CN206684232U - 多量程电容测量电路及装置 - Google Patents

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CN206684232U CN201720299214.2U CN201720299214U CN206684232U CN 206684232 U CN206684232 U CN 206684232U CN 201720299214 U CN201720299214 U CN 201720299214U CN 206684232 U CN206684232 U CN 206684232U
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张升义
彭祺
屠礼芬
李卫中
肖永军
方天红
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Abstract

本实用新型涉及一种多量程电容测量电路及装置。该多量程电容测量电路包括方波产生电路、波形整形电路、单片机最小系统及显示器。方波产生电路包括NE555芯片、电阻网络和参考电容。电阻网络包括多个阻值不同的电阻及与多个电阻一一连接的多个开关,多个电阻并联。待测电容的一端与NE555芯片的2引脚和6引脚连接、另一端接地。电阻网络的一端与NE555芯片的2引脚和6引脚连接、另一端与电源连接。NE555芯片的3引脚与波形整形电路连接。该多量程电容测量电路及装置通过闭合不同的开关,改变电阻网络接入的电阻,从而调整多量程电容测量电路的量程,电路简单,操作简便,测量范围可调,满足实际应用需要。

Description

多量程电容测量电路及装置
技术领域
本实用新型涉及电容测量技术领域,具体而言,涉及一种多量程电容测量电路及装置。
背景技术
随着超精密制造及精密仪器和现代工业信息技术的发展,通过电容的测量以获取极板电容器的其它物理属性,在化工、农业、材料、机械、过程控制以及管道检测等领域有着广泛的应用。现有的电容测量方法,一般针对较小范围内的电容测量是十分有效的,但是当待测电容不处于测量范围内之时,会产生较大的测量误差,甚至测量仪器无法给出测量值,难易满足测量需求。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种多量程电容测量电路及装置,以解决上述问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种多量程电容测量电路,包括方波产生电路、波形整形电路、单片机最小系统及显示器,所述方波产生电路包括NE555芯片、电阻网络和参考电容,所述单片机最小系统包括电性连接的单片机、时钟电路、复位电路和扩展按键,所述电阻网络包括多个阻值不同的电阻及与多个所述电阻一一连接的多个开关,多个所述电阻并联;
待测电容的一端与所述NE555芯片的2引脚和6引脚连接、另一端接地,所述电阻网络的一端与所述NE555芯片的2引脚和6引脚连接、另一端与电源连接,所述参考电容的一端与所述NE555芯片的5引脚连接、另一端接地,所述NE555芯片的8引脚和4引脚与所述电源连接,所述NE555芯片的3引脚与所述波形整形电路连接,所述单片机最小系统与所述波形整形电路和所述显示器分别连接;
通过闭合不同的开关,改变所述电阻网络接入的电阻,从而调整所述多量程电容测量电路的量程。
可选地,所述方波产生电路的输出频率范围为500Hz到50KHz之间。
可选地,所述电阻有八个,分别为第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻和第八电阻;
所述开关有八个,分别为第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关、第七开关和第八开关;
八个所述开关与八个所述电阻一一对应连接。
可选地,所述第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第六电阻的阻值分别14Ω、140Ω、1.4KΩ、14KΩ、140KΩ和1.4MΩ。
可选地,所述波形整形电路包括六路施密特触发反向器74LS14。
可选地,所述单片机采用LQFP-44封装的STC12C5A60S2。
可选地,所述显示器为NOKIA5110显示屏。
一种多量程电容测量装置,所述多量程电容测量装置包括封装外壳、PCB板和上述的多量程电容测量电路,所述封装外壳是由顶面、底面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面围合而成的立方体结构,所述方波产生电路、波形整形电路、单片机最小系统通过PCB板连接并设置在所述封装外壳内,所述显示器和扩展按键设置于所述顶面;
所述顶面上还设置有多个开关按钮,所述开关按钮与所述开关的个数相同且一一对应,以通过所述开关按钮控制所述开关断开或闭合;
