CN207352121U - 一种二极管的检测电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种二极管检测电路，该检测电路包括至少一个二极管检测端、正向特性测试模块、反向特性测试模块、第一开关模块、以及处理器，通过将待测的二极管电连接于二极管检测端，由处理器发出第一控制信号，控制第一开关模块选择正向特性测试模块或反向特性测试模块，对待测二极管的正向导通电源或反向导通电压进行检测，并将检测结果输入处理器，以供处理器进行分析。本实用新型实施例提供的二极管检测电路能够分别对待测二极管的正向导通电源和反向导通电压进行检测，从而减少了测试流程，增加了测试速度，提高了测试效率，能够达到电子元器件高效生产与检测。

Description

一种二极管的检测电路

技术领域

本实用新型实施例涉及电路技术领域，尤其涉及一种二极管的检测电路。

背景技术

二极管是最常用的电子元件之一，其具有单向导通性，即电流在二极管中的流经方向仅有一种。由于二极管的使用原理简单，而被广泛地应用与常见的整流电路、检波电路、稳压电路等各种调制电路。然而，二极管的性能将对其所应用电路的功能产生一定的影响。

通常在电子电路中，将二极管的正极连接于高电位端，负极连接于地点为端，以使得二极管发挥其单向导通性能，此种连接方式被称为二极管的正向偏置；相应的，若将二极管反接于电子电路中，当该电子电路中相对于二极管的反向电压增大至一定数值时，则会有反向电流通过该二极管，从而使得二极管被击穿。而对于不同的二极管其具有不同的偏置电压和反向漏电流，即二极管的伏安特性具有一定的差异，常见的二极管根据其所使用的半导体材料可以分为硅基二极管和锗基二极管等。因而，在使用前，需要对二极管的导通特性、发光情况等进行检测。该检测方法通常是在二极管出厂前，对其导通特性、发光颜色等进行逐一检测。

但是，现有技术中，这种需要多工站联合进行测试判断以对二极管的性能进行检测，这就使得整个测试过程的流程繁琐，测试速度慢，从而影响测试效率，不利于电子元器件的高效生产与检测。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供了一种二极管的检测电路，能够解决现有技术中二极管性能检测的测试流程繁琐、测试速度慢，从而影响测试效率的技术问题。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种二极管检测电路，包括：至少一个二极管检测端、正向特性测试模块、反向特性测试模块、第一开关模块、以及处理器；

所述二极管检测端的正极与所述二极管的第一电极电连接、以及负极与所述二极管的第二电极电连接；

所述第一开关模块的第一控制端与所述正向特性测试模块的第一检测端电连接、第二控制端与所述正向特性测试模块的第二检测端电连接、第三控制端与所述反向特性测试模块的第一检测端电连接、第四控制端与所述反向特性测试模块的第二检测端电连接、控制信号输入端与所述处理器的第一控信号输出端电连接、第一输出端与所述二极管检测端的正极电连接、以及第二输出端与所述二极管检测端的负极电连接，用于根据所述处理器输出的第一控制信号，控制所述正向特性测试模块或所述反向测试模块对所述二极管的性能进行检测；

所述正向特性测试模块的输入端与第一电源电连接、以及输出端与所述处理器的检测端电连接，用于根据所述第一开关模块的控制，检测所述二极管的正向导通电压，并将所述正向导通电压输入所述处理器；

所述反向特性测试模块的输入端与所述第一电源电连接、以及输出端与所述处理器的检测端电连接，用于根据所述第一开关模块的控制，检测所述二极管的反向导通电压，并将所述反向导通电压输入所述处理器；

所述处理器，用于根据所述正向导通电压和/或所述反向导通电压，判断所述二极管的性能。

可选的，所述第一开关模块包括第一电磁继电器；

所述第一电磁继电器的线圈第一端与所述处理器的第一控制信号输出端电连接，所述第一电磁继电器的线圈第二端接地，以及所述第一电磁继电器的第一动触点与所述二极管检测端的正极电连接、第二动触点与所述二极管检测端的负极电连接、第一常闭触点和第二常闭触点分别与所述正向特性测试模块的第一检测端和第二检测端电连接、第一常开触点和第二常开触点与所述反向特性测试模块的第一检测端和第二检测端电连接。

