CN207853845U - 光伏组件el测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种光伏组件EL测试装置，包括暗室、放置于所述暗室内用以向待测光伏组件供电的电源以及EL测试仪。所述光伏组件EL测试设备还包括设于所述暗室内且内部温度可调的收容箱，所述收容箱用以放置所述待测光伏组件，所述收容箱设有可将所述待测光伏组件暴露至所述EL测试仪的透光部。本实用新型光伏组件EL测试装置将内部温度可调节的收容箱与EL测试仪配合，更精确的检测电池片的潜在缺陷，提高光伏组件的可靠性，从而避免不良光伏组件的被使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及光伏技术领域，尤其涉及一种光伏组件EL测试装置。
背景技术
在光伏组件层压工艺后或者组框工艺完成后均需要对光伏组件进行测试，通常采用EL(电致发光，Electro Luminescence)测试仪检测光伏组件内电池片上肉眼很难发现甚至无法发现的问题，例如电池片的隐裂、破片、黑心片、断线、穿孔、边缘过刻、主栅线漏电、副栅线漏电、境界漏电、烧结缺陷、虚焊或过焊等多种。
一般而言，大多数组件缺陷都是由于电池片及组件的生产工艺不合理或者人为等外在因素造成的。这些问题对电池的转换效率和使用寿命有着严重的影响，严重时将危害组件甚至光伏发电系统的稳定性。
因此，有必要设计一种改进的光伏组件EL测试装置以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种测试精度更高的光伏组件EL测试装置。
为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种光伏组件EL测试装置，包括暗室、放置于所述暗室内用以向待测光伏组件供电的电源以及EL测试仪，所述光伏组件EL测试设备还包括设于所述暗室用以放置所述待测光伏组件的收容箱，所述收容箱内部温度可调，且所述收容箱设有可将所述待测光伏组件暴露至所述EL测试仪的透光部。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述收容箱内温度范围为-60°～105°。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述EL测试仪包括EL摄像机及与所述EL摄像机信号连接的计算机处理系统。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述透光部为可拆卸设置的透光窗。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述电源为直流电源，电压为 300V，电流的范围为0～15A。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述暗室为不透光箱体。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述暗室为遮罩有不透光幕布的箱体。
作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述收容箱内温度值大于常温或者小于常温时，所述EL测试仪可获得待测光伏组件的EL图像不同于常温时所述待测光伏组件的EL图像。
相较于现有技术，本实用新型光伏组件EL测试装置将内部温度可调的收容箱与EL测试仪配合，更精确的检测放置于所述收容箱内的待测光伏组件是否存在潜在缺陷，从而提高了光伏组件的可靠性，避免不良光伏组件的被使用。
附图说明
图1为本实用新型压光伏组件EL测试装置应用时的状态示意图。
附图标号：100-光伏组件EL测试装置；1-暗室；2-待测光伏组件；21- 光伏组件正面；3-电源；4-EL测试仪；41-EL摄像机；42-计算机处理系统； 5-收容箱；51-透光部。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案、和优点更加清楚，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细描述。
请参图1所示，为本实用新型所揭示一种光伏组件EL(电致发光，Electroluminescence)测试装置100，所述El测试装置100包括暗室1、放置于所述暗室1内用以向待测光伏组件2供电的电源3以及EL测试仪4。所以EL测试的光属于近红外光(NIR)，该红光线只有在不受外光(即太阳能、可见光、红外线、紫外线等)干扰下才能被红外光学相机捕捉到。
具体的，所述暗室1可为不透光箱体或者为全部遮罩有不透光幕布的箱体。即，所述暗箱1为所述EL测试仪4提供不被外光干扰的环境。从而协助所述EL测试仪4准确地判别电池片或组件是否存在缺陷。
所述光伏组件EL测试设备100还包括设于所述暗室1内且内部温度可调的收容箱5。所述收容箱5用以放置所述待测光伏组件2。所述收容箱5设有可将所述待测光伏组件2暴露至所述EL测试仪4的透光部51以及调节所述收容箱5内的温度的调节部(未图示)。所述收容箱5内的温度范围为-60°～105°。当需要在不同温度的环境下测试所述待测光伏组件2时，可通过调节所述调节部达成对所述收容箱5内温度的调节。如此使得所述光伏组件EL测试设备100可通过提供温度可调的收容箱5为所述待测光伏组件2提供一个温度可变的测试环境。
