CN207488990U - 一种pcie卡的测试防护治具 - Google Patents

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王世鹏
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Abstract

本实用新型涉及一种PCIE卡的测试防护治具,属于计算机测试技术领域,包括本体,所述本体的前端设置有插槽连接器,插槽连接器的连接器pin脚与本体上的焊盘连接,本体的后端设置有金手指,焊盘通过连接线与金手指连接,所述金手指包括可传输PCIE信号的第一金手指和提供PCIE卡电源通信的第二金手指,所述第二金手指与焊盘之间的连接线上设置有保险丝。本实用新型具有可保护PCIE卡金手指、防氧化,并可避免PCIE卡反复插拔磨损及短路风险的优点。

Description

一种PCIE卡的测试防护治具
技术领域
本实用新型涉及一种PCIE卡的测试防护治具,属于计算机测试技术领域。
背景技术
在日常的实验室测试或者工厂端测试中,由于要对不同的项目和不同的主板进行全方面的功能测试验证,因此需要对PCIE卡进行反复的插拔,但是,插拔次数过多会导致PCIE卡上的金手指磨损,并且,时间久了后还会产生接触不良甚至损坏的情况;此外,现有的功能测试验证中在进行PCIE卡的插拔时需要小心处理,否则会出现操作不当引起的板卡短路问题。由此造成的是,不但影响测试的正常进行,还会使PCIE卡这种贵重物品报废,造成很大的经济损失。为此,如何实现反复插拔测试中PCIE卡的可持续安全使用成为亟需解决的问题。
发明内容
为解决以上技术上的不足,本实用新型提供了一种PCIE卡的测试防护治具,可保护PCIE卡金手指、防氧化,并可避免PCIE卡反复插拔磨损及短路风险。
本实用新型的技术方案如下:一种PCIE卡的测试防护治具,包括本体,所述本体的前端设置有插槽连接器,插槽连接器的连接器pin脚与本体上的焊盘连接,本体的后端设置有金手指,焊盘通过连接线与金手指连接,所述金手指包括可传输PCIE信号的第一金手指和提供PCIE卡电源通信的第二金手指,所述第二金手指与焊盘之间的连接线上设置有保险丝。
本实用新型的技术方案还包括:所述插槽连接器的右侧设置有定位凸起,所述定位凸起的位置与第一金手指和第二金手指之间的空隙相对应。
本实用新型的技术方案还包括:所述插槽连接器的左侧设置有开口。
本实用新型的技术方案还包括:所述插槽连接器的轴线与本体的轴线平行,连接器pin脚平行焊接在焊盘上。
本实用新型的技术方案还包括:所述插槽连接器的轴线与本体的轴线垂直,连接器pin脚穿过本体上的通孔后垂直焊接在焊盘上。
本实用新型的有益效果是:通过本实用新型的测试防护治具,测试过程中只需将PCIE卡插入插槽连接器中,之后的插入或拔出只需插拔治具的金手指即可,避免了PCIE卡金手指反复插拔造成的磨损,可保护PCIE卡的金手指、防止其氧化,并且,将本治具的金手指设计成可传输PCIE信号的第一金手指和提供PCIE卡电源通信的第二金手指,并在第二金手指与焊盘之间的连接线上设置了保险丝,由此可防止PCIE卡的电源短路,起到保护作用,从而可节省PCIE卡维修及报废费用,实现PCIE卡的可持续安全使用。
附图说明
图1是本实用新型的示意图。
1、本体,2、插槽连接器,3、第一金手指,4、第二金手指,5、保险丝,6、定位凸起,7、连接器pin脚,8、焊盘,9、连接线。
具体实施方式
以下结合附图,通过实施例对本实用新型作进一步说明。
本实用新型的一种PCIE卡的测试防护治具,主要有以下特点:一、保护PCIE卡金手指,防氧化;二、避免PCIE卡反复插拔磨损及短路风险;三、使用方便,治具可以反复更换;四、节省开支,可提高经济效益。
如图1所示,本新型的治具包括有本体1、位于本体1前端的插槽连接器2和位于本体1后端的金手指。其中,金手指包括第一金手指3和第二金手指4,第二金手指4为PCIE卡的电源通信部分,其上走12V,3.3V和3.3V_AUX三种电;第一金手指3传输PCIE卡的PCIE信号,可以是X1,X2,X4,也可以是X8,X16。
金手指通过连接线9与位于本体1上的焊盘8连接,焊盘8再与插槽连接器2的连接器pin脚7连接,以实现信号的传输。为了实现PCIE卡的安全使用,防止PCIE卡的三个电源短路,在第二金手指4与焊盘8之间的连接线9上分别设置了三个保险丝5。
插槽连接器2为了能够支持多种PCIE卡的测试,确保测试的灵活性,在其左侧设置了开口,此外,为了能够PCIE卡与治具插接可靠准确,在其右侧设置了定位凸起6,并且使定位凸起6的纵向位置与第一金手指3和第二金手指4之间的空隙相对应。
本新型的治具可以用于竖插式PCIE卡,如图1所示,此时插槽连接器2的轴线与本体1的轴线平行,且连接器pin脚7与焊盘8平行并焊接固定;本新型的治具也可以用于横插式PCIE卡,此时插槽连接器2的轴线与本体1的轴线垂直,例如可选用DIP(双列直插式封装)形式的连接器,且连接器pin脚7穿过本体1上的通孔与焊盘8垂直并焊接固定,即穿孔焊接。
本新型治具的使用方式为:
首先,将标准PCIE卡插入到本治具的插槽连接器2中;
其次,将本治具的金手指部分插入到主板上的标准PCIE卡插槽中上电进行测试;
最后,插入和拔出只需要插拔治具的金手指部分即可,实现了保护PCIE卡金手指的目的,而且能有效防止PCIE卡的电源短路。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例,并非对本实用新型做任何形式上的限制,凡在本实用新型的精神和原则之内所做任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种PCIE卡的测试防护治具,包括本体(1),其特征在于:所述本体(1)的前端设置有插槽连接器(2),插槽连接器(2)的连接器pin脚(7)与本体(1)上的焊盘(8)连接,本体(1)的后端设置有金手指,焊盘(8)通过连接线(9)与金手指连接,所述金手指包括可传输PCIE信号的第一金手指(3)和提供PCIE卡电源通信的第二金手指(4),所述第二金手指(4)与焊盘(8)之间的连接线(9)上设置有保险丝(5)。
2.如权利要求1所述的一种PCIE卡的测试防护治具,其特征在于:所述插槽连接器(2)的右侧设置有定位凸起(6),所述定位凸起(6)的位置与第一金手指(3)和第二金手指(4)之间的空隙相对应。
3.如权利要求2所述的一种PCIE卡的测试防护治具,其特征在于:所述插槽连接器(2)的左侧设置有开口。
4.如权利要求1至3任一所述的一种PCIE卡的测试防护治具,其特征在于:所述插槽连接器(2)的轴线与本体(1)的轴线平行,连接器pin脚(7)平行焊接在焊盘(8)上。
5.如权利要求1至3任一所述的一种PCIE卡的测试防护治具,其特征在于:所述插槽连接器(2)的轴线与本体(1)的轴线垂直,连接器pin脚(7)穿过本体(1)上的通孔后垂直焊接在焊盘(8)上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108663548A (zh) * 2018-04-11 2018-10-16 郑州云海信息技术有限公司 一种pcie卡测试防护治具,测试架构及测试方法

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