CN206772330U - 一种三维调整测量基座 - Google Patents

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余靖华
田甜
陈�峰
陈一峰
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Abstract

本实用新型公开了一种三维调整测量基座,包括支座、X‑Y轴基座、X轴基板、Y轴基板,所述Y轴基板通过螺钉固定在支座上,所述X‑Y轴基座设置在Y轴基板上,所述Y轴基板两侧设有Y轴支座,所述X‑Y轴基座上设有U型开口的X轴底板以及设置在X轴底板上U型结构的X轴基板,所述X轴底板上的两个U型端上分别设有X‑Z轴调整座和X轴调整座,所述X轴基板上的U型开口处设有Z轴,所述Z轴上安装有Z轴锁定板。本实用新型实现了三个相互垂直轴的微角度调整,调整精度高,操作简单。

Description

一种三维调整测量基座
技术领域
本实用新型涉及测量基座技术领域,尤其涉及一种三维调整测量基座。
背景技术
测量基座的在激光测量应用方面,基座的作用就是使激光射出的激光束反射回到“某一特定的点”上,反射光束能否回到特点的点直接影响测量精度。现有一些测量基座的机构太复杂成本也高,调整是直线调整,不能实现角度调整,而本实用新型测量基座主要功能是绕三个相互垂直轴的微角度调整。
实用新型内容
本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本实用新型的一个目的在于提出一种三维调整测量基座,实现了三个相互垂直轴的微角度调整,调整精度高,操作简单。
根据本实用新型实施例的一种三维调整测量基座,包括支座、X-Y轴基座、X轴基板、Y轴基板,所述Y轴基板通过螺钉固定在支座上,所述X-Y轴基座设置在Y轴基板上,所述Y轴基板两侧设有Y轴支座,所述X-Y轴基座上设有U型开口的X轴底板以及设置在X轴底板上U型结构的X轴基板,所述X轴底板上的两个U型端上分别设有X-Z轴调整座和X轴调整座,所述X轴基板上的U型开口处设有Z轴,所述Z轴上安装有Z轴锁定板。
在本实用新型的一些实施例中,所述X-Y轴基座上对称设有第一调整螺钉并通过锁紧螺母固定,所述X-Y轴基座上设有限位螺钉。
在本实用新型的另一些实施例中,所述X-Z轴调整座和X轴调整座上方均设有第二调整螺钉并通过锁紧螺母固定。
在本实用新型的另一些实施例中,所述X-Z轴调整座一侧设有两个第三调整螺钉并通过锁紧螺母固定。
在本实用新型的另一些实施例中,所述X轴基板上左右对称设有四个第四调整螺钉并通过锁紧螺母固定。
在本实用新型的另一些实施例中,所述X轴基板底端设有与X轴底板的U型开口相匹配的U型口凹槽。
本实用新型中,通过左右各设的两个第四调整螺钉来微调X轴基板在X轴底板上位置,X-Y轴基座上的第一调整螺钉可以微调X-Y轴基座在Z轴方向的高度,并通过第二调整螺钉来调节X轴基板的倾斜角度,使Z轴达到竖直位置,同时也达到了Z轴的Z轴调节,通过第三调整螺钉来微调整调整物件在Y轴的位置,实现了三个相互垂直轴的微角度调整,调整精度高,操作简单。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1为本实用新型提出的一种三维调整测量基座的结构示意图;
图2为X轴底板的结构示意图;
图3为X轴基板的结构示意图;
图4是图3的左视图;
图中:1-支座、2-X-Y轴基座、3-Y轴基板、4-X轴基板、41-U型口凹槽、5-Z轴锁定板、6-X-Z轴调整座、7-X轴调整座、8-Y轴支座、9-Z轴、10-第一调整螺钉、11-第二调整螺钉、12-第三调整螺钉、13-限位螺钉、14-第四调整螺钉、15-X轴底板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参照图1,一种三维调整测量基座,包括支座1、X-Y轴基座2、X轴基板4、Y轴基板3,Y轴基板3通过螺钉固定在支座1上,X-Y轴基座2设置在Y轴基板3上,Y轴基板3两侧设有Y轴支座8,X-Y轴基座2上设有U型开口的X轴底板15以及设置在X轴底板15上U型结构的X轴基板4,X轴底板15上的两个U型端上分别设有X-Z轴调整座6和X轴调整座7,X轴基板4上的U型开口处设有Z轴9,Z轴9上安装有Z轴锁定板5。
X-Y轴基座2上对称设有第一调整螺钉10并通过锁紧螺母固定,X-Y轴基座2上设有限位螺钉13,X-Z轴调整座6和X轴调整座7上方均设有第二调整螺钉11并通过锁紧螺母固定,X-Z轴调整座6一侧设有两个第三调整螺钉12并通过锁紧螺母固定,X轴基板4上左右对称设有四个第四调整螺钉14并通过锁紧螺母固定,X轴基板4底端设有与X轴底板15的U型开口相匹配的U型口凹槽41。
X轴调整:X轴基板4上的U型口凹槽41的口径大于X轴底板15的U型开口的厚度,可以通过左右各设的两个第四调整螺钉14来微调X轴基板4在X轴底板15上位置。
Z轴调整:X-Y轴基座2上的第一调整螺钉10可以微调X-Y轴基座2在Z轴方向的高度,并通过第二调整螺钉11来调节X轴基板4的倾斜角度,使Z轴9达到竖直位置,同时也达到了Z轴9的Z轴调节。
Y轴调节:通过第三调整螺钉12来微调整调整物件在Y轴的位置。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种三维调整测量基座,其特征在于:包括支座、X-Y轴基座、X轴基板、Y轴基板,所述Y轴基板通过螺钉固定在支座上,所述X-Y轴基座设置在Y轴基板上,所述Y轴基板两侧设有Y轴支座,所述X-Y轴基座上设有U型开口的X轴底板以及设置在X轴底板上U型结构的X轴基板,所述X轴底板上的两个U型端上分别设有X-Z轴调整座和X轴调整座,所述X轴基板上的U型开口处设有Z轴,所述Z轴上安装有Z轴锁定板。
2.根据权利要求1所述的一种三维调整测量基座,其特征在于:所述X-Y轴基座上对称设有第一调整螺钉并通过锁紧螺母固定,所述X-Y轴基座上设有限位螺钉。
3.根据权利要求1所述的一种三维调整测量基座,其特征在于:所述X-Z轴调整座和X轴调整座上方均设有第二调整螺钉并通过锁紧螺母固定。
4.根据权利要求1所述的一种三维调整测量基座,其特征在于:所述X-Z轴调整座一侧设有两个第三调整螺钉并通过锁紧螺母固定。
5.根据权利要求1所述的一种三维调整测量基座,其特征在于:所述X轴基板上左右对称设有四个第四调整螺钉并通过锁紧螺母固定。
6.根据权利要求1所述的一种三维调整测量基座,其特征在于:所述X轴基板底端设有与X轴底板的U型开口相匹配的U型口凹槽。
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CN109185620A (zh) * 2018-09-29 2019-01-11 嘉善县实验中学 一种手调式实验平台

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