CN207488447U - 一种导轨式pcb板卡损耗测试治具 - Google Patents

一种导轨式pcb板卡损耗测试治具 Download PDF

Info

Publication number
CN207488447U
CN207488447U CN201721524916.2U CN201721524916U CN207488447U CN 207488447 U CN207488447 U CN 207488447U CN 201721524916 U CN201721524916 U CN 201721524916U CN 207488447 U CN207488447 U CN 207488447U
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcb board
probe
sliding rail
board card
support abutment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201721524916.2U
Other languages
English (en)
Inventor
滕春贺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd filed Critical Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority to CN201721524916.2U priority Critical patent/CN207488447U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN207488447U publication Critical patent/CN207488447U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本实用新型提供了一种导轨式PCB板卡损耗测试治具的技术方案,包括支座,所述支座上固定有左滑轨和右滑轨,所述左滑轨上滑动设置有左滑动探头,所述右滑轨上滑动设置有右滑动探头,所述左滑动探头的下部和右滑动探头的下部分别设置有损耗测试探针,所述损耗测试探针的间距与所述PCB板卡上的差分线测试点的间距相匹配,所述左滑动探头的上部和右滑动探头的上部分别设置有用于连接PNA的测试线,所述支座上还设置有用于对待检测的PCB板卡进行固定的顶紧机构,解决了现有技术中人工双手按紧测试探头所导致的测试结果异常且测试效率低的技术问题,测试效率快,精度高。