所述第三侧面上设置有第一引脚和第二引脚,所述第一引脚与所述NE555芯片的2引脚和6引脚分别连接,所述第二引脚接地,所述待测电容通过所述第一引脚和第二引脚连接在所述NE555芯片的2引脚和6引脚与地之间。
可选地,所述第二侧面开设有多个第一散热孔,所述第四侧面开设有多个第二散热孔,所述多个第二散热孔与所述多个第一散热孔相对设置,所述第一侧面设置有充电接头。
可选地,所述底面设置有多个第三散热孔、多个第四散热孔和多个减震橡胶垫,所述多个第三散热孔沿所述第二侧面和底面的公共边的延伸方向设置,所述多个第四散热孔沿所述第四侧面和底面的公共边的延伸方向设置,所述多个减震橡胶垫沿所述第一侧面和底面的公共边以及所述第三侧面和底面的公共边的延伸方向设置。
本实用新型提供的多量程电容测量电路及装置,通过闭合不同的开关,改变所述电阻网络接入的电阻,调整所述多量程电容测量电路的量程,以测量不同电容值的待测电容。方波信号从NE555芯片的3脚输出,经波形整形电路进行波形整形后,送至单片机。由单片机对整形后的方波信号的上升沿捕获定时计数,并根据计数时间间隔和计数值计算方波脉冲的频率。最后,根据公式即可计算出待测电容的电容值,并发送至显示器进行显示。该多量程电容测量电路及装置,电路简单,操作简便,测量范围可调,满足实际的应用需要。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解,以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本实用新型实施例提供的一种多量程电容测量电路的方框示意图。
图2为图1中方波产生电路的电路连接图。
图3为图1中单片机最小系统的方框示意图。
图4为本实用新型实施例提供的一种多量程电容测量装置的结构示意图。
图5为本实用新型实施例提供的一种多量程电容测量装置的另一视角的结构示意图。
图标:10-方波产生电路;30-波形整形电路;50-单片机最小系统;70-显示器;11-NE555芯片;12-电阻网络;C1-参考电容;Cx-待测电容;R1-第一电阻;R2-第二电阻;R3-第三电阻;R4-第四电阻;R5-第五电阻;R6-第六电阻;R7-第七电阻;R8-第八电阻;S0-第一开关;S1-第二开关;S2-第三开关;S3-第四开关;S4-第五开关;S5-第六开关;S6-第七开关;S7-第八开关;51-单片机;52-时钟电路;53-复位电路;54-扩展按键;VCC-电源;200-封装外壳;201-顶面;203-底面;205-第一侧面;207-第二侧面;209-第三侧面;211-第四侧面;2011-开关按钮;2091-第一引脚;2093-第二引脚;2071-第一散热孔;2111-第二散热孔;2051-充电接头;2031-第三散热孔;2033-第四散热孔;2035-减震橡胶垫。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围,而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本实用新型的描述中,术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等仅用于区分描述,而不能理解为只是或暗示相对重要性。
请参阅图1,本实用新型实施例提供一种多量程电容测量电路,方波产生电路10、波形整形电路30、单片机最小系统50及显示器70。
请参阅图2,所述方波产生电路10包括NE555芯片11、电阻网络12和参考电容C1。所述电阻网络12包括多个阻值不同的电阻及与所述多个电阻一一连接的多个开关。
待测电容Cx的一端与所述NE555芯片11的2引脚和6引脚连接、另一端接地。所述电阻网络12的一端与所述NE555芯片11的2引脚和6引脚连接、另一端与电源VCC连接。所述参考电容C1的一端与所述NE555芯片11的5引脚连接、另一端接地。所述NE555芯片11的8引脚和4引脚与所述电源VCC连接。所述NE555芯片11的3引脚与所述波形整形电路30连接。
所述方波产生电路10产生的方波信号的频率与待测电容Cx的电容值相关,其满足以下运算关系。
式中,f表示方波产生电路10产生的方波信号的频率,R表示电阻网络12接入的电阻的阻值,CX表示待测电容Cx的电容值。
因此,选定电阻网络12接入的电阻的阻值,则可以根据方波产生电路10产生的方波信号的频率,计算出待测电容Cx的电容值。同时,若方波产生电路10产生的方波信号的频率的范围固定,则可以通过闭合不同的开关,改变所述电阻网络12接入的电阻,调整所述多量程电容测量电路的量程,以测量不同电容值的待测电容Cx。
可选地,所述电阻有八个,分别为第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7和第八电阻R8。所述开关有八个,分别为第一开关S0、第二开关S1、第三开关S2、第四开关S3、第五开关S4、第六开关S5、第七开关S6和第八开关S7。八个所述开关与八个所述电阻一一对应连接。
可选地,第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7和第八电阻R8可采用0805封装的精密贴片电阻。实际使用时,第一电阻R1至第八电阻R8的阻值可以采用市场上五位半万用表进行实测,并将该测试值输入到单片机51中进行内部计算。第一开关S0、第二开关S1、第三开关S2、第四开关S3、第五开关S4、第六开关S5、第七开关S6和第八开关S7可以手动控制,也可以采用CD4051控制。CD4051由三个引脚ABC组成一定的逻辑值可控制不同的开关输出,例如:当ABC=000时,则第一开关S0闭合,第二开关S1至第八开关S7断开,则第一电阻R1接入到电路中。ABC的电平值可由单片机51控制器通过IO引脚进行控制。
所述波形整形电路30用于对NE555芯片11输出的波形进行整形,其输出端与单片机最小系统50连接。可选地,所述波形整形电路30包括六路施密特触发反向器74LS14。由于不同的电容值可能会导致NE555芯片11产生的方波信号失真,因而需要波形整形电路30对方波产生电路10输出的波形进行整形。所述波形整形电路30最高工作频率可达50GHz,可满足本系统波形整形的需求。
所述单片机最小系统50与所述波形整形电路30和所述显示器70分别连接。请参阅图3,所述单片机最小系统50包括电性连接的单片机51、时钟电路52、复位电路53和扩展按键54,用于实现整个电容测量过程的控制、数组采集、运算和显示。
可选地,所述单片机51为STC51单片机51。所述单片机51采用LQFP-44封装STC12C5A60S2。STC12C5A60S2采用增强型8051内核,36个普通IO口,2路16位的PCA模块,转速速度可达250K/S以及一些其它的标准外设等,完全可以满足本系统需求。
可选地,所述扩展按键54采用标准4×4键盘,用于人机交互时的输入按键。
可选地,所述显示器70为NOKIA5110显示屏。NOKIA5110显示屏仅需四根IO线即可驱动,显示速度是一般LCD12864或LCD1602的几十倍。采用NOKIA5110显示屏以代替常规的LCD1602,其具有性价比高、接口简单,速度快、工作电压低,功耗低等特点,该模块用于数据的显示以及人机交互时的输出显示。
在进行电容测量时,预估待测电容Cx的电容值,闭合不同的开关,改变所述电阻网络12接入的电阻,调整所述多量程电容测量电路的量程,将待测电容Cx接入方波产生电路10进行测量。方波信号从NE555芯片11的3脚输出,经波形整形电路30进行波形整形后,送至单片机51的PCA外设引脚。在本实施例中,使用CCP0,即P1.3引脚。由单片机51对整形后的方波信号的上升沿捕获定时计数,并根据计数时间间隔和计数值计算方波脉冲的频率。最后,根据公式即可计算出待测电容Cx的电容值,并发送至显示器70进行显示。当待测电容Cx的电容值不能预估时,所述电阻网络12可以选择从阻值较小的电阻开始接入,依次选择阻值更大的电阻直到能够较准确地测量待测电容Cx的电容值。
实际测量时,需要对单片机51做如下设置:通过选择单片机51的内部寄存器位CPS2:CPS0=100B,可以选择PCA外设的时钟源为内部时钟,即SYSclk。通过设置CAPP0位,设置PCA0为上升沿捕获。为保证一定的计算精度,要求NE555芯片11输出方波的频率不可太大,也不可太小。考虑到单片机51内部是针对输出脉冲做定时计数,而计数频率一般设置为SYSclk。一般单片机51控制晶振为12MHz,则SYSclk=12MHz。前者会导致一个脉冲周期内,PCA外设计数数值过小,从而造成针对NE555芯片11的输出脉冲频率计算误差增大。PCA最大计数值为216,即65536。后者会造成一个脉冲周期内,PCA外设计数数值过大,可能导致PCA计数溢出。市场上购置的电阻精度一般约为1%,因此,只需要保证电容容量计算精度为1%即可。因此,为保证不溢出,而又有一定的计算精度,要求NE555芯片11输出的方波频率应大于12×106÷65536=183.6Hz,而小于12×106×1%=120KHz。为保持一定的裕量,NE555芯片11输出的方波频率在500Hz到50KHz之间。
可选地,在本实施例中,所述第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5和第六电阻R6的阻值分别14Ω、140Ω、1.4KΩ、14KΩ、140KΩ和1.4MΩ。根据公式以及NE555芯片11输出的方波频率的范围,则可计算:
当所述电阻网络12接入第一电阻R1时,R=14Ω,所述多量程电容测量电路的量程可以为1.03-103.0uF;
当所述电阻网络12接入第二电阻R2时,R=140Ω,所述多量程电容测量电路的量程可以为0.103-10.3uF;
当所述电阻网络12接入第三电阻R3,R=1.4KΩ,所述多量程电容测量电路的量程为0.0103-1.03uF;
