CN208108999U - 一种变形量测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种变形量测量装置，包括支撑框、在第一方向上可滑动安装于所述支撑框上的第一滑动机构，和在第二方向上可滑动安装于所述支撑架上的第二滑动机构；所述支撑架上沿所述第一方向设置有第一刻度尺，所述第一滑动机构上沿所述第二方向设置有第二刻度尺，所述第二滑动机构上设置有深度尺；所述第一方向与所述第一方向同面且相互垂直，所述深度尺的测量方向垂直于所述第一方向和所述第二方向所在的平面。其可以测量凹陷和凸起两类变形方式的变形量，克服不能测试凸起变形的缺点，测量方便准确。

Description

一种变形量测量装置

技术领域

本实用新型涉及工件测试设备技术领域，尤其是涉及一种板件或壳体工件变形量测量装置。

背景技术

材料与结构在冲击或撞击条件下的变形破坏规律是冲击动力学领域研究的热点，一直受到广泛关注。在评估结构的破坏程度时，结构在冲击载荷作用下的位移，即变形量常常作为重要的参考量。当平板类结构发生凹陷变形时，变形量可以通过简易结构进行测量，获得近似的数值；但是由于缺乏准确测量的专业工具，当结构发生凸起变形，或待测目标并不完全规则时，结构全部位置变形量的获得是十分困难的，导致无法很好的评估冲击载荷与结构变形量的对应关系。

因此，提供一种变形量测量装置，以期为平板类凸起形变和不规则待测目标提供专门的测量工具，以便提高工件变形量的测量准确性和便利性，就成为本领域技术人员亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种变形量测量装置，以期为平板类凸起形变和不规则待测目标提供专门的测量工具，以便提高工件变形量的测量准确性和便利性。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种变形量测量装置，包括支撑框、在第一方向上可滑动安装于所述支撑框上的第一滑动机构，和在第二方向上可滑动安装于所述支撑架上的第二滑动机构；

所述支撑架上沿所述第一方向设置有第一刻度尺，所述第一滑动机构上沿所述第二方向设置有第二刻度尺，所述第二滑动机构上设置有深度尺；

所述第一方向与所述第一方向同面且相互垂直，所述深度尺的测量方向垂直于所述第一方向和所述第二方向所在的平面。

在测量过程中，待测工件放置于支撑框的框架内部，待测部位透过框架外露，通过第一滑动机构带动第二刻度尺相对于第一刻度尺的滑动、深度尺相对于第二刻度尺的滑动，可根据测量目标的实际结构尺寸测量位置，并在确定测量位置后，通过调整深度尺的高度实现测量，具有很强的适应性；同时，用于深度测量的深度尺可以在第一方向和第二方向上任意滑动，并通过第一刻度尺和第二刻度尺的配合，测量全部位置的变形量，同时，基准点选取可调节，可以测量凹陷和凸起两类变形方式的变形量，克服不能测试凸起变形的缺点。

进一步地，所述支撑框包括依次可拆卸连接的第一框体、第二框体、第三框体和第四框体；

所述第一框体和所述第三框体上均安装有光轴，所述光轴在所述第一方向上延伸，所述第一滑动机构滑动安装于两所述光轴上，所述第一刻度尺安装于所述第一框体和/或所述第三框体上。

进一步地，所述支撑框的底部安装有可伸缩垫脚，所述垫脚的伸缩方向与所述深度尺的测量方向相同。

进一步地，所述第一滑动机构包括固定导轨和安装于所述固定导轨上的直线轴，所述第二刻度尺安装于所述固定导轨上，所述第二滑动机构可滑动地安装于所述直线轴上。

进一步地，所述第二滑动机构包括滑动安装于所述直线轴的滑块，所述深度尺沿深度测量方向可伸缩地安装于所述滑块。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型所提供的变形量测量装置一种具体实施方式的结构示意图。

附图标记说明：

1-支撑框

2-第一刻度尺

3-第二刻度尺

4-深度尺

5-光轴

6-可伸缩垫脚

7-固定导轨

8-直线轴

9-滑块

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参考图1，图1为本实用新型所提供的变形量测量装置一种具体实施方式的结构示意图。

在一种具体实施方式中，本实用新型提供的变形量测量装置包括支撑框1、在第一方向上可滑动安装于所述支撑框1上的第一滑动机构，和在第二方向上可滑动安装于所述支撑架上的第二滑动机构；其中，所述支撑架上沿所述第一方向设置有第一刻度尺2，所述第一滑动机构上沿所述第二方向设置有第二刻度尺3，所述第二滑动机构上设置有深度尺4；所述第一方向与所述第一方向同面且相互垂直，所述深度尺4的测量方向垂直于所述第一方向和所述第二方向所在的平面。

