CN206862391U - 检测治具及斜顶工件检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种检测治具及斜顶工件检测装置，检测治具包括支撑台、抵持件以及磁性件，支撑台具有用于放置斜顶工件的支撑面，支撑面为一侧高一侧低的斜面。抵持件凸设于支撑面上，抵持件具有用于抵持斜顶工件的抵持面，抵持面或抵持面所在的平面与支撑面相交。检测时，将斜顶工件放置在支撑面上，即可检测斜顶工件的斜度是否合格，检测简便快捷。抵持面能够抵持斜顶工件，从而校平斜顶工件的侧面，省去侧面校正摆平步骤。磁性件进一步对被测的斜顶工件吸附定位，防止斜顶工件滑动和转动，提高检测的准确度和检测效率。

Description

检测治具及斜顶工件检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种检测治具及斜顶工件检测装置。

背景技术

斜顶工件可用于产品内壁的倒扣结构脱模，是模具生产制造过程中的重要组成部分。例如在线切割、数控机床(CNC)及电火花加工(EDM)等模具加工过程中，仅加工一副模具就往往需要多个斜顶工件。斜顶工件的加工精度以及与模板之间的契合度都将直接影响模具产品的好坏。因此需要对生产的斜顶工件进行逐个检测。

然而，传统的检测斜顶工件的治具需要其他标准块较平，在标准块移开过程中由于惯性和磁性会使被检测的斜顶工件受力倾斜，产生滑动和转动，导致检测准确度较低，且影响检测效率。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种不易产生滑动和转动的检测治具及斜顶工件检测装置。

一种检测治具，用于检测斜顶工件，包括：

支撑台，所述支撑台具有用于放置所述斜顶工件的支撑面，所述支撑面为一侧高一侧低的斜面；

抵持件，所述抵持件凸设于所述支撑面上，所述抵持件具有用于抵持所述斜顶工件的抵持面，所述抵持面或所述抵持面所在的平面与所述支撑面相交；以及

磁性件，用于吸附所述斜顶工件，所述磁性件设置在所述支撑台内或者所述抵持件内。

在一个实施方式中，所述支撑台上设有用于放置所述磁性件的定位孔，所述磁性件露在所述定位孔外的端面与所述支撑面齐平或低于所述支撑面。

在一个实施方式中，所述磁性件设置在所述支撑面与所述抵持面的交界处。

在一个实施方式中，所述抵持件上设有缺口槽，所述缺口槽自所述抵持面向内凹陷而成。

在一个实施方式中，所述缺口槽贯穿所述抵持件远离所述支撑面的表面。

在一个实施方式中，所述抵持面与所述支撑面相互垂直。

在一个实施方式中，所述抵持件靠近所述支撑面的边缘设置。

在一个实施方式中，所述磁性件为磁铁或电磁铁。

在一个实施方式中，所磁性件包括第一子磁性件、第二子磁性件以及第三子磁性件，所述第一子磁性件、所述第二子磁性件以及所述第三子磁性件沿所述支撑面较高的一侧向较低的一侧依次排列。

一种斜顶工件检测装置，包括上述的检测治具。

上述检测治具包括支撑台、抵持件以及磁性件，支撑台具有用于放置斜顶工件的支撑面，支撑面为一侧高一侧低的斜面。抵持件凸设于支撑面上，抵持件具有用于抵持斜顶工件的抵持面，抵持面或抵持面所在的平面与支撑面相交。检测时，将斜顶工件放置在支撑面上，即可检测斜顶工件的斜度是否合格，检测简便快捷。抵持面能够抵持斜顶工件，从而校平斜顶工件的侧面，省去侧面校正摆平步骤。磁性件进一步对被测的斜顶工件吸附定位，防止斜顶工件滑动和转动，提高检测的准确度和检测效率。

附图说明

图1为一实施方式的检测治具的结构示意图；

图2为在传统的检测治具上检测斜顶工件时的示意图；

图3为在传统的检测治具上检测斜顶工件时的一个使用状态图；

图4为在传统的检测治具上检测斜顶工件时的一个使用状态图；

图5为在传统的检测治具上检测斜顶工件时的一个使用状态图；

图6为在图1中的检测治具上检测斜顶工件时的示意图；

图7为图1中的检测治具的部分结构的示意图；

图8为图1中示的检测治具的部分结构的示意图；

图9为图1中的检测治具的部分结构的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施方式的限制。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是与另一个元件“相连”或“相连通”，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“上”、“下”、“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

