CN206696347U - 芯片磁场测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及自动化设备技术领域，尤其涉及芯片磁场测试设备，包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座，所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。本实用新型芯片磁场测试设备，能够提供具有磁场的环境以对芯片进行测试，并自动判断被测试的该芯片是否符合要求，进而判断出该芯片是否为合格的产品。
Description
技术领域
本实用新型涉及自动化设备技术领域，尤其涉及芯片磁场测试设备。
背景技术
电子产品越来越超薄化，其内部元器件和芯片的密集度越来越高，而芯片的好坏直接会影响电子产品的正常应用。而芯片在完成生产之前需要进行检测工序对其进行检测，一般采用指南针测试方法对芯片进行测试。现有的指南针测试技术，只能针对芯片常用的功能测试，而不能对芯片在磁场环境下进行检测，从而无法判断生产出的芯片是否适应在磁场中使用或者在磁场中使用时会出现何种不良反应，对于芯片技术高度发展的今天，显然有些落后和不便。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种芯片磁场测试设备，旨在解决现有技术无法实现对芯片在磁场环境下进行检测的技术问题。
为实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种芯片磁场测试设备，包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座，所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。
优选地，所述测试数据反馈装置包括用于将所述测试信号转换为电信号的解码板，所述解码板设于所述隔磁箱体内并与所述控制柜通讯连接。
优选地，所述芯片磁场测试设备还包括设于所述隔磁箱体内的磁场检测器，所述磁场检测器与所述控制柜通讯连接以用于检测所述隔磁箱体内的所述磁场的强度值。
优选地，所述芯片磁场测试设备还包括信息采集装置，所述信息采集装置包括用于对所述芯片的信息进行扫描存储的条码器和安装支架，所述安装支架设于所述隔磁箱体外部的侧方，所述条码器安装于所述安装支架上并与所述控制柜通讯连接。
优选地，所述产品固定座的侧部与所述隔磁箱体的内侧之间设有供所述产品固定座滑动的直线滑轨，所述隔磁箱体的侧壁开设有一使所述产品固定座滑出所述隔磁箱体以便放取所述芯片的窗口，所述产品固定座的外端设有与所述窗口形状适配以封闭所述窗口的操作门，所述条码器位于所述窗口的上方。
优选地，所述直线滑轨包括导轨和与所述导轨滑动配合的滑块，所述导轨安装于所述产品固定座的侧部，所述导轨固定于所述隔磁箱体的内侧。
优选地，所述操作门上设有便于握持的推拉把手。
优选地，所述芯片磁场测试设备还包括操作显示屏，所述操作显示屏安装于所述隔磁箱体外并与所述控制柜通讯连接。
优选地，所述隔磁箱体固定于所述控制柜的上方，所述操作显示屏固定于所述隔磁箱体的上方。
优选地，所述控制柜内设有与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接的计算机或者PLC控制器。
本实用新型的有益效果：本实用新型的芯片磁场测试设备，工作时，将待测的芯片放置于产品固定座上并使得该芯片处于隔磁箱体内，然后控制柜控制与其通讯连接的磁场发生器工作，磁场发生器在隔磁箱体内产生磁场，从而使芯片处于一个磁场环境下，芯片在磁场环境下产生测试信号，而测试数据反馈装置则接收该测试信号并传输到与其通讯连接的控制柜上，控制柜根据该测试信号形成测试数据，从而得到该芯片在该磁场环境下是否出现不良反应等情况，并自动判断被测试的该芯片是否符合要求，进而判断出该芯片是否为合格的产品。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的结构示意图。
图2为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的另一结构示意图。
图3为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的产品固定座拉出隔磁箱体外时的结构示意图。
图4为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的产品固定座拉出隔磁箱体外时的另一结构示意图。
图5为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的结构分解示意图。
图6为本实用新型实施例提供的芯片磁场测试设备的另一结构分解示意图。
附图标记包括：
10—隔磁箱体 11—窗口 20—产品固定座
21—操作门 22—推拉把手 30—磁场发生器
40—测试数据反馈装置 50—控制柜 60—磁场检测器
70—信息采集装置 71—条码器 72—安装支架
80—直线滑轨 81—导轨 82—滑块
90—操作显示屏 100—芯片。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图1～6描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
