CN208034191U - 一种精密元器件测试盘的加工平台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种精密元器件测试盘的加工平台，包括底座，所述底座表面设置有工作台；所述工作台表面的中心设置有一中心孔，所述中心孔的外侧设有多个用于真空吸的真空吸槽；所述真空吸槽内设置有多个真空吸孔；所述工作台的内部设置有多个用于导向真空吸气体的导流槽，所述导流槽通过所述真空吸孔与所述真空吸槽连接；通过在工作台表面设置真空吸槽和真空吸孔，以及在工作台内部对应地设置导流槽，使设备在加工测试盘时可以直接以真空吸力将产品固定在工作台表面，减少了固定螺纹的使用，从而方便了测试盘的固定和拆卸，提高生产效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种CNC加工平台,更具体地说，它涉及一种精密元器件测试盘的加工平台。
背景技术
当前电子产品使用广泛，其中电子产品需要使用到多种精密元器件，由于这些精密电子元器件的体积很小，因此，在对这些精密电子元器件进行检测时，需要用到特定的测试盘来放置这些细小的元器件，以便检测人员能快速地对这种精密元器件进行检测。
在精密元器件测试盘的加工过程中，需要将待加工的测试盘固定在特定的加工平台上进行加工，由于待加工的测试盘难以固定，以及加工要求的精度很高，因此，通常在对待加工的测试盘进行加工时，需要使用很多的螺纹将该测试盘固定在工作台的表面，以保证该测试盘的加工精度，但该测试盘在加工产品前后，会出现固定和拆卸不方便的现象。
因此，现有技术还有待改进与发展。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种精密元器件测试盘的加工平台，旨在通过在工作台表面设置真空吸槽和真空吸孔，以及在工作台内部对应地设置导流槽，使设备在加工测试盘时可以直接以真空吸力将产品固定在工作台表面，减少固定螺纹的使用，从而方便测试盘的固定和拆卸，提高生产效率。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
一种精密元器件测试盘的加工平台，其中，包括底座，所述底座表面设置有工作台，所述工作台通过螺纹与所述底座固定连接；
所述工作台表面的中心设置有一中心孔，所述中心孔的外侧设有多个用于真空吸的真空吸槽，多个所述真空吸槽以所述中心孔的中心为轴心依次向中心孔的外侧排列；
所述真空吸槽内设置有多个真空吸孔，所述真空吸孔以所述中心孔的中心为轴心呈圆周排列；
所述工作台的内部设置有多个用于导向真空吸气体的导流槽，所述导流槽的位置与所述真空吸槽的位置对应分布且通过所述真空吸孔与所述真空吸槽连接。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述真空吸槽的形状为圆形或者弧形且以所述中心孔的中心为轴心依次向外侧呈7层分布。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述导流槽为圆弧形且与所述真空吸槽对应分布。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述中心孔与所述真空吸槽之间设置有4个用于固定测试盘的第一固定螺孔，所述第一固定螺孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述中心孔与所述真空吸槽之间还设置有4个用于测试盘定位的定位销孔，所述定位销孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述真空吸槽的外侧设置有8个用于固定测试盘的第二固定螺孔，所述第二固定螺孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述第二固定螺孔与中心孔之间排列设置有多个用于加工测试盘的加工槽口和加工孔，所述加工槽口和加工孔与所述中心孔同轴心且与测试盘对应分布。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述工作台的边缘设置有4个用于固定工作台的第三固定螺孔，所述第三固定螺孔与所述工作台的周边平行且呈正方形排列。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述工作台的表面结构设置为对称结构。
进一步地，所述的精密元器件测试盘的加工平台，其中，所述工作台至少为加工两种测试盘的工作台。
综上所述，本实用新型具有以下有益效果：通过在工作台表面设置真空吸槽和真空吸孔，以及在工作台内部对应地设置导流槽，使设备在加工测试盘时可以直接以真空吸力将产品固定在工作台表面，减少了固定螺纹的使用，从而方便了测试盘的固定和拆卸，提高生产效率。
附图说明
图1是本实施例精密元器件测试盘的加工平台的整体结构示意图。
图2是本实施例精密元器件测试盘的加工平台的导流槽结构示意图。
图3是本实施例精密元器件测试盘的加工平台的真空吸孔的分布示意图。
图4是本实施例精密元器件测试盘的加工平台的工作台的剖视图。
图1中：底座1、工作台2、中心孔21、真空吸槽22、第一固定螺孔24、定位销孔25、第二固定螺孔26、加工槽口27、加工孔28、第三固定螺孔29、真空吸孔221。
图2中：工作台2、中心孔21、导流槽23、第三固定螺孔29。
图3中：中心孔21、真空吸槽22、真空吸孔221。
图4中：工作台2、真空吸槽22、导流槽23、真空吸孔221。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。
实施例：本实用新型实施例提供的一种精密元器件测试盘的加工平台，如图1和图2所示，包括底座1，所述底座1表面设有工作台2，所述工作台2通过螺纹与所述底座1固定连接。
所述工作台2表面的中心设置有一中心孔21，所述中心孔21的外侧设有多个真空吸槽22，多个所述真空吸槽22以所述中心孔21的中心为轴心依次向中心孔21的外侧排列。
所述中心孔21用于在加工前对待加工的测试盘进行大概位置的定位，安装待加工的测试盘时，将该测试盘的中心孔对准工作台上的中心孔21进行大概位置的定位。
进一步地，如图3所示，所述真空吸槽22内设置有多个真空吸孔221，所述真空吸孔221以所述中心孔21的中心为轴心呈圆周排列；
如图4所示，所述工作台的内部设置有多个用于导向真空吸气体的导流槽23，所述导流槽23的位置与所述真空吸槽22的位置对应分布且通过所述真空吸孔221与所述真空吸槽22连接。
