CN207007750U - 一种简易多性状x射线衍射仪样品台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种简易多性状X射线衍射仪样品台。本实用新型所述简易多性状X射线衍射仪样品台,包括支撑台、置样台和螺纹杆,所述支撑台上设置有一样品槽和一螺纹孔,所述样品槽和螺纹孔连通,所述置样台位于所述样品槽中,所述螺纹杆的一端旋转穿过所述螺纹孔与样品槽中的置样台固定连接,所述螺纹杆的另一端位于所述支撑台外。本实用新型所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其置样空间的深度可连续调节,适用于测试粉末和不同厚度的片状乃至块状的样品,结构简单成本低,适合推广。
Description
技术领域
本实用新型涉及XRD衍射仪测试领域,特别是一种简易多性状X射线衍射仪样品台。
背景技术
X射线衍射仪是利用衍射原理,对物质进行物相分析,定性分析,定量分析。随着X射线衍射技术的不断发展和进步,测试的样品的种类及形式也有了很大的扩展。X射线衍射仪现已被广泛应用于冶金、化工、环保、能源、生物医药工业和半导体等行业,已成为许多研究机构及工厂实验室的必备仪器。
现有的XRD衍射仪所配用的样品台或已经发明的XRD样品台均是独立测试一种性状的样品,如只测试粉末材料(XRD衍射仪所配的样品台),或只测试片状材料,例如申请号为CN 201420154608.5的中国专利,或只测试块状材料,例如申请号为CN 201220675108.7的中国专利。对于粉末材料测试来讲,XRD衍射仪所配的通用样品台,在进行测试时所需要的样品量较大,对于少量样品测试起来需要相应的其它材料的填充引入,使测试结果中出现背地或杂峰,影响物相分析,难以去除;再者,通用样品台的凹槽深度不可控,无法用于固体块状、片状样品,不规则样品及不宜研磨的样品的测试;此外,在样品测试完成后,只能从样品台中手动抠出样品,及其不便。
实用新型内容
基于此,本实用新型的目的在于,提供一种简易多性状X射线衍射仪样品台,所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其置样空间的深度可连续调节,适用于测试粉末状样品和不同厚度的片状或块状的样品,结构简单成本低,适合推广。
一种简易多性状X射线衍射仪样品台,包括支撑台、置样台和螺纹杆,所述支撑台上设置有一样品槽和一螺纹孔,所述样品槽和螺纹孔连通,所述置样台的形状与所述样品槽相匹配,所述置样台位于所述样品槽中,所述螺纹杆与所述螺纹孔相匹配,所述螺纹杆的一端旋转穿过所述螺纹孔并与样品槽中的置样台固定连接,所述螺纹杆的另一端则位于所述支撑台外,以控制置样台在样品槽中的升降。
本实用新型所述简易多性状X射线衍射仪样品台,通过旋转螺纹杆来调节与螺纹杆相连的置样台在样品槽的升降,使得置样台与样品槽形成的置样空间增大或减小,以适用于粉末和不同厚度的片状乃至块状的样品,简单实用。
进一步地,还包括旋转底托,所述旋转底托设置在所述支撑台的底端并与所述螺纹杆的一端固定连接,所述旋转底托的尺寸大于所述螺纹孔。将旋转的作用力作用在旋转底托上,使得螺纹杆的旋转更容易。
进一步地,所述旋转底托的侧面设置有竖直凸条纹。竖直凸条纹可增大旋转底托与作用点之间的摩擦,可方便调节置样台的升降。
进一步地,还包括限位螺杆,所述支撑台的侧壁上开设有连通所述螺纹孔的限位螺孔,所述限位螺杆的一端螺旋穿进所限位螺孔,所述限位螺杆的另一端位于所述支撑台的侧壁外。限位螺杆的设置,对螺纹杆起到锁定的作用,有效防止螺纹杆发生滑动或位移,对置样台进行进一步的限位和固定。
进一步地,所述限位螺杆位于所述支撑台的侧壁外的一端连接有一旋转把柄。旋转把柄的设置,方便将限位螺杆旋进或旋出。
进一步地,所述支撑台呈长方体状,所述支撑台的台面尺寸为50mm×50mm,高度h1=14mm。
进一步地,所述样品槽呈圆筒状,所述样品槽的直径Φ1=12mm,深度d=10mm。
进一步地,所述置样台为圆饼状,所述置样台的直径Φ2=12mm,厚度h2=2mm。
进一步地,所述螺纹孔的孔径为Φ3=5mm,所述螺纹杆的直径为Φ4=5mm,所述螺纹杆的长度l=13mm。
进一步地,所述旋转底托呈圆饼状,所述旋转底托的直径Φ5=50mm,厚度h3=3mm。
