CN207832130U - 一种瓶胚校准块结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种瓶胚校准块结构,用于校准瓶胚检测仪,包括校准块,所述校准块下方连接有卡胚头,所述校准块的下端形成圆筒结构,并在所述校准块的外壁形成测量基准位,校准时,所述圆筒结构套设于所述卡胚头上,对瓶胚检测仪进行校准。本实用新型结构简单、实用。
Description
技术领域
本实用新型涉及瓶胚测量技术领域,尤其涉及一种瓶胚校准块结构。
背景技术
瓶胚尺寸检测一般采用瓶胚检测仪,测量瓶身和瓶口尺寸,提高检测效率,目前多数采用CCD数字成像技术,自动对瓶胚进行尺寸测量;但是,检测仪在使用过程中需要校准,因此,极需一种用于校准瓶胚检测仪的结构。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是针对现有技术的缺陷,提供一种结构简单且实用的瓶胚校准块结构。
为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:
一种瓶胚校准块结构,用于校准瓶胚检测仪,包括校准块,所述校准块下方连接有卡胚头,所述校准块的下端形成圆筒结构,并在所述校准块的外壁形成测量基准位,校准时,所述圆筒结构套设于所述卡胚头上,对瓶胚检测仪进行校准。
进一步地,所述校准块为圆柱状套件,其为金属材料。
进一步地,所述校准块设有高度测量位,所述高度测量位设于校准块的上端,测量时,将卡胚头插入校准块后,旋转任意位置进行摄像,测量直径测量位的值,其中,可测量1-6个位置的直径值。
进一步地,所述校准块设有直径测量位,所述直径测量位设于所述测量基准位和所述高度测量位之间,测量时,将卡胚头插入校准块后,旋转任意位置进行摄像,测量高度测量位到测量基准位的值,其中,可测量1-6个位置的高度值。
进一步地,所述直径测量位向所述校准块的表面凸起。
进一步地,所述瓶胚校准块在360°圆周上,其高度测量位和直径测量位分别测量的高度值和直径值均误差范围内,测量允许的误差范围为0-20微米,其精度高于检测仪的精度。
本实用新型的有益效果:其结构简单、实用性强,精准度高。
附图说明
图1为本实用新型的瓶胚校准块的结构示意图;
图2为本实用新型的瓶胚校准块和卡胚头组合的平面结构示意图。
图中,校准块10,高度测量位101,直径测量位102,测量基准位103,卡胚头20。
具体实施方式
本实施例中,参照图1-图2,一种瓶胚校准块10结构,用于校准瓶胚检测仪,包括校准块10,所述校准块10下方连接有卡胚头20,所述校准块10的下端形成圆筒结构,并在所述校准块10的外壁形成测量基准位103,校准时,所述圆筒结构套设于所述卡胚头20上,对瓶胚检测仪进行校准;其中,校准块10为圆柱状套件,其为金属材料。
校准块10设有高度测量位101,所述高度测量位101设于校准块10的上端,测量时,将卡胚头20插入校准块10后,旋转任意位置进行摄像,测量6个位置的直径测量位102的值;校准块10还设有直径测量位102,所述直径测量位102设于所述测量基准位103和所述高度测量位101之间,且直径测量位102向所述校准块10的表面凸起,测量时,将卡胚头20插入校准块10后,旋转任意位置进行摄像,测量6个位置的高度测量位101到测量基准位103的值。
瓶胚校准块10在360°圆周上,其高度测量位101和直径测量位102分别测量的高度值和直径值均误差范围内,测量允许的误差范围为0-20微米,其精度高于检测仪的精度。
校准时,校准块10置于卡胚头20上方,对瓶胚检测仪进行校准,并通过CCD镜头相机拍摄,旋转校准块10,计算任意位置的高度值和直径值,若误差在瓶胚检测仪的精准范围内,表明瓶胚检测仪符合使用条件,若误差超出瓶胚检测仪的精准范围内,则瓶胚检测仪不符合使用条件,停止瓶胚检测仪使用,维修后再进行校准。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的一种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (5)
1.一种瓶胚校准块结构,用于校准瓶胚检测仪,其特征在于:包括校准块,所述校准块下方连接有卡胚头,所述校准块的下端形成圆筒结构,并在所述校准块的外壁形成测量基准位,校准时,所述圆筒结构套设于所述卡胚头上,对瓶胚检测仪进行校准。
2.根据权利要求1所述的一种瓶胚校准块结构,其特征在于:所述校准块设有高度测量位,所述高度测量位设于校准块的上端,测量时,将卡胚头插入校准块后,旋转任意位置进行摄像,测量直径测量位的值。
3.根据权利要求2所述的一种瓶胚校准块结构,其特征在于:所述校准块设有直径测量位,所述直径测量位设于所述测量基准位和所述高度测量位之间,测量时,将卡胚头插入校准块后,旋转任意位置进行摄像,测量高度测量位到测量基准位的值。
4.根据权利要求3所述的一种瓶胚校准块结构,其特征在于:所述直径测量位向所述校准块的表面凸起。
5.根据权利要求3所述的一种瓶胚校准块结构,其特征在于:所述测量允许的误差范围为0-20微米。
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CN201820303915.3U CN207832130U (zh) | 2018-03-06 | 2018-03-06 | 一种瓶胚校准块结构 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2018
- 2018-03-06 CN CN201820303915.3U patent/CN207832130U/zh active Active
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