CN208188269U - 用于芯片性能测试的高精度检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种用于芯片性能测试的高精度检测设备，其包括底座箱、安装于底座箱上表面的支架、测试载台、扫码装置和测试机构，所述测试载台安装于底座箱的盖板上表面，所述后侧板后表面具有用于驱动测试机构的气缸，所述2个连接块一端分别与推板两侧表面固定连接，所述测试头通过一安装块与活动板固定连接，所述调节板下表面设置有若干圆形安装孔，所述调节板上表面开有若干均匀设置的螺孔，所述测试载台上开有若干与调节板的螺孔对应的条状通孔，所述条状通孔开设方向与调节板的螺孔分布方向垂直，所述条形安装孔开设方向与圆形安装孔分布方向相同。本实用新型通过条形通孔与连接块的配合设置，起到良好的限位作用，使得测试机构的下压力稳定而精确，保证测试的准确性和测试精度。

Description

用于芯片性能测试的高精度检测设备

技术领域

本实用新型涉及器件测试装置，具体涉及一种用于芯片性能测试的高精度检测设备。

背景技术

随着人们对信息安全的要求越来越高，传统的数字密码或九宫格密码已不能满足人们对信息安全的要求。生物识别广泛应用于新一代的电子设备，而指纹具有的稳定性和唯一性使得指纹识别装置的应用非常广泛。

指纹芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况都需进行检测，通常情况下，需要人工进行逐一检测，然后将不良品挑拣出，再对良品进行封装。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于芯片性能测试的高精度检测设备，该用于芯片性能测试的高精度检测设备通过条形通孔与连接块的配合设置，起到良好的限位作用，使得测试机构的下压力稳定而精确，保证测试的准确性和测试精度。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于芯片性能测试的高精度检测设备，包括底座箱、安装于底座箱上表面的支架、测试载台、扫码装置和测试机构，所述测试载台安装于底座箱的盖板上表面，所述测试机构与支架固定连接并位于测试载台上方，所述底座箱的盖板上开有供扫码装置嵌入的通孔，所述扫码装置嵌入底座箱盖板的通孔内并通过一安装架与测试载台下表面固定连接；

所述支架由左侧板、右侧板、梁板和后侧板组成，所述左侧板、右侧板分别设置于测试载台上表面两侧，所述梁板横跨于左侧板、右侧板之间并分别于左侧板、右侧板上表面固定，所述后侧板横跨于左侧板、右侧板之间并分别与左侧板、右侧板后表面固定；

所述后侧板后表面具有用于驱动测试机构的气缸，所述测试机构进一步包括测试头、活动板、推板和2个L形连接块，所述气缸的活塞杆与推板固定连接，所述活动板通过滑块与后侧板前表面的导轨活动连接，所述活动板两侧的后侧板上分别开有一供连接块穿过的条形通孔，所述2个连接块一端分别与推板两侧表面固定连接，另一端分别穿过后侧板的条形通孔并与活动板侧表面固定连接，所述测试头通过一安装块与活动板固定连接；

所述安装架为U字形，所述扫码装置嵌入安装架的U型槽内并与安装架固定连接，所述安装架通过一调节板与测试载台连接，所述安装架上开有一条形安装孔，所述调节板下表面设置有若干圆形安装孔，所述调节板上表面开有若干均匀设置的螺孔，所述测试载台上开有若干与调节板的螺孔对应的条状通孔，所述条状通孔开设方向与调节板的螺孔分布方向垂直，所述条形安装孔开设方向与圆形安装孔分布方向相同。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，所述底座箱形状为L形。

2. 上述方案中，所述后侧板前表面上部与梁板后表面固定连接。

3. 上述方案中，所述安装块下表面具有一供测试头嵌入的凹槽。

4. 上述方案中，所述若干圆形安装孔和若干螺孔的数目均为2个。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

