CN206710555U - 芯片检测防护结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片检测防护结构，其技术方案要点是包括检测台、位于检测台上对芯片施加电流的通电装置，述通电装置处罩设有防护壳，所述防护壳设置为采用连接组件连接于检测台上的防护板，所述连接组件包括贯穿防护板的固定销轴、位于检测台上用于容纳固定销轴的固定筒，所述固定筒的筒底设有抵触于固定销轴上的弹性件。由于防护壳将通电装置与外界隔离，工作人员不易受到电流伤害。同时，当工作人员不小心压到防护壳时，由于固定筒的筒底设有弹性件，能够在一定程度上缓解外力产生的压力，若防护壳的外形、相对位置始终不变，则在受外力时容易折断；这种具有弹性的结构能够在一定程度上延长防护壳的使用寿命。

Description

芯片检测防护结构

技术领域

本实用新型涉及芯片检测防护设备，特别涉及一种芯片检测防护结构。

背景技术

芯片在生产过程中，废品率大约是百分之十，需通过检测装置测试后，将合格的产品与不合格的产品区分来开。

检测过程需要对芯片通电，通电所需电流高达千伏，若直接将通电装置暴露在空气中，则具有很大安全隐患。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种芯片检测防护结构，其具有能够降低通电检测时对工作人员的安全隐患的优点。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种芯片检测防护结构，包括检测台、位于检测台上对芯片施加电流的通电装置，述通电装置处罩设有防护壳，所述防护壳设置为采用连接组件连接于检测台上的防护板，所述连接组件包括贯穿防护板的固定销轴、位于检测台上用于容纳固定销轴的固定筒，所述固定筒的筒底设有抵触于固定销轴上的弹性件。

通过采用上述技术方案，当需要通电检测时，由于防护壳将通电装置与外界隔离，工作人员不易受到电流伤害。同时，当工作人员不小心压到防护壳时，由于固定筒的筒底设有弹性件，能够在一定程度上缓解外力产生的压力，若防护壳的外形、相对位置始终不变，则在受外力时容易折断；这种具有弹性的结构能够在一定程度上延长防护壳的使用寿命。

进一步设置：所述固定筒包括垂直固连于检测台上的筒体，所述筒体内壁设有内螺纹，所述固定销轴的外圆表面上设有与筒体内壁相配合的外螺纹。

通过采用上述技术方案，螺纹连接的连接强度可靠，固定销轴与筒体相互配合时，还能够通过调节固定销轴的转动控制固定销轴与筒体之间的相对位置关系，若需要防护板与检测台之间的距离较大时，将固定销轴转动至与筒体的口部相靠近的位置；当需要防护板与检测台之间的距离较小时，将固定销轴转动至与筒体底部相靠近的位置，即能够实现防护板与检测台之间的不同大小的距离。

进一步设置：所述内螺纹从筒体内壁背离检测台的一端延伸至筒体内壁的中段处，所述外螺纹从固定销轴靠近检测台的一端延伸至固定销轴的中段处。

通过采用上述技术方案，当固定销轴与筒体之间转动至一定程度时，内螺纹与外螺纹相互之间脱离，固定销轴上设有外螺纹的一段位于筒体内内壁光滑的一段处，此时固定销轴能够在筒体内竖直运动，当运动至抵触在筒体底部的弹性件上时，弹性件将固定销轴抵触，外力推动防护板带动固定销轴下压时，将弹性件下压至形变，撤去外力后，弹性件复位，降低刚性折断的可能性。

