CN207717609U - 一种浸入式流体分析设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种浸入式流体分析设备,属于气体或者液体污染检测技术领域。它解决了现有的浸入式流体分析设备在水中镜片被污染难以清洗的问题。本装置包括第一腔体,第二腔体,测量池,位于测量池两侧的第一光学镜片和第二光学镜片,以及清扫装置,清扫装置包括电机,电机的动力输出端上传动连接有转轴,转轴上套接有摆臂,摆臂的端部在电机的驱动下可选择性的伸入到测量池内刮擦第一光学镜片和第二光学镜片。本实用新型具有结构简单,除污效果好的优点。
Description
技术领域
本实用新型属于气体或者液体的分析,尤其涉及一种浸入式流体分析设备。
背景技术
浸入式流体分析设备是一种检测水质成分的设备,其检测的方法为:将设备沉入到水中,待测水流入到测量池内,检测光源发出检测光,检测光穿过测量池内的水打入到光电检测模块进行检测。但是在水质污染较为严重的水域,测量池两侧的光学镜片经常被污染,导致检测结果产生误差。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题,提出了一种可以有效清除光学镜片上杂质的浸入式流体分析设备。
本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现:
一种浸入式流体分析设备,包括:
第一腔体,所述第一腔体内置有光源,所述光源用于发出检测光;
第二腔体,与所述第一腔体间隔设置,所述第二腔体内置有光电检测模块,所述光电检测模块位于检测光光路上并接收处理检测光;
测量池,所述第一腔体和第二腔体之间的间隔构成所述测量池;
第一光学镜片,位于检测光光路上,紧贴在第一腔体的一端,用于使第一腔体和测量池密封;
第二光学镜片,位于检测光光路上,紧贴在第二腔体的一端,用于使第二腔体和测量池密封;
清扫装置,用于去除吸附在第一光学镜片和第二光学镜片表面的杂质,所述清扫装置包括电机,所述电机的动力输出端上传动连接有转轴,所述转轴上套接有摆臂,所述摆臂的端部在电机的驱动下可选择性的伸入到测量池内刮擦第一光学镜片和第二光学镜片。
作为优选,所述摆臂伸入测量池的端部上设置有刮刀。
作为优选,所述摆臂上设置有卡槽,所述卡槽的槽壁上设置凹口,所述刮刀上设置有与凹口对应设置的凸起,所述刮刀插接在所述卡槽内且所述凸起容纳在所述凹口内。
作为优选,还包括密封盒,所述电机设置在密封盒内,转轴的一端伸出所述密封盒。
作为优选,所述转轴伸出密封盒的一端上设置有油封。
作为优选,所述密封盒固定设置在第一腔体上或第二腔体上。
作为优选,所述转轴带动摆臂作来回摆动动作。
作为优选,所述转轴带动摆臂作圆周摆动。
本实用新型设置了清扫装置,清扫装置包括电机和由电机控制摆动的摆臂,摆臂摆动时,摆臂的摆动路径经过测量池,摆臂的端部上设置有刮刀,摆臂摆动时,刮刀刮擦测量池两侧的光线镜片,使镜片保持洁净,能够有效保障检测结果的准确性。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构图;
图2是本实用新型的内部结构图;
图3是本实用新型中摆臂的结构图。
图中,1、第一腔体;2、第二腔体;3、密封盒;4、油封;5、第一光学镜片;6、摆臂;7、第二光学镜片;8、电机;9、光源;10、光电检测模块;11、刮刀;12、卡槽。
具体实施方式
以下是本实用新型的具体实施例并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步的描述,但本实用新型并不限于这些实施例。
如图1至图3所示,本实用新型提供了一种浸入式流体分析设备,包括间隔设置的第一腔体1和第二腔体2,位于第一腔体1 和第二腔体2之间的测量池,贴设在第一腔体1端部用于使第一腔体1和测量池密封的第一光学镜片5,贴设在第二腔体2端部用于使第二腔体2和测量池密封的第二光学镜片7,由于清除第一光学镜片5和第二光学镜片7表面杂质的清扫装置。
第一腔体1内设置有光源9,第二腔体2内设置有光电检测模块10,光源9发出的检测光依次经过第一光学镜片5、测量池、第二光学镜片7后进入第二腔体2内由第二腔体2内的光电检测装置接收处理得到测量池处的水质成分。
清扫装置包括电机8,电机8的动力输出端上传动设置有转轴,转轴上设置有摆臂6,转轴转动带动摆臂6摆动,摆臂6摆动时,摆臂6的运动路劲正好经过测量池,通过摆臂6对测量池两侧的第一光学镜片5和第二光学镜片7进行刮擦清扫。需要指出的时,摆臂6在进行摆动时,可以作圆周摆动或者来回摆动,只要摆臂6摆动的路径经过测量池即可。
