CN207623498U - 一种磁特性测量架 - Google Patents

Abstract

一种磁特性测量架，包括底座、测量探头支架，所述测量探头支架安装在底座的滑轨上呈水平滑动配合；所述测量探头支架的侧面设置安放被测物体的转盘。本实用新型的优越性：（1）测量探头直接测量随转盘转到测量位置的被测物体，不需要测量平台，也不需要抬起、放下测量探头的工序，减少了劳动强度，并且提高了工作效率；（2）转盘上设置有多个被测物体的安放位，可以一次安放多个被测物体后，依次进行测量，能够有效提高工作效率；（3）根据测量需要，可以通过调节转盘的高度和水平位置来调节被测物体与测量探头的距离，能够有效提高测量精度。

Description

一种磁特性测量架

技术领域

本实用新型涉及磁特性测量设备领域，尤其是一种磁特性测量架。

背景技术

现有的磁特性测量设备（见图1），测量探头安装在能够转动的安装架上。测量被测物体时，首先转动安装架将测量探头抬起，然后将被测物体放在测量平台上，再转动安装架放下测量探头，对被测物体进行测量。因此，每测量或者更换一个被测物需要抬起、放下一次测量探头，工序繁琐、降低了工作效率；并且，测量探头的测量位置固定，影响了测量精度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种磁特性测量架，它能够解决现有技术的不足，能够简化工作程序、提高工作效率。

本实用新型的技术方案：一种磁特性测量架，包括底座、测量探头支架，所述测量探头支架安装在底座的滑轨上呈水平滑动配合；所述测量探头支架的侧面设置安放被测物体的转盘。

所述转盘中心的转动轴与驱动装置连接。

所述驱动装置采用伺服电机。

所述转盘安装在能够调节高度的转盘支架上。

所述转盘上沿圆周均匀的分布有若干被测物体安放位。

本实用新型的优越性：（1）测量探头直接测量随转盘转到测量位置的被测物体，不需要测量平台，也不需要抬起、放下测量探头的工序，减少了劳动强度，并且提高了工作效率；（2）转盘上设置有多个被测物体的安放位，可以一次安放多个被测物体后，依次进行测量，能够有效提高工作效率；（3）根据测量需要，可以通过调节转盘的高度和水平位置来调节被测物体与测量探头的距离，能够有效提高测量精度。

附图说明

图1为现有技术中磁特性测量设备的使用状态示意图。

图2为本实用新型所涉一种磁特性测量架的结构示意图。

图3为图2的左视图。

其中，1为底座，1-1为滑轨，2为测量探头支架，3为测量探头，4为被测物体，5为转盘，5-1为被测物体安放位，6为转动轴，7为伺服电机，8为转盘支架。

具体实施方式

实施例：以下结合具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图2、图3所示，本实用新型一种磁特性测量架，包括底座1、测量探头支架2，所述测量探头支架2安装在底座1的滑轨1-1上呈水平滑动配合；所述测量探头支架2的侧面设置安放被测物体4的转盘5。

所述转盘5中心的转动轴6通过伺服电机7。

所述转盘5安装在能够调节高度的转盘支架8上。

所述转盘5上沿圆周均匀的分布有若干被测物体安放位5-1。

对物体进行测量时，将测量探头3安装在测量探头支架2上，将被测物体安放在转盘5上的被测物体安放位5-1上，滑动测量探头支架2使测量探头3对准被测物体4，然后调节转盘支架8的高度，调整转盘上最下方的被测物体4与测量探头3的距离达到测量的最佳距离；一个被测物体4测量完毕后，伺服电机7驱动转盘5转动，使下一个被测物体到达测量位置进行测量。

Claims (5)

1.一种磁特性测量架，包括底座、测量探头支架，其特征在于所述测量探头支架安装在底座的滑轨上呈水平滑动配合；所述测量探头支架的侧面设置安放被测物体的转盘。

2.根据权利要求1所述一种磁特性测量架，其特征在于所述转盘中心的转动轴与驱动装置连接。

3.根据权利要求2所述一种磁特性测量架，其特征在于所述驱动装置采用伺服电机。

4.根据权利要求1所述一种磁特性测量架，其特征在于所述转盘安装在能够调节高度的转盘支架上。

5.根据权利要求1所述一种磁特性测量架，其特征在于所述转盘上沿圆周均匀的分布有若干被测物体安放位。