当所述电阻网络12接入第四电阻R4时,R=14KΩ,所述多量程电容测量电路的量程为0.00103-0.103uF;
当所述电阻网络12接入第五电阻R5时,R=140KΩ,所述多量程电容测量电路的量程为0.000103-0.0103uF;
当所述电阻网络12接入第六电阻R6时,R=1.4MΩ,所述多量程电容测量电路的量程为0.0000103-0.00103uF。
因此,当所述第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5和第六电阻R6的阻值分别14Ω、140Ω、1.4KΩ、14KΩ、140KΩ和1.4MΩ时,所述多量程电容测量电路的量程为10pF到100uF。
考虑到量程之间有重叠因素,并保持一定的精度,可针对不同容值的待测电容Cx做如下选择:
当10uF<Cx<100uF时,可考虑选择接入第一电阻R1;
当1uF<Cx<10uF时,可考虑选择接入第二电阻R2;
当0.1uF<Cx<1uF时,可考虑选择接入第三电阻R3;
当0.01uF<Cx<0.1uF时,可考虑选择接入第四电阻R4;
当0.001uF<Cx<0.01uF时,可考虑选择接入第五电阻R5;
当Cx<0.001uF时,可考虑选择接入第六电阻R6。
第七电阻R7和第八电阻R8阻值待定,可用于量程扩展。
应理解,所述第一电阻R1可以是一个电阻也可以是多个电阻串联或并联而成。同理,第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7和第八电阻R8也可以是一个电阻也可以是多个电阻串联或并联而成。
请参阅图4和图5,本实用新型实施例还提供一种多量程电容测量装置,所述多量程电容测量装置包括封装外壳200、PCB板和上述的多量程电容测量电路。
所述封装外壳200是由顶面201、底面203、第一侧面205、第二侧面207、第三侧面209和第四侧面211围合而成的立方体结构。所述方波产生电路10、波形整形电路30、单片机最小系统50通过PCB板连接并设置在所述封装外壳200内,所述显示器70和扩展按键54设置于所述顶面201。
所述顶面201上还设置有多个开关按钮2011,所述开关按钮2011与所述开关的个数相同且一一对应,以通过所述开关按钮2011手动控制所述开关断开或闭合。
所述第三侧面209上设置有第一引脚2091和第二引脚2093。所述第一引脚2091与所述NE555芯片11的2引脚和6引脚分别连接,所述第二引脚2093接地。在进行电容测量时,所述待测电容Cx通过所述第一引脚2091和第二引脚2093连接在所述NE555芯片11的2引脚和6引脚与地之间。
可选地,所述第二侧面207开设有多个第一散热孔2071,所述第四侧面211开设有多个第二散热孔2111,所述多个第二散热孔2111与所述多个第一散热孔2071相对设置。所述第一侧面205设置有所述充电接头2051,用于为电容测量装置充电或供电。
可选地,所述底面203设置有多个第三散热孔2031、多个第四散热孔2033和多个减震橡胶垫2035。所述多个第三散热孔2031沿所述第二侧面207和底面203的公共边的延伸方向设置。所述多个第四散热孔2033沿所述第四侧面211和底面203的公共边的延伸方向设置。所述第三散热孔2031和第四散热孔2033分别与所述第一散热孔2071和第二散热孔2111形成对流,以加强散热。所述多个减震橡胶垫2035沿所述第一侧面205和底面203的公共边以及所述第三侧面209和底面203的公共边的延伸方向设置。采用减震橡胶垫2035起缓冲、减震的作用,可以避免封装外壳200内的电容测量电路因撞击而损坏。并且,在充电时,该减震橡胶垫2035能将电容测量装置的底面203与桌面隔开,加强通风和散热。
本实用新型提供的多量程电容测量电路,通过闭合不同的开关,改变所述电阻网络12接入的电阻,调整所述多量程电容测量电路的量程,以测量不同电容值的待测电容Cx。方波信号从NE555芯片11的3脚输出,经波形整形电路30进行波形整形后,送至单片机51。由单片机51对整形后的方波信号的上升沿捕获定时计数,并根据计数时间间隔和计数值计算方波脉冲的频率。最后,根据公式即可计算出待测电容Cx的电容值,并发送至显示器70进行显示。该多量程电容测量电路,电路简单,操作简便,测量范围可调,满足实际的应用需要。
本实用新型提供的多量程电容测量装置,包括上述多量程电容测量电路,因而具有与该多量程电容测量电路类似的有益效果。并且,该多量程电容测量装置通过封装外壳200巧妙地将所述多量程电容测量电路集成,使得该多量程电容测量装置便于使用且散热效果好。
