CN208043391U - 一种便于检测的光纤测量治具 - Google Patents

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韩涛
涂春阳
李建兵
冯子木
徐勋淼
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Abstract

本实用新型公开了一种便于检测的光纤测量治具,包括座体,所述座体的顶部开设有第一槽口,所述第一槽口的中部开设有第二槽口,所述第二槽口的四角处均焊接有定位块,所述座体的后侧开设有插接孔,且插接孔与第二槽口相互贯通,所述第一槽口上安装有光纤安装板,所述第一槽口的四侧对称开设有第一螺纹孔,所述光纤安装板通过其四侧的第一螺丝钉螺纹安装在第一螺纹孔内,所述光纤安装板的中部安装有检测座。该便于检测的光纤测量治具,通过设置检测治具,规范了现有依靠人工手持光纤检测的弊端,不仅大大简化了检测步骤,同时大大提高了检测精度,且降低了对光纤在检测过程中受到的磨损或刮伤等不良率,整个检测过程方便高效。

Description

一种便于检测的光纤测量治具
技术领域
本实用新型涉及光纤检测技术领域,具体为一种便于检测的光纤测量治具。
背景技术
现有的测量光纤插入损耗和回波损耗的方式是人工用手拿着光纤,放在用于检测的镜面盖上,操作麻烦、效率比较低,并且人工手持光纤进行检测存在误差大、卡紧不牢固的缺陷。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种便于检测的光纤测量治具,解决了现有光纤检测操作麻烦的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种便于检测的光纤测量治具,包括座体,所述座体的顶部开设有第一槽口,所述第一槽口的中部开设有第二槽口,所述第二槽口的四角处均焊接有定位块,所述座体的后侧开设有插接孔,且插接孔与第二槽口相互贯通,所述第一槽口上安装有光纤安装板,所述第一槽口的四侧对称开设有第一螺纹孔,所述光纤安装板通过其四侧的第一螺丝钉螺纹安装在第一螺纹孔内,所述光纤安装板的中部安装有检测座,所述检测座通过其四侧的第二螺丝钉螺纹安装在光纤安装板顶部的中央,所述检测座的顶部焊接有检测圈,所述检测圈的正面开设有用于容纳光纤的缺口,所述座体的正面开设有插接槽,且插接槽与第一槽口相互贯通,所述座体的左侧开设有第二螺纹孔,所述第二螺纹孔内螺纹安装有卡紧螺杆,所述座体的后侧安装有转座,所述转座的中部开设有转槽,所述转槽内活动安装有盖板,所述盖板的内侧安装有与插接槽相对应的卡槽体。
优选的,所述盖板内侧的右部安装有固定头,所述座体顶部的右侧开设有用于卡接固定头的凹槽。
优选的,所述盖板的一侧安装有凸缘,且凸缘的倒角为3-5毫米。
优选的,所述插接槽为梯子型,且插接槽的内侧经过去毛刺处理。
优选的,所述光纤安装板的四角均做倒角处理,且倒角为3-4毫米。
(三)有益效果
本实用新型提供了一种便于检测的光纤测量治具。具备以下有益效果:
该便于检测的光纤测量治具,通过设置检测治具,规范了现有依靠人工手持光纤检测的弊端,不仅大大简化了检测步骤,同时大大提高了检测精度,且降低了对光纤在检测过程中受到的磨损或刮伤等不良率,整个检测过程方便高效;检测时,先将光纤通过插接槽导入至座体内的第一槽口内,然后使光纤通过缺口进入至检测圈内,从而完成了光纤的安放,然后转动卡紧螺杆,将光纤卡紧,防止其发生松动或脱落,卡紧后转动盖板,使其盖在座体的顶部,最后接电进行检测,整个过程操作简单,降低了工人的劳动强度。
附图说明
图1为本实用新型座体结构示意图;
图2为本实用新型座体结构俯视图;
图3为本实用新型光纤安装板结构俯视图;
图4为本实用新型检测座结构俯视图;
图5为图4的M-M结构剖视图;
图6为本实用新型盖板结构示意图。
图中:1座体、2第一槽口、3第二槽口、4定位块、5插接孔、6光纤安装板、7第一螺丝钉、71第一螺纹孔、8检测座、9第二螺丝钉、10检测圈、11缺口、12插接槽、13第二螺纹孔、14卡紧螺杆、15转座、16转槽、17盖板、18卡槽体、19固定头、20凹槽、21凸缘。