所述收容箱5一侧设有透光部51，所述透光部51为可拆卸安装于所述收容箱5侧壁上的透光窗。当然，所述透光窗不限于与收容箱可拆卸式配合，在其他实施方式中，所述透光部51也可与所述收容箱5一体成型。放置于所述收容箱5内的所述待测光伏组件2的正面21朝向所述EL测试仪2放置。通过所述透光部51为所述EL测试仪2提供能够透过所述透光窗全面捕捉所述待测光伏组件2的所述正面21的视角。
所述电源3为直流电源，电压为300V，电流的范围为0～15A。
所述EL测试仪4包括EL摄像机41及与所述EL摄像机41信号连接的计算机处理系统42。
具体的，在本实施方式中，所述电源3为模拟实际使用中太阳光照射在电池组件上产生的等效直流电流，通过对电池片外加正向偏压，给待测光伏组件2的电池片通入直流电源，电源便向电池注入大量非平衡载流子，作用于扩散结两边，电能把处于基态的原子进行激发，使其处于激发态，由于处于激发态的原子不稳定，进行自发辐射，这样，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子，通过滤波片的作用及底片的曝光程度来了解在自发辐射中本征跃迁的情况，利用EL摄像机41捕捉到这些光子，利用少子寿命、密度与光强间的关系，即太阳能电池的电致发光亮度正比于少子扩散长度，正比于电流密度，再通过计算机处理系统42处理后以图像的方式显示出来，从图片的曝光程度就可以判断电池片中是否存在缺陷。
采用本实用新型的所述光伏组件EL(电致发光，Electroluminescence) 测试装置100对待测光伏组件2进行测试，首先，在常温下对所述待测光伏组件2测试，获得常温下的EL图像。
接着，调节所述收容箱5内温度为第一温度，所述第一温度大于25°。所述电源3向待测光伏组件2提供电源，所述EL摄像机41捕捉电池片表面光子采集光信号后转变为电荷信号传送至所述计算机处理系统42，经计算机处理系统42处理为EL图像，检测人员根据图像判断所述电池片是否存在缺陷。
继续对同一所述待测光伏组件2提供具有第二温度的收容箱5，所述第二温度小于25°。所述电源3向待测光伏组件2提供电源，所述EL摄像机41捕捉电池片表面光子采集光信号后转变为电荷信号传送至所述计算机处理系统42，经计算机处理系统42处理为EL图像，检测人员根据图像判断所述电池片是否存在缺陷。
当所述电池片确实存在潜在缺陷时，常温下测试所得的EL图像则不同于非常温下测试所得的EL图像不同。如此操作，使得同时一待测光伏组件2能够在不同的温度下进行检测，从而结合不同温度下的EL图像，判断电池片是否存在潜陷，最终提高对待测光伏组件2的检测精度及准确度。
本实用新型光伏组件EL测试装置100将内部温度可调的收容箱5与 EL测试仪2配合，更精确的检测放置于所述收容箱5内的待测光伏组件2 是否存在潜在缺陷，从而提高了光伏组件的可靠性，控制光伏组件产品质量、提高组件成品率、避免生产过程中的浪费。
另外，以上实施例仅用于说明本实用新型而并非限制本实用新型所描述的技术方案，对本说明书的理解应该以所属技术领域的技术人员为基础，尽管本说明书参照上述的实施例对本实用新型已进行了详细的说明，但是，本领域的普通技术人员应当理解，所属技术领域的技术人员仍然可以对本实用新型进行修改或者等同替换，而一切不脱离本实用新型的精神和范围的技术方案及其改进，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围内。
Claims (8)
1.一种光伏组件EL测试装置，包括暗室、放置于所述暗室内用以向待测光伏组件供电的电源以及EL测试仪，其特征在于：所述光伏组件EL测试设备还包括设于所述暗室用以放置所述待测光伏组件的收容箱，所述收容箱内部温度可调，且所述收容箱设有可将所述待测光伏组件暴露至所述EL测试仪的透光部。
2.如权利要求1所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述收容箱内温度范围为-60°～105°。
3.如权利要求1所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述EL测试仪包括EL摄像机及与所述EL摄像机信号连接的计算机处理系统。
4.如权利要求3所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述透光部为可拆卸设置的透光窗。
5.如权利要求1所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述电源为直流电源，电压为300V，电流的范围为0～15A。
6.如权利要求1所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述暗室为不透光箱体。
7.如权利要求1所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述暗室为遮罩有不透光幕布的箱体。
8.如权利要求1所述的光伏组件EL测试装置，其特征在于：所述收容箱内温度值大于常温或者小于常温时，所述EL测试仪可获得待测光伏组件的EL图像不同于常温时所述待测光伏组件的EL图像。
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