CN207164147U - 磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置 - Google Patents

磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置 Download PDF

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CN207164147U CN201721232147.9U CN201721232147U CN207164147U CN 207164147 U CN207164147 U CN 207164147U CN 201721232147 U CN201721232147 U CN 201721232147U CN 207164147 U CN207164147 U CN 207164147U
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高仪隆
朱志辉
高树新
赵起振
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Abstract

磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置，包括机架，机架上设置有磁芯定位装置和电感测试装置，磁芯定位装置上方设置有上测试头，上测试头连接在竖直气缸上，磁芯定位装置下方设置有下测试头，下测试头连接在水平气缸上，所述的上测试头上从上至下具有10个触针，10个触针分别为A1至A10；所述的下测试头上从上至下具有与上测试头上10个触针相对应的触点，10个触点分别为B1至B10；下测试头上的第Bn个触点通过导线与上测试头上的第An+1个触点相接通。本装置测试效率高。

Description

磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置
技术领域
本实用新型涉及磁芯测试装置，特别涉及磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置，属于电子元件测试设备技术领域。
背景技术
磁芯是常见的电子元件，磁芯制造过程中需要测量其电感参数，磁芯电感测试一般情况都是单匝测试，所以现有设备不管是自动机器测试还是手动测试都是单匝测试，但有些高规格产品或用户有特殊要求的产品需要进行多匝(十匝)测试，对于这类产品在生产过程中只能手工缠绕十匝线再测试，传统的十匝测试如附图3所示，首先在磁芯上绕10匝线，线的A、B两端分别连接在电感测试装置上进行测试，测试完成后再将绕线从磁芯上去除，这种方式测试的效率很低，生产成本高，在较小的磁芯的情况下，中心孔直径很小，绕线更为困难，效率更为低下，而且在绕线时采用的直接接触式，步进绕线接触磁芯，人手也接触磁芯，力度稍大的情况下还容易造成磁芯的破坏，如果这种破坏是在测试合格后发生而且没有肉眼观察到的，就会作为良品进入下一道工序，这种情况下越是进入的后续工序多，造成的损失会越大。
发明内容
本实用新型的目的在于克服目前的磁芯电感测试中存在的上述问题，提供一种磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置。
为实现本实用新型的目的，采用了下述的技术方案：磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置，包括机架，机架上设置有磁芯定位装置和电感测试装置，磁芯定位装置上方设置有上测试头，上测试头连接在竖直气缸上，磁芯定位装置下方设置有下测试头，下测试头连接在水平气缸上，所述的上测试头上从上至下具有10个触针，10个触针分别为A1至A10；所述的下测试头上从上至下具有与上测试头上10个触针相对应的触点，10个触点分别为B1至B10；下测试头上的第Bn个触点通过导线与上测试头上的第An+1个触点相接通，n大于等于1小于等于9，磁芯进入磁芯定位装置时，上测试头位于磁芯的中心孔之上，竖直气缸驱动上测试头从磁芯的中心孔中穿过停止后，水平气缸驱动下测试头水平运动使上测试头的10个触针分别与下测试头的10个触点相接触，当作为十匝测试装置时，上测试头上的A1触针和下测试头上的B10触点分别连接至电感测试装置，当作为单匝测试装置时，上测试头上的A1触针和下测试头上的B2触点分别连接至电感测试装置；进一步的，在机架上方设置有竖直滑块，竖直滑块配合设置在滑轨上，竖直滑块连接在竖直气缸的缸杆上。
本实用新型的积极有益技术效果在于：本装置上测试头镶入10个触针，下测试头有10个触点，触针和触点分别依次联接测试线，当上测试头由竖直气缸动作下降后，下测试头在水平气缸驱动下动作，测试针与触点接通，当采用十匝测试的接线模式时，由于触针和触点的接线是按照十匝单循环连接的，所以此时被测磁芯电感值就是十匝绕线后产生的电感值，当采用单匝测试的接线模式时，由于触针和触点的接线是按照单匝连接的，所以此时被测磁芯电感值就是单匝绕线后产生的电感值。
附图说明
图1是本实用新型的整体示意图。
图2是上测试头与下测试头之间的接线示意图。
图3是传统的十匝测试的绕线的示意图。
具体实施方式
为了更充分的解释本实用新型的实施，提供本实用新型的实施实例。这些实施实例仅仅是对本实用新型的阐述，不限制本实用新型的范围。
结合附图对本实用新型进一步详细的解释，附图中各标记为：1：机架；2：上测试头；3：竖直气缸；4：水平气缸；5：下测试头；6：磁芯；7：中心孔；8：竖直滑块；9：滑轨。如附图所示，磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置，包括机架1，机架1上设置有磁芯定位装置和电感测试装置，磁芯定位装置现有的自动和半自动磁芯电感测试设备上具有，属于现有技术，磁芯定位装置上方设置有上测试头2，上测试头2连接在竖直气缸3上，磁芯定位装置下方设置有下测试头5，下测试头5连接在水平气缸4上，所述的上测试头上从上至下具有10个触针，10个触针分别为A1至A10；10个触针分别为如图2所示的A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7、A8、A9、A10，所述的下测试头上从上至下具有与上测试头上10个触针相对应的触点，10个触点分别为B1至B10；10个触针分别为如图2所示的B1、B2、B3、B4、B5、B6、B7、B8、B9、B10，下测试头上的第Bn个触点通过导线与上测试头上的第An+1个触点相接通，n大于等于1小于等于9，即B1连接A2、B1连接A2、B2连接A3、B3连接A4、B4连接A5、B5连接A6、B6连接A7、B7连接A8、B8连接A9、B9连接A10，磁芯进入磁芯定位装置时，上测试头位于磁芯的中心孔7之上，竖直气缸驱动上测试头从磁芯6的中心孔中穿过停止后，水平气缸驱动下测试头水平运动使上测试头的10个触针分别于下测试头的10个触点相接触，当作为十匝测试装置时，上测试头上的A1触针和下测试头上的B10触点分别连接至电感测试装置，当作为单匝测试装置时，上测试头上的A1触针和下测试头上的B2触点分别连接至电感测试装置；在机架上方设置有竖直滑块8，竖直滑块8配合设置在滑轨9上，竖直滑块连接在竖直气缸的缸杆上。
在详细说明本实用新型的实施方式之后，熟悉该项技术的人士可清楚地了解，在不脱离上述申请专利范围与精神下可进行各种变化与修改，凡依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型技术方案的范围，且本实用新型亦不受限于说明书中所举实例的实施方式。