应当理解的是，上述第一方向、第二方向和深度尺4的测量方向三者形成三维立体坐标系，第一方向即为该坐标系的X轴方向，第二方向即为该坐标系的Y轴方向，深度尺4的测量方向即为该坐标系的Z轴方向。此时，第一滑动机构可沿X轴方向运动，并通过第一刻度尺2测量待测点在X轴方向上的数据，第二滑动机构可沿Y轴方向运动，并通过第二刻度尺3测量待测点在Y轴方向上的数据，深度尺4可沿Z轴方向运动，并通过深度尺4测量待测点在Z轴方向上的数据，从而通过三个坐标轴上的数据得出待测点在三维坐标系中的具体位置，提高了测量的准确性。

在测量过程中，待测工件放置于支撑框1的框架内部，待测部位透过框架外露，通过第一滑动机构带动第二刻度尺3相对于第一刻度尺2的滑动、深度尺4相对于第二刻度尺3的滑动，可根据测量目标的实际结构尺寸测量位置，并在确定测量位置后，通过调整深度尺4的高度实现测量，具有很强的适应性；同时，用于深度测量的深度尺4可以在第一方向和第二方向上任意滑动，并通过第一刻度尺2和第二刻度尺3的配合，测量全部位置的变形量，同时，基准点选取可调节，可以测量凹陷和凸起两类变形方式的变形量，克服不能测试凸起变形的缺点。

具体地，上述支撑框1包括依次可拆卸连接的第一框体、第二框体、第三框体和第四框体，各相邻框体之间可通过卡扣或螺栓等结构可拆卸连接，以便于拆卸转场；其中，所述第一框体和所述第三框体上均安装有光轴5，所述光轴5在所述第一方向上延伸，所述第一滑动机构滑动安装于两所述光轴5上，所述第一刻度尺2安装于所述第一框体和/或所述第三框体上，利用光轴5为第一滑动机构充当导向滑道，结构稳定性较好，为保证平衡，相对侧的第一框体和第二框体上均设光轴5，第一滑动机构的一端安装在第一框架的光轴5上，另一端安装在第三框架的光轴5上。

上述支撑框1的底部安装有可伸缩垫脚6，所述垫脚的伸缩方向与所述深度尺4的测量方向相同，以便适用于不同厚度规格的待测件，同时与深度尺4配合能够实现更大范围的深度测量。

具体地，所述第一滑动机构包括固定导轨7和安装于所述固定导轨7上的直线轴8，所述第二刻度尺3安装于所述固定导轨7上，所述第二滑动机构可滑动地安装于所述直线轴8上，固定导轨7的一端通过导向滑块9安装在第一框架侧的光轴5，另一端通过另一导向滑块9安装在第三框架侧的光轴5上。所述第二滑动机构包括滑动安装于所述直线轴8的滑块9，所述深度尺4沿深度测量方向可伸缩地安装于所述滑块9。

上述具体实施方式所提供的变形量测量装置在使用时，依据测量的结构选取基准点，将深度尺4归零，通过移动固定导轨7和滑块9实现任意位置变形量的测量，根据可伸缩垫脚6的高度通过深度尺4直接接触结构可测量结构的凸起或凹陷变形。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (5)

1.一种变形量测量装置，其特征在于，包括支撑框(1)、在第一方向上可滑动安装于所述支撑框(1)上的第一滑动机构，和在第二方向上可滑动安装于所述支撑框(1)上的第二滑动机构；

所述支撑框(1)上沿所述第一方向设置有第一刻度尺(2)，所述第一滑动机构上沿所述第二方向设置有第二刻度尺(3)，所述第二滑动机构上设置有深度尺(4)；

所述第一方向与所述第一方向同面且相互垂直，所述深度尺(4)的测量方向垂直于所述第一方向和所述第二方向所在的平面。

2.根据权利要求1所述的变形量测量装置，其特征在于，所述支撑框(1)包括依次可拆卸连接的第一框体、第二框体、第三框体和第四框体；

所述第一框体和所述第三框体上均安装有光轴(5)，所述光轴(5)在所述第一方向上延伸，所述第一滑动机构滑动安装于两所述光轴(5)上，所述第一刻度尺(2)安装于所述第一框体和/或所述第三框体上。

3.根据权利要求2所述的变形量测量装置，其特征在于，所述支撑框(1)的底部安装有可伸缩垫脚(6)，所述垫脚的伸缩方向与所述深度尺(4)的测量方向相同。

4.根据权利要求2所述的变形量测量装置，其特征在于，所述第一滑动机构包括固定导轨(7)和安装于所述固定导轨(7)上的直线轴(8)，所述第二刻度尺(3)安装于所述固定导轨(7)上，所述第二滑动机构可滑动地安装于所述直线轴(8)上。

5.根据权利要求4所述的变形量测量装置，其特征在于，所述第二滑动机构包括滑动安装于所述直线轴(8)的滑块(9)，所述深度尺(4)沿深度测量方向可伸缩地安装于所述滑块(9)。