进一步设置：所述外螺纹的竖直高度与内螺纹的竖直高度相等。

通过采用上述技术方案，当设有外螺纹的固定销轴与设有内螺纹的筒体相互之间发生转动时，转动到两者相互之间不再被螺纹限位时，能够相互之间同时撤去对彼此的限位。

进一步设置：所述弹性件固设于筒体底部，所述弹性件设置为“V”形弹性片，所述弹性片的一处侧边贴设于筒体底部。

通过采用上述技术方案，“V”形弹性片结构简单，在具有弹性的同时，相较于结构复杂的弹性件，能够降低弹性片受损的可能性。

进一步设置：所述弹性片的两个侧边之间通过圆弧状的片状零件相连接。

通过采用上述技术方案，圆弧形的片状零件由于自身的形状具有一定弹性，在受到外力时，发生形变进行缓冲，不易产生裂痕，延长了使用寿命。

进一步设置：所述弹性件设置为压簧，所述压簧一端固连于桶体底部，另一端与抵触于固定销轴靠近筒体底部的一端。

通过采用上述技术方案，压簧具有稳定的结构，相较于其他类型的弹性件，压簧在长期使用的前提下，失效所需的时间更长，弹力更大，使用效果更好。

进一步设置：所述压簧靠近固定销轴的一端上设有与固定销轴的端面平行的抵触片。

通过采用上述技术方案，抵触片能够增大压簧与固定销轴之间的连接面积，当固定销轴下压时，与抵触片相接，使压簧的端部能够均匀受力。

进一步设置：所述防护板设置为矩形透明板件，所述连接组件中的固定销轴贯穿于防护板其中一条棱边的两端。

通过采用上述技术方案，透明材质便于观察内部额结构是否稳定，固定销轴限位其中一边，则该条边处能够与检测台之间发生相对位移。

作为优选，所述防护板背离设有固定销轴的棱边一侧还设有固定钉，所述固定钉设置为固定连接于检测台上的螺钉。

通过采用上述技术方案，固定钉能够将防护板的一侧与检测台之间的相对位置固定，使得当防护板另一侧发生形变时，整片防护板不易与检测台之间发生过大的位移，不易抵触到检测台上的通电处。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：能够有效保护同游电流的部位，同时，防护板设置为透明，便于在工作工程中观测到运动过程；防护板与检测台之间的相对位置并非一成不变，一定程度的形变能够降低防护板受外力后折损的可能性。

附图说明

图1是实施例1中用于体现设备整体的结构示意图；

图2是实施例1中用于体现设备整体的结构示意图；

图3是实施例1中图2的A部放大图用于体现辅助轮的结构；

图4是实施例1中用于体现通电装置处的结构示意图；

图5是实施例1中图4的B部放大图用于体现固定筒和固定销轴的结构；

图6是实施例2中用于体现通电装置处的结构示意图；

图7是实施例2中图6的C部放大图用于体现固定筒和固定销轴的结构。

图中，1、检测台；2、通电装置；3、防护壳；31、防护板；4、连接组件；41、固定销轴；42、固定筒；421、筒体；43、弹性件；431、弹性片；432、压簧；433、抵触片；44、内螺纹；45、外螺纹；5、固定钉；6、振动盘；7、出料轨道；71、第一轨道；72、第二轨道；8、辅助上料装置；81、辅助轮；82、旋转驱动装置；9、上料格；10、芯片；11、进料槽；12、防护片；13、传动口；14、传动轮；15、上料层；16、格条；17、第三轨道；18、减速器。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

实施例1：一种芯片检测防护结构，如图1和2所示，包括振动盘6，振动盘6的出料口处连接有出料轨道7，出料轨道7背离振动盘6的一端与检测台1相连。在检测台1上设置有通电装置2，芯片10从振动盘6内出料至通电装置2处后，由通电装置2对芯片10通电，检测芯片10是否合格。

如图1和2所示，振动盘6的出料口位于水平面内，检测台1位于竖直平面内。为了将振动盘6的出料口与检测台1上的通电装置2相连，出料轨道7设置为异形，分为与振动盘6的出料口共面的水平的第一轨道71、贴设于检测台1上的竖直的第三轨道17，第一轨道71和第三轨道17均为直线型。第一轨道71和第三轨道17之间通过圆弧形的第二轨道72连接，第二轨道72与第一轨道71、第三轨道17均相切。

如图2和3所示，第一轨道71、第二轨道72、第三轨道17均包括直接与芯片10接触的进料槽11、包覆于进料槽11外的防护片12，防护片12共有两片，分别位于进料槽11面向地面一侧和背离地面一侧。进料槽11的截面设置为“U”形，“U”形进料槽11的槽口与槽底位于同一水平面内，当芯片10位于进料槽11内时，芯片10的主体部分位于进料槽11内，芯片10的引脚伸出进料槽11外，芯片10在进料槽11内时，其中心轴线能够处于水平放置的状态。

如图2和3所示，在第二轨道72面向地面一侧的进料槽11和防护片12上开设有传动口13，传动口13位于第二轨道72的圆弧部分，在传动口13处设有辅助上料装置8，辅助上料装置8包括填补在传动口13处充当第二轨道72的一部分的辅助轮81，辅助轮81通过旋转驱动装置82带动，旋转驱动装置82设置为电机，电机与辅助轮81之间还设有减速器18。

如图2和3所示，辅助轮81包括位于其圆心处与减速器18的输出轴相连的传动轮14，传动轮14的外圆表面包覆一层上料层15，上料层15的外圆表面环形阵列有若干格条16，相邻两条格条16组成一个上料格9，芯片10即落于上料格9中。

当芯片10通过出料轨道7被输送至通电装置2处后，由通电装置2对芯片10通电测试。通电装置2分为两部分，其中一部分电流不易逸出的部分固设于第三轨道17上，另一部分位于第三轨道17侧边，易有电流漏出。在易漏出电流的部分设有防护壳3，防护壳3设置为与检测台1平行的透明材质制成的防护板31。为了起到绝缘效果，防护板31采用有机玻璃制成。