真空吸附原理：将导流槽23的一端连接真空吸设备，安装待加工的测试盘时，开启真空吸设备，真空吸槽22内的气体由于吸附作用，顺着真空吸槽22流向真空吸孔221，经真空吸孔221流向导流槽23，经导流槽23排出，此时，待加工的测试盘即被吸附在工作台2的表面。
进一步地，所述真空吸槽22的形状为圆形或者弧形且以所述中心孔21的中心为轴心依次向外侧呈7层分布。
进一步地，所述导流槽23为圆弧形且与所述真空吸槽22对应分布。
进一步地，所述中心孔21与所述真空吸槽22之间设置有4个第一固定螺孔24，所述第一固定螺孔24沿所述中心孔21的轴心呈圆周排列，所述第一固定螺孔24用于安装时将待加工的测试盘固定在工作台2的表面，使该测试盘在加工时不会跑偏。
进一步地，所述中心孔21与所述真空吸槽22之间还设置有4个定位销孔25，所述定位销孔25沿所述中心孔21的轴心呈圆周排列，所述定位销孔25用于安装待加工的测试盘时，对该测试盘在工作台2表面的位置进行精准定位，以保证该测试盘需要的加工精度。
进一步地，所述真空吸槽22的外侧设置有8个用于固定测试盘的第二固定螺孔26，所述第二固定螺孔26沿所述中心孔21的轴心呈圆周排列，所述第二固定螺孔26用于更换第二种待加工的测试盘时，将该测试盘进行固定，以防止加工时该测试盘跑偏。
进一步地，所述第二固定螺孔26与中心孔21之间排列设置有多个用于加工测试盘的加工槽口27和加工孔28，所述加工槽口27和加工孔28与所述中心孔21同轴心且与测试盘对应分布，所述加工槽口27和加工孔28用于在加工时，根据加工槽口27和加工孔28的位置对待加工的测试盘进行加工，以达到设计要求。
进一步地，所述工作台2的边缘设置有4个第三固定螺孔29，所述第三固定螺孔29与所述工作台2的周边平行且呈正方形排列，所述第三固定螺孔29用于将工作台2固定在底座1的表面。
进一步地，将所述工作台2的表面结构设置为对称结构，以方便工作人员将该工作台2进行安装。
进一步地，所述工作台2至少为加工两种测试盘的工作台，通过将工作台2设置为可加工多种测试盘的工作台，方便了工作人员快速更换待加工的测试盘，提高了生产效率。
工作原理：本实用新型在加工平台的工作台增加多个真空吸槽、真空吸孔以及导流槽，在对测试盘进行加工前，将待加工的测试盘放在工作台上，并将待加工测试盘的中心孔对准工作台上的中心孔，之后采用定位销孔对测试盘进行定位，利用真空吸将待加工的测试盘吸附在工作台的表面，配合四颗固定螺纹将待加工的测试盘紧紧固定在工作台的表面；加工时，按照预先设计的加工槽和加工孔对待加工的测试盘进行加工，通过真空吸的吸附以及固定螺纹的固定，加工测试盘时，该测试盘不会跑偏或者变形；加工后，关闭真空吸设备，取下固定螺孔和定位销孔，更换下一个待加工的测试盘。
通过实施例，本实用新型具有以下有益效果：通过在工作台表面设置真空吸槽和真空吸孔，以及在工作台内部对应地设置导流槽，使设备在加工测试盘时可以直接以真空吸力将产品固定在工作台表面，减少了固定螺纹的使用，从而方便了测试盘的固定和拆卸，提高生产效率。
应当理解的是，本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，包括底座，所述底座表面设置有工作台，所述工作台通过螺纹与所述底座固定连接；
所述工作台表面的中心设置有一中心孔，所述中心孔的外侧设有多个用于真空吸的真空吸槽，多个所述真空吸槽以所述中心孔的中心为轴心依次向中心孔的外侧排列；
所述真空吸槽内设置有多个真空吸孔，所述真空吸孔以所述中心孔的中心为轴心呈圆周排列；
所述工作台的内部设置有多个用于导向真空吸气体的导流槽，所述导流槽的位置与所述真空吸槽的位置对应分布且通过所述真空吸孔与所述真空吸槽连接。
2.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述真空吸槽的形状为圆形或者弧形且以所述中心孔的中心为轴心依次向外侧呈7层分布。
3.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述导流槽为圆弧形且与所述真空吸槽对应分布。
4.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述中心孔与所述真空吸槽之间设置有4个用于固定测试盘的第一固定螺孔，所述第一固定螺孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。
5.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述中心孔与所述真空吸槽之间还设置有4个用于测试盘定位的定位销孔，所述定位销孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。
6.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述真空吸槽的外侧设置有8个用于固定测试盘的第二固定螺孔，所述第二固定螺孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。
7.根据权利要求6所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述第二固定螺孔与中心孔之间排列设置有多个用于加工测试盘的加工槽口和加工孔，所述加工槽口和加工孔与所述中心孔同轴心且与测试盘对应分布。
8.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述工作台的边缘设置有4个用于固定工作台的第三固定螺孔，所述第三固定螺孔与所述工作台的周边平行且呈正方形排列。
9.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述工作台的表面结构设置为对称结构。
10.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述工作台至少为加工两种测试盘的工作台。
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| CN201820364640.4U CN208034191U (zh) | 2018-03-18 | 2018-03-18 | 一种精密元器件测试盘的加工平台 |
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2018
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