CN114184928A - 一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法，该检测系统包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，根据SD器件型号存储多组标准数据组形成标准数据库，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；选择调用模块用于选择SD器件的型号；电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增；测试模块用于导通SD器件两端，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行比对；输出模块用于输出检测结果。
Description
技术领域
本发明涉及显示屏或触摸屏技术领域，尤其涉及一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法。
背景技术
在目前的显示模组行业中，一般在FPC上设置有肖特基二极管 (SchottkyDiodes，后面简称SD)，其为一种保护性器件。现有的模组成品检测中没有针对SD器件进行检测的方法和方案，只是在点亮测试工序查看成品模组是否能够正常点亮。这样的模式往往在SD器件完全损坏的情况下才能得到直观的呈现(完全损坏时模组无法点亮)，对于微击穿的SD器件，此种方法无法检出，以致于将此部分不产品良流出到客户端，造成客户装机后，整机闪屏、不显、电流异常、功耗偏高等问题，引起客户投诉等问题，给生产企业带来繁琐的事故处理，造成了一定的经济损失。
而对于微击穿的SD器件，此种方法无法检出的有以下几个原因：
(1)模组厂治具使用的电源驱动能力较大，对于SD器件微击穿所引起的上电瞬间抽电现象不明显，导致无法检出；
(2)在整机端，电池的带载能力有限，任何部件上电瞬间的抽电现象都会引起电池带载能力不足，故而导致屏闪、不显、电流异常、功耗偏高等问题。
发明内容
针对现有技术存在的问题，本发明的主要目的是提供一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法，以在模组端检测出模组成品上SD器件是否为不良器件，避免流出客户端，造成整机报废，降低工厂的经济损失。
本发明的技术方案如下：本发明提供一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统，包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，
根据SD器件型号存储多组标准数据组形成所述标准数据库，其中每组标准数据组包括SD器件标准品两端输入的电压值和在该电压值下的电流值，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；
所述选择调用模块用于选择SD器件的型号，以便从标准数据库中调用相应的标准数据组；
所述电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增，所述第一增幅小于第二增幅，所述标准增幅小于等于所述第一增幅；
所述测试模块用于导通SD器件两端，测试SD器件两端的电流值，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；
所述数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行数据比对；
所述输出模块用于输出检测结果。
进一步地，所述正向直流电压值范围为0-0.5V，所述第一增幅为 0.05-0.1V。
进一步地，所述反向直流电压值范围为0-40V，所述第二增幅为 1.5-2.5V。
进一步地，所述数据比对的规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。
进一步地，所述检测结果包括：对于判定合格的数据用第一颜色标示，对于判定不合格的数据用第二颜色标示，所述第一颜色与所述第二颜色不同。
进一步地，所述标准数据库、所述选择调用模块、所述电压源模块、所述测试模块、所述数据处理模块和所述输出模块均运行于一单片机上，所述测试模块还包括检测探针。
本发明还提供一种利用以上的检测系统进行显示模组中肖特基二极管的性能检测方法，包括以下步骤：
获取多个型号SD器件标准品的多组标准数据组，并存储于标准数据库中；
在选择调用模块中选择SD器件的型号，确定调用的标准数据组；
先后施加正向和反向的直流电压至检测SD器件两端，其中输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增；
数据比对；
显示检测结果。
进一步地，通过控制电压源模块输出电压至测试模块的探针上，通过所述探针施加直流电压至检测SD器件两端。
进一步地，所述数据比对包括利用数据处理模块匹配同一型号下的标准数据库中的标准数据组，对同一直流电压下的，对检测数据组与标准数据组进行比对，并将检测结果发送至输出模块。
进一步地，所述数据比对的比对规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。
采用上述方案，本发明提供一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法，具有以下有益效果：
(1)利用本发明的检测系统，可有效拦截SD器件微击穿的异常显示模组，加强了显示模组的品质管控，避免了不良品流入客户端，造成整机报废，而给生产厂家造成经济损失，大大减轻了售后压力。