请参阅图1，一实施方式的检测治具10，用于检测斜顶工件，包括支撑台100、抵持件110以及磁性件200。支撑台100用于支撑斜顶工件，支撑台100具有用于放置斜顶工件的支撑面101，支撑面101为一侧高一侧低的斜面。抵持件110凸设于支撑面101上，抵持件110具有用于抵持斜顶工件的抵持面111，抵持面111或抵持面111所在的平面与支撑面101相交。磁性件200用于吸附斜顶工件，磁性件200设置在支撑台100内或者抵持件110内。

具体地，请参阅图2，在传统的检测治具10’上检测斜顶工件20时，将斜顶工件20置于检测治具10’上，由于惯性和磁性，如图3所示，被检测的斜顶工20容易受力倾斜，在检测治具10’上产生滑动。或如图4所示，斜顶工件20在检测治具10’上容易转动，导致检测准确度较低。另外，请参阅图5，在检测斜顶工件20时，还需要在的检测治具10’上增加标准块30’以较平侧面，影响检测效率。

而使用检测治具10检测时，请参阅图6，将斜顶工件20放置在支撑面101上，由于支撑面101具有一定的斜度，与斜顶工件20匹配，便于检测斜顶工件20的斜度是否合格。与支撑面101相交的抵持面111可用于抵持斜顶工件20，从而校平斜顶工件20的侧面，省去侧面校正摆平步骤。磁性件200进一步对被测的斜顶工件20吸附定位，防止斜顶工件20滑动和转动，提高检测的准确度和检测效率。

在一个实施方式中，请参阅图7，抵持件110靠近支撑面101的边缘设置。即抵持件110设置在支撑台100的侧边，抵持件110与支撑台100可以是一体成型的结构，也可以是两个部件的组合。本实施方式中，抵持件110与支撑台100为一体成型的结构。抵持件110的抵持面111可用于抵持被检测的斜顶工件，从而校平斜顶工件20的侧面，省去侧面校正摆平步骤。

具体地，抵持面111与支撑面101相互垂直，从而较平斜顶工件20，提高检测的准确性。

在一个实施方式中，磁性件200设置在支撑面101与抵持面111的交界处。将斜顶工件20置于支撑面101上后，通过磁性件200的吸附作用，自动将斜顶工件20吸附与抵持面111抵接从而进行侧面较平，方便快捷。

在一个实施方式中，磁性件200为磁铁，通过磁铁的吸引力吸附斜顶工件20，防止斜顶工件20滑动或转动。在其他实施方式中，磁性件200还可以为其他能够产生磁性吸附的作用力的元件，例如电磁铁等。

具体地，磁性件200可以设置在支撑台100内，也可以设置在抵持件110内。进一步地，磁性件200还可以在支撑台100和抵持件110内分别设置。

在一个实施方式中，支撑台100上设有用于放置磁性件200的定位孔103，磁性件200露在定位孔103外的端面与支撑面101齐平或低于支撑面101。通过磁性件200与斜顶工件20之间的相互吸引力固定斜顶工件20，保证支撑面101的平整性，提高检测准确性。

在另一个实施方式中，磁性件200凸设于支撑面101外，从而对斜顶工件20进行限位和定位。

在一个实施方式中，磁性件200的数量为多个，通过多个磁性件200之间的相对位置，初步检测斜顶工件20的长度等参数。

具体地，磁性件200为圆柱型磁性件，当磁性件200设置在定位孔103中后，与定位孔103的接触面平滑，从而形成更加稳固的连接方式。

在一个实施方式中，请参阅图8，抵持件110上设有缺口槽113，缺口槽113自抵持面111向内凹陷而成。即缺口槽113的开口设置在抵持面111上。当斜顶工件20紧靠抵持面111放置后，通过抵持面111较平斜顶工件20的侧面。缺口槽113的开口设置在抵持面111上，缺口槽113自抵持面111向内凹陷而成，使得在缺口槽113位置上的部分抵持件110与被检测的斜顶工件20存在一定的间隙，从而便于取放斜顶工件20，提高检测效率。