Description

一种导轨式PCB板卡损耗测试治具
技术领域
本实用新型涉及的是一种信号测试技术领域,尤其是一种导轨式PCB板卡损耗测试治具。
背景技术
损耗:损耗是指电信号传输损耗,是指在高频率电信号在PCB电路板走线里传输过程中因传输介质等因素引起的能力损失。
PNA:是微波网络分析仪,网络分析仪是测量网络参数的一种新型仪器,可直接测量有源或无源、可逆或不可逆的双口和单口网络的复数散射参数,并以扫频方式给出各散射参数的幅度、相位频率特性,是测量信号损耗参数的主流设备。
差分线:就是驱动端发送两个等值、反相的信号,接收端通过比较这两个电压的差值来判断逻辑状态“0”还是“1”。而承载差分信号的那一对走线就称为差分走线。
目前,PCB板卡内的信号线传输速率越来越高,所以板卡信号线的损耗参数越来越重要,PCB板卡内高速信号线的损耗测试,而损耗测试的探头大部分都是手持式测试探头。手持式测试探头需要人工对准差分线测试pad并且用手压紧,所以每组差分线需要人工双手分别按紧两个测试探头才能完成损耗测试。用手持式测试探头进行测试时,测试人员测试探针的对准度及按压力度会导致测试结果异常,并且每组差分线都要人工对准按压测试一次,测试效率极低。
手持式测试探头中,每个测试探头有两个PNA测试线接口和测试探针组成,差分损耗测试需要两个测试探头。
测试人员使用手持式测试探头测试图:一组损耗差分线需要两个损耗测试探头,每个测试探头一端需要连接两条PNA测试线,将两个手持式测试探头的探针分别对准损耗测试板的测试点上,并用手按紧进行调试测试。这是现有技术所存在的不足之处。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题,就是针对现有技术所存在的不足,而提供一种导轨式PCB板卡损耗测试治具的技术方案,解决了现有技术中人工双手按紧测试探头所导致的测试结果异常且测试效率低的技术问题。
本方案是通过如下技术措施来实现的:一种导轨式PCB板卡损耗测试治具,包括支座,所述支座上固定有左滑轨和右滑轨,所述左滑轨上滑动设置有左滑动探头,所述右滑轨上滑动设置有右滑动探头,所述左滑动探头的下部和右滑动探头的下部分别设置有损耗测试探针,所述损耗测试探针的间距与所述PCB板卡上的差分线测试点的间距相匹配,所述左滑动探头的上部和右滑动探头的上部分别设置有用于连接PNA的测试线,所述支座上还设置有用于对待检测的PCB板卡进行固定的顶紧机构。
本实用新型的进一步改进还有,所述支座有一对左支座和一对右支座,所述左支座为一端开口的框型结构,所述一对左支座的开口相对设置,所述右支座为一端开口的框型结构,所述一对右支座的开口相对设置。
本实用新型的进一步改进还有,所述左滑轨固定在所述一对左支座之间,所述右滑轨固定在所述一对右支座之间。
本实用新型的进一步改进还有,所述顶紧机构为顶紧螺栓,所述顶紧螺栓穿过所述左支座和右支座的框型底边并且顶紧在所述PCB板卡上。
本实用新型的进一步改进还有,所述左滑轨的两端和右滑轨的两端分别设置有定位机构。
本实用新型的进一步改进还有,所述定位机构包括定位板和设置在定位板上的第一定位孔,所述定位板固定在所述左滑轨的两端和右滑轨的两端,所述第一定位孔的位置与所述PCB板卡上的第二定位孔的位置相匹配。
本方案的有益效果可根据对上述方案的叙述得知,本实用新型采用了滑动探头和滑轨,滑动探头可在滑轨上滑动,在滑动探头的下部设置损耗探测针,在滑动探头的上部设置用于连接PNA的测试线。通过移动滑动探头的位置并保证探测损耗针与PCB板卡上的差分测试盘紧密接触,实现了对PCB板卡上的多组损耗差分线同时进行测量,大大提高了损耗测试效率,同时,本实用新型采用专门的顶紧机构来对待测的PCB板卡施加压紧力,进一步的保证了探针与差分测试盘的紧密接触,提高了损耗测试精度。
由此可见,本实用新型与现有技术相比,具有实质性特点和进步,其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
图1为本实用新型具体实施方式的结构示意图。
图2为图1的A-A剖视结构示意图。
图3为图1的侧视结构示意图。
图4为本实用新型中PCB板卡的结构示意图。
图中,1为定位板,2为左支座,3为左滑动探头,4为PCB板卡,5为右滑动探头,6为右支座,7为定位销,8为第一定位孔,9为左滑轨,10为右滑轨,11为测试线,12为顶紧螺栓,13为损耗测试探针,14为第二定位孔。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点,下面通过一个具体实施方式,并结合其附图,对本方案进行阐述。
通过附图可以看出,一种导轨式PCB板卡损耗测试治具,包括支座,所述支座上固定有左滑轨9和右滑轨10,所述左滑轨9上滑动设置有左滑动探头3,所述右滑轨10上滑动设置有右滑动探头5,所述左滑动探头3的下部和右滑动探头5的下部分别设置有损耗测试探针13,所述损耗测试探针13的间距与所述PCB板卡4上的差分线测试点的间距相匹配,所述左滑动探头3的上部和右滑动探头5的上部分别设置有用于连接PNA的测试线11,所述支座上还设置有用于对待检测的PCB板卡4进行固定的顶紧机构。
所述支座有一对左支座2和一对右支座6,所述左支座2为一端开口的框型结构,所述一对左支座2的开口相对设置,所述右支座6为一端开口的框型结构,所述一对右支座6的开口相对设置。左支座2和右支座6不仅起到对左滑轨9和右滑轨10进行固定的作用,而且作为压紧PCB卡板的压紧平台,可用于辅助调节PCB卡板与损耗探测针之间的距离,使二者接触更加紧密,检测结果更加精确。
所述左滑轨9固定在所述一对左支座2之间,所述右滑轨10固定在所述一对右支座6之间,具体的,左滑轨9与所述左支座2焊接固定,右滑轨10与所述右支座6焊接固定。
所述顶紧机构为顶紧螺栓12,所述顶紧螺栓12穿过所述左支座2和右支座6的框型底边并且顶紧在所述PCB板卡4上。通过旋转顶紧螺栓12,可对待测的PCB板卡4施加压紧力,进一步的保证了损耗测试探针13与差分测试盘的紧密接触。
所述左滑轨9的两端和右滑轨10的两端分别设置有定位机构。所述定位机构包括定位板1和设置在定位板1上的第一定位孔8,所述定位板1固定在所述左滑轨9的两端和右滑轨10的两端,所述第一定位孔8的位置与所述PCB板卡4上的第二定位孔14的位置相匹配。该第一定位孔8和第二定位孔14实现了对测试治具的定位。
本实用新型的工作过程为:将待检测的PCB板卡4的左端置于左支座2内、左滑轨9的下部,将待检测的PCB板卡4的右端置于右支座6内、右滑轨10的下部,调整PCB板卡4的位置,使所述PCB板卡4上的第二定位孔14的位置与所述定位板1上的第一定位孔8的位置相对应,然后在第一定位孔8和第二定位孔14之间穿入定位销7,保证了PCB板卡4相对于滑轨在水平方向上位置的固定;然后通过旋紧顶紧螺栓12,对待测的PCB板卡4施加压紧力,使损耗测试探针13与PCB板卡4紧密接触;最后,将左滑动探头3的测试线11和右滑动探头5的测试线11分别与PNA相连,滑动左滑动探头3和右滑动探头5,当滑动探头滑动到损耗测试探针13的上方时就会与该组损耗测试探针13相连,即可进行损耗测试。
上述虽然结合附图对实用新型的具体实施方式进行了描述,但并非对本实用新型保护范围的限制,所属领域技术人员应该明白,在本实用新型的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。

Claims (6)