Claims (2)

1.磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置，包括机架，机架上设置有磁芯定位装置和电感测试装置，其特征在于：磁芯定位装置上方设置有上测试头，上测试头连接在竖直气缸上，磁芯定位装置下方设置有下测试头，下测试头连接在水平气缸上，所述的上测试头上从上至下具有10个触针，10个触针分别为A1至A10；所述的下测试头上从上至下具有与上测试头上10个触针相对应的触点，10个触点分别为B1至B10；下测试头上的第Bn个触点通过导线与上测试头上的第An+1个触点相接通，n大于等于1小于等于9，磁芯进入磁芯定位装置时，上测试头位于磁芯的中心孔之上，竖直气缸驱动上测试头从磁芯的中心孔中穿过停止后，水平气缸驱动下测试头水平运动使上测试头的10个触针分别与下测试头的10个触点相接触，当作为十匝测试装置时，上测试头上的A1触针和下测试头上的B10触点分别连接至电感测试装置，当作为单匝测试装置时，上测试头上的A1触针和下测试头上的B2触点分别连接至电感测试装置。
2.根据权利要求1所述的磁芯电感单匝与十匝兼容测试装置，其特征在于：在机架上方设置有竖直滑块，竖直滑块配合设置在滑轨上，竖直滑块连接在竖直气缸的缸杆上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109342824A (zh) * 2018-10-15 2019-02-15 郑州市凯瑞德新材料科技有限公司 一种多匝铁芯电感测试工装及系统

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Granted publication date: 20180330

Pledgee: Bank of China Limited Anyang Branch

Pledgor: ANYANG KAYO-TECH Co.,Ltd.

Registration number: Y2020980001569

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Denomination of utility model: Single turn and ten turn compatibility test device for core inductor

Effective date of registration: 20210415

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