可选的，所述检测电路包括多个二极管检测端、以及与多个所述二极管检测端对应设置的多个第二开关模块；

各个所述第二开关模块的控制端与所述处理器的各个第二控制信号输出端电连接、第一输入端与所述第一开关模块的第一输出端电连接、第二输入端与所述第一开关模块的第二输出端电连接、第一输出端与各个所述二极管检测端的正极对应电连接、以及第二输出端与各个所述二极管检测端的负极对应电连接，用于根据所述处理器发出的各个所述第二控制信号，产生相应的通断动作，以选择需检测的所述二极管。

可选的，所述检测电路还包括控制开关；

所述控制开关的控制端与所述处理器的控制信号输入端电连接，用于接收相应的控制指令，并将所述控制指令输入所述处理器，以使所述处理器根据所述控制指令，控制各个所述第二开关模块的通断。

可选的，所述第二开关模块包括第二电磁继电器。

所述第二电磁继电器的线圈第一端与所述处理器的第二控制信号输出端电连接，所述第二电磁继电器的线圈第二端接地，以及所述第二电磁继电器的第一动触点和第二动触点分别与所述第一开关模块的第一输出端和第二输出端电连接、第一静触点和第二静触点分别与所述二极管检测端的正极和负极电连接。

可选的，所述正向特性测试模块包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、以及第五电阻；

所述第一运算放大器的反向输入端通过所述第一电阻与所述第一电源电连接、同向输入端接地、输出端与所述第二电阻的第一端电连接、以及电源信号输入端与第二电源电连接；

所述第二运算放大器的反向输入端与所述第二电阻的第二端电连接、同向输入端接地、输出端与所述处理器的信号检测端电连接、以及电源信号输入端与所述第二电源电连接；

所述第三电阻的第一端与所述第一运算放大器的反向输入端电连接、以及第二端与所述第一运算放大器的输出端电连接，所述第四电阻的第一端与所述第二运算放大器输出端电连接、以及第二端接地；

所述第五电阻的第一端与所述第一运算放大器的反向输入端电连接、以及第二端与所述第一运算放大器的输出端电连接；

所述第一运算放大器的反向输入端还与所述第一开关模块的第一控制端电连接、以及输出端还与所述第一开关模块的第二控制端电连接。

可选的，所述正向特性测试模块还包括第六电阻和开关；相应的，

所述开关的第一端与所述第五电阻的第二端电连接、第二端与所述第六电阻的第二端电连接、第三端与所述第一运算放大器的输出端电连接、以及控制端与所述处理器的第三控制信号输出端电连接，所述第六电阻的第一端与所述第一运算放大器的反向输入端电连接。

可选的，所述开关为第三电磁继电器；

所述第三电磁继电器的线圈第一端与所述处理器的第三控制信号输出端电连接，所述第三电磁继电器的线圈第二端接地，以及所述第三电磁继电器的动触点与所述第一运算放大器的输出端电连接、常开触点与所述第六电阻的第二端电连接、常闭触点与所述第五电阻的第二端电连接。

可选的，所述反向特性测试模块包括：第三运算放大器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、以及第十电阻；

所述第七电阻的第一端与所述第一电源和第一开关模块的第三控制端电连接、以及第二端与所述第三运算放大器的同向输入端和所述第一开关模块的第四控制端电连接；

所述第三运算放大器的同向输入端通过所述第八电阻接地、反相输入端通过所述第九电阻与其输出端电连接、输出端与所述处理器的检测端电连接、以及电源信号输入端与所述第二电源电连接；