如图1至图6所示，本实用新型实施例提供的一种芯片磁场测试设备，包括为待测芯片100提供密封环境的隔磁箱体10和设于所述隔磁箱体10内并用于固定所述芯片100的产品固定座20，所述隔磁箱体10内设有用于产生磁场的磁场发生器30以及接收在所述磁场环境下的所述芯片100反馈的测试信号的测试数据反馈装置40；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器30和所述测试数据反馈装置40通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片100是否合格的控制柜50。具体地，本实用新型实施例的芯片磁场测试设备，工作时，将待测的芯片100放置于产品固定座20上并使得该芯片100处于隔磁箱体10内，然后控制柜50控制与其通讯连接的磁场发生器30工作，磁场发生器30在隔磁箱体10内产生磁场，从而使芯片100处于一个磁场环境下，芯片100在磁场环境下产生测试信号，而测试数据反馈装置40则接收该测试信号并传输到与其通讯连接的控制柜50上，控制柜50根据该测试信号形成测试数据，从而得到该芯片100在该磁场环境下是否出现不良反应等情况，并自动判断被测试的该芯片100是否符合要求，进而判断出该芯片100是否为合格的产品。
其中，隔磁箱体10的作用可以为芯片100提供一个密封的环境，确保磁场发生器30产生的磁场局限在隔磁箱体10内，进而能够确保芯片100在测试过程中始终处于磁场环境下，确保测试试验的可靠性。
本实施例中，所述测试数据反馈装置40包括用于将所述测试信号转换为电信号的解码板(图未示)，所述解码板设于所述隔磁箱体10内并与所述控制柜50通讯连接。具体地，解码板的作用是实现将作为模拟信号的测试信号转变为控制柜50能够识别的作为数字信号的电信号，以便控制柜50实现检测芯片100在该磁场下是否合格。
本实施例中，结合图5～6所示，所述芯片磁场测试设备还包括设于所述隔磁箱体10内的磁场检测器60，所述磁场检测器60与所述控制柜50通讯连接以用于检测所述隔磁箱体10内的所述磁场的强度值。具体地，磁场检测器60可以检测磁场发生器30产生在隔磁箱体10内的磁场的强度值，从而判断该强度值是否符合设定的要求，如若不符合则需要调节磁场发生器30以便提供较弱的磁场或者更强的磁场。
具体地，对芯片100进行磁场测试往往是批量性的进行，而且批量性的芯片100中存在需要在不同磁场强度值下进行测试的要求，为了能够在完成对每一个芯片100的磁场测试后，清晰至分辨出每一个芯片100具体是属于什么型号以及对应的测试结果，在本实施例中，通过设置信息采集装置70来达到上述目的。其中，所述信息采集装置70包括用于对所述芯片100的信息进行扫描存储的条码器71和安装支架72，结合图1～6所示，所述安装支架72设于所述隔磁箱体10外部的侧方，所述条码器71安装于所述安装支架72上并与所述控制柜50通讯连接。即，将芯片100放置于产品固定座20前，先通过条码器71对该芯片100进行扫描，通过条码器71的扫描在控制柜50上形成该芯片100的编码，那么，后续得到该芯片100的频率响应测试数据时，与先前保存的编码一并保存，从而可以方便工作人清晰的分辨出不同编码的芯片100的测试数据的结果。当然，每个芯片100本身具有相应的条码或者二维码记录有相关的信息，并供条码器71进行扫描；安装支架72起到支撑安装条码器71的作用的同时，因为设置在靠近窗口11的位置，也更加方便将完成扫描的芯片100放置到产品固定座20上。
本实施例中，结合图3～6所示，所述产品固定座20的侧部与所述隔磁箱体10的内侧之间设有供所述产品固定座20滑动的直线滑轨80，所述隔磁箱体10的侧壁开设有一使所述产品固定座20滑出所述隔磁箱体10以便放取所述芯片100的窗口11，所述产品固定座20的外端设有与所述窗口11形状适配以封闭所述窗口11的操作门21，所述条码器71位于所述窗口11的上方。具体地，通过直线滑轨80的设置使得产品固定座20可以相对于隔磁箱体10滑动，可以方便工作人员推拉该产品固定座20，当工作人员需要将芯片100放置固定于产品固定座20上时，拉动产品固定座20沿着直线滑轨80滑出窗口11外，然后将完成扫描的芯片100放置固定于该产品固定座20上，接着推动产品固定座20，使得该产品固定座20沿着直线滑轨80从窗口11滑入隔磁箱体10内，这样操作放置固定芯片100时非常快捷方便。而且将条码器71固定在窗口11的上方是便于完成对芯片100扫码后即可将芯片100送入隔磁箱体10内，动作连贯，生产效率高。
本实施例中，结合图5～6所示，所述直线滑轨80包括导轨81和与所述导轨81滑动配合的滑块82，所述导轨81安装于所述产品固定座20的侧部，所述导轨81固定于所述隔磁箱体10的内侧。具体地，滑块82与导轨81配合形成直线滑轨80，通过滑块82在导轨81上滑动即可使得分别固定于滑块82和导轨81的产品固定座20和隔磁箱体10之间实现相对运动，且滑块82与导轨81配合不但稳定且滑动顺畅，使用效果极佳。
本实施例中，结合图1～6所示，所述操作门21上设有便于握持的推拉把手22。具体地，工作人员可以通过握持操作门21上的推拉把手22来推动产品固定座20，这样，可以方便控制产品固定座20通过窗口11进出隔磁箱体10。
本实施例中，结合图1～6所示，所述芯片磁场测试设备还包括操作显示屏90，所述操作显示屏90安装于所述隔磁箱体10外并与所述控制柜50通讯连接。具体地，操作显示屏90的作用的将控制柜50上形成的芯片100的测试数据显出出来，这样方便工作人员实时观察出该芯片100的测试信息。当然，工作员人还可以在操作显示屏90上进行相关测试实验过程中相关功能的操作。
本实施例中，结合图1～4所示，所述隔磁箱体10固定于所述控制柜50的上方，所述操作显示屏90固定于所述隔磁箱体10的上方。具体地，隔磁箱体10在较高的位置，与站着的工作人员的双手抬起高度接近，如此可以便于将芯片100放置固定在产品固定座20上。而操作显示屏90在隔磁箱体10的上方在站着的工作人员的双眼的视线范围内，如此方便工作人员观察以便实时判断芯片100的磁场测试效果。
本实施例中，所述控制柜50内设有与所述磁场发生器30和所述测试数据反馈装置40通讯连接的计算机或者PLC控制器。具体地，根据实际情况可以选择使用具有计算机或者PLC控制器的控制柜50，如此可以使得产品多样化，符合市场的需求。