在本实用新型的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接。可以是机械连接,也可以是电性连接。可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种多量程电容测量电路,其特征在于,包括方波产生电路(10)、波形整形电路(30)、单片机最小系统(50)及显示器(70),所述方波产生电路(10)包括NE555芯片(11)、电阻网络(12)和参考电容(C1),所述单片机最小系统(50)包括电性连接的单片机(51)、时钟电路(52)、复位电路(53)和扩展按键(54),所述电阻网络(12)包括多个阻值不同的电阻及与多个所述电阻一一连接的多个开关,多个所述电阻并联;
待测电容(Cx)的一端与所述NE555芯片(11)的2引脚和6引脚连接、另一端接地,所述电阻网络(12)的一端与所述NE555芯片(11)的2引脚和6引脚连接、另一端与电源(VCC)连接,所述参考电容(C1)的一端与所述NE555芯片(11)的5引脚连接、另一端接地,所述NE555芯片(11)的8引脚和4引脚与所述电源(VCC)连接,所述NE555芯片(11)的3引脚与所述波形整形电路(30)连接,所述单片机最小系统(50)与所述波形整形电路(30)和所述显示器(70)分别连接;
通过闭合不同的开关,改变所述电阻网络(12)接入的电阻,从而调整所述多量程电容测量电路的量程。
2.根据权利要求1所述的多量程电容测量电路,其特征在于,所述方波产生电路(10)的输出频率范围为500Hz到50KHz之间。
3.根据权利要求2所述的多量程电容测量电路,其特征在于,所述电阻有八个,分别为第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第六电阻(R6)、第七电阻(R7)和第八电阻(R8);
所述开关有八个,分别为第一开关(S0)、第二开关(S1)、第三开关(S2)、第四开关(S3)、第五开关(S4)、第六开关(S5)、第七开关(S6)和第八开关(S7);
八个所述开关与八个所述电阻一一对应连接。
4.根据权利要求3所述的多量程电容测量电路,其特征在于,所述第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、第五电阻(R5)和第六电阻(R6)的阻值分别14Ω、140Ω、1.4KΩ、14KΩ、140KΩ和1.4MΩ。
5.根据权利要求1所述的多量程电容测量电路,其特征在于,所述波形整形电路(30)包括六路施密特触发反向器74LS14。
6.根据权利要求1所述的多量程电容测量电路,其特征在于,所述单片机(51)采用LQFP-44封装的STC12C5A60S2。
7.根据权利要求1所述的多量程电容测量电路,其特征在于,所述显示器(70)为NOKIA5110显示屏。
8.一种多量程电容测量装置,其特征在于,所述多量程电容测量装置包括封装外壳(200)、PCB板和权利要求1-7任意一项所述的多量程电容测量电路,所述封装外壳(200)是由顶面(201)、底面(203)、第一侧面(205)、第二侧面(207)、第三侧面(209)和第四侧面(211)围合而成的立方体结构,所述方波产生电路(10)、波形整形电路(30)、单片机最小系统(50)通过PCB板连接并设置在所述封装外壳(200)内,所述显示器(70)和扩展按键(54)设置于所述顶面(201);
所述顶面(201)上还设置有多个开关按钮(2011),所述开关按钮(2011)与所述开关的个数相同且一一对应,以通过所述开关按钮(2011)控制所述开关断开或闭合;
所述第三侧面(209)上设置有第一引脚(2091)和第二引脚(2093),所述第一引脚(2091)与所述NE555芯片(11)的2引脚和6引脚分别连接,所述第二引脚(2093)接地,所述待测电容(Cx)通过所述第一引脚(2091)和第二引脚(2093)连接在所述NE555芯片(11)的2引脚和6引脚与地之间。
9.根据权利要求8所述的多量程电容测量装置,其特征在于所述第二侧面(207)开设有多个第一散热孔(2071),所述第四侧面(211)开设有多个第二散热孔(2111),所述多个第二散热孔(2111)与所述多个第一散热孔(2071)相对设置,所述第一侧面(205)设置有充电接头(2051)。
10.根据权利要求9所述的多量程电容测量装置,其特征在于,所述底面(203)设置有多个第三散热孔(2031)、多个第四散热孔(2033)和多个减震橡胶垫(2035),所述多个第三散热孔(2031)沿所述第二侧面(207)和底面(203)的公共边的延伸方向设置,所述多个第四散热孔(2033)沿所述第四侧面(211)和底面(203)的公共边的延伸方向设置,所述多个减震橡胶垫(2035)沿所述第一侧面(205)和底面(203)的公共边以及所述第三侧面(209)和底面(203)的公共边的延伸方向设置。
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WO2021149175A1 (ja) * 2020-01-22 2021-07-29 株式会社Fuji 電気的特性値取得装置

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