所述第十电阻的第一端与所述第三运算放大器的输出端电连接、以及第二端接地。

本实用新型实施例提供的一种二极管检测电路，该检测电路包括至少一个二极管检测端、正向特性测试模块、反向特性测试模块、第一开关模块、以及处理器，通过将待测的二极管电连接于二极管检测端，由处理器发出第一控制信号，控制第一开关模块选择正向特性测试模块或反向特性测试模块，对待测二极管的正向导通电源或反向导通电压进行检测，并将检测结果输入处理器，以供处理器进行分析的技术手段，解决了现有技术中，对二极管的性能检测的测试流程繁琐，测试速度慢，影响测试效率的技术问题，相对于多工站联合检测判断，本实用新型实施例提供的二极管检测电路，通过处理器控制第一开关模块对所需检测的性能进行选择，从而分别检测出待测二极管的正向导通电源和反向导通电压，从而减少了测试流程，增加了测试速度，提高了测试效率，能够达到电子元器件高效生产与检测的技术效果。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的一种二极管检测电路的结构示意图；

图2是本实用新型实施例二提供的一种二极管检测电路的结构示意图；

图3是本实用新型实施例三提供的二极管检测电路的具体电路图；

图4是本实用新型实施例提供的具有多个二极管检测端的二极管检测电路的电路图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。在不冲突的情况下，本实用新型实施例以及实施例中的特征可以相互组合。

实施例一

本实施例提供的可以适用于对二极管各特性进行检测的应用场景。图1是本实用新型实施例提供的一种二极管检测电路的结构示意图。参见图1所示，本实施例提供的二极管检测电路包括：至少一个二极管检测端check+和check-、正向特性测试模块10、反向特性测试模块20、第一开关模块30、以及处理器40。

需要说明的是，本实用新型实施例中包括至少一个二极管检测端check，即该二极管检测端check可以为一个或多个，以对一个二极管或多个二极管的性能进行检测。在本实用新型实施例的图1中仅以一个二极管检测端check为例进行相关说明，而该二极管检测端check的个数可由实际所需检测二极管的数量来确定。

其中，二极管检测端的正极check+与二极管D的第一电极电连接，二极管检测端的负极check-与二极管D的第二电极电连接；第一开关模块30的第一控制端与正向特性测试模块10的第一检测端电连接，第一开关模块30的第二控制端与正向特性测试模块10的第二检测端电连接，第一开关模块30的第三控制端与反向特性测试模块20的第一检测端电连接，第一开关模块30的第四控制端与反向特性测试模块20的第二检测端电连接，第一开关模块30的控制信号输入端与处理器40的第一控信号输出端电连接，第一开关模块30的第一输出端与二极管的检测端的正极check+电连接，第一开关模块30的第二输出端与二极管的检测端的负极电连接，用于根据处理器40输出的第一控制信号con1，控制正向特性测试模块10或反向测试模块20对二极管D的性能进行检测；正向特性测试模块10的输入端与第一电源Vdd1电连接，正向特性测试模块10输出端与处理器40的检测端电连接，用于根据第一开关模块30的控制，检测二极管D的正向导通电压Vf，并将该正向导通电压Vf输入处理器40；反向特性测试模块20的输入端与第一电源Vdd1电连接，反向特性测试模块20的输出端与处理器40的检测端电连接，用于根据第一开关模块30的控制，检测二极管D的反向导通电压Vi，并将该反向导通电压Vi输入处理器40；处理器40，用于根据正向导通电压Vf和/或所述反向导通电压Vi，判断二极管D的性能。

示例性的，二极管作为一种常用的电子元件，具有单向导通性能。在半导体二极管的内部设置有PN结的两个引线端子，按照外加电压的方向，致使其具备单向导通性能，即电流只能从二极管的一个方向流过。由于二极管的性能简单而被应用于众多电子电路中，但是二极管的在电子电路中的作用与其自身性能息息相关，因而在二极管使用或出厂前，需要对其性能进行检测。

如图1所示，本实用新型实施例提供的二极管检测电路，通过将待测性能的二极管D的第一电极和第二电极分别电连接于二极管检测端的正极check+和负极check-，并根据处理器40向第一开关模块30发出的第一控制信号，控制第一开关模块30选择需检测二极管D的性能。当检测二极管D的正向导通电压Vf时，则第一开关模块30选择正向特性测试模块10与待检测二极管D接通，构成回路，并将所检测的正向导通电压Vf输入处理器40中进行分析；相应的，若检测二极管D的反向导通电压Vi，则第一开关模块30选择反向特性测试模块20与待检测二极管D接通，构成回路，并将所检测的反向导通电压Vi输入处理器40中进行分析，以获得二极管D的正向导通性能和反向漏电性能，从而判断二极管的优劣。

