CN207689525U - 电子产品测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开一种电子产品测试装置,用于对待测试电子产品进行电性能测试,所述电子产品测试装置包括固定组件、浮动调节组件、及用于安放测试模组的安装组件,所述安装组件通过所述浮动调节组件可浮动地安装在所述固定组件上,使所述安装组件及其上所安装的测试模组在待测试电子产品插入Z方向可溃缩复位,并在与所述Z方向相垂直的X方向和Y方向可浮动自复位。本实用新型能够微调整待测试电子产品的插入角度,以极大降低测试装置损耗,提高测试效率。

Description

电子产品测试装置
技术领域
本发明涉及电子产品的测试技术领域,尤其涉及一种适用于组装后电子产品成品测试的电子产品测试装置。
背景技术
随着产品越来越普及,各种各样的电子产品越来越多,电子产品每年的出货量非常庞大,而每个电子产品在出厂前都要做出货检验。比如HDMI(High DefinitionMultimedia Interface,高清晰度多媒体接口)接口测试,目前的测试装置装夹产品比较繁琐,拆装不方便,缺乏轻微调整测试插入点的功能,导致现阶段HDMI测试存在测试效率低,测试设备损耗大的现状。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种电子产品测试装置,旨在实现轻微调整待测试电子产品的插入角度,以极大降低测试装置损耗,提高测试效率。
为实现上述目的,本实用新型提供一种电子产品测试装置,用于对待测试电子产品进行电性能测试,其特征在于,所述电子产品测试装置包括固定组件、浮动调节组件、及用于安放测试模组的安装组件,所述安装组件通过所述浮动调节组件可浮动地安装在所述固定组件上,使所述安装组件及其上所安装的测试模组在待测试电子产品插入Z方向可溃缩复位,并在与所述Z方向相垂直的X方向和Y方向可浮动自复位。
优选地,所述浮动调节组件包括多个浮动调节单元,所述浮动调节单元包括连接杆及套设在所述连接杆外围的压缩弹簧,所述固定组件对应所述连接杆设有第一通孔,所述安装组件对应所述连接杆设有第二通孔,所述第二通孔的直径大于所述连接杆的直径以提供安装组件及其上所安装的测试模组相对于所述固定组件浮动的位移空间,所述连接杆插设于所述第一通孔和第二通孔内,且所述连接杆的两端分别设有阻挡件以防止所述连接杆脱离所述固定组件和安装组件,所述压缩弹簧位于所述固定组件和安装组件之间使所述固定组件和安装组件相间隔预定距离,以提供所述安装组件及其上所安装的测试模组相对固定组件溃缩的位移空间,所述压缩弹簧实现浮动复位和溃缩复位。
优选地,所述阻挡件为滚轴式卡扣。
优选地,所述固定组件于所述第一通孔的外围设有第一盲孔,所述安装组件于所述第二通孔的外围设有第二盲孔,所述压缩弹簧的两端分别设于所述第一盲孔和第二盲孔内。
优选地,所述浮动调节单元的数量为四个并呈矩形阵列排布。
优选地,所述安装组件包括安装座、上盖、压块及扣勾,所述安装座与所述浮动调节组件连接以将所述安装组件可浮动地安装在所述固定组件上,所述安装座上设有用于安放测试模组的安装位,所述上盖的一端与所述安装座可转动连接,所述上盖的另一端与所述扣勾可转动连接,所述压块设于所述上盖朝向所述安装位的一侧,所述扣勾用于与所述安装座卡合以通过所述压块压紧安放在所述安装位上的测试模组。
优选地,其特征在于,所述固定组件包括固定座及安装高度调节件,所述安装高度调节件固定在所述固定座上且安装高度可调节,所述浮动调节组件与所述安装高度调节件连接以将所述安装组件可浮动地安装在所述固定组件的安装高度调节件上。
优选地,所述固定座和安装高度调节件上分别设有第一固定孔和第二固定孔,并通过锁固件穿过所述第一固定孔和第二固定孔将所述固定座和安装高度调节件固定连接,所述第一固定孔和/或第二固定孔为纵长形孔以调节所述安装高度调节件在固定座上的安装高度。
优选地,所述固定座呈L形,所述安装高度调节件的上侧设有一缺口以供所述安装组件所安放的测试模组伸出。
优选地,其特征在于,所述测试模组为HDMI测试模组,用于对待测试电子产品的HDMI接口进行测试。
本实用新型的电子产品测试装置,通过设置浮动调节组件,使所述安装组件及其上所安装的测试模组在待测试电子产品插入Z方向能够可溃缩复位,并在与所述Z方向相垂直的X方向和Y方向可浮动自复位,这样,当待测试电子产品未放好时,可溃缩保护不损伤待测试电子产品的插入口;当待测试电子产品有轻微偏摆时,可浮动能够自适应插入,极大的降低了测试装置损耗,提高了测试效率。
附图说明
图1为本实用新型电子产品测试装置一实施例的结构示意图。
图2为图1所示电子产品测试装置另一状态的示意图,一并示出了待测试电子产品。
图3为图1所示电子产品测试装置的部分分解图。
图4为图3所示电子产品测试装置的进一步分解图。