1、本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备，其底座箱的盖板上开有供扫码装置嵌入的通孔，所述扫码装置嵌入底座箱盖板的通孔内并通过一安装架与测试载台下表面固定连接，通过扫码装置的设置，可自动识别产品上的二维码，无需人工识别，不仅省时省力，还提高了正确辨别率；此外，每一个产品都具有唯一的二维码标识，先扫码再进行下一步操作，可以为每一个产品建立数据库，方便对产品的时事追踪和统计，具有检测精确、检测效率和自动化程度高、适合大批量生产的优点。

2、本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备，其后侧板后表面具有用于驱动测试机构的气缸，所述测试机构进一步包括测试头、活动板、推板和2个L形连接块，所述气缸的活塞杆与推板固定连接，所述活动板通过滑块与后侧板前表面的导轨活动连接，所述活动板两侧的后侧板上分别开有一供连接块穿过的条形通孔，采用气缸驱动的方式代替之前靠自重下压测试的方式，确保压力的稳定性，并且可以通过对气缸气压的调节调整测试头压力，可适用多种产品，条形通孔与连接块的配合设置，起到良好的限位作用，使得测试机构的下压力稳定而精确，保证测试的准确性和测试精度；其次，其安装块下表面具有一供测试头嵌入的凹槽，凹槽的设置，使得测试头可更换以适应不同情况的测试，提高了设备的通用性，节约成本。

3、本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备，其安装架通过一调节板与测试载台连接，所述安装架上开有一条形安装孔，所述调节板下表面设置有若干圆形安装孔，所述调节板上表面开有若干均匀设置的螺孔，所述测试载台上开有若干与调节板的螺孔对应的条状通孔，所述条状通孔开设方向与调节板的螺孔分布方向垂直，所述条形安装孔开设方向与圆形安装孔分布方向相同，通过调节板上表面螺孔与测试载台条状通孔的设置，可以实现扫码装置在x方向上的位置调节、调节板下表面圆形安装孔与安装架上条形安装孔的设置，可以实现扫码装置在y方向上的位置调节，从而实现了扫码装置在水平方向上的可调节设置，以应对不同产品的二维码位置不同的情况，可实现对多种产品的扫码与测试，具有良好的通用性和扫码精度，提高工作效率。

附图说明

附图1为本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备结构示意图；

附图2为本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备局部分解示意图；

附图3为本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备局部结构仰视图；

附图4为本实用新型用于芯片性能测试的高精度检测设备局部结构示意图。

以上附图中：1、底座箱；101、盖板；102、通孔；2、支架；201、左侧板；202、右侧板；203、梁板；204、后侧板；205、条形通孔；3、测试载台；305、条状通孔；4、扫码装置；5、测试机构；501、测试头；502、活动板；503、推板；504、连接块；505、安装块；506、凹槽；6、气缸；7、安装架；701、条形安装孔；8、调节板；801、圆形安装孔；802、螺孔。

具体实施方式

实施例1：一种用于芯片性能测试的高精度检测设备，包括底座箱1、安装于底座箱1上表面的支架2、测试载台3、扫码装置4和测试机构5，所述测试载台3安装于底座箱1的盖板101上表面，所述测试机构5与支架2固定连接并位于测试载台3上方，所述底座箱1的盖板101上开有供扫码装置4嵌入的通孔102，所述扫码装置4嵌入底座箱1盖板101的通孔102内并通过一安装架7与测试载台3下表面固定连接；

所述支架2由左侧板201、右侧板202、梁板203和后侧板204组成，所述左侧板201、右侧板202分别设置于测试载台3上表面两侧，所述梁板203横跨于左侧板201、右侧板202之间并分别于左侧板201、右侧板202上表面固定，所述后侧板204横跨于左侧板201、右侧板202之间并分别与左侧板201、右侧板202后表面固定；