进一步的，缺口槽113在贯穿抵持件110远离支撑面111的表面，缺口槽113的深度较大，从而便于取放斜顶工件20，提高检测效率。

在一个实施方式中，缺口槽113为弧形的缺口槽，例如半圆形。

在本实施方式中，定位孔103设置在支撑面101与抵持面111的交界处，缺口槽113与定位孔103连通，这种设置便于在模具上开孔。设置在定位孔103内的磁性件200将斜顶工件20限定位置，而缺口槽113便于取放斜顶工件20，提高检测效率。

在一个实施方式中，请参阅图9，磁性件200包括第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子磁性件230，第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子定位230件沿支撑面101较高的一侧向较低的一侧依次排列。当斜顶工件20放置在支撑面101上后，通过第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子磁性件230的限位，增加牢固性，防止斜顶工件20的滑动和转动。

具体地，第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子磁性件230均为圆柱型磁铁。进一步地，第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子磁性件230三者处于同一直线上，对斜顶工件20进行多个位置的定位，提高检测的准确性。

具体地，第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子磁性件230设置在支撑面101与抵持面111的交界处。将斜顶工件20置于支撑面101上后，通过第一子磁性件210、第二子磁性件220以及第三子磁性件230的吸附作用，将斜顶工件20吸附与抵持面111抵接从而进行侧面较平，方便快捷。

上述检测治具10包括支撑台100、抵持件110以及磁性件200，支撑台100具有用于放置斜顶工件20的支撑面101，支撑面101为一侧高一侧低的斜面。抵持件110凸设于支撑面上，抵持件110具有用于抵持斜顶工件20的抵持面，抵持面111或抵持面111所在的平面与支撑面101相交。检测时，将斜顶工件20放置在支撑面101上，即可检测斜顶工件20的斜度是否合格，检测简便快捷。抵持面111能够抵持斜顶工件20，从而校平斜顶工件20的侧面，省去侧面校正摆平步骤。磁性件200进一步对被测的斜顶工件20吸附定位，防止斜顶工件20滑动和转动，提高检测的准确度和检测效率。

一实施方式的斜顶工件检测装置，包括上述的检测治具10。检测治具10通过支撑台100置于斜顶工件检测装置上，从而对斜顶工件20进行检测。

上述斜顶工件检测装置包括检测治具10，检测时能够防止斜顶工件20滑动和转动，提高检测的准确度和检测效率

以上所述实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施方式仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种检测治具，用于检测斜顶工件，其特征在于，包括：

支撑台，所述支撑台具有用于放置所述斜顶工件的支撑面，所述支撑面为一侧高一侧低的斜面；

抵持件，所述抵持件凸设于所述支撑面上，所述抵持件具有用于抵持所述斜顶工件的抵持面，所述抵持面或所述抵持面所在的平面与所述支撑面相交；以及

磁性件，用于吸附所述斜顶工件，所述磁性件设置在所述支撑台内或者所述抵持件内。

2.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述支撑台上设有用于放置所述磁性件的定位孔，所述磁性件露在所述定位孔外的端面与所述支撑面齐平或低于所述支撑面。

3.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述磁性件设置在所述支撑面与所述抵持面的交界处。

4.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述抵持件上设有缺口槽，所述缺口槽自所述抵持面向内凹陷而成。

5.根据权利要求4所述的检测治具，其特征在于，所述缺口槽贯穿所述抵持件远离所述支撑面的表面。

6.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述抵持面与所述支撑面相互垂直。

7.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述抵持件靠近所述支撑面的边缘设置。

8.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述磁性件为磁铁或电磁铁。

9.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所磁性件包括第一子磁性件、第二子磁性件以及第三子磁性件，所述第一子磁性件、所述第二子磁性件以及所述第三子磁性件沿所述支撑面较高的一侧向较低的一侧依次排列。

10.一种斜顶工件检测装置，其特征在于，包括如权利要求1～9任一项所述的检测治具。