本实用新型实施例提供的二极管检测电路，通过将待测的二极管电连接于二极管检测端，并根据处理器发出第一控制信号，控制第一开关模块选择正向特性测试模块或反向特性测试模块，以对待测二极管的正向导通电源或反向导通电压进行检测，并将检测结果输入处理器进行分析，从而减少了测试流程，增加了测试速度，提高了测试效率，达到了电子元器件高效生产与检测的技术效果。

实施例二

本实施例在上述实施例的基础上将二极管检测端限制为多个，以使得该检测电路通过选择对各个二极管的正向特性和反向特性进行检测。图2是本实用新型实施例二提供的一种二极管检测电路的结构示意图。参考图2所示，本实用新型实施例提供的二极管检测电路包括多个二极管检测端check1～checkn，以及还包括与多个二极管检测端check1～checkn对应设置的多个第二开关模块51～5n。

需要说明的是，本实用新型实施例中所述的二极管检测端check1～checkn分别指代二极管检测端check1、二极管检测端check2、…、二极管检测端checkn。相应的，第二开关模块51～5n分别指代第二开关模块51、第二开关模块52、…、第二开关模块5n。因而，在本实用新型实施例中所出现的模块1～n的情况均可指代模块1、模块2、…、模块n，其中n为正整数，以下不再赘述。

其中，第二开关模块51～5n的控制端与处理器40的各个第二控制信号输出端Io21～Io2n电连接，第二开关模块51～5n的第一输入端与第一开关模块30的第一输出端电连接，第二开关模块51～5n的第二输入端与第一开关模块30的第二输出端电连接，第二开关模块51～5n的第一输出端与二极管检测端check1～checkn的正极check1+～checkn+对应电连接，第二开关模块51～5n的第二输出端与二极管检测端check1～checkn的负极check1-～checkn-对应电连接，用于根据处理器40发出的第二控制信号，产生相应的通断动作，以选择需检测的二极管D1～Dn中的一个或多个。

示例性的，对于具有单向导通性能的二极管会因生产条件或存放环境的不同，而表现出性能上的差异，这就需要对多个二极管的性能进行一一检测。因此，在对多个二极管检测时，则需要多个检测端，每个检测端可相应检测一个二极管，且由于不同二极管可能表现出不同的性能，因而需要设置相应的选择通道，以实现对不同二极管逐个检测。

如图2所示，本实用新型实施例提供的二极管检测电路在上述实施例的基础上，将二极管检测端check设置为多个，即二极管检测端check1～checkn，且相应的，多个二极管检测端check1～checkn对应多个第二开关模块51～5n。多个第二开关模块51～5n均由处理器40的第二控制信号输出端Io1～Ion发出的各个第二控制信号进行控制，以对多个二极管检测端check1～checkn电连接的二极管D1～Dn进行检测。例如，当处理器40的第二控制信号输出端Io1发出第二控制信号时，控制二极管检测端check1电连接的二极管D1与正向特性测试模块10或反向测试模块20构成回路。此时，若检测二极管D1的正向导通电压Vf1，则正向特性测试模块10输出端向处理器40的检测端输出二极管D1的正向导通电压Vf1，并对该正向导通电压Vf1进行分析处理；若检测二极管D1的反向导通电压Vi1，同样地，反向特性测试模块20的输出端向处理器40的检测端输出二极管D1的反向导通电压Vi1，并对该反向导通电压Vi1进行分析处理。

此外，对于其它二极管检测端中二极管的检测过程和原理与此类似，在此不再赘述。需要说明的是，在对多个二极管检测端check1～checkn的各二极管D1～Dn进行检测时，可以为依次检测，即依照顺序从左至右对二极管D1、二极管D2、…、二极管Dn进行检测，也可为从右至左或其它任何顺序进行检测，且该检测顺序与处理器40的第二控制信号输出端Io1～Ion输出的第二控制信号相关。

