CN207263857U - 容性负载放电控制系统 - Google Patents

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李�诚
段永华
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Hai Electronic Technology (Suzhou) Co., Ltd.
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Abstract

本实用新型公开了一种容性负载放电控制系统,包括依次连接的恒流单元和放电单元,所述放电单元与容性负载连接,所述容性负载通过所述放电单元放电,所述恒流单元用于控制所述放电单元的放电速度,该容性负载放电控制系统,其放电速度和放电时间均可控制,可以根据具体的要求设置放电速度和放电时间,以准确的判断容性负载产品的品质,同时也可以根据放电残影判断容性负载产品的合格情况,提高产品品质,杜绝不良品流入市场;并可有效的避免现有检测设备中由于容性负载放电控制系统快速放电导致冲击电流过大,损坏各电路元件的问题,减少容性负载产品由于放电导致的品质问题。

Description

容性负载放电控制系统
技术领域
本实用新型涉及一种容性负载放电控制系统。
背景技术
容性负载如液晶屏,在实验阶段检测或试产阶段检测时,需要借助容性负载的放电情况来判断该容性负载的品质,容性负载需按照一定的放电速度进行放电,才能发现负载是否有异常。现有检测设备中的容性负载放电控制系统,对容性负载的放电速度、放电时间均不可控制,无法准确判断容性负载的品质是否合格,且会出现快速放电导致冲击电流过大,损坏各电路元件的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种放电速度、放电时间均可控的容性负载放电控制系统,以准确的检测容性负载的品质,确保产品质量。
本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是:一种容性负载放电控制系统,包括依次连接的恒流单元和放电单元,所述放电单元与容性负载串联;所述容性负载通过所述放电单元放电,所述恒流单元用于控制所述放电单元的放电速度;所述恒流单元包括LM358、与所述LM358正输入端连接的DAC以及与所述LM358输出端连接的反馈电路;所述放电单元包括串联的电流采样电阻和MOS管;所述LM358的负输入端采集所述电流采样电阻上的电压,所述反馈电路驱动所述MOS管。
作为对上述技术方案的改进,所述容性负载为液晶屏。
作为对上述技术方案的改进,所述放电单元还包括串联在所述MOS管和所述容性负载之间的电流调节电阻。
作为对上述技术方案的改进,所述容性负载放电控制系统还包括连接在所述放电单元和所述容性负载之间的稳压单元。
作为对上述技术方案的改进,所述稳压单元与所述容性负载并联。
作为对上述技术方案的改进,所述稳压单元包括两个并联的电容。
与现有技术相比,本实用新型所提供的容性负载放电控制系统,其放电速度和放电时间均可控制,可以根据具体的要求设置放电时间和放电速度,以准确的判断容性负载产品的品质,同时也可以根据放电残影判断容性负载产品的合格情况,提高产品品质,杜绝不良品流入市场;并可有效的避免现有检测设备中由于容性负载放电控制系统快速放电导致冲击电流过大,损坏各电路元件的问题,减少容性负载产品由于放电导致的品质问题。
附图说明
图1是本实用新型一个实施例中容性负载放电控制系统的结构示意图。
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
本实用新型的一个实施例提供了一种容性负载放电控制系统,用于在实验或试产阶段高效地检测容性负载的产品质量,以确保容性负载产品的品质。
请参阅图1,所述容性负载放电控制系统包括依次连接的恒流单元10和放电单元20,所述放电单元20与容性负载30连接,其中,所述容性负载30通过所述放电单元20放电,所述恒流单元10用于控制所述放电单元20的放电速度。本实施例中,所述容性负载30为液晶屏。
其中,所述恒流单元10包括LM358、与所述LM358正输入端连接的DAC以及与所述LM358输出端连接的反馈电路11。所述放电单元20包括串联的电流采样电阻R44和MOS管Q8。所述电流采样电阻R44的一端与所述MOS管Q8的一端连接,所述电流采样电阻R44的另一端接地,所述MOS管Q8的另一端与所述容性负载30连接;所述LM358的负输入端连接在所述电流采样电阻R44的非接地端上,用于采集所述电流采样电阻R44上的电压;所述反馈电路11连接所述MOS管Q8,用于驱动调节所述MOS管Q8的开度。
其中,所述DAC为数字模拟转换器,是一种将数字信号转换为模拟信号的设备,从而使得数字信号能够被外界(人或其他非数字系统)识别。本实施例中,所述DAC将输入其上的数字信号转换为电压形式的模拟信号,并反馈至所述LM358的正输入端;所述电流采样电阻R44上的电压值被所述LM358的负输入端采集,可以理解的,所述电流采样电阻R44上的电压值与所述放电单元20上的电流成正比,所述放电单元20上的电流是由所述容性负载30的放电产生的,即为所述容性负载30的放电电流;所述LM358为双运算放大器,用于对比其正输入端和负输入端的电压值,并根据对比情况通过其输出端的所述反馈电路11驱动调节所述MOS管Q8,使所述MOS管Q8的导通阀开度变化,调节控制所述放电单元20上的电流,从而调节所述电流采样电阻R44上的电压值,直到所述LM358的正输入端和负输入端的电压值基本相等为止。
本实施例中,所述放电单元20还包括串联在所述MOS管Q8和所述容性负载30之间的电流调节电阻R39,所述电流调节电阻R39与所述电流采样电阻R44和MOS管Q8串联,所述电流调节电阻R39用于调节所述放电单元20上的电流,防止电流过大导致所述MOS管Q8损坏。
操作人员可根据所述待检测容性负载30的规格,在所述DAC上输入设定所述待检测容性负载30的不同放电阶段的放电参数并反馈至所述LM358的正输入端,所述不同放电阶段的放电参数包括不同的放电电压值。本实施例以所述待检测容性负载30的一个放电阶段为例,在所述DAC上输入设定该放电阶段的放电电压值V1并反馈至所述LM358的正输入端,所述容性负载30放电时,在所述放电单元20上产生电流,所述电流采样电阻R44上的电压值V2被反馈至所述LM358的负输入端,所述LM358对其正输入端和负输入端的电压值V1、V2进行对比,并根据两输入端电压值V1、V2的差异情况驱动调节所述MOS管Q8的开度,若所述电流采样电阻R44上的电压值V2小于所述DAC上设定的电压值V1,则增大所述MOS管Q8的开度,反之则减小所述MOS管Q8的开度,从而调整所述放电单元20上的电流,直至所述LM358两个输入端的电压值V1、V2相同为止,此时,所述放电单元20上的电流稳定,即所述容性负载30的放电电流稳定,故,所述容性负载30的放电电荷量对放电时间的比值为一恒定值,即所述容性负载30的放电速度恒定,符合了判断所述容性负载30品质是否合格的前提条件。
具体的,经过预定时间t后,若所述电流采样电阻R44上的电压值V2按照所述恒定的放电速度降至了预定值Vt,则所述容性负载30品质合格,反之,经过预定时间t后,若所述电流采样电阻R44上的电压值V2未按照所述恒定的放电速度降至所述预定值Vt,则所述容性负载30品质不合格。
可以理解的,所述容性负载30的放电过程可包括多个阶段,每个阶段的放电速度控制原理均与上述一个放电阶段相同。
综上所述,所述容性负载30的放电速度可按照所述DAC的设定进行控制调整,放电速度恒定后,放电时间相应的也可以控制,可根据所述容性负载30的各个阶段的相关放电参数(如经过预定时间后所述电流采样电阻R44上的电压值)是否符合预定参数值来准确的判断所述容性负载30的产品品质;同时也可以根据所述容性负载30的放电残影判断产品的显示好坏,如画面切换不流畅、太过生硬或缓慢,则上述容性负载30显示不合格。
本实施例中,所述容性负载放电控制系统还包括连接在所述放电单元20和所述容性负载30之间的稳压单元40,所述稳压单元40用于防止所述容性负载放电控制系统中电压突变对所述容性负载30的损害。在本实施例的一个实施方式中,所述稳压单元40与所述容性负载30并联,所述稳压单元40包括两个并联的电容C21和C22。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种容性负载放电控制系统,其特征在于,包括依次连接的恒流单元和放电单元,所述放电单元与容性负载串联;所述容性负载通过所述放电单元放电,所述恒流单元用于控制所述放电单元的放电速度;所述恒流单元包括LM358、与所述LM358正输入端连接的DAC以及与所述LM358输出端连接的反馈电路;所述放电单元包括串联的电流采样电阻和MOS管;所述LM358的负输入端采集所述电流采样电阻上的电压,所述反馈电路驱动所述MOS管。
2.如权利要求1所述的容性负载放电控制系统,其特征在于,所述容性负载为液晶屏。
3.如权利要求1所述的容性负载放电控制系统,其特征在于,所述放电单元还包括串联在所述MOS管和所述容性负载之间的电流调节电阻。
4.如权利要求1所述的容性负载放电控制系统,其特征在于,所述容性负载放电控制系统还包括连接在所述放电单元和所述容性负载之间的稳压单元。
5.如权利要求4所述的容性负载放电控制系统,其特征在于,所述稳压单元与所述容性负载并联。
6.如权利要求4所述的容性负载放电控制系统,其特征在于,所述稳压单元包括两个并联的电容。
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