综上所述可知本实用新型乃具有以上所述的优良特性，得以令其在使用上，增进以往技术中所未有的效能而具有实用性，成为一极具实用价值的产品。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的思想和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种芯片磁场测试设备，其特征在于：包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座，所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。
2.根据权利要求1所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述测试数据反馈装置包括用于将所述测试信号转换为电信号的解码板，所述解码板设于所述隔磁箱体内并与所述控制柜通讯连接。
3.根据权利要求1所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述芯片磁场测试设备还包括设于所述隔磁箱体内的磁场检测器，所述磁场检测器与所述控制柜通讯连接以用于检测所述隔磁箱体内的所述磁场的强度值。
4.根据权利要求1所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述芯片磁场测试设备还包括信息采集装置，所述信息采集装置包括用于对所述芯片的信息进行扫描存储的条码器和安装支架，所述安装支架设于所述隔磁箱体外部的侧方，所述条码器安装于所述安装支架上并与所述控制柜通讯连接。
5.根据权利要求4所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述产品固定座的侧部与所述隔磁箱体的内侧之间设有供所述产品固定座滑动的直线滑轨，所述隔磁箱体的侧壁开设有一使所述产品固定座滑出所述隔磁箱体以便放取所述芯片的窗口，所述产品固定座的外端设有与所述窗口形状适配以封闭所述窗口的操作门，所述条码器位于所述窗口的上方。
6.根据权利要求5所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述直线滑轨包括导轨和与所述导轨滑动配合的滑块，所述导轨安装于所述产品固定座的侧部，所述导轨固定于所述隔磁箱体的内侧。
7.根据权利要求5所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述操作门上设有便于握持的推拉把手。
8.根据权利要求1～7任一项所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述芯片磁场测试设备还包括操作显示屏，所述操作显示屏安装于所述隔磁箱体外并与所述控制柜通讯连接。
9.根据权利要求8所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述隔磁箱体固定于所述控制柜的上方，所述操作显示屏固定于所述隔磁箱体的上方。
10.根据权利要求1～7任一项所述的芯片磁场测试设备，其特征在于：所述控制柜内设有与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接的计算机或者PLC控制器。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720217049.1U CN206696347U (zh) | 2017-03-07 | 2017-03-07 | 芯片磁场测试设备 |
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| CN201720217049.1U CN206696347U (zh) | 2017-03-07 | 2017-03-07 | 芯片磁场测试设备 |
Publications (1)
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| CN206696347U true CN206696347U (zh) | 2017-12-01 |
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| CN (1) | CN206696347U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116047382A (zh) * | 2023-03-23 | 2023-05-02 | 浙江工业大学 | 一种冷原子芯片磁场信号检测装置及检测方法 |
| CN116699373A (zh) * | 2023-08-08 | 2023-09-05 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 芯片外部恒定磁场抗扰度检测装置及芯片 |
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2017
- 2017-03-07 CN CN201720217049.1U patent/CN206696347U/zh active Active
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| CN116699373A (zh) * | 2023-08-08 | 2023-09-05 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 芯片外部恒定磁场抗扰度检测装置及芯片 |
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