可选的，如图2所示，在上述实施例的基础上，二极管检测电路还包括控制开关60。其中，控制开关60的控制端与处理器40的控制信号输入端电连接，用于接收相应的控制指令，并将该控制指令输入处理器40，以使处理器40根据该控制指令，控制第二开关模块51～5n的通断。

示例性的，对二极管的导通性能的检测主要包括正向导通电压和反向导通电压，而对于发光二极管除检测其导通性能外，还需对发光二极管的发光颜色和亮度进行检测。若二极管检测电路的二极管检测端check1～checkn电连接的二极管D1～Dn为同种颜色，则可通过向控制开关60发出导通所有第二开关模块51～5n控制指令，控制开关60则将该控制指令输入处理器40中，以使处理器40的第二控制信号输出端Io1～Ion同时发出控制第二开关模块51～5n导通的第二控制信号。此时，使得发光二极管D1～Dn同时导通，并通过对比发光二极管D1～Dn的颜色和亮度，判断各发光二极管的优劣。相应的二极管检测端check1～checkn电连接的二极管D1～Dn也可以为发不同颜色光量的发光二极管，此时，则可通过颜色分类，选择性导通各个第二开关模块。

本实用新型实施例提供的二极管检测电路，通过设置多个二极管检测端和相应的多个第二开关模块，对应检测多个二极管，从而能够减少各个检测端二极管的切换，且通过一次检测多个二极管，进一步提高了二极管检测和生产的效率。

实施例三

本实施例在上述实施例的基础上进行了具体化，提供了具体的二极管检测电路。图3是本实用新型实施例三提供的二极管检测电路的具体电路图。结合参考图1和图3所示，二极管检测电路的正向特性测试模块10包括第一运算放大器U1、第二运算放大器U2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、以及第五电阻R5。

其中，第一运算放大器U1的反向输入端通过第一电阻R1与第一电源Vdd1电连接，第一运算放大器U1的同向输入端接地，第一运算放大器U1的输出端与第二电阻R2的第一端电连接，第一运算放大器U1的电源信号输入端与第二电源电Vdd2连接；第二运算放大器U2的反向输入端与第二电阻R2的第二端电连接，第二运算放大器U2的同向输入端接地，第二运算放大器U2的输出端与处理器40的信号检测端Ioc电连接，第二运算放大器U2的电源信号输入端与第二电源Vdd2电连接；第三电阻R3的第一端与第一运算放大器U1的同向输入端电连接，第三电阻R3的第二端与第一运算放大器U1的输出端电连接，第四电阻R4的第一端与第二运算放大器U2输出端电连接，第四电阻R4的第二端接地；第五电阻R5的第一端与5第一运算放大器U1的反向输入端电连接，第五电阻R5的第二端与第一运算放大器U1的输出端电连接；第一运算放大器U1的反向输入端还与第一开关模块30的第一控制端电连接，第一运算放大器U1的输出端还与第一开关模块30的第二控制端电连接。

示例性的，第一开关模块30控制正向特性测试模块10对二极管D的正向导通电压进行检测时，正向特性测试模块10的输入端输入的第一电源Vdd1通过相应的电子元器件与二极管D形成导通回路。若二极管D的正向导通压降为Vd，正向特性测试模块10的第二运算放大器U2输出端输出的正向导通电压为Vf。当二极管D正常导通时，则第二运算放大器U2输出端输出的正向导通电压Vf与二极管D的正向导通压降相等；而当二极管D异常时，则可认为该二极管D在电路中未起到任何作用，此时第二运算放大器U2输出端输出的正向导通电压Vf与第一电源Vdd1相当。相应的，若第一电阻R1的阻值为R1，第五电阻R5的阻值为R5，则二极管的正向导通电流If1为：

此外，如图3所示，正向特性测试模块10还可以包括第六电阻R6和开关KS3。其中，开关KS3的第一端与第五电阻R5的第二端电连接，开关KS3的第二端与第六电阻R6的第二端电连接，开关KS3的第三端与第一运算放大器U1的输出端电连接，开关KS3的控制端与处理器40的第三控制信号输出端Io3电连接，第六电阻R6的第一端与第一运算放大器U1的反向输入端电连接。

此时，可通过开关KS3选择接入电路中的电阻，若接入电路中的电阻为第五电阻R5时，其技术原理与上述实施例相同。而当接入电路的电阻为第六电阻R6时，且将第六电阻R6的阻值设为R6，则流经二极管D的电流If2为：

由此可以比较If1和If2的大小，确定出最佳的正向特性检测电流，并以此为准测得二极管D的正向导通压降Vd。

可选的，开关KS3可选为第三电磁继电器KS3。其中，第三电磁继电器KS3的线圈第一端与处理器40的第三控制信号输出端Io3电连接，第三电磁继电器KS3的线圈第二端接地，以及第三电磁继电器KS3的动触点与第一运算放大器U1的输出端电连接，第三电磁继电器KS3的常开触点与第六电阻R6的第二端电连接，第三电磁继电器KS3的常闭触点与第五电阻R5的第二端电连接。

当将开关KS3优选为第三电磁继电器KS3时，处理器40的第三控制信号输出端Io3输出的第三控制信号，能够控制第三电磁继电器KS3对接入电路的第五电阻R5或第六电阻R6进行选择，并确定出最佳的测试电阻的阻值。

此外，继续结合参考图1和图3所示，反向特性测试模块20包括第三运算放大器U3、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、以及第十电阻R10。其中，第七电阻R7的第一端与第一电源VDD1和第一开关模块30的第三控制端电连接，第七电阻R7的第二端与第三运算放大器U3的同向输入端和第一开关模块30的第四控制端电连接；第三运算放大器U3的同向输入端通过第八电阻R8接地，第三运算放大器U3的反相输入端通过第九电阻R9与其输出端电连接，第三运算放大器U3的输出端与处理器40的检测端Ioc电连接，第三运算放大器U3的电源信号输入端与第二电源电连接Vdd2；第十电阻R10的第一端与第三运算放大器U3的输出端电连接，第十电阻R10的第二端接地。

示例性的，第一开关模块30控制反向特性测试模块20对二极管D的反向导通电压进行检测时，反向特性测试模块20的输入端输入的第一电源Vdd1通过相应的电子元器件与二极管D形成导通回路。若当二极管的反向漏电流为Ir时，所检测出第三运算放大器U3输出端输出的二极管D的反向导通电压为Vi。当二极管D正常时，反向漏电流Ir的值应近似为0μA，若反向漏电流Ir偏大时，则二极管D异常。若第七电阻R7的阻值为R7，第八电阻R8的阻值为R8时，则二极管的反向漏电流Ir的计算公式为：

此外，在实际测试时，可根据需要对输入的第一电源Vdd1，以及各电阻的阻值进行调试，并设定反向漏电楼Ir的标准值。

可选的，结合图1和图3所示，第一开关模块30包括第一电磁继电器KS1。其中，第一电磁继电器KS1的线圈第一端与处理器40的第一控制信号输出端Io1电连接，第一电磁继电器KS1的线圈第二端接地，以及第一电磁继电器KS1的第一动触点与二极管检测端check的正极check+电连接，第一电磁继电器KS1的第二动触点与所述二极管检测端check的负极check-电连接，第一电磁继电器KS1的第一常闭触点和第二常闭触点分别与正向特性测试模块10的第一检测端和第二检测端电连接，第一电磁继电器KS1的第一常开触点和第二常开触点与反向特性测试模块20的第一检测端和第二检测端电连接。

示例性的，将第一开关模块30选为双刀双掷的第一电磁继电器KS1，从而能够在处理器40的第一控制信号输出端Io1未向第一电磁继电器KS1的线圈发出第一控制信号时，第一电磁继电器KS1的两个动触点与其两个常闭触点吸合，此时，二极管检测电路将对二极管D的正向导通特性进行检测。而当处理器40的第一控制信号输出端Io1向第一电磁继电器KS1的线圈发出第一控制信号时，第一电磁继电器KS1的两个动触点与其两个常开触点吸合，此时，二极管检测电路将对二极管D的反向导通特性进行检测。