1.一种导轨式PCB板卡损耗测试治具,其特征是:包括支座,所述支座上固定有左滑轨(9)和右滑轨(10),所述左滑轨(9)上滑动设置有左滑动探头(3),所述右滑轨(10)上滑动设置有右滑动探头(5),所述左滑动探头(3)的下部和右滑动探头(5)的下部分别设置有损耗测试探针(13),所述损耗测试探针(13)的间距与所述PCB板卡(4)上的差分线测试点的间距相匹配,所述左滑动探头(3)的上部和右滑动探头(5)的上部分别设置有用于连接PNA的测试线(11),所述支座上还设置有用于对待检测的PCB板卡(4)进行固定的顶紧机构。
2.根据权利要求1所述的导轨式PCB板卡损耗测试治具,其特征是:所述支座有一对左支座(2)和一对右支座(6),所述左支座(2)为一端开口的框型结构,所述一对左支座(2)的开口相对设置,所述右支座(6)为一端开口的框型结构,所述一对右支座(6)的开口相对设置。
3.根据权利要求2所述的导轨式PCB板卡损耗测试治具,其特征是:所述左滑轨(9)固定在所述一对左支座(2)之间,所述右滑轨(10)固定在所述一对右支座(6)之间。
4.根据权利要求2或3所述的导轨式PCB板卡损耗测试治具,其特征是:所述顶紧机构为顶紧螺栓(12),所述顶紧螺栓(12)穿过所述左支座(2)和右支座(6)的框型底边并且顶紧在所述PCB板卡(4)上。
5.根据权利要求1所述的导轨式PCB板卡损耗测试治具,其特征是:所述左滑轨(9)的两端和右滑轨(10)的两端分别设置有定位机构。
6.根据权利要求5所述的导轨式PCB板卡损耗测试治具,其特征是:所述定位机构包括定位板(1)和设置在定位板(1)上的第一定位孔(8),所述定位板(1)固定在所述左滑轨(9)的两端和右滑轨(10)的两端,所述第一定位孔(8)的位置与所述PCB板卡(4)上的第二定位孔(14)的位置相匹配。
CN201721524916.2U 2017-11-15 2017-11-15 一种导轨式pcb板卡损耗测试治具 Expired - Fee Related CN207488447U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721524916.2U CN207488447U (zh) 2017-11-15 2017-11-15 一种导轨式pcb板卡损耗测试治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721524916.2U CN207488447U (zh) 2017-11-15 2017-11-15 一种导轨式pcb板卡损耗测试治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN207488447U true CN207488447U (zh) 2018-06-12

Family

ID=62473221

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201721524916.2U Expired - Fee Related CN207488447U (zh) 2017-11-15 2017-11-15 一种导轨式pcb板卡损耗测试治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN207488447U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109709417A (zh) * 2018-12-13 2019-05-03 深圳市共进电子股份有限公司 一种规模化离散网络终端测试设备

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109709417A (zh) * 2018-12-13 2019-05-03 深圳市共进电子股份有限公司 一种规模化离散网络终端测试设备
CN109709417B (zh) * 2018-12-13 2022-08-12 深圳市共进电子股份有限公司 一种规模化离散网络终端测试设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200728724A (en) Automatic testing equipment instrument card and probe cabling system and apparatus
CN203287255U (zh) 拉力测试装置
US7135881B2 (en) Method and system for producing signals to test semiconductor devices
WO2005072406A3 (en) Test system and method for reduced index time
US20060132165A1 (en) Method and system for testing semiconductor devices
WO2005101645A3 (en) Apparatus for providing a high frequency loop back with a dc path for a parametric test
CN204439522U (zh) 粘接拉剪强度测试装置
WO2010062967A3 (en) Test electronics to device under test interfaces, and methods and apparatus using same
CN207488447U (zh) 一种导轨式pcb板卡损耗测试治具
WO2008120518A1 (ja) Tcpハンドリング装置
CN202172413U (zh) 一种射频分合路矩阵测试装置
CN205691681U (zh) 一种电子元件多功能柔性测试机
CN209248512U (zh) 多通道flash芯片测试装置
Narayanan et al. Study on the parameters affecting the impedance extraction accuracy by inductive coupling method
CN206684190U (zh) 一种用于老化测试的治具
CN204964553U (zh) 一种新型翻转式测试治具
CN204536276U (zh) 一种低压电器领域超声无损探伤用工件固定装置
CN209356589U (zh) 一种用于微波器件的检测装置
CN203772981U (zh) 一种对pogo pin电气性能进行测试的装置
CN108037328A (zh) 用于电路板检测的工装
CN208621655U (zh) 微带器件测试夹具
CN206832948U (zh) 一种ft测试治具部件
CN207730927U (zh) T/r组件测试系统校准装置
CN208315164U (zh) 一种全自动tft面板分析仪
CN207742033U (zh) 三轴实验仪试件质量测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20180612

Termination date: 20191115

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee