CN207424149U - 微通道板电性能真空测试模拟装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是关于一种微通道板电性能真空测试模拟装置,涉及检测设备领域。主要采用的技术方案为:微通道板电性能真空测试模拟装置,包括:绝缘腔体、第一电极、第二电极以及压持电极,绝缘腔体的第一端密封连接荧光屏,绝缘腔体的第二端设置有真空连接端;第一电极的第一端设置在绝缘腔体中第一位置,第一电极的第二端设置在绝缘腔体的外表面;第二电极的第一端设置在绝缘腔体中第二位置,第二电极的第二端设置在绝缘腔体的外表面;压持电极弹性顶持在绝缘腔体中,与第二电极的第二端连接,用于将微通道板压持在第一电极。本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置适用单个微通道板的电性能测试,且占用空间小,抽真空块,节省测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测设备领域,特别是涉及一种微通道板电性能真空测试模拟装置。
背景技术
微通道板对能量高波长短的光具有一定的响应功能,并且对各种粒子的密度分布特征鉴别率较高,可成像;而且微通道板还存在增益高,容易产生过电流自饱和特征;从外部结构观察,其具有体积小、重量轻和时间响应快等优点。因此,微通道板常用于粒子探测以及光电倍增器件中,倍增微弱信号、增强图像的核心部件,其性能直接影响探测器的电子增益程度、信噪比、空间及时间分辨率和使用寿命等关键电性能技术指标。而且,由于近年来微通道板应用领域不断拓宽,应用于核诊断、粒子探测、单光子计数等多个领域中,所以掌控微通道板的电性能成为优化后端设备器件性能的基础。
目前,微通道板的电性能通常使用微通道板电性能测试仪进行测试,该微通道板电性能测试仪能够模拟微通道板的真空使用环境,然后对测试微通道板加压后的电流和电压输出情况,进而实现对微通道板的电性能测试。现有技术中微通道板电性能测试仪通常设置有较大的真空腔,同时连接多个微通道板,在进行测试时需要对整体真空腔抽真空,然后对多个微通道板进行电性能测试。
但是,由于每次进行测试之前都需要对真空腔进行抽真空处理,抽真空速度慢,所以此种测试方式不适用对单个微通道板进行电性能测试。急需要设计一种能够实现单个微通道板电性能测试的装置。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于,提供一种新型结构的微通道板电性能真空测试模拟装置,所要解决的技术问题是使其能够模拟真空测试环境,对单一的微通道板进行电性能检测。
本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本实用新型提出的一种微通道板电性能真空测试模拟装置,其包括:
绝缘腔体,所述绝缘腔体的第一端密封连接荧光屏,所述绝缘腔体的第二端设置有真空连接端;
第一电极,所述第一电极的第一端设置在所述绝缘腔体中第一位置,所述第一电极的第二端设置在所述绝缘腔体的外表面;
第二电极,所述第二电极的第一端设置在所述绝缘腔体中第二位置,所述第二电极的第二端设置在所述绝缘腔体的外表面;
压持电极,所述压持电极弹性顶持在所述绝缘腔体中,与所述第二电极的第二端连接,用于将微通道板压持在所述第一电极。
本实用新型的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述第一位置为靠近所述荧光屏的位置;
所述第二位置为靠近所述绝缘腔体的第二端。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述第一电极的第二端在所述绝缘腔体外表面的位置与第一电极的第一端相对;
所述第二电极的第二端在所述绝缘腔体外表面的位置与第二电极的第一端相对。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其还包括:法兰托,所述法兰托的第一端设置有环形的支撑凸起,所述支撑凸起与所述荧光屏的边沿顶持,将所述荧光屏压持在所述绝缘腔体的固定凸台上,所述法兰托与所述绝缘腔体的第一端连接。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述真空连接端为圆形接口,所述圆形接口的接口外边沿设置有环状卡接凸起。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述第一电极的第二端为柱状、环状或片状中的一种。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述第二电极的第二端为柱状、环状或片状中的一种。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述压持电极的截面形状为C形。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其中所述压持电极的C形外壁上设置有支撑凸起。
优选的,前述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其还包括:限位部件,所述限位部件设置在所述绝缘腔体的第二端,用于对所述压持电极限位。
借由上述技术方案,本实用新型微通道板电性能真空测试模拟装置至少具有下列优点:
本实用新型技术方案中,微通道板电性能真空测试模拟装置的绝缘腔体能够用于抽真空,进而能够模拟微通道板使用时的真空环境,第一电极和第二电极能够连接微通道板的两端,用于对微通道板的电性能进行测试。相比于现有技术中,微通道板电性能测试仪通常设置有较大的真空腔,且是批量测试,同时连接多个微通道板,在进行测试时需要对整体真空腔抽真空,然后对多个微通道板进行电性能测试;由于真空腔的体积大,需要较大的空间,且抽真空速度慢,所以此种测试方式不适用对单个微通道板进行电性能测试。而本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置,能够模拟微通道板的使用环境,且绝缘腔体每次只能放置一个微通道板,进而对一个微通道板进行电性能测试,所以相对与现有技术中用于测试微通道板的真空腔体,本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置更加适用于小批量或者单个微通道板的电性能测试。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
图1是本实用新型的实施例提供的一种微通道板电性能真空测试模拟装置的结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本实用新型提出的微通道板电性能真空测试模拟装置,其具体实施方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。在下述说明中,不同的“一实施例”或“实施例”指的不一定是同一实施例。此外,一或多个实施例中的特定特征、结构、或特点可由任何合适形式组合。
微通道板是一种特殊光学纤维器件,是一种先进的具有传输、增强电子图像功能的电子倍增器,具有体积小、重量轻、分辨率好、增益高、噪声低、使用电压低等优点,它利用其二次电子发射特性,可使高速碰撞在内壁(通道)上的电子成倍增加,使之达到万倍以上的电子增流,利用这种特性,现在微通道板广泛用于光电倍增管、像增强器,微光电视、X光像增强器、高速示波管,以及光子计数、X-射线、紫外光子、电子、离子、带电粒子、亚原子粒子等的探测。本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置,是用于模拟微通道板的使用环境,然后测试微通道板的电性能的装置。
如图1所示,本实用新型的一个实施例提出的一种微通道板电性能真空测试模拟装置,其包括:绝缘腔体1、第一电极2、第二电极3以及压持电极4,所述绝缘腔体1的第一端密封连接荧光屏5,所述绝缘腔体1的第二端设置有真空连接端6;所述第一电极2的第一端设置在所述绝缘腔体1中第一位置,所述第一电极2的第二端设置在所述绝缘腔体1的外表面;所述第二电极3的第一端设置在所述绝缘腔体1中第二位置,所述第二电极3的第二端设置在所述绝缘腔体1的外表面;所述压持电极4弹性顶持在所述绝缘腔体1中,与所述第二电极3的第二端连接,用于将微通道板7压持在所述第一电极2。
具体的,绝缘腔体可以采用陶瓷、聚四氟乙烯或者其他绝缘材料制造,绝缘腔体最好设置成圆筒状,绝缘腔体在连接荧光屏、第一电极、第二电极以及压持电极后需要保证仅有其第二端为开口,能够进行抽真空处理,绝缘腔体的壁厚可以根据不同抽真空参数,根据对应的强度要求进行具体设定;第一电极与绝缘腔体的连接方式最好采用焊接的方式进行连接,以保证连接位置的密封性,同样第二电极与绝缘腔体的连接方式最好采用焊接的方式进行连接,以保证连接位置的密封性;第一电极和第二电极可以一个设置为阳极一个设置为阴极,第一电极和第二电极所使用的材料为金属材料,最好为导电效果好的铜、银、金或者铂;第一电极的第一端需要伸入绝缘腔体一定距离,使放入绝缘腔体的微通道板能够与第一电极接触,第一电极的第一端可以设置成环状,贴着绝缘腔体设置一圈,也可以设置成点状或者块状,只要能够与微通道板接触并进行导电即可,同理第二电极的设置方式与第一电极相同;压持电极需要为具有一定弹性的结构,能够通过自身弹性固定在绝缘腔体中,例如C形状,这样压持电极可以在受力变形时放入绝缘腔体中,顶持在需要测试的微通道板上,然后在外力消除时弹开,顶持在绝缘腔体的内壁上,实现顶持功能,压持电极最好采用导电好的金属材料制造,其主要的作用是对微通道板进行压持同时与第二电极连接,作为第二电极的延长,使微通道板位于第一电极和第二电极之间。
本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置具体使用方式为:首先,将微通道板按照绝缘腔体第二端开口的尺寸制成测试样品,之后将微通道板从绝缘腔体第二端放入绝缘腔体中,使微通道板的一侧与第一电极接触;然后,将压持电极从绝缘腔体的第二端放入,顶持在微通道板的另一侧,然后压持电极与绝缘腔体的内壁顶持,并与第二电极连接;最后,将绝缘腔体第二端的真空连接端与微通道板电性能测试仪的抽真空接口连接,并将第一电极和第二电极分别与微通道板电性能测试仪的阳极和阴极连接,之后便可以进行微通道板的电性能测试。
本实用新型技术方案中,微通道板电性能真空测试模拟装置的绝缘腔体能够用于抽真空,进而能够模拟微通道板使用时的真空环境,第一电极和第二电极能够连接微通道板的两端,用于对微通道板的电性能进行测试。相比于现有技术中,微通道板电性能测试仪通常设置有较大的真空腔,且是批量测试,同时连接多个微通道板,在进行测试时需要对整体真空腔抽真空,然后对多个微通道板进行电性能测试;由于真空腔的体积大,需要较大的空间,且抽真空速度慢,所以此种测试方式不适用对单个微通道板进行电性能测试。而本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置,能够模拟微通道板的使用环境,且绝缘腔体每次只能放置一个微通道板,进而对一个微通道板进行电性能测试,所以相对与现有技术中用于测试微通道板的真空腔体,本实用新型提供的微通道板电性能真空测试模拟装置更加适用于小批量或者单个微通道板的电性能测试,且占用空间小,抽真空块,能够节省单个微通道板电性能测试的成本。
如图1所示,在具体实施当中,其中所述第一位置为靠近所述荧光屏5的位置;所述第二位置为靠近所述绝缘腔体1的第二端。
具体的,由于微通道板需要与第一电极和第二电极紧密的连接,所以可在靠近绝缘腔体第一端的开口处,绝缘腔体的内壁上设置固定凸台,该固定凸台的靠近第一端开口侧可以用于固定荧光屏,另一侧用于支撑第一电极的第一端,这样固定凸台能够对第一电极的第一端有一定的支撑力,同时使微通道板靠近荧光屏,使微通道板的图像及表面状态显示在荧光屏上。
如图1所示,进一步的,所述第一电极2的第二端在所述绝缘腔体1外表面的位置与第一电极2的第一端相对;所述第二电极3的第二端在所述绝缘腔体1外表面的位置与第二电极3的第一端相对。
如图1所示,在具体实施当中,其中微通道板电性能真空测试模拟装置还包括:法兰托8,所述法兰托8的第一端设置有环形的支撑凸起,所述支撑凸起与所述荧光屏5的边沿顶持,将所述荧光屏5压持在所述绝缘腔体1的固定凸台上,所述法兰托8与所述绝缘腔体1的第一端连接。
具体的,法兰托最好采用金属材料制造,例如纯铝材料,这样法兰托能够用作荧光屏的电极接头;此外,制造荧光屏的主要材料为石英。法兰托与绝缘腔体组好采用螺栓连接,也可以采用焊接的方式连接。
如图1所示,在具体实施当中,其中所述真空连接端6为圆形接口,所述圆形接口的接口外边沿设置有环状卡接凸起。
具体的,由于常用的微通道板电性能测试仪的抽真空连接管道的接口为圆形,且为橡胶材料的接口,所以将真空连接端设置为圆形接口能够方便连接,同时在圆形接口的接口外边沿设置有环状卡接凸起,能够使真空连接端与微通道板电性能测试仪的抽真空连接管道的接口紧固的连接在一起,防止在抽真空的过程中接口位置出现漏气情况。
如图1所示,在具体实施当中,其中所述第一电极2的第二端为柱状、环状或片状中的一种;所述第二电极3的第二端为柱状、环状或片状中的一种。
具体的,将第一电极和第二电极设置成柱状、环状或片状中的一种,能够便于与微通道板电性能测试仪连接,微通道板电性能测试仪的阳极和阴极可以通过连接夹爪与第一电极和第二电极连接。