为了更好地理解和实施,下面结合附图详细说明本实用新型。
附图说明
图1为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的主视图;
图2为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的俯视图;
图3为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的沿图2的轴线AA`的剖面图。
具体实施方式
请参照图1-3,分别为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的主视图、俯视图和简易多性状X射线衍射仪样品台的沿图2的轴线AA`的剖面图。
本实用新型所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,包括支撑台1、置样台2、螺纹杆3、旋转底托4、限位螺杆5和旋转把柄6。所述置样台2相嵌在所述支撑台1中,所述旋转底托4设置在所述支撑台1下方,所述螺纹杆3穿过所述支撑台1,所述螺纹杆3的两端分别与所述置样台2和旋转底托4固定连接,所述限位螺杆5穿过所述支撑台1的侧壁对所述螺纹杆3进行限位,以固定所述置样台2的高度。
所述支撑台1为长方体状,所述支撑台1的台面尺寸为50mm×50mm,高度h1=14mm。所述支撑台1上设置有一样品槽11、一螺纹孔12和一限位螺孔13,所述螺纹孔12设置在所述样品槽11底部中心处,并将所述样品槽11的底部与外界连通。所述限位螺孔13设置在所述支撑台1的侧壁上并连通所述螺纹孔12。所述样品槽11呈圆筒状,所述样品槽11的直径Φ1=12mm,深度d=10mm;所述螺纹孔12的孔径为Φ3=5mm。
所述置样台2为圆饼状并与所述样品槽11相匹配,所述置样台2位于所述样品槽11中,形成一个置样空间。所述置样台2的直径Φ2=12mm,厚度h2=2mm。
所述螺纹杆3与所述螺纹孔12相匹配,所述螺纹杆3的一端旋转穿过所述螺纹孔12并与所述样品槽11中的置样台2固定连接。所述螺纹杆3的直径为Φ4=5mm,长度l=13mm。
所述旋转底托4呈圆饼状,所述旋转底托4的侧面设置有竖直凸条纹,所述旋转底托4设置在所述支撑台1的下方,并与所述螺纹杆3位于支撑台1外的另一端固定连接。所述旋转底托4的直径Φ5=50mm,厚度h3=3mm。将旋转作用力作用在所述旋转底托4上带动螺纹杆3旋转以控制置样台2在样品槽11中的升降,使得样品槽11和置样台2所形成的置样空间增大或减小,以适用于放置粉末状样品,不同厚度的片状或块状的样品。
所述限位螺杆5的一端螺旋穿进所述支撑台1的侧壁上的限位螺孔13中,所述限位螺杆5的另一端则位于所述支撑台1的侧壁外,所述限位螺杆5位于所述支撑台1的侧壁外的一端上固定连接有一旋转把柄6。所述限位螺杆5与所述螺纹杆3相互垂直。当置样台2调整到合适的高度后,停止转动旋转底托4,置样台2则被固定在该位置;此时,转动旋转把柄6,将限位螺杆5向螺纹杆3方向旋进,抵住所述螺纹杆3,对螺纹杆3进行锁定,防止螺纹杆3发生滑动。
以上所述所有组件均采用非晶有机玻璃制备而成,如亚克力或玻璃,但不局限于此。
此外,支撑台可为圆柱形台或其他结构,以上各部件的尺寸也可以根据实际需要进行调整。
对于粉末状样品,样品台的使用方法如下:
1、根据粉末状样品的用量,转动旋转底托4,将置样台2调整至样品槽11中合适的高度,然后将粉末状样品放于置样台2上;
2、在支撑台1上放置一平整的玻璃片,所述玻璃片完全覆盖住样品槽11;
3、压紧玻璃片,转动旋转底托4,使得置样台2上升,直到粉末状样品被推至玻璃片上并被压实,然后转动旋转把柄6,将限位螺杆5向螺纹杆3方向旋进,抵住所述螺纹杆3,对螺纹杆3进行锁定,防止其发生滑动;
4、取下玻璃片,完成样品制备,进行测试;
5、测试完毕,转动旋转把柄6,将限位螺杆5向螺纹杆3垂直相反的方向旋出,解除对螺纹杆3的锁定,然后转动旋转底托4,使得置样台2再次上升,从而将粉末状样品推出样品槽。
对于片状或块状的样品,样品台使用方法如下:
1、根据片状或块状样品的厚度,转动旋转底托4,将置样台2调整至样品槽11中合适的高度,然后将片状或块状样品放于置样台2上;
2、如果块状样品底端不平整,可在置样台上放置适量橡皮泥或者块状样品的粉末;
3、在支撑台1上放置一平整的玻璃片,所述玻璃片完全覆盖住样品槽11;
4、压紧玻璃片,转动旋转底托4,使得置样台2上升,直到片状或块状样品被推至玻璃片上并被压实,然后转动旋转把柄6,将限位螺杆5向螺纹杆3方向旋进,抵住所述螺纹杆3,对螺纹杆3进行锁定,防止其发生滑动;
5、取下玻璃片,完成片状或块状样品制备,进行测试。
6、测试完毕,转动旋转把柄6,将限位螺杆5向与螺纹杆3垂直相反的方向旋出,解除对螺纹杆3的锁定,然后转动旋转底托4,使得置样台2再次上升,从而将片状或块状样品推出样品槽11。
本实用新型所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,利用螺旋传动的原理,对置样台2位于样品槽11中的高度进行连续调整,使得置样台2与样品槽11形成的置样空间增大或减小,以适用于放置粉末状样品,不同厚度的片状或块状的样品。此外,通过穿过支撑台侧面的限位螺杆5可对螺纹杆3进行锁定,防止螺纹杆3发生滑动以影响置样台2的高度,保证测试的准确性。对于粉末状样品,可有效控制样品的用量,适用于少量粉末状样品的测试;另外,可直接将样品从样品槽11中推出,方便样品的回收。本实用新型所述的简易多性状X射线衍射仪样品台适用于Bruker AXS D8Advance系列型号的衍射仪的样品测试。
相对于现有技术,本实用新型所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其置样空间的深度可连续调节,适用于测试粉末状样品和不同厚度的片状或块状的样品;样品测试完成后,可将样品推出样品槽,便于样品回收。样品台结构简单成本低,通用性强,适合推广。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:包括支撑台、置样台和螺纹杆,所述支撑台上设置有一样品槽和一螺纹孔,所述样品槽和螺纹孔连通,所述置样台位于所述样品槽中,所述螺纹杆的一端旋转穿过所述螺纹孔与样品槽中的置样台固定连接,所述螺纹杆的另一端位于所述支撑台外。
2.根据权利要求1所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:还包括旋转底托,所述旋转底托设置在所述支撑台的底端并与所述螺纹杆的一端固定连接,所述旋转底托的尺寸大于所述螺纹孔。
3.根据权利要求2所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述旋转底托的侧面设置有竖直凸条纹。
4.根据权利要求3所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:还包括限位螺杆,所述支撑台的侧壁上开设有连通所述螺纹孔的限位螺孔,所述限位螺杆的一端螺旋穿进所限位螺孔,所述限位螺杆的另一端位于所述支撑台的侧壁外。
5.根据权利要求4所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述限位螺杆位于所述支撑台的侧壁外的一端连接有一旋转把柄。
6.根据权利要求5所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述支撑台呈长方体状,所述支撑台的台面尺寸为50mm×50mm,高度h1=14mm。
7.根据权利要求6所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述样品槽呈圆筒状,所述样品槽的直径Φ1=12mm,深度d=10mm。
8.根据权利要求7所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述置样台为圆饼状,所述置样台的直径Φ2=12mm,厚度h2=2mm。
9.根据权利要求5至7任一项所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述螺纹孔的孔径为Φ3=5mm,所述螺纹杆的直径为Φ4=5mm,所述螺纹杆的长度l=13mm。
10.根据权利要求9所述的简易多性状X射线衍射仪样品台,其特征在于:所述旋转底托呈圆饼状,所述旋转底托的直径Φ5=50mm,厚度h3=3mm。
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