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1-6所示,本实用新型提供一种技术方案:一种便于检测的光纤测量治具,通过设置检测治具,规范了现有依靠人工手持光纤检测的弊端,不仅大大简化了检测步骤,同时大大提高了检测精度,且降低了对光纤在检测过程中受到的磨损或刮伤等不良率,整个检测过程方便高效;包括座体1,座体1的顶部开设有第一槽口2,第一槽口2的中部开设有第二槽口3,第二槽口3的四角处均焊接有定位块4,座体1的后侧开设有插接孔5,且插接孔5与第二槽口3相互贯通,插接孔5用于连接外置检测元件(需要说明的是,此处未对光纤的具体检测过程进行叙述,其原因是本专利的创新点并不涉及光纤的具体检测过程,改进点也不涉及到检测机构,并且目前的光纤检测,其技术已经非常成熟,属于公知领域,因此未做赘述),第一槽口2上安装有光纤安装板6,光纤安装板6的四角均做倒角处理,且倒角为3-4毫米,第一槽口2的四侧对称开设有第一螺纹孔71,光纤安装板6通过其四侧的第一螺丝钉7螺纹安装在第一螺纹孔71内,光纤安装板6的中部安装有检测座8,检测座8通过其四侧的第二螺丝钉9螺纹安装在光纤安装板6顶部的中央,检测座8的顶部焊接有检测圈10,检测圈10的正面开设有用于容纳光纤的缺口11,座体1的正面开设有插接槽12,且插接槽12与第一槽口2相互贯通,检测时,先将光纤通过插接槽12导入至座体1内的第一槽口2内,然后使光纤通过缺口11进入至检测圈10内,从而完成了光纤的安放,插接槽12为梯子型,且插接槽12的内侧经过去毛刺处理,座体1的左侧开设有第二螺纹孔13,第二螺纹孔13内螺纹安装有卡紧螺杆14,然后转动卡紧螺杆14,将光纤卡紧,防止其发生松动或脱落,座体1的后侧安装有转座15,转座15的中部开设有转槽16,转槽16内活动安装有盖板17,卡紧后转动盖板17,使其盖在座体1的顶部,最后接电进行检测,整个过程操作简单,降低了工人的劳动强度,盖板17的内侧安装有与插接槽12相对应的卡槽体18,通过卡槽体18与插接槽12的配合使用,可以对光纤固定的更为牢固,盖板17内侧的右部安装有固定头19,座体1顶部的右侧开设有用于卡接固定头19的凹槽20,通过固定头19以及凹槽20的配合使用,可以使盖板17关闭的更为严实,盖板17的一侧安装有凸缘21,且凸缘21的倒角为3-5毫米,设置凸缘21,方便揭开盖板17。
使用时,检测时,先将光纤通过插接槽12导入至座体1内的第一槽口2内,然后使光纤通过缺口11进入至检测圈10内,从而完成了光纤的安放,然后转动卡紧螺杆14,将光纤卡紧,防止其发生松动或脱落,卡紧后转动盖板17,使其盖在座体1的顶部,最后接电进行检测,整个过程操作简单,降低了工人的劳动强度。
需要说明的是,该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接,并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种便于检测的光纤测量治具,包括座体(1),其特征在于:所述座体(1)的顶部开设有第一槽口(2),所述第一槽口(2)的中部开设有第二槽口(3),所述第二槽口(3)的四角处均焊接有定位块(4),所述座体(1)的后侧开设有插接孔(5),且插接孔(5)与第二槽口(3)相互贯通,所述第一槽口(2)上安装有光纤安装板(6),所述第一槽口(2)的四侧对称开设有第一螺纹孔(71),所述光纤安装板(6)通过其四侧的第一螺丝钉(7)螺纹安装在第一螺纹孔(71)内,所述光纤安装板(6)的中部安装有检测座(8),所述检测座(8)通过其四侧的第二螺丝钉(9)螺纹安装在光纤安装板(6)顶部的中央,所述检测座(8)的顶部焊接有检测圈(10),所述检测圈(10)的正面开设有用于容纳光纤的缺口(11),所述座体(1)的正面开设有插接槽(12),且插接槽(12)与第一槽口(2)相互贯通,所述座体(1)的左侧开设有第二螺纹孔(13),所述第二螺纹孔(13)内螺纹安装有卡紧螺杆(14),所述座体(1)的后侧安装有转座(15),所述转座(15)的中部开设有转槽(16),所述转槽(16)内活动安装有盖板(17),所述盖板(17)的内侧安装有与插接槽(12)相对应的卡槽体(18)。
2.根据权利要求1所述的一种便于检测的光纤测量治具,其特征在于:所述盖板(17)内侧的右部安装有固定头(19),所述座体(1)顶部的右侧开设有用于卡接固定头(19)的凹槽(20)。
3.根据权利要求1所述的一种便于检测的光纤测量治具,其特征在于:所述盖板(17)的一侧安装有凸缘(21),且凸缘(21)的倒角为3-5毫米。
4.根据权利要求1所述的一种便于检测的光纤测量治具,其特征在于:所述插接槽(12)为梯子型,且插接槽(12)的内侧经过去毛刺处理。
5.根据权利要求1所述的一种便于检测的光纤测量治具,其特征在于:所述光纤安装板(6)的四角均做倒角处理,且倒角为3-4毫米。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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