如图1所示,在具体实施当中,其中所述压持电极4的截面形状为C形。
具体的,由于压持电极需要具有一定的弹性,通过弹性顶持在所述绝缘腔体中,所以将压持电极设置成截面为C形的形状,在使用时可以通过对压持电极施加压力,使压持电极产生一定的形变,将压持电极送入绝缘腔体中顶持在微通道板上,之后撤销对压持电极的压力,此时压持电极回弹顶持在绝缘腔体的内壁上,其工作原理与C型卡环相同。
如图1所示,进一步的,可在压持电极4的C形外壁上设置有支撑凸起,使压持电极4通过支撑凸起与绝缘腔体1内壁顶持。
如图1所示,在具体实施当中,其中限位部件9,所述限位部件9设置在所述绝缘腔体1的第二端,用于对所述压持电极4限位。
具体的,限位部件可以通过焊接或者螺栓连接的方式与绝缘腔体的第二端连接。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,其包括:
绝缘腔体,所述绝缘腔体的第一端密封连接荧光屏,所述绝缘腔体的第二端设置有真空连接端;
第一电极,所述第一电极的第一端设置在所述绝缘腔体中第一位置,所述第一电极的第二端设置在所述绝缘腔体的外表面;
第二电极,所述第二电极的第一端设置在所述绝缘腔体中第二位置,所述第二电极的第二端设置在所述绝缘腔体的外表面;
压持电极,所述压持电极弹性顶持在所述绝缘腔体中,与所述第二电极的第二端连接,用于将微通道板压持在所述第一电极。
2.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述第一位置为靠近所述荧光屏的位置;
所述第二位置为靠近所述绝缘腔体的第二端。
3.根据权利要求2所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述第一电极的第二端在所述绝缘腔体外表面的位置与第一电极的第一端相对;
所述第二电极的第二端在所述绝缘腔体外表面的位置与第二电极的第一端相对。
4.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,还包括:
法兰托,所述法兰托的第一端设置有环形的支撑凸起,所述支撑凸起与所述荧光屏的边沿顶持,将所述荧光屏压持在所述绝缘腔体的固定凸台上,所述法兰托与所述绝缘腔体的第一端连接。
5.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述真空连接端为圆形接口,所述圆形接口的接口外边沿设置有环状卡接凸起。
6.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述第一电极的第二端为柱状、环状或片状中的一种。
7.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述第二电极的第二端为柱状、环状或片状中的一种。
8.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述压持电极的截面形状为C形。
9.根据权利要求8所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,
所述压持电极的C形外壁上设置有支撑凸起。
10.根据权利要求1所述的微通道板电性能真空测试模拟装置,其特征在于,还包括:
限位部件,所述限位部件设置在所述绝缘腔体的第二端,用于对所述压持电极限位。
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CN201721450861.5U CN207424149U (zh) | 2017-11-02 | 2017-11-02 | 微通道板电性能真空测试模拟装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109374265A (zh) * | 2018-10-29 | 2019-02-22 | 北方夜视技术股份有限公司 | 一种测量超二代像增强器阴极近贴聚焦距离的方法 |
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2017
- 2017-11-02 CN CN201721450861.5U patent/CN207424149U/zh active Active
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