所述后侧板204后表面具有用于驱动测试机构5的气缸6，所述测试机构5进一步包括测试头501、活动板502、推板503和2个L形连接块504，所述气缸6的活塞杆与推板503固定连接，所述活动板502通过滑块与后侧板204前表面的导轨活动连接，所述活动板502两侧的后侧板204上分别开有一供连接块504穿过的条形通孔205，所述2个连接块504一端分别与推板503两侧表面固定连接，另一端分别穿过后侧板204的条形通孔205并与活动板502侧表面固定连接，所述测试头501通过一安装块505与活动板502固定连接；

所述安装架7为U字形，所述扫码装置4嵌入安装架7的U型槽内并与安装架7固定连接，所述安装架7通过一调节板8与测试载台3连接，所述安装架7上开有一条形安装孔701，所述调节板8下表面设置有若干圆形安装孔801，所述调节板8上表面开有若干均匀设置的螺孔802，所述测试载台3上开有若干与调节板8的螺孔802对应的条状通孔305，所述条状通孔305开设方向与调节板8的螺孔802分布方向垂直，所述条形安装孔701开设方向与圆形安装孔801分布方向相同。

上述底座箱1形状为L形；上述后侧板204前表面上部与梁板203后表面固定连接。

实施例2：一种用于芯片性能测试的高精度检测设备，包括底座箱1、安装于底座箱1上表面的支架2、测试载台3、扫码装置4和测试机构5，所述测试载台3安装于底座箱1的盖板101上表面，所述测试机构5与支架2固定连接并位于测试载台3上方，所述底座箱1的盖板101上开有供扫码装置4嵌入的通孔102，所述扫码装置4嵌入底座箱1盖板101的通孔102内并通过一安装架7与测试载台3下表面固定连接；

所述支架2由左侧板201、右侧板202、梁板203和后侧板204组成，所述左侧板201、右侧板202分别设置于测试载台3上表面两侧，所述梁板203横跨于左侧板201、右侧板202之间并分别于左侧板201、右侧板202上表面固定，所述后侧板204横跨于左侧板201、右侧板202之间并分别与左侧板201、右侧板202后表面固定；

所述后侧板204后表面具有用于驱动测试机构5的气缸6，所述测试机构5进一步包括测试头501、活动板502、推板503和2个L形连接块504，所述气缸6的活塞杆与推板503固定连接，所述活动板502通过滑块与后侧板204前表面的导轨活动连接，所述活动板502两侧的后侧板204上分别开有一供连接块504穿过的条形通孔205，所述2个连接块504一端分别与推板503两侧表面固定连接，另一端分别穿过后侧板204的条形通孔205并与活动板502侧表面固定连接，所述测试头501通过一安装块505与活动板502固定连接；

所述安装架7为U字形，所述扫码装置4嵌入安装架7的U型槽内并与安装架7固定连接，所述安装架7通过一调节板8与测试载台3连接，所述安装架7上开有一条形安装孔701，所述调节板8下表面设置有若干圆形安装孔801，所述调节板8上表面开有若干均匀设置的螺孔802，所述测试载台3上开有若干与调节板8的螺孔802对应的条状通孔305，所述条状通孔305开设方向与调节板8的螺孔802分布方向垂直，所述条形安装孔701开设方向与圆形安装孔801分布方向相同。

上述安装块505下表面具有一供测试头501嵌入的凹槽506；上述若干圆形安装孔801和若干螺孔802的数目均为2个。

本测试装置工作时，扫码装置可扫描产品上的二维码，并将扫描到的二维码信息实时地传递给软件系统，当扫描到的二维码信息与系统内预存的二维码数据不一致时，软件系统控制装置停止工作，当扫描到的二维码信息与系统内预存的二维码数据一致时，测试机构启动进行下一步测试工作。

采用上述用于芯片性能测试的高精度检测设备时，其通过扫码装置的设置，可自动识别产品上的二维码，无需人工识别，不仅省时省力，还提高了正确辨别率；此外，每一个产品都具有唯一的二维码标识，先扫码再进行下一步操作，可以为每一个产品建立数据库，方便对产品的时事追踪和统计，具有检测精确、检测效率和自动化程度高、适合大批量生产的优点；其次，采用气缸驱动的方式代替之前靠自重下压测试的方式，确保压力的稳定性，并且可以通过对气缸气压的调节调整测试头压力，可适用多种产品，条形通孔与连接块的配合设置，起到良好的限位作用，使得测试机构的下压力稳定而精确，保证测试的准确性和测试精度；再次，凹槽的设置，使得测试头可更换以适应不同情况的测试，提高了设备的通用性，节约成本；再次，通过调节板上表面螺孔与测试载台条状通孔的设置，可以实现扫码装置在x方向上的位置调节、调节板下表面圆形安装孔与安装架上条形安装孔的设置，可以实现扫码装置在y方向上的位置调节，从而实现了扫码装置在水平方向上的可调节设置，以应对不同产品的二维码位置不同的情况，可实现对多种产品的扫码与测试，具有良好的通用性和扫码精度，提高工作效率。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种用于芯片性能测试的高精度检测设备，其特征在于：包括底座箱（1）、安装于底座箱（1）上表面的支架（2）、测试载台（3）、扫码装置（4）和测试机构（5），所述测试载台（3）安装于底座箱（1）的盖板（101）上表面，所述测试机构（5）与支架（2）固定连接并位于测试载台（3）上方，所述底座箱（1）的盖板（101）上开有供扫码装置（4）嵌入的通孔（102），所述扫码装置（4）嵌入底座箱（1）盖板（101）的通孔（102）内并通过一安装架（7）与测试载台（3）下表面固定连接；

所述支架（2）由左侧板（201）、右侧板（202）、梁板（203）和后侧板（204）组成，所述左侧板（201）、右侧板（202）分别设置于测试载台（3）上表面两侧，所述梁板（203）横跨于左侧板（201）、右侧板（202）之间并分别于左侧板（201）、右侧板（202）上表面固定，所述后侧板（204）横跨于左侧板（201）、右侧板（202）之间并分别与左侧板（201）、右侧板（202）后表面固定；

所述后侧板（204）后表面具有用于驱动测试机构（5）的气缸（6），所述测试机构（5）进一步包括测试头（501）、活动板（502）、推板（503）和2个L形连接块（504），所述气缸（6）的活塞杆与推板（503）固定连接，所述活动板（502）通过滑块与后侧板（204）前表面的导轨活动连接，所述活动板（502）两侧的后侧板（204）上分别开有一供连接块（504）穿过的条形通孔（205），所述2个连接块（504）一端分别与推板（503）两侧表面固定连接，另一端分别穿过后侧板（204）的条形通孔（205）并与活动板（502）侧表面固定连接，所述测试头（501）通过一安装块（505）与活动板（502）固定连接；

所述安装架（7）为U字形，所述扫码装置（4）嵌入安装架（7）的U型槽内并与安装架（7）固定连接，所述安装架（7）通过一调节板（8）与测试载台（3）连接，所述安装架（7）上开有一条形安装孔（701），所述调节板（8）下表面设置有若干圆形安装孔（801），所述调节板（8）上表面开有若干均匀设置的螺孔（802），所述测试载台（3）上开有若干与调节板（8）的螺孔（802）对应的条状通孔（305），所述条状通孔（305）开设方向与调节板（8）的螺孔（802）分布方向垂直，所述条形安装孔（701）开设方向与圆形安装孔（801）分布方向相同。

2.根据权利要求1所述的用于芯片性能测试的高精度检测设备，其特征在于：所述底座箱（1）形状为L形。

3.根据权利要求1所述的用于芯片性能测试的高精度检测设备，其特征在于：所述后侧板（204）前表面上部与梁板（203）后表面固定连接。

4.根据权利要求1所述的用于芯片性能测试的高精度检测设备，其特征在于：所述安装块（505）下表面具有一供测试头（501）嵌入的凹槽（506）。

5.根据权利要求1所述的用于芯片性能测试的高精度检测设备，其特征在于：所述若干圆形安装孔（801）和若干螺孔（802）的数目均为2个。