具体的,摆臂6的端部设置有刮刀11,摆臂6在转轴的带动下进行摆动时,摆臂6端部的刮刀11与测量池两侧的第一光学镜片5和第二光学镜片7刮擦,刮去吸附在第一光学镜片5和第二光学镜片7表面的杂质。
在一些实施例中,刮刀11与摆臂6一体式设计。
在一些实施例中,刮刀11与摆臂6采用分体式设计。如图3 所示,摆臂6的端部设置有卡槽12,卡槽12的槽壁上设置有凹口,刮刀11卡接在卡槽12内,刮刀11具有两个刀刃,两个刀刃于摆臂6两侧凸出,在进行清扫时,摆臂6不与镜片接触,刮刀11的两个刀刃对镜片进行刮擦,从而在保证刮擦效果的同时减小了刮擦带来的阻力。刮刀11上设置有与凹口对应的凸起,刮刀 11卡接在卡槽12内时,凸起对应的容置在凹口内,从而对刮刀 11进行限位,放置刮刀11在刮擦时受力不均产生晃动或者易位。
本浸入式流体分析设备在进行检测时是整体都沉入到采样池中的,为了防止采样池内的水体与电机8接触,需要对电机8做防水处理。在本实用新型中,电机8设置在密封盒3中,密封盒 3可以设在第一腔体1上或者第二腔体2上,转轴由密封盒3的一端伸出,并且在转轴伸出密封盒3的一端上设置有油封4进行防水密封。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
Claims (8)
1.一种浸入式流体分析设备,包括:
第一腔体,所述第一腔体内置有光源,所述光源用于发出检测光;
第二腔体,与所述第一腔体间隔设置,所述第二腔体内置有光电检测模块,所述光电检测模块位于检测光光路上并接收处理检测光;
测量池,所述第一腔体和第二腔体之间的间隔构成所述测量池;
第一光学镜片,位于检测光光路上,紧贴在第一腔体的一端,用于使第一腔体和测量池密封;
第二光学镜片,位于检测光光路上,紧贴在第二腔体的一端,用于使第二腔体和测量池密封;
清扫装置,用于去除吸附在第一光学镜片和第二光学镜片表面的杂质,所述清扫装置包括电机,所述电机的动力输出端上传动连接有转轴,所述转轴上套接有摆臂,所述摆臂的端部在电机的驱动下可选择性的伸入到测量池内刮擦第一光学镜片和第二光学镜片。
2.根据权利要求1所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,所述摆臂伸入测量池的端部上设置有刮刀。
3.根据权利要求2所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,所述摆臂上设置有卡槽,所述卡槽的槽壁上设置凹口,所述刮刀上设置有与凹口对应设置的凸起,所述刮刀插接在所述卡槽内且所述凸起容纳在所述凹口内。
4.根据权利要求1所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,还包括密封盒,所述电机设置在密封盒内,转轴的一端伸出所述密封盒。
5.根据权利要求4所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,所述转轴伸出密封盒的一端上设置有油封。
6.根据权利要求4或5所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,所述密封盒固定设置在第一腔体上或第二腔体上。
7.根据权利要求1所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,所述转轴带动摆臂作来回摆动动作。
8.根据权利要求1所述的浸入式流体分析设备,其特征在于,所述转轴带动摆臂作圆周摆动。
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CN201721747757.2U Active CN207717609U (zh) | 2017-12-14 | 2017-12-14 | 一种浸入式流体分析设备 |
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- 2017-12-14 CN CN201721747757.2U patent/CN207717609U/zh active Active
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