图5为图4所示电子产品测试装置中固定组件的安装高度调节件由另一角度所示的结构示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
如图1至图5所示为本实用新型电子产品测试装置的一实施例。为方便进行方位说明,在图2中建立了O-XYZ直角坐标系。在本实施例中,电子产品测试装置用于对待测试电子产品5进行电性能测试(例如对待测试电子产品5的HDMI接口51进行测试),所述电子产品测试装置包括固定组件1、浮动调节组件2、及用于安放测试模组3的安装组件4,所述安装组件4通过所述浮动调节组件2可浮动地安装在所述固定组件1上,使所述安装组件4及其上所安装的测试模组3在待测试电子产品5插入Z方向可溃缩复位,并在与所述Z方向相垂直的X方向和Y方向可浮动自复位。
所述浮动调节组件2包括多个浮动调节单元21。在本实施例中,所述浮动调节单元21的数量为四个并呈矩形阵列排布,浮动调节单元21的数量并不局限如此,在其它实施例中,还可以为少于四个或多于四个,例如三个呈三角形排布,或者两个呈横向或纵向排布、六个呈矩形阵列排布,等等。所述浮动调节单元21包括连接杆211及套设在所述连接杆211外围的压缩弹簧212,所述固定组件1对应所述连接杆211设有第一通孔101,所述安装组件4对应所述连接杆211设有第二通孔401,所述第二通孔401的直径大于所述连接杆211的直径以提供安装组件4及其上所安装的测试模组3相对于所述固定组件1浮动的位移空间,所述连接杆211插设于所述第一通孔101和第二通孔401内,且所述连接杆211的两端分别设有阻挡件213以防止所述连接杆211脱离所述固定组件1和安装组件4,所述压缩弹簧212位于所述固定组件1和安装组件4之间使所述固定组件1和安装组件4相间隔预定距离,以提供所述安装组件4及其上所安装的测试模组3相对固定组件1溃缩的位移空间,所述压缩弹簧212实现浮动复位和溃缩复位。
在本实施例中,所述阻挡件213为滚轴式卡扣,这样可极大的降低阻挡件213的磨损,从而延长使用寿命。
所述固定组件1于所述第一通孔101的外围设有第一盲孔102(如图5所示),所述安装组件4于所述第二通孔401的外围设有第二盲孔402,所述压缩弹簧212的两端分别设于所述第一盲孔102和第二盲孔402内,对压缩弹簧212进行定位,使压缩弹簧212能够更好地实现浮动复位和溃缩复位。
所述安装组件4包括安装座41、上盖42、压块43及扣勾44,所述安装座41与所述浮动调节组件2连接以将所述安装组件4可浮动地安装在所述固定组件1上,即第二通孔401和第二盲孔402均设于所述安装座41上。所述安装座41上设有用于安放测试模组3的安装位403,所述上盖42的一端与所述安装座41可转动连接,所述上盖42的另一端与所述扣勾44可转动连接,所述压块43设于所述上盖42朝向所述安装位403的一侧,所述扣勾44用于与所述安装座41卡合以通过所述压块43压紧安放在所述安装位403上的测试模组3。压块43与上盖42之间设有弹簧45,使压块43能够压紧测试模组3的同时避免压坏测试模组3,能更好的保护测试模组3。
所述固定组件1包括固定座11及安装高度调节件12,所述安装高度调节件12固定在所述固定座11上且安装高度可调节,所述浮动调节组件2与所述安装高度调节件12连接以将所述安装组件4可浮动地安装在所述固定组件1的安装高度调节件12上,即第一通孔101和第一盲孔102均设于所述安装高度调节件12上。
所述固定座11和安装高度调节件12上分别设有第一固定孔111和第二固定孔121,并通过锁固件13(例如螺栓)穿过所述第一固定孔111和第二固定孔121将所述固定座11和安装高度调节件12固定连接,所述第一固定孔111和/或第二固定孔121为纵长形孔以调节所述安装高度调节件12在固定座11上的安装高度,在本实施例中,第一固定孔111为纵长形孔,在其实实施例中,还可以是第二固定孔121为纵长形孔,或者第一固定孔111和第二固定孔121均为纵长形孔。
在本实施例中,所述固定座11呈L形,所述安装高度调节件12的上侧设有一缺口122以供所述安装组件4所安放的测试模组3伸出。
在本实施例中,所述测试模组3为HDMI测试模组3,用于对待测试电子产品5的HDMI接口进行测试。在其它实施例中,测试模组3为其它类型测试模组,例如USB测试模组,以用于对对待测试电子产品5的USB接口进行测试。
本实用新型的电子产品测试装置,通过设置浮动调节组件2,使所述安装组件4及其上所安装的测试模组3在待测试电子产品5插入Z方向能够可溃缩复位,并在与所述Z方向相垂直的X方向和Y方向可浮动自复位,这样,当待测试电子产品5未放好时,可溃缩保护不损伤待测试电子产品5的插入口;当待测试电子产品5有轻微偏摆时,可浮动能够自适应插入,极大的降低了测试装置损耗,提高了测试效率。安装组件4采用卡扣结构,能够快速更换测试模组3,无需使用拆装工具。
