CN207096176U - 一种超声探头辅助扫查装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种超声探头辅助扫查装置，其由壳体、盖板、滑杆、弹簧、平头螺栓、调整螺母、保护膜和滑套构成，所述的壳体为外壳主体，盖板设置在壳体的上部，盖板上设置有盖板中心孔和周围的盖板通孔，平头螺栓通过盖板通孔与壳体上的固定螺栓孔连接，滑套设置在盖板中心孔内，滑套中心设置有滑套中心孔，滑杆设置在滑套中心孔内；调整螺母设置在滑杆上部，保护膜设置在壳体的底部端面，弹簧设置在滑杆下部外圆上；本实用新型达到了良好的使用效果：超声探头辅助扫查装置在检测时，所施加的压力均匀，并能与被检测面更好地耦合，使检测结果更为准确可靠，提高了检测效率，延长了超声探头的使用寿命，降低了成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及无损检测的超声检测领域，尤其涉及一种超声探头辅助扫查装置。
背景技术
超声检测是通过超声波探头发射超声波，经过耦合剂入射到工件中传播，遇到缺陷时反射回来，反射回波被探头接收，根据反射回波在荧光屏上的位置和波辐高低判断缺陷的大小和位置。实际工作中，特别是手工检测接触法扫查过程中，对探头施加的压力若不能保持稳定，则探测到的缺陷回波幅度也会变化，进而影响缺陷的定量。另一方面，由于检测时探头与工件检测面为接触扫查，受力不均匀会使探头底面特别是外部侧面逐渐发生磨损，久之使探头报废。因此，需要超声探头辅助扫查装置，既检测准确可靠，使用方便，又能延长超声探头的寿命。
发明内容
本实用新型提出了一种超声探头辅助扫查装置，它操作方便，可以实现轻松准确的检测；同时，又能提高检测的效率，延长超声探头的使用寿命，降低成本。
本实用新型的目的可采用如下技术方案来实现：
一种超声探头辅助扫查装置，其由壳体、盖板、滑杆、弹簧、平头螺栓、调整螺母、保护膜和滑套构成，所述的壳体为超声探头辅助扫查装置的外壳主体，盖板设置在壳体的上部，盖板上端面上设置有盖板中心孔和周围的盖板通孔，平头螺栓通过盖板通孔与壳体上的固定螺栓孔连接，滑套设置在盖板中心孔内，滑套中心设置有滑套中心孔，滑杆设置在滑套中心孔内；调整螺母设置在滑杆上部，保护膜设置在壳体的底部端面，弹簧设置在滑杆下部外圆上；所述壳体为圆筒形，上部端面上设置有固定螺栓孔；所述的滑杆为T形结构，底部端面上设置有探头插座，下部外圆上设置有滑杆突出台阶，滑杆突出台阶上部端面与弹簧下部接触，滑杆中部圆柱与滑套中心孔间隙配合，上部设置有滑杆外螺纹，顶部设置有滑杆插头。
所述的探头插座由定位孔、锁紧槽、绝缘管和触点构成，定位孔设置在底部端面中心，锁紧槽设置在定位孔内圆上，锁紧槽由轴向槽和内螺旋槽组合构成，绝缘管设置在滑杆的中心轴线上，触点设置在绝缘管的中心轴线上，触点在滑杆插座的中心与滑杆插头的中心触片之间连接。
所述的盖板为圆盘结构，盖板中心设置有盖板中心孔，盖板上端面圆周均匀设置有盖板通孔，盖板通孔上部设置有沉孔，盖板通孔位置与壳体上端面的固定螺栓孔位置对应。
所述的调整螺母外部为多边形，中心设置有调整螺母内螺纹，调整螺母内螺纹与滑杆上部的滑杆外螺纹配合连接。
所述的滑套外圆与盖板中心通孔过盈配合，滑套中心设置滑套中心孔，滑套的外圆下部上设置有滑套突出台阶，滑套突出台阶的上端面与盖板底面接触，滑套突出台阶的下端面与弹簧上部接触。
所述的保护膜为平行垫结构，保护膜的外圆和内孔直径与壳体底面尺寸一致，保护膜由非金属耐磨材料制成。
所述的弹簧为轴向推力弹簧。
通过本实用新型的实施，达到了良好的使用效果：超声探头辅助扫查装置在检测时，所施加的压力均匀，并能与被检测面更好地耦合，使检测结果更为准确可靠；同时，提高了检测效率，延长了超声探头的使用寿命，降低了成本。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图2为图1的A处放大示意图。
图中：1、壳体，2、滑套，3、盖板，4、调整螺母，5、调整螺母内螺纹，6、滑杆外螺纹，7、滑杆插头，8、平头螺栓，9、盖板通孔，10、固定螺栓孔，11、弹簧，12、滑杆突出台阶，13、保护膜，14、探头， 15、盖板中心孔，16、滑套中心孔，17、滑杆，18、锁紧槽，19、触点，20、定位孔，21、绝缘管。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步描述：
通过下面的实施例可以详细地解释本实用新型，公开本实用新型的目的旨在保护本实用新型范围内的一切技术改进。
