述限位部上。

可选地，所述连接件转动连接于所述限位部上。

可选地，所述限位部包括第一限位件和第二限位件，所述第一限位面设置在所述第一限位件上，所述第二限位面设置在所述第二限位件上，其中，所述第一限位件和所述第二限位件为可拆卸连接。

本实用新型实施例提供了一种检测装置，用于检测待测柱形元件的多种检测数据，以提高检测效率，而现有技术中，对于柱形元件的椭圆度以及垂直度通常需要采用不同检测设备进行检测，这样在对椭圆元件进行检测时，就需要携带多个检测设备，增加了检测难度，降低了检测效率。与现有技术相比，本申请提供的检测装置，包括：限位部和检测表，其中，限位部设有第一限位面和第二限位面，所述第二限位面垂直于所述第一限位面；所述检测表上设有检测探针，所述检测探针的端部用于抵顶在所述待测柱形元件上，所述检测表用于显示所述检测探针的收缩长度，在检测过程中，可以将待测柱形元件的圆柱面设置在第二限位面上，使待测柱形元件的一个端面抵顶在第一限位面上，然后使待测柱形元件绕其轴线转动，在转动过程中，通过检测表上的检测探针抵触在待测柱形元件的圆柱面和另一个端面上，就可以分别检测待测柱形元件的椭圆度和垂直度，这样通过上述的检测装置可以实现对待测柱形元件的多项检测，提高了检测效率。

附图说明

图1为本实用新型实一种施例提供的检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型实另一种施例提供的检测装置的结构示意图；

图3为本实用新型实另一种施例提供的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的检测装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

如图1、图2所示，本实用新型实施例提供了一种检测装置，包括：

限位部1，限位部1上设有第一限位面11和第二限位面12，第一限位面11为平面，第二限位面12垂直于第一限位面11，当待测柱形元件3的圆柱面放置在第二限位面12上时，待测柱形元件3的端面能够抵顶在第一限位面11上；

检测表2，检测表2上设有检测探针21，检测探针21的端部用于抵顶在待测柱形元件3上，检测表2用于显示检测探针21的收缩长度。

其中，限位部1用于放置柱形元件，限位部1上设有第一限位面11和第二限位面12，通过第一限位面11和第二限位面12能够限定柱形元件在限位部1上的位置，其中，第一限位面11为平面结构，在实际的应用过程中，第一限位面11可以沿竖直方向设置，而第二限位面12可以垂直于第一限位面11，上述的待测柱形元件3的圆柱面可以接触并放置在第二限位面12上，待测柱形元件3一侧的端面可以抵顶在第一限位面11上，以实现对待测柱形元件3垂直度和椭圆度的检测，另外，检测表2与限位部1之间可以相互分离设置，也可以彼此连接在一起，在此不作具体限定，上述的检测表2可以为多种，例如：百分表、千分表等，在此不作具体限定。

以下通过本实施例中检测装置的工作过程和原理具体说明本实施例中的检测装置：

如图2所示，当需要检测待测柱形元件3的椭圆度时：

首先，将待测柱形元件3放置在第二限位面12上，使待测柱形元件3的圆柱面与第二限位面12接触；

其次，将检测表2的检测探针21抵顶在待测柱形元件3圆柱面的顶部；

最后，使待测柱形元件3绕其轴线转动，在待测柱形元件3的转动过程中，读取检测表2检测的最大值与最小值，而最大值与最小值之差为待测柱形元件3的椭圆度。

如图3所示，当需要检测待测柱形元件3的垂直度时：

首先，将待测柱形元件3放置在第二限位面12上，使待测柱形元件3的圆柱面与第二限位面12接触，使待测柱形元件3的一个端面抵顶在第一限位面11上；

其次，将检测表2的检测探针21抵顶在待测柱形元件3圆柱面的另一个端面上；

最后，使待测柱形元件3绕其轴线转动，在待测柱形元件3的转动过程中，始终保持待测柱形元件3与第一限位面11接触，读取检测表2检测的最大值与最小值，而最大值与最小值之差为待测柱形元件3的垂直度。

本实用新型实施例提供了一种检测装置，用于检测待测柱形元件的多种检测数据，以提高检测效率，而现有技术中，对于柱形元件的椭圆度以及垂直度通常需要采用不同检测设备进行检测，这样在对椭圆元件进行检测时，就需要携带多个检测设备，增加了检测难度，降低了检测效率。与现有技术相比，本申请提供的检测装置，包括：限位部和检测表，其中，限位部设有第一限位面和第二限位面，第二限位面垂直于第一限位面；检测表上设有检测探针，检测探针的端部用于抵顶在待测柱形元件上，检测表用于显示检测探针的收缩长度，在检测过程中，可以将待测柱形元件的圆柱面设置在第二限位面上，使待测柱形元件的一个端面抵顶在第一限位面上，然后使待测柱形元件绕其轴线转动，在转动过程中，通过检测表上的检测探针抵触在待测柱形元件的圆柱面和另一个端面上，就可以分别检测待测柱形元件的椭圆度和垂直度，这样通过上述的检测装置可以实现对待测柱形元件的多项检测，提高了检测效率。

可选地，第二限位面12为V型面或弧形面。本实施例中，V型面或弧形面的开口可以朝上设置，而待测柱形元件3可以设置在V型面或弧形面内，通过第二限位面12能够限定待测柱形元件3的位置，以便待测柱形元件3能够在V型面或弧形面内绕轴线转动，通过V型面或弧形面的结构设置，可以使待测柱形元件3维持在V型面或弧形面内，保证了检测的准确性。

可选地，第一限位面11和第二限位面12相互衔接。本实施例中，第一限位面11和第二限位面12能够更好的限定待测柱形元件3的位置，以保证检测的准确性。

进一步的，上述的检测装置还包括连接部4，连接部4，连接部4的一端活动连接于所述限位部1，另一端连接所述检测表2，所述连接部4用于在至少两个位置限定所述检测探针21与所述限位部1之间的相对位置关系，使所述检测探针21能够接触所述限位部1上的待测柱形元件3的待测面上。本实施例中，通过连接部4可以限定检测探针21与限位部1之间的相对位置关系，这样可以保证检测探针21与限位部1之间的相对位置关系，在检测时可以保证检测探针21检测的稳定性，提高了检测的准确性，具体的，当需要对待测柱形元件3的椭圆度进行检测时，可以活动连接部4至第一位置处，使连接部4上的检测探针21可以触碰到待测柱形元件3的圆柱面上，当需要对待测柱形元件3的垂直度进行检测时，可以活动连接部4至第二位置处，使连接部4上的检测探针21可以触碰到待测柱形元件3的端面上，其中，第一位置和第二位置可以根据具体情况进行设定，在此不作具体限定。

进一步的，连接部4包括连接件41和连接架42，连接件41活动连接于限位部1，连接件41的一端固定连接于所述连接件41，另一端固定连接于所述检测表2。本实施例中，连接件41为活动连接结构，连接件41能够与限位部1之间发生活动，以调节检测表2的检测位置，连接件41与限位部1之间的活动连接的方式有多种，例如：磁性连接、转动连接等，在此不作具体限定，而连接架可以为框架式结构，框架式结构可以减轻连接部4的重量，降低了制造成本，而且还可以使其在活动时更加的灵活方便。

优选地，所述连接件41磁性连接于所述限位部1上。本实施例中，由于连接件41与限位部1之间为磁性连接，可以调节连接件41与限位部1之间的连接位置和连接角度，调节起来非常的方便快捷，另外，还可以根据使用需求拆开连接件41与限位部1，使两者可以分离使用，提高了使用的灵活性。

优选地，上述连接件41转动连接于所述限位部1，本实施例中，通过转动连接件41可以调节检测表2上的检测探针21与限位部1上待测柱形元件3之间的相对位置关系，具体的，当连接件41转动至第一位置时，连接在上述连接件41上检测表2的检测探针21可以接触待测柱形元件3的圆柱面的上端，以实现对该待测柱形元件3椭圆度的检测，当连接件41转动至第二位置时，检测表2上的检测贪占可以接触待测柱形元件3的端面上，以实现对待测柱形元件3垂直度的检测，通过转动连接方式可以使连接件41和限位部1之间的活动更加的灵活方便。

进一步的，所述限位部1包括第一限位件和第二限位件，所述第一限位面11设置在所述第一限位件上，所述第二限位面12设置在所述第二限位件上，其中，所述第一限位件和所述第二限位件为可拆卸连接。本实施例中，第一限位件和第二限位件之间可拆卸连接的方式可以有多种，例如：螺栓连接、卡扣连接等，在此不作具体限定，通过第一限位件和第二限位件之间的拆卸，可以方便上述检测装置的携带或转移，另外，还可以调节第一限位件和第二限位件之间的相对位置关系，以调节第一限位面11和第二限位面12之间的角度，以提高适用性。

本实用新型实施例提供了一种检测装置，用于检测待测柱形元件3的多种检测数据，以提高检测效率，而现有技术中，对于柱形元件的椭圆度以及垂直度通常需要采用不同检测设备进行检测，这样在对椭圆元件进行检测时，就需要携带多个检测设备，增加了检测难度，降低了检测效率。与现有技术相比，本申请提供的检测装置，包括：限位部和检测表，其中，限位部设有第一限位面和第二限位面，所述第二限位面垂直于所述第一限位面；所述检测表上设有检测探针，所述检测探针的端部用于抵顶在所述待测柱形元件上，所述检测表用于显示所述检测探针的收缩长度，在检测过程中，可以将待测柱形元件的圆柱面设置在第二限位面上，使待测柱形元件的一个端面抵顶在第一限位面上，然后使待测柱形元件绕其轴线转动，在转动过程中，通过检测表上的检测探针抵触在待测柱形元件的圆柱面和另一个端面上，就可以分别检测待测柱形元件的椭圆度和垂直度，这样通过上述的检测装置可以实现对待测柱形元件的多项检测，提高了检测效率。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种检测装置，其特征在于，包括：

限位部，所述限位部上设有第一限位面和第二限位面，所述第一限位面为平面，所述第二限位面垂直于所述第一限位面，当待测柱形元件的圆柱面放置在第二限位面上时，所述待测柱形元件的端面能够抵顶在所述第一限位面上；

检测表，所述检测表上设有检测探针，所述检测探针的端部用于抵顶在所述待测柱形元件上，所述检测表用于显示所述检测探针的收缩长度。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述第二限位面为V型面或弧形面。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述第一限位面和所述第二限位面相互衔接。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括：

连接部，所述连接部的一端活动连接于所述限位部，另一端连接所述检测表，所述连接部用于在至少两个位置限定所述检测探针与所述限位部之间的相对位置关系，使所述检测探针能够接触所述限位部上的待测柱形元件的待测面上。

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，

所述连接部包括连接件和连接架，所述连接件活动连接于所述限位部，所述连接件的一端固定连接于所述连接件，另一端固定连接于所述检测表。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，

所述连接件磁性连接于所述限位部上。

7.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，

所述连接件转动连接于所述限位部上。

8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述限位部包括第一限位件和第二限位件，所述第一限位面设置在所述第一限位件上，所述第二限位面设置在所述第二限位件上，其中，所述第一限位件和所述第二限位件为可拆卸连接。