如图4所示，防护板31呈矩形，在其四个顶角处均被限位，其中，位于竖直设置的防护板31背离地面一侧的棱边的两端设置固定钉5对防护板31进行限位。固定钉5采用螺钉，将防护板31与检测台1之间的距离限定。

如图4和5所示，在防护板31靠近地面一侧的棱边两端设置连接组件4。连接组件4包括固设于检测台1上的固定筒42，固定筒42设置为竖直于检测台1上的中空筒体421，在筒体421的内壁设置内螺纹44，内螺纹44从筒体421背离检测台1的一端起，延伸至筒体421的中部。在筒体421内设有固定销轴41，固定销轴41的外圆表面设有外螺纹45，外螺纹45从固定销轴41伸入固定筒42的一端起，延伸至固定销轴41的中段处。内螺纹44与外螺纹45的竖直高度相等。

如图4和5所示，在筒体421底部还固定有弹性件43，弹性件43设置为“V”形的弹性片431，弹性片431分为两直板状的片状零件，两个片状零件之间通过圆弧形的片状零件相连。其中一个直板状片状零件固定贴设于筒体421底部。

固定销轴41贯穿防护板31后穿入筒体421中，转动固定销轴41至内螺纹44与外螺纹45相互脱离，此时固定销轴41上设有外螺纹45的一段落在筒体421内内壁光滑的一段中，且固定销轴41能够在筒体421内壁上下运动，固定销轴41的运动的两个极限位置分别是固定销轴41向筒体421外拉出至内螺纹44、外螺纹45相互抵触、固定销轴41向筒体421内推入至抵触于弹性件43且弹性件43形变。如此当防护板31受外力时，防护板31能够带动固定销轴41运动，固定销轴41与固定筒42之间能够实现的相对运动的行程范围即为防护板31能够缓冲运动的运动范围。

故当工作人员不慎压到防护板31时，防护板31能够下压一定程度，随后由弹性件43将固定销轴41推起复位。

实施例2：一种芯片检测防护结构，如图6和7所示，与实施例1的不同之处在于，本实施例中的弹性件43设置为压簧432，压簧432的一端固连于筒体421底部，另一端上固连有一片平行于筒体421底部的圆心抵触片433。当固定销轴41下压时，与固定销轴41相接触额为抵触片433。

上述的实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (10)

1.一种芯片检测防护结构，包括检测台（1）、位于检测台（1）上对芯片（10）施加电流的通电装置（2），其特征在于：所述通电装置（2）处罩设有防护壳（3），所述防护壳（3）设置为采用连接组件（4）连接于检测台（1）上的防护板（31），所述连接组件（4）包括贯穿防护板（31）的固定销轴（41）、位于检测台（1）上用于容纳固定销轴（41）的固定筒（42），所述固定筒（42）的筒底设有抵触于固定销轴（41）上的弹性件（43）。

2.根据权利要求1所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述固定筒（42）包括垂直固连于检测台（1）上的筒体（421），所述筒体（421）内壁设有内螺纹（44），所述固定销轴（41）的外圆表面上设有与筒体（421）内壁相配合的外螺纹（45）。

3.根据权利要求2所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述内螺纹（44）从筒体（421）内壁背离检测台（1）的一端延伸至筒体（421）内壁的中段处，所述外螺纹（45）从固定销轴（41）靠近检测台（1）的一端延伸至固定销轴（41）的中段处。

4.根据权利要求3所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述外螺纹（45）的竖直高度与内螺纹（44）的竖直高度相等。

5.根据权利要求4所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述弹性件（43）固设于筒体（421）底部，所述弹性件（43）设置为“V”形弹性片（431），所述弹性片（431）的一处侧边贴设于筒体（421）底部。

6.根据权利要求5所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述弹性片（431）的两个侧边之间通过圆弧状的片状零件相连接。

7.根据权利要求4所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述弹性件（43）设置为压簧（432），所述压簧（432）一端固连于桶体底部，另一端与抵触于固定销轴（41）靠近筒体（421）底部的一端。

8.根据权利要求7所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述压簧（432）靠近固定销轴（41）的一端上设有与固定销轴（41）的端面平行的抵触片（433）。

9.根据权利要求8所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述防护板（31）设置为矩形透明板件，所述连接组件（4）中的固定销轴（41）贯穿于防护板（31）其中一条棱边的两端。

10.根据权利要求9所述的芯片检测防护结构，其特征在于：所述防护板（31）背离设有固定销轴（41）的棱边一侧还设有固定钉（5），所述固定钉（5）设置为固定连接于检测台（1）上的螺钉。