可选的，在上述实施例的基础上，还可将二极管检测电路的二极管检测端设置为多个，此时，相应的，多个第二开关模块与多个二极管检测端对应设置。图4是本实用新型实施例提供的具有多个二极管检测端的二极管检测电路的电路图。结合参考图2和图4所示，本实用新型实施例提供的二极管检测电路的多个第二开关模块51～5n可选的第二电磁继电器KS21～KS2n。其中，以第二电磁继电器KS21为例说明其具体的连接方式，即第二电磁继电器KS1的线圈第一端与处理器40的第二控制信号输出端Io21电连接，第二电磁继电器KS1的线圈第二端接地，以及第二电磁继电器KS1的第一动触点与第一开关模块30的第一输出端电连接，第二电磁继电器KS1的第二动触点与第一开关模块30的第二输出端电连接，第二电磁继电器KS1的第一常开触点与二极管检测端check1的正极check1+电连接，第二电磁继电器KS1的第二常开触点与二极管检测端check1的负极check1-电连接。

当处理器40的第二控制信号输出端Io21发出第二控制信号时，使得第二电磁继电器KS21的线圈中流过一定的电流，从而产生电磁效应，致使第二电磁继电器KS21的动触点与静触点吸合，二极管D1与正向特性测试模块10或反向特性测试模块20形成回路，使得正向特性测试模块10或反向特性测试模块20对二极管D1的正向导通电压Vf1或反向导通电压Vi1进行检测；而处理器40的第二控制信号输出端Io21不再产生相应的第二控制信号时，第二电磁继电器KS21的线圈断电，电磁的吸力消失，从而使动触点与静触点释放，形成断路，不再对二极管D1的性能进行检测。相应的，其余第二电磁继电器的连接方式和工作原理与第二电磁继电器KS1类似，在此不再赘述。

此外，当控制开关60接收到的控制指令为检测各个二极管D1～Dn的发光颜色和亮度时，则控制开关60将该控制指令输入处理器40中，以使处理器40能够根据该控制指令控制相应的第二控制信号输出端输出第二控制信号，以使对应的第二电磁继电器动触点与静触点吸合，从而比较相应二极管的发光颜色和亮度。可选的，处理器40可以控制相同发光颜色的二极管对应的第二电磁继电器同时进行动触点与静触点吸合，从而比对相同发光颜色的二极管的颜色和亮度，以判断二极管的优劣。

本实用新型实施例提供的二极管检测电路，通过采用具体的电路结构对二极管的性能进行检测，从而能够对二极管具体的正向导通电压和反向导通电压进行检测，进一步在高效检测的基础上，提高检测结果的准确性。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (9)

1.一种二极管检测电路，其特征在于，包括：至少一个二极管检测端、正向特性测试模块、反向特性测试模块、第一开关模块、以及处理器；

所述二极管检测端的正极与所述二极管的第一电极电连接、以及负极与所述二极管的第二电极电连接；

所述第一开关模块的第一控制端与所述正向特性测试模块的第一检测端电连接、第二控制端与所述正向特性测试模块的第二检测端电连接、第三控制端与所述反向特性测试模块的第一检测端电连接、第四控制端与所述反向特性测试模块的第二检测端电连接、控制信号输入端与所述处理器的第一控信号输出端电连接、第一输出端与所述二极管检测端的正极电连接、以及第二输出端与所述二极管检测端的负极电连接，用于根据所述处理器输出的第一控制信号，控制所述正向特性测试模块或所述反向测试模块对所述二极管的性能进行检测；

所述正向特性测试模块的输入端与第一电源电连接、以及输出端与所述处理器的检测端电连接，用于根据所述第一开关模块的控制，检测所述二极管的正向导通电压，并将所述正向导通电压输入所述处理器；

所述反向特性测试模块的输入端与所述第一电源电连接、以及输出端与所述处理器的检测端电连接，用于根据所述第一开关模块的控制，检测所述二极管的反向导通电压，并将所述反向导通电压输入所述处理器；

所述处理器，用于根据所述正向导通电压和/或所述反向导通电压，判断所述二极管的性能。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一开关模块包括第一电磁继电器；

所述第一电磁继电器的线圈第一端与所述处理器的第一控制信号输出端电连接，所述第一电磁继电器的线圈第二端接地，以及所述第一电磁继电器的第一动触点与所述二极管检测端的正极电连接、第二动触点与所述二极管检测端的负极电连接、第一常闭触点和第二常闭触点分别与所述正向特性测试模块的第一检测端和第二检测端电连接、第一常开触点和第二常开触点与所述反向特性测试模块的第一检测端和第二检测端电连接。

3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括多个二极管检测端、以及与多个所述二极管检测端对应设置的多个第二开关模块；

各个所述第二开关模块的控制端与所述处理器的各个第二控制信号输出端电连接、第一输入端与所述第一开关模块的第一输出端电连接、第二输入端与所述第一开关模块的第二输出端电连接、第一输出端与各个所述二极管检测端的正极对应电连接、以及第二输出端与各个所述二极管检测端的负极对应电连接，用于根据所述处理器发出的各个所述第二控制信号，产生相应的通断动作，以选择需检测的所述二极管。

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，还包括控制开关；

所述控制开关的控制端与所述处理器的控制信号输入端电连接，用于接收相应的控制指令，并将所述控制指令输入所述处理器，以使所述处理器根据所述控制指令，控制各个所述第二开关模块的通断。

5.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第二开关模块包括第二电磁继电器，

所述第二电磁继电器的线圈第一端与所述处理器的第二控制信号输出端电连接，所述第二电磁继电器的线圈第二端接地，以及所述第二电磁继电器的第一动触点和第二动触点分别与所述第一开关模块的第一输出端和第二输出端电连接、第一静触点和第二静触点分别与所述二极管检测端的正极和负极电连接。

6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述正向特性测试模块包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、以及第五电阻；

所述第一运算放大器的反向输入端通过所述第一电阻与所述第一电源电连接、同向输入端接地、输出端与所述第二电阻的第一端电连接、以及电源信号输入端与第二电源电连接；

所述第二运算放大器的反向输入端与所述第二电阻的第二端电连接、同向输入端接地、输出端与所述处理器的信号检测端电连接、以及电源信号输入端与所述第二电源电连接；

所述第三电阻的第一端与所述第一运算放大器的反向输入端电连接、以及第二端与所述第一运算放大器的输出端电连接，所述第四电阻的第一端与所述第二运算放大器输出端电连接、以及第二端接地；

所述第五电阻的第一端与所述第一运算放大器的反向输入端电连接、以及第二端与所述第一运算放大器的输出端电连接；

所述第一运算放大器的反向输入端还与所述第一开关模块的第一控制端电连接、以及输出端还与所述第一开关模块的第二控制端电连接。

7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述正向特性测试模块还包括第六电阻和开关；相应的，

所述开关的第一端与所述第五电阻的第二端电连接、第二端与所述第六电阻的第二端电连接、第三端与所述第一运算放大器的输出端电连接、以及控制端与所述处理器的第三控制信号输出端电连接，所述第六电阻的第一端与所述第一运算放大器的反向输入端电连接。

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述开关为第三电磁继电器；

所述第三电磁继电器的线圈第一端与所述处理器的第三控制信号输出端电连接，所述第三电磁继电器的线圈第二端接地，以及所述第三电磁继电器的动触点与所述第一运算放大器的输出端电连接、常开触点与所述第六电阻的第二端电连接、常闭触点与所述第五电阻的第二端电连接。

9.根据权利要求1所述的检测电路其特征在于，所述反向特性测试模块包括：第三运算放大器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、以及第十电阻；

所述第七电阻的第一端与所述第一电源和第一开关模块的第三控制端电连接、以及第二端与所述第三运算放大器的同向输入端和所述第一开关模块的第四控制端电连接；

所述第三运算放大器的同向输入端通过所述第八电阻接地、反相输入端通过所述第九电阻与其输出端电连接、输出端与所述处理器的检测端电连接、以及电源信号输入端与所述第二电源电连接；

所述第十电阻的第一端与所述第三运算放大器的输出端电连接、以及第二端接地。