如图1、图2所示的一种超声探头辅助扫查装置，其由壳体1、盖板3、滑杆17、弹簧11、平头螺栓8、调整螺母4、保护膜13和滑套2构成，所述的壳体1为超声探头辅助扫查装置的外壳主体，壳体1为圆筒形，上部端面上设置有固定螺栓孔10；所述的盖板3设置在壳体1的上部，盖板3为圆盘结构，盖板3上端面上设置有盖板中心孔15和周围的盖板通孔9，盖板通孔9上部设置有沉孔；所述的平头螺栓8通过盖板通孔9与壳体1上固定螺栓孔10连接，盖板通孔9位置与壳体1上端面上固定螺栓孔9位置对应，保证平头螺栓8能够固定准确；所述的滑套2设置在盖板3中心的盖板中心孔15内，滑套2外圆与盖板3中心的盖板中心孔15过盈配合，滑套2中心设置有滑套中心孔16，滑套2的外圆下部设置有滑套突出台阶12，滑套突出台阶12的上端面与盖板3底面接触，下端面与弹簧11上部接触；所述的滑杆17设置在滑套2的滑套中心孔16内，滑杆17为T形结构，底部端面上设置有探头插座，探头插座与超声探头接头配合连接，探头插座由定位孔20、锁紧槽18、绝缘管21和触点19构成，定位孔20设置在滑杆17底部端面中心，锁紧槽18设置在定位孔20内圆上，锁紧槽18由轴向槽和内螺旋槽组合构成，绝缘管21设置在滑杆17的中心轴线上，触点19设置在绝缘管21的中心轴线上，触点19与滑杆插头7的中心触片之间连接；滑杆17下部外圆上设置有滑杆突出台阶12，滑杆17突出台阶12上部端面与弹簧11下部接触，滑杆17中部圆柱设置在滑套2的滑套中心孔16中，滑杆17中部圆柱与滑套2内孔间隙配合，滑杆17在滑套2内可以轴向滑动；滑杆17上部设置有滑杆外螺纹6，顶部设置有滑杆插头7；所述的调整螺母4设置在滑杆17上部的滑杆外螺纹6上，调整螺母4外部为多边形，中心设置有调整螺母内螺纹5，调整螺母内螺纹5与滑杆17上部的滑杆外螺纹6配合连接，通过旋转调整螺母4可以调整下部弹簧11的张紧力；所述的保护膜13设置在壳体1的底部端面，保护膜13为平行垫结构，保护膜13的外圆与内孔直径与壳体1底面尺寸一致，保护膜13由非金属耐磨材料制成，保护膜13起到保护壳体底面和被测量工件的目的；所述的弹簧11设置在滑杆底部的滑杆突出台阶12的端面上，弹簧11为轴向推力弹簧。
在检测前，将超声探头置入到滑杆底部的滑杆插座中锁紧，由壳体1上部放入壳体1中，并使探头突出于壳体保护膜13外，盖上盖板3，将盖板3用平头螺栓8固定在壳体1上；滑杆顶部的滑杆插头7连接好探头线，开启超声检测设备，将本装置整体置于被检工件或试块表面，手持壳体1外部予以按压扫查，使得探头底面与壳体1保护膜13成一平面，并与被检测面接触，检测到回波；根据被检测表面状况和耦合剂，调节调整螺母4，得到检测所需的压力。调整完成，即可开始检测工作，记录数据，检测完毕，提起超声探头辅助扫查装置，关闭检测设备，完成整个检测过程。
本发明未详述部分为现有技术。
Claims (7)
1.一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：其由壳体、盖板、滑杆、弹簧、平头螺栓、调整螺母、保护膜和滑套构成，所述的壳体为超声探头辅助扫查装置的外壳主体，盖板设置在壳体的上部，中心设置有盖板中心孔和周围的盖板通孔，平头螺栓通过盖板通孔与壳体上的固定螺栓孔连接，滑套设置在盖板中心孔内，滑套中心设置有滑套中心孔，滑杆设置在滑套中心孔内；调整螺母设置在滑杆上部，保护膜设置在壳体的底部端面，弹簧设置在滑杆下部外圆上；所述壳体为圆筒形，上部端面上设置有固定螺栓孔；所述的滑杆为T形结构，底部端面上设置有探头插座，下部外圆上设置有滑杆突出台阶，滑杆突出台阶上部端面与弹簧下部接触，滑杆的中部圆柱与滑套中心孔间隙配合，上部设置有滑杆外螺纹，顶部设置有滑杆插头。
2.根据权利要求1所述的一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：所述的探头插座由定位孔、锁紧槽、绝缘管和触点构成，定位孔设置在底部端面中心，锁紧槽设置在定位孔内圆上，锁紧槽由轴向槽和内螺旋槽组合构成，绝缘管设置在滑杆的中心轴线上，触点设置在绝缘管的中心轴线上，触点在滑杆插座的中心与滑杆插头的中心触片之间连接。
3.根据权利要求1所述的一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：所述的盖板为圆盘结构，盖板中心设置有盖板中心孔，盖板上端面圆周均匀设置有盖板通孔，盖板通孔上部设置有沉孔，盖板通孔位置与壳体上端面的固定螺栓孔位置对应。
4.根据权利要求1所述的一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：所述的调整螺母外部为多边形，中心设置有调整螺母内螺纹，调整螺母内螺纹与滑杆上部的滑杆外螺纹配合连接。
5.根据权利要求1所述的一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：所述的滑套外圆与盖板中心通孔过盈配合，滑套中心设置滑套中心孔，滑套的外圆下部上设置有滑套突出台阶，滑套突出台阶的上端面与盖板底面接触，滑套突出台阶的下端面与弹簧上部接触。
6.根据权利要求1所述的一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：所述的保护膜为平行垫结构，保护膜的外圆与内孔直径与壳体底面尺寸一致，保护膜由非金属耐磨材料制成。
7.根据权利要求1所述的一种超声探头辅助扫查装置，其特征是：所述的弹簧为轴向推力弹簧。
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