(2)本发明的检测系统，简单易组装，制造成本低，检测方法快捷简便，准确性高。
附图说明
图1为本发明的显示模组中肖特基二极管的性能检测系统的模块示意图。
图2为本发明的显示模组中肖特基二极管的性能检测方法的工作流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图1-2和具体实施例，对本发明进行详细说明。
首先，如图1所示，本发明提供一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统，该系统运行于一单片机上，其包括：标准数据库模块、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块。
其中，所述标准数据库的建立，是将多种SD器件型号的多组标准数据组进行存储，其中每组标准数据组包括一器件型号下SD器件标准品两端输入的电压值和在该电压值下的电流值。多组标准数据组中输入的电压值按标准增幅梯次递增。其中一个标准品的多组标准数据组的获取渠道，可以为通过产品供应商的检测结果获得，或对该标准品进行检测获得。为达到有效的调用比对效果，一般直流电压值从0V开始递增，标准增幅一般设定数值较小，如0.01-0.05V。
所述选择调用模块用于选择SD器件的型号，以便与标准数据库中的器件型号相匹配，从标准数据库中调用相应的标准数据组。
所述电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，以获取该直流电压下的电流值。其中，输入正向直流电压时，电压值从0V开始，按第一增幅梯次递增，最大值一般为0.5V，获取多组正向检测数据组。输入反向直流电压时，电压值从0V开始，按第二增幅梯次递增，最大值一般为35V，获取多组反向检测数据组。值得一提的是，所述第一增幅一般设置为0.05-0.1V，所述第二增幅一般设置为1.5-2.5V。
所述测试模块包括两检测探针，两检测探针导通SD器件两端，施加电压至SD器件上，测试SD器件两端的电流值，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块。
所述数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行数据比对，包括先利用数据处理模块匹配同一型号下的标准数据库中的标准数据组，再对同一直流电压下的检测数据组与标准数据组进行比对，并将检测结果发送至输出模块。如SD器件的型号为521-30，则将测得的检测数据组与标准数据库中的该型号下的标准数据组进行比对，因标准增幅小于等于第一增幅和第二增幅，故其标准数据组可以覆盖所有检测数据组，进行精确数据比对。该数据比对规则包括：SD器件两端输入一正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值，则判定为合格，否则为不合格。SD器件两端输入一反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值则判定为合格，否则为不合格。
所述输出模块包括一显示屏，用于输出检测数据组，以及显示检测结果。优选的，所述检测结果包括：对于判定合格的数据用第一颜色标示，对于判定不合格的数据用第二颜色标示，所述第一颜色与所述第二颜色不同。本实施例中，所述第一颜色为绿色，所述第二颜色为红色，具有明显的标示作用，显示直观，另外对于判定合格的显示模组，输出“OK”字样，对于判定不合格的显示模组，输出“NG”字样，方便操作人员判断。
如图2的流程示意图所示，本发明还提供一种利用以上所述的检测系统进行显示模组中肖特基二极管的性能检测方法，该方法具体包括以下步骤：
步骤1、获取多个型号SD器件标准品的多组标准数据组，并存储于标准数据库中。包括：将多种SD器件型号的多组标准数据组进行存储，其中每组标准数据组包括一器件型号下SD器件标准品两端输入的电压值和在该电压值下的电流值。多组标准数据组中输入的电压值按标准增幅梯次递增。其中一个标准品的多组标准数据组的获取渠道，可以通过产品供应商的检测结果获得，或对该标准品进行检测获得。为达到有效的调用比对效果，一般直流电压值从0V开始递增，标准增幅一般设定数值较小，如 0.01-0.05V。该标准数据库可根据检测SD器件型号的增加逐步完善，适用于多种SD器件的检测。
步骤2、在选择调用模块中选择SD器件的型号，确定调用的标准数据组。选择SD器件型号后，即与标准数据库中相同型号的SD器件标准品的标准数据组进行比对，以获得检测结果。
步骤3、先后施加正向和反向的直流电压至检测SD器件两端，即利用所述电压源模块，施加直流电压至两探针上，利用两探针分别接通FPC上的SD器件两端，导通输入直流电压，获得该直流电压下的电流值，得到一组检测数据。其中值得注意的是，输入正向直流电压时，电压值从0V开始，按第一增幅(0.05-0.1V)梯次递增，最大值为SD器件正向工作电压，一般为0.3-0.5V，获取多组正向检测数据组。输入反向直流电压时，电压值从 0V开始，按第二增幅(1.5-2.5V)梯次递增，最大值为SD器件反向击穿电压，一般为30-40V，获取多组反向检测数据组。
步骤4、数据比对，利用数据处理模块将得到的检测数据组与标准数据库中对应的标准数据组进行比对。当SD器件两端输入一正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值，则判定为合格，说明SD器件导通性能良好，否则为导通不良，判定为不合格。当SD 器件两端输入一反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值则判定为合格，说明SD器件导通性能良好，否则为导通不良，判定为不合格。以型号为521-30的SD器件为例，如表2所示，为型号为521-30的标准SD器件存储于标准数据库中的多组标准数据组，该标准SD器件的正向工作电压为0.35V，反向击穿电压为30V。在对这一型号SD器件进行检测时，将第一增幅设置为0.05V，正向最大电压为0.4V，第二增幅设置为2V，反向最大电压为30V，利用检测探针依次测得多组检测数据，即检测探针的两端分别接通连接于显示模组FPC上的SD器件的两端，得去检测结果。表1中统计了针对10个液晶显示模组的SD器件的检测数据组。其中，可以看出，施加反向电压时第二模组和第七模组的电流数据均大于标准数据组中的相应数据，则标明该模组中的SD器件反向工作性能NG，为不良品。同理，施加正向电压时第五模组和第九模组的电流数据均小于标准数据组中的相应数据，则标明该模组中的SD器件正向工作性能NG为导通良好，判定为合格品。
步骤5、得到检测结果，该检测结果通过输出模块显示于显示屏上，该检测结果包括：对SD器件在不同正向或反向直流电压下测得的电流值，以及根据数据处理模块的比对所得出的合格或不合格的判定。其中比对不合格的数据通过红色显示NG，比对合格的数据通过绿色显示OK。方便操作人员直观进行判断，并对不合格品进行进一步检测或处理。
检测结束后，更换下一显示模组进行测试，另外对于检测不合格的产品，安排进行复测，以确保检测结果无误。
表1
表2
综上所述，本发明实现了对显示模组中的肖特基二极管的性能检测，避免了现有技术中难以检出显示模组中微击穿的肖特基二极管，造成机器出厂后出现各种故障，给生产厂家带来繁琐的售后问题以及经济损失。本发明的显示模组中肖特基二极管的性能检测系统易建立，检测方法简单易实施，不良品检出率高，大大提高了产品良率，为公司创造了经济利益，值得大力推广使用。
以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统，其特征在于，包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，
根据SD器件型号存储多组标准数据组形成所述标准数据库，其中每组标准数据组包括SD器件标准品两端输入的电压值和在该电压值下的电流值，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；
所述选择调用模块用于选择SD器件的型号，以便从标准数据库中调用相应的标准数据组；
所述电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增，所述第一增幅小于第二增幅，所述标准增幅小于等于所述第一增幅；
所述测试模块用于导通SD器件两端，测试SD器件两端的电流值，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；
所述数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行数据比对；
所述输出模块用于输出检测结果。
2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述正向直流电压值范围为0-0.5V，所述第一增幅为0.05-0.1V。
3.根据权利要求1或2所述的检测系统，其特征在于，所述反向直流电压值范围为0-40V，所述第二增幅为1.5-2.5V。
4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述数据比对的规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。
5.根据权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述检测结果包括：对于判定合格的数据用第一颜色标示，对于判定不合格的数据用第二颜色标示，所述第一颜色与所述第二颜色不同。
6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述标准数据库、所述选择调用模块、所述电压源模块、所述测试模块、所述数据处理模块和所述输出模块均运行于一单片机上，所述测试模块还包括检测探针。
7.一种利用权利要求1-6任一项所述的检测系统进行显示模组中肖特基二极管的性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取多个型号SD器件标准品的多组标准数据组，并存储于标准数据库中；
在选择调用模块中选择SD器件的型号，确定调用的标准数据组；
先后施加正向和反向的直流电压至检测SD器件两端，其中输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增；
数据比对；
显示检测结果。
8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，通过控制电压源模块输出电压至测试模块的探针上，通过所述探针施加直流电压至检测SD器件两端。
9.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述数据比对包括利用数据处理模块匹配同一型号下的标准数据库中的标准数据组，对同一直流电压下的检测数据组与标准数据组进行比对，并将检测结果发送至输出模块。
10.根据权利要求7或9所述的检测方法，其特征在于，所述数据比对的比对规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant |