CN207763687U - 一种轴承套圈综合测量仪表台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种轴承套圈综合测量仪表台，包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面用于固定轴承套圈；所述的上端面翘曲测量机构可上下移动的第一仪表，用于测量上端面的翘曲度；所述的下端面翘曲测量机构包括可上下移动的第二仪表，用于测量下端面的翘曲度；所述的外圈平整度测量机构包括可左右移动的第三仪表，用于测量外圈的平整度。本实用新型能一次性测量轴承套圈上下两端端面翘曲度以及外圈平整度的测量仪表台，减轻了检测工人的劳动量，增加了检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及轴承零部件加工设备技术领域，尤其涉及一种轴承套圈综合测量仪表台。
背景技术
轴承套圈在加工过程中，特别是大型的薄壁轴承套圈具有直径大、宽度小及壁薄的特点，在淬火后极易产生翘曲超差，磨削端面时若磁力过大也会造成翘曲超差，轴承套圈的外圈在磨削过程中也会出现表面不平整的问题。端面和外圈磨削是套圈磨加工中的必不可少的一道工序，端面是后续各工序的工艺基准面，套圈的外圈则是后续安装轴承的基准面，端面翘曲过大将会影响后续工序的尺寸精度，外圈平整度不足则会影响轴承的使用。因此，在磨削该类型轴承套圈端面和内外圈时，必须严格控制端面的翘曲度以及外圈的平整度。
目前检测轴承套圈端面翘曲度和套圈外圈的平整度是在两个检测设备中完成的，并且对于轴承套圈端面的测量需要分两次进行，分别测量轴承套圈上下端面的翘曲度，即总共要进行三次测量，三次测量之间要对轴承套圈进行翻转或移动，增加了检测工人的劳动量，且严重影响检测的效率。
实用新型内容
本实用新型的目的就是针对现有技术中存在的不足之处，提供一种能一次性测量轴承套圈上下两端端面翘曲度以及外圈平整度的测量仪表台。
为了达到目的，本实用新型提供的技术方案为：
本实用新型涉及一种轴承套圈综合测量仪表台，包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面包括底板，底板上设有圆柱和圆环，圆柱和圆环之间的底板设有镂空部分，镂空部分设有条板，条板的两端分别连接在圆柱和圆环的底面，圆环上设有若干调节螺杆和一个挟持杆；所述的上端面翘曲测量机构包括第一立柱，第一立柱的下端与底板的上表面固定连接，第一立柱外圈套设有第一滑动块，第一滑动块上连接有第一悬臂，第一悬臂上设有第一仪表；所述的下端面翘曲测量机构包括第二立柱，第二立柱的上端与底板的下表面固定连接，第二立柱外圈套设有第二滑动块，第二滑动块上连接有第二悬臂，第二悬臂上设有第二仪表；所述的外圈平整度测量机构包括水平滑动块，水平滑动块的上表面设有仪表安装座，仪表安装座上设有第三仪表，第三仪表的顶针穿过圆环。
优选地，所述的挟持杆的两端均设有扩大端，挟持杆位于圆环内测部分的外圈套设有弹簧。
优选地，所述的第一滑动块通过第一锁紧螺钉固定在第一立柱上，所述的第二滑动块通过第二锁紧螺钉固定在第二立柱上。
优选地，所述的底板的上表面对应水平滑动块的位置设有滑动槽，水平滑动块设在滑动凹槽上方，水平滑动块通过第三锁紧螺钉与底板固定连接。
采用本实用新型提供的技术方案，与现有技术相比，具有如下有益效果：
采用本实用新型涉及的轴承套圈综合测量仪表台能一次性测量轴承套圈上下两端端面翘曲度以及外圈平整度的测量仪表台，免去了上下端面翘曲度测量间翻转轴承套圈以及端面翘曲度测量和外圈平整度测量之间搬运轴承套圈的工序，进而减轻了检测工人的劳动量，增加了检测效率。
附图说明
图1是本实用新型涉及的轴承套圈综合测量仪表台的俯视图；
图2是附图1所示的轴承套圈综合测量仪表台的A-A剖面图；
图3是附图1所示的轴承套圈综合测量仪表台的B-B剖面图；
图4是本实用新型涉及的轴承套圈综合测量仪表台的检测原理图。
标注说明：底板1，圆柱2，圆环3，镂空部分11，条板12，滑动槽13，调节螺杆31，挟持杆32，弹簧33，第一立柱41，第一滑动块42，第一悬臂43，第一仪表44，第一锁紧螺钉45，第二立柱51，第二滑动块52，第二悬臂53，第二仪表54，第二锁紧螺钉55，水平滑动块61，仪表安装座62，第三仪表63，第三锁紧螺钉64，轴承套圈100。
具体实施方式
为进一步了解本实用新型的内容，结合实施例对本实用新型作详细描述，以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
结合附图1～3所示，本实用新型涉及一种轴承套圈综合测量仪表台，包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面包括底板1，底板1上设有圆柱2和圆环3，圆柱2和圆环3之间的底板设有镂空部分11，镂空部分11设有四条径向设置的条板12，条板12按照圆周等间距设置，条板12的两端分别连接在圆柱2和圆环3的底面，圆环上设有三个调节螺杆31和一个挟持杆32，挟持杆32和调节螺杆31按照圆周均匀布置，挟持杆32的两端均设有扩大端，挟持杆32位于圆环内测部分的外圈套设有弹簧33。所述的上端面翘曲测量机构包括第一立柱41，第一立柱41的下端与底板1的上表面固定连接，第一立柱41外圈套设有第一滑动块42，第一滑动块42可沿第一立柱41上下滑动，且最终通过第一锁紧螺钉45锁定位置，第一滑动块42上连接有第一悬臂43，第一悬臂43上设有第一仪表44，第一仪表44的顶针朝下。所述的下端面翘曲测量机构包括第二立柱51，第二立柱51的上端与底板1的下表面固定连接，第二立柱51外圈套设有第二滑动块52，第二滑动块52可沿第二立柱51上下滑动，并最终通过第二锁紧螺钉55锁定在第二立柱51上，第二滑动块52上连接有第二悬臂53，第二悬臂上设有第二仪表54，第二仪表54的顶针朝上。所述的外圈平整度测量机构包括水平滑动块61，底板1上表面对应水平滑动块61的位置设有滑动槽13，水平滑动块61沿滑动槽13水平移动，并最终通过第三锁紧螺钉64锁定位置，水平滑动块61的上表面设有仪表安装座62，仪表安装座62上设有第三仪表63，第三仪表63的顶针朝内且穿过圆环3。
结合附图4所示，根据测量的轴承套圈100的外径，调节三个调节螺杆31，使调节螺杆31的内测端到圆柱2轴心的距离为轴承套圈100的半径大小，将轴承套圈100放在圆柱2和圆环3之间的条板上，然后通过32夹住轴承套圈100，通过第一滑动块42调整第一仪表44的高度，使第一仪表44的顶针与轴承套圈100的上端面接触，通过第二滑动块52调整第二仪表54的高度，使第二仪表54的顶针与轴承套圈100的下端面接触，通过水平滑动块61调整第三仪表63的位置，使第三仪表63的顶针与轴承套圈100的外圈接触，然后手动旋转轴承套圈100，第一仪表44显示轴承套圈上端面翘曲度，第二仪表54显示轴承套圈100下端面的翘曲度，第三仪表63显示轴承套圈100外圈的平整度。
以上结合实施例对本实用新型进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
Claims (4)
1.一种轴承套圈综合测量仪表台，其特征在于：包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面包括底板，底板上设有圆柱和圆环，圆柱和圆环之间的底板设有镂空部分，镂空部分设有条板，条板的两端分别连接在圆柱和圆环的底面，圆环上设有若干调节螺杆和一个挟持杆；所述的上端面翘曲测量机构包括第一立柱，第一立柱的下端与底板的上表面固定连接，第一立柱外圈套设有第一滑动块，第一滑动块上连接有第一悬臂，第一悬臂上设有第一仪表；所述的下端面翘曲测量机构包括第二立柱，第二立柱的上端与底板的下表面固定连接，第二立柱外圈套设有第二滑动块，第二滑动块上连接有第二悬臂，第二悬臂上设有第二仪表；所述的外圈平整度测量机构包括水平滑动块，水平滑动块的上表面设有仪表安装座，仪表安装座上设有第三仪表，第三仪表的顶针穿过圆环。
2.根据权利要求1所述的轴承套圈综合测量仪表台，其特征在于：所述的挟持杆的两端均设有扩大端，挟持杆位于圆环内测部分的外圈套设有弹簧。
3.根据权利要求1所述的轴承套圈综合测量仪表台，其特征在于：所述的第一滑动块通过第一锁紧螺钉固定在第一立柱上，所述的第二滑动块通过第二锁紧螺钉固定在第二立柱上。
4.根据权利要求1所述的轴承套圈综合测量仪表台，其特征在于：所述的底板的上表面对应水平滑动块的位置设有滑动槽，水平滑动块设在滑动凹槽上方，水平滑动块通过第三锁紧螺钉与底板固定连接。
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| CN109632823A (zh) * | 2019-01-09 | 2019-04-16 | 衢州学院 | 一种轴承外观检测图像采集辅助器 |
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| CN109632823B (zh) * | 2019-01-09 | 2021-05-14 | 衢州学院 | 一种轴承外观检测图像采集辅助器 |
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