CN207616315U - 探针卡专用磨针机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种探针卡专用磨针机，包括,真空吸盘、探针卡、马达、丝杆、Z轴滑台、上斜块、产品夹块、平面轴承、显微镜支架、显微镜、支架，所述支架上端一侧设置显微镜支架，所述显微镜支架上设置有显微镜，所述支架一侧设置马达，所述马达输出端连接丝杆，所述丝杆啮合连接下滑块，所述下滑块上端设置平面轴承，所述平面轴承上端固定设置上斜块，所述上斜块侧面滑动连接Z轴滑台，所述Z轴滑台上端设置有真空吸盘，所述支架的中间设置圆形孔，所述真空吸盘设置在圆形孔内，所述支架的两端设置产品夹块，所述产品夹块之间设置探针卡。本磨针机能模拟探针测试动作，结构简单方便，效率高，操作方便，实用性强。

Description

探针卡专用磨针机

技术领域

本实用新型属于磨针机设备技术领域，具体涉及一种探针卡专用磨针机。

背景技术

探针卡作为电子技术中的核心技术，在我国电子技术中发挥的及其重要的作用。所以及加工设备也是极为重要的。国内生产探针卡的磨针机大多为单一功能,不能模拟探针测试动作。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种探针卡专用磨针机，以解决上述背景技术中提出的磨针机大多为单一功能,不能模拟探针测试动作的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种探针卡专用磨针机，包括,真空吸盘、探针卡、马达、丝杆、Z轴滑台、上斜块、产品夹块、平面轴承、显微镜支架、显微镜、支架，所述支架上端一侧设置显微镜支架，所述显微镜支架上设置有显微镜，所述支架一侧设置马达，所述马达输出端连接丝杆，所述丝杆啮合连接下滑块，所述下滑块上端设置平面轴承，所述平面轴承上端固定设置上斜块，所述上斜块侧面滑动连接Z轴滑台，所述Z轴滑台上端设置有真空吸盘，所述支架的中间设置圆形孔，所述真空吸盘设置在圆形孔内，所述支架的两端设置产品夹块，所述产品夹块之间设置探针卡。

优选的，所述马达和丝杆之间通过联轴器连接。

优选的，所述上斜块为直角梯型形状。

优选的，所述支架包括第一底面和第二底面，所述第一底面设置在第二底面的上端，且所述第一底面和第二底面之间通过四个支撑杆固定连接。

本实用新型的技术效果和优点：本设备的磨针功能是将1微米砂纸贴在真空吸盘表面,在将探针卡针尖朝下固定在产品夹块之上,通过PLC控制马达带动丝杆旋转推动下滑块和平面轴承向前运动将上斜块以Z轴滑台垂直向上运动，使真空吸盘向上运动，待真空吸盘上的砂纸慢慢接触到探针卡的针尖，探针卡在砂纸针尖上进行摩擦实现对探针卡针尖的研磨。本磨针机能模拟探针测试动作，结构简单方便，效率高，操作方便，实用性强。

附图说明

图1为本实用新型的探针卡专用磨针机的立体图；

图2为本实用新型的探针卡专用磨针机的侧视图；

图3为本实用新型的探针卡专用磨针机的主视图；

图4为本实用新型的探针卡专用磨针机的立体图。

图中：1、显微镜；2、显微镜支架；3、支架；301、第一底面；302、第二底面；303、支撑杆；4、产品夹块；5、探针卡；6、真空吸盘；7、圆形孔；8、马达；9、联轴器；10、丝杆；11、Z轴滑台；12、下滑块；13、平面轴承；14、上斜块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供的一种技术方案：一种探针卡专用磨针机，包括,真空吸盘6、探针卡5、马达8、丝杆10、Z轴滑台11、上斜块14、产品夹块4、平面轴承13、显微镜支架2、显微镜1、支架3，所述支架3上端一侧设置显微镜支架2，所述显微镜支架2上设置有显微镜1，所述支架3一侧设置马达8，所述马达8输出端连接丝杆10，所述丝杆10啮合连接下滑块12，所述下滑块12上端设置平面轴承13，所述平面轴承13上端固定设置上斜块14，所述上斜块14侧面滑动连接Z轴滑台11，所述Z轴滑台11上端设置有真空吸盘6，所述支架3的中间设置圆形孔7，所述真空吸盘6设置在圆形孔7内，所述支架3的两端设置产品夹块4，所述产品夹块4之间设置探针卡5。所述马达8和丝杆10之间通过联轴器9连接。所述上斜块14为直角梯型形状。所述支架3包括第一底面301和第二底面302，所述第一底面301设置在第二底面302的上端，且所述第一底面301和第二底面302之间通过四个支撑杆303固定连接。

实施例1：本设备的磨针功能是将1微米砂纸贴在真空吸盘6表面,在将探针卡5针尖朝下固定在产品夹块4之上,通过马达8带动丝杆10旋转推动下滑块12和平面轴承13向前运动将上斜块14以Z轴滑台11垂直向上运动，使真空吸盘6向上运动，待真空吸盘6上的砂纸慢慢接触到探针卡5的针尖，探针卡5在砂纸针尖上进行摩擦实现对探针卡5针尖的研磨。

实施例2：探针损耗试验时将砂纸贴在真空吸盘6上，将探针卡5针尖朝下固定在产品夹块4上，真空吸盘6慢慢上升使砂纸跟探针卡5接近，等砂纸完全跟探针卡5针尖接触后再上升50微米距离，使探针卡5针尖紧密的压在砂纸之上，并记下当前位置；真空吸盘6下降后再回到当前位置，使探针卡5针尖重复和砂纸接触，并记下次数，自动循环100000次后量测探针卡5针尖比对前后数据差异计算出探针接触寿命。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种探针卡专用磨针机，包括,真空吸盘(6)、探针卡(5)、马达(8)、丝杆(10)、Z轴滑台(11)、上斜块(14)、产品夹块(4)、平面轴承(13)、显微镜支架(2)、显微镜(1)、支架(3)，其特征在于：所述支架(3)上端一侧设置显微镜支架(2)，所述显微镜支架(2)上设置有显微镜(1)，所述支架(3)一侧设置马达(8)，所述马达(8)输出端连接丝杆(10)，所述丝杆(10)啮合连接下滑块(12)，所述下滑块(12)上端设置平面轴承(13)，所述平面轴承(13)上端固定设置上斜块(14)，所述上斜块(14)侧面滑动连接Z轴滑台(11)，所述Z轴滑台(11)上端设置有真空吸盘(6)，所述支架(3)的中间设置圆形孔(7)，所述真空吸盘(6)设置在圆形孔(7)内，所述支架(3)的两端设置产品夹块(4)，所述产品夹块(4)之间设置探针卡(5)。

2.根据权利要求1所述的探针卡专用磨针机，其特征在于，所述马达(8)和丝杆(10)之间通过联轴器(9)连接。

3.根据权利要求1所述的探针卡专用磨针机，其特征在于，所述上斜块(14)为直角梯型形状。

4.根据权利要求1所述的探针卡专用磨针机，其特征在于，所述支架(3)包括第一底面(301)和第二底面(302)，所述第一底面(301)设置在第二底面(302)的上端，且所述第一底面(301)和第二底面(302)之间通过四个支撑杆(303)固定连接。