CN207074250U - 一种os测试系统及装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于集成电路测试技术领域，尤其涉及一种OS测试系统及装置，该OS测试系统连接于主机与待测芯片之间，接收所述主机的测试指令，并根据所述测试指令对所述待测芯片进行OS测试，所述系统包括第一控制芯片、用于选择测试通道的CPLD模块、用于对所述待测芯片进行OS测试的PMU模块和用于与所述主机通信的USB接口模块；所述第一控制芯片分别与所述CPLD模块、所述PMU模块和所述USB接口模块连接，所述CPLD模块和PMU模块均与所述待测芯片连接，所述OS测试系统通过USB接口模块接收主机的测试指令，并根据所述测试指令控制CPLD模块和PMU模块对待测芯片进行OS测试，操作简便、性能稳定、且本装置可独立工作，方便进行扩展，以提高生产效率，降低生产成本。
Description
技术领域
本实用新型属于集成电路测试技术领域，尤其涉及一种OS测试系统及装置。
背景技术
在集成电路芯片封装及生产过程中，常需要对芯片IC进行OS(Open-Short，开短路测试)功能的测试，以对生产工艺及过程中芯片品质进行检测。OS测试能快速检测出集成电路(IC)是否存在电性物理缺陷，如管脚短路、接合线(bond wire)缺失、管脚的静电损坏以及制造缺陷等。OS测试一般需要采用第三方OS测试仪(即，管脚开短路测试仪)对芯片的管脚进行测试，传统的OS测试仪，其内部硬件和电路结构非常复杂，并且体积较大，不利于携带，生产成本高，投入生产周期长。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种OS测试系统及装置，旨在解决传统的OS测试仪的硬件和电路结构非常复杂，并且体积较大，不利于携带，生产成本高，投入生产周期长的问题。
一种OS测试系统，连接于主机与待测芯片之间，接收所述主机的测试指令，并根据所述测试指令对所述待测芯片进行OS测试，所述系统包括第一控制芯片、用于选择测试通道的CPLD模块、用于对所述待测芯片进行OS测试的PMU模块和用于与所述主机通信的USB接口模块；所述第一控制芯片分别与所述CPLD模块、所述PMU模块和所述USB接口模块连接，所述CPLD模块和PMU模块均与所述待测芯片连接，所述USB接口模块与所述主机连接。
进一步，所述CPLD模块包括第二控制芯片和开关芯片，所述第二控制芯片与所述第一控制芯片连接，所述开关芯片分别与所述第二控制芯片和待测芯片连接。
进一步，所述PMU模块包括双运算放大器，所述双运算放大器的第一输入端与所述第一控制芯片连接，所述双运算放大器的第一输出端与所述待测芯片连接，用于向所述待测芯片输出检测电流；所述第一控制芯片连接于所述双运算放大器的第一输出端，用于检测所述双运算放大器的第一输出端的检测电压。
进一步，所述第一控制芯片中集成有模数转换模块，所述模数转换模块与所述CPLD模块连接，用于将所述CPLD模块输出的检测电压转换为数字信号。
进一步，还包括TTL通信接口，用于连接进行自动化检测的自动化设备。
进一步，还包括光耦芯片，所述光耦芯片连接在所述第一控制芯片与所述TTL通信接口之间。
进一步，所述USB接口模块包括协议转换芯片和USB接口，所述协议转换芯片连接在所述第一控制芯和所述USB接口之间。
进一步，所述第一控制芯片为STM32F103芯片。
进一步，所述第二控制芯片为EPM570F256芯片。
此外，还提供了一种OS测试装置，其特征在于，所述OS测试装置包括上述的OS测试系统。
上述的OS测试系统，第一控制芯片通过USB接口模块接收主机的测试指令，并根据所述测试指令控制CPLD模块和PMU模块对待测芯片进行OS测试，操作简便、性能稳定、且本装置可独立工作，方便进行扩展，以提高生产效率，降低生产成本。
附图说明
图1为本实用新型较佳实施例提供的OS测试系统结构示意图；
图2为图1所示的OS测试系统中开关芯片的示例电路原理图；
图3为图1所示的OS测试系统中PMU模块的示例电路原理图；
图4为图1所示的OS测试系统中USB接口模块的示例电路原理图；
图5为图1所示的OS测试系统中TTL通信接口和光耦芯片的示例电路原理图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1示出了本实用新型较佳实施例提供的OS测试系统的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：
一种OS测试系统，与待测芯片40连接并对待测芯片40进行OS测试，该系统包括第一控制芯片10、CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)模块20、PMU(Phasor Measurement Unit，电力系统同步相量测量单元)模块30和USB接口模块50。
第一控制芯片10分别与CPLD模块20、PMU模块30和通信接口连接，用于接收主机60的测试指令，并控制CPLD模块20和PMU模块30对待测芯片40进行OS测试。其中，第一控制芯片10采用STM32F103芯片，集成了UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发传输器)，I2C总线，SPI总线，ADC(模数转换器)，DAC(数模转换器)等众多模块。
CPLD模块20包括第二控制芯片21和开关芯片22，第二控制芯片21与第一控制芯片10连接，开关芯片22分别与第二控制芯片21和待测芯片40连接。第二控制芯片21为复杂可编程逻辑器件，在本实施例中，第二控制芯片21采用EPM570F256芯片，该芯片具有160个IO口，且自带FLASH存储器，方便扩展。开关芯片22采用74HC4051芯片，该芯片为一款8选1模拟开关芯片22，其输入端连接第二控制芯片21，输出端连接待测芯片40的测试引脚，用于测试通道的选择，待测芯片40的每一测试通道连接一路开关芯片22，第二控制芯片21接收到测试指令后，根据该测试指令导通对应的开关芯片22，实现对与该开关芯片22对应的引脚的OS检测。
PMU模块30与第一控制芯片10连接，用于向待测芯片40的测试引脚输入检测电流，进行该测试引脚的OS测试。PMU模块30包括双运算放大器31，双运算放大器31的第一路放大电路用于输出检测电流，第二路放大电路作为反馈电路，具体的，双运算放大器31的第一输入端与第一控制芯片10连接，用于第一控制芯片10输出恒定电压，双运算放大器31的第一输出端与待测芯片40连接，向待测芯片40输出检测电流；双运算放大器31的第二输入端与双运算放大器31的第一输出端连接，双运算放大器31的第二输出端与双运算放大器31的第一输入端连接，用于第一输出端的反馈，形成电压跟随器。第一控制芯片10连接于双运算放大器31的第一输出端，用于测试双运算放大器31的第一输出端的电压值，该电压值即为测试引脚的检测电压，若检测电压的值在预定范围，则认为对应的测试引脚正常。在本实施例中，双运算放大器31采用LM358运算放大器，通过该双运算放大器31向待测芯片40的测试引脚施加检测电流，并测试测试引脚的检测电压，以完成待测芯片40的测试引脚的OS检测。
还包括TTL(Transistor-Transistor Logic，晶体管-晶体管逻辑)通信接口70，TTL通信接口70用于连接自动化设备，例如与外部机械手自动化设备联机通讯，从而实现系统的自动化检测。作为优选地，TTL通信接口70和第一控制芯片10之间还连接有光耦芯片80，用于信号的隔离，防止信号的相互干扰。具体的，该光耦芯片80为TLP281-4光耦芯片，其包括4路光电隔离管，光电隔离管的输入端连接第一控制芯片10的输出端，光电隔离管的输出端连接TTL通信接口70，与外部设备实现通信连接。
其中，USB接口模块50包括协议转换芯片51和USB接口52，协议转换芯片51连接在第一控制芯和USB接口52之间。该协议转换芯片51优选为PL2303芯片，一方面，该协议转换芯片51将从主机60接收的USB数据转换为RS232数据，将转换后的RS232数据传送给第一控制芯片10，另一方面，该协议转换芯片51将从第一控制芯片10接收的RS232数据转换为USB数据，将转换后的USB数据传送回主机60，实现了第一控制芯片10和主机60的通信。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种OS测试系统，连接于主机与待测芯片之间，接收所述主机的测试指令，并根据所述测试指令对所述待测芯片进行OS测试，其特征在于，所述系统包括：第一控制芯片、用于选择测试通道的CPLD模块、用于对所述待测芯片进行OS测试的PMU模块和用于与所述主机通信的USB接口模块；所述第一控制芯片分别与所述CPLD模块、所述PMU模块和所述USB接口模块连接，所述CPLD模块和PMU模块均与所述待测芯片连接，所述USB接口模块与所述主机连接。
2.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，所述CPLD模块包括第二控制芯片和开关芯片，所述第二控制芯片与所述第一控制芯片连接，所述开关芯片分别与所述第二控制芯片和待测芯片连接。
3.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，所述PMU模块包括双运算放大器，所述双运算放大器的第一输入端与第一控制芯片连接；所述双运算放大器的第一输出端与所述待测芯片连接，用于向所述待测芯片输出检测电流；所述第一控制芯片连接于所述双运算放大器的第一输出端，用于检测双运算放大器的第一输出端的检测电压。
4.如权利要求3所述的OS测试系统，其特征在于，所述第一控制芯片中集成有模数转换模块，所述模数转换模块与所述CPLD模块连接，用于将所述CPLD模块输出的检测电压转换为数字信号。
5.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，还包括TTL通信接口，用于连接进行自动化检测的自动化设备。
6.如权利要求5所述的OS测试系统，其特征在于，还包括光耦芯片，所述光耦芯片连接在所述第一控制芯片与所述TTL通信接口之间。
7.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，所述USB接口模块包括协议转换芯片和USB接口，所述协议转换芯片连接在所述第一控制芯和所述USB接口之间。
8.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，所述第一控制芯片为STM32F103芯片。
9.如权利要求2所述的OS测试系统，其特征在于，所述第二控制芯片为EPM570F256芯片。
10.一种OS测试装置，其特征在于，所述OS测试装置包括权利要求1至9所述的OS测试系统。
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|---|---|---|---|---|
| CN109490747A (zh) * | 2018-09-13 | 2019-03-19 | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 | 一种led闪灯类芯片测试系统 |
| CN109490746A (zh) * | 2018-09-13 | 2019-03-19 | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 | 一种spi flash类芯片测试系统 |
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| CN109557447A (zh) * | 2018-09-13 | 2019-04-02 | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 | 一种电源管理类ic测试系统 |
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