本实用新型并不局限于以上实施方式,在上述实施方式公开的技术内容下,还可以进行各种变化。凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子产品测试装置,用于对待测试电子产品进行电性能测试,其特征在于,所述电子产品测试装置包括固定组件、浮动调节组件、及用于安放测试模组的安装组件,所述安装组件通过所述浮动调节组件可浮动地安装在所述固定组件上,使所述安装组件及其上所安装的测试模组在待测试电子产品插入Z方向可溃缩复位,并在与所述Z方向相垂直的X方向和Y方向可浮动自复位。
2.如权利要求1所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述浮动调节组件包括多个浮动调节单元,所述浮动调节单元包括连接杆及套设在所述连接杆外围的压缩弹簧,所述固定组件对应所述连接杆设有第一通孔,所述安装组件对应所述连接杆设有第二通孔,所述第二通孔的直径大于所述连接杆的直径以提供安装组件及其上所安装的测试模组相对于所述固定组件浮动的位移空间,所述连接杆插设于所述第一通孔和第二通孔内,且所述连接杆的两端分别设有阻挡件以防止所述连接杆脱离所述固定组件和安装组件,所述压缩弹簧位于所述固定组件和安装组件之间使所述固定组件和安装组件相间隔预定距离,以提供所述安装组件及其上所安装的测试模组相对固定组件溃缩的位移空间,所述压缩弹簧实现浮动复位和溃缩复位。
3.如权利要求2所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述阻挡件为滚轴式卡扣。
4.如权利要求2所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述固定组件于所述第一通孔的外围设有第一盲孔,所述安装组件于所述第二通孔的外围设有第二盲孔,所述压缩弹簧的两端分别设于所述第一盲孔和第二盲孔内。
5.如权利要求2所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述浮动调节单元的数量为四个并呈矩形阵列排布。
6.如权利要求1至5项中任意一项所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述安装组件包括安装座、上盖、压块及扣勾,所述安装座与所述浮动调节组件连接以将所述安装组件可浮动地安装在所述固定组件上,所述安装座上设有用于安放测试模组的安装位,所述上盖的一端与所述安装座可转动连接,所述上盖的另一端与所述扣勾可转动连接,所述压块设于所述上盖朝向所述安装位的一侧,所述扣勾用于与所述安装座卡合以通过所述压块压紧安放在所述安装位上的测试模组。
7.如权利要求1至5项中任意一项所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述固定组件包括固定座及安装高度调节件,所述安装高度调节件固定在所述固定座上且安装高度可调节,所述浮动调节组件与所述安装高度调节件连接以将所述安装组件可浮动地安装在所述固定组件的安装高度调节件上。
8.如权利要求7所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述固定座和安装高度调节件上分别设有第一固定孔和第二固定孔,并通过锁固件穿过所述第一固定孔和第二固定孔将所述固定座和安装高度调节件固定连接,所述第一固定孔和/或第二固定孔为纵长形孔以调节所述安装高度调节件在固定座上的安装高度。
9.如权利要求7所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述固定座呈L形,所述安装高度调节件的上侧设有一缺口以供所述安装组件所安放的测试模组伸出。
10.如权利要求1至5项中任意一项所述的电子产品测试装置,其特征在于,所述测试模组为HDMI测试模组,用于对待测试电子产品的HDMI接口进行测试。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110118939A (zh) * 2019-02-14 2019-08-13 株洲福德轨道交通研究院有限公司 Eol测试设备
TWI771949B (zh) * 2021-03-12 2022-07-21 圓剛科技股份有限公司 自動測試機治具以及自動測試機台

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110118939A (zh) * 2019-02-14 2019-08-13 株洲福德轨道交通研究院有限公司 Eol测试设备
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