CN206479145U - 一种工件形貌的测量系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种工件形貌的测量系统，包括：基座，数据处理装置，以及至少一个激光测距仪；基座上设置有置物台，置物台用于放置待测工件；激光测距仪与数据处理装置电连接；激光测距仪能够对置物台上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置；数据处理装置对所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。本方案将对于待测工件的表面形貌的测量细化为对于待测工件的表面上的各个点的距离信息的测量，解决了对于待测工件整体进行测量难度大的问题，且用于进行距离信息的测量的激光测距仪具有测量精度高的特点，有助于得到较为准确的工件表面形貌的测量结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及高精度测量技术领域，尤其涉及一种工件形貌的测量系统。
背景技术
现有技术中，通常利用投影成像的技术来实现工件形貌的测量，投影成像又称为投影法，投影法是借助光只能延直线传播这个原理，设计出的对于物体外轮廓进行成像的测量方法，单纯的投影法(不使用任何数值处理过程)的成像精度在11μm以上，从理论上来说，投影法无法实现11μm以下的成像。也就是说，基于现有技术无法实现对常规尺寸的工件的表面形貌的测量，无法满足现有工业生产中对于工件形貌的检测测量需求。
实用新型内容
鉴于上述问题，本实用新型提供了一种工件形貌的测量系统，以解决上述问题或者至少部分地解决上述问题。
本实用新型提供了一种工件形貌的测量系统，包括：基座，数据处理装置，以及至少一个激光测距仪；
基座上设置有置物台，置物台用于放置待测工件；激光测距仪与数据处理装置电连接；
激光测距仪能够对置物台上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置；
数据处理装置对待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。
可选地，基座上还设置有至少一个运动平台；
每个运动平台包括旋转台和平移台；
每个激光测距仪安装于一个运动平台上，运动平台的转动和/或平动能够带动激光测距仪转动和/或平动；
测量状态下，激光测距仪通过运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件进行扫描。
可选地，当该系统包括多个激光测距仪时，
多个激光测距仪分别安装在不同的运动平台上，不同运动平台相互独立；
测量状态下，各激光测距仪能够通过各运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件的不同表面同时进行扫描。
可选地，该系统进一步包括：图像传感器和图像处理器；
图像传感器与图像处理器电连接；图像处理器与激光测距仪所在的运动平台电连接；
测量状态下，图像传感器能够在激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前，对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器；
图像处理器对待测工件的表面的二维图像进行处理，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪所在的运动平台；
运动平台根据接收到的扫描逻辑进行转动和/或平动。
可选地，图像传感器安装于基座本体上，或者，图像传感器安装于基座上的运动平台上；
当图像传感器安装于基座本体上时，置物台包括旋转台和平移台，能够相对于图像传感器转动和/或平动；
当图像传感器安装于基座上的运动平台上时，运动平台的转动和/或平动能够带动图像传感器转动和/或平动。
可选地，基座上还设置有至少一个运动平台；每个运动平台包括平移台；
置物台包括旋转台和平移台；置物台的转动和/或平动能够带动放置于置物台上的待测工件转动和/或平动；
每个激光测距仪安装于一个运动平台上，运动平台的平动能够带动激光测距仪平动；
测量状态下，通过激光测距仪所在的运动平台的平动，和/或，置物台的转动和/或平动，激光测距仪能够对待测工件进行扫描。
可选地，该系统进一步包括：图像传感器和图像处理器；
图像传感器安装于基座本体上；图像传感器与图像处理器电连接；图像处理器分别与激光测距仪所在的运动平台以及置物台电连接；
测量状态下，图像传感器能够在激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前，对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器；
图像处理器对待测工件的表面的二维图像进行处理，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪所在的运动平台以及置物台，使得运动平台和置物台按照所述扫描逻辑进行相对运动。
可选地，待测工件为电连接器，待测工件的表面为电连接器的连接端面；
图像传感器能够对电连接器的表面进行成像探测，得到电连接器的连接端面的二维图像并发送至图像处理器
图像处理器对电连接器的连接端面的二维图像进行处理，确定该连接端面的外围区域的扫描范围和/或扫描精度、以及该连接端面中的针脚或针孔区域的扫描范围和/或扫描精度。
可选地，每个激光测距仪包括：激光器、图像信号传感器和图像信号处理器；
激光器能够输出激光；
图像信号传感器能够接收激光器输出的激光的反射光，形成相应的图像信号；
图像信号处理器能够对图像传感器输出的图像信号进行处理，获得激光输出平面与激光反射位置之间的距离。
由上述可知，本实用新型提供的技术方案通过激光测距仪对待测工件的表面的扫描测量来实现对于待测工件的表面形貌的重构，具体地，依据激光测距仪测量得到的待测工件的表面上的每个点对应的距离数据可以获知待测工件的表面上的每个点的形貌特征，各个点的形貌特征共同组成了待测工件的表面的形貌特征。本方案将对于待测工件的表面形貌的测量细化为对于待测工件的表面上的各个点的距离信息的测量，解决了对于待测工件整体进行测量难度大的问题，且用于进行距离信息的测量的激光测距仪具有测量精度高的特点，有助于得到较为准确的工件表面形貌的测量结果。
附图说明
图1示出了根据本实用新型一个实施例的一种工件形貌的测量系统的示意图；
图2示出了根据本实用新型另一个实施例的一种工件形貌的测量系统的示意图；
图3示出了根据本实用新型一个实施例的一种工件形貌的测量系统的结构图；
图4A示出了根据本实用新型一个实施例的工件形貌的测量系统在确定待测工件的表面的扫描逻辑时的结构；
图4B示出了根据本实用新型一个实施例的工件形貌的测量系统在对待测工件的表面进行扫描时的结构图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。
图1示出了根据本实用新型一个实施例的一种工件形貌的测量系统的示意图。如图1所示，该工件形貌的测量系统包括：基座100，数据处理装置200，以及至少一个激光测距仪300。
基座100上设置有置物台110，置物台110用于放置待测工件；激光测距仪300与数据处理装置200电连接；激光测距仪300能够对置物台110上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置200；数据处理装置200对待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。
其中，激光测距仪所测量的点的疏密程度取决于激光测距仪的扫描精度，在此不做限制。基准位置可根据测量需要进行标定选取，在同一测量过程中维持不变即可，在此也不做限制。
可见，图1所示的系统通过激光测距仪对待测工件的表面的扫描测量来实现对于待测工件的表面形貌的重构，具体地，依据激光测距仪测量得到的待测工件的表面上的每个点对应的距离数据可以获知待测工件的表面上的每个点的形貌特征，各个点的形貌特征共同组成了待测工件的表面的形貌特征。本方案将对于待测工件的表面形貌的测量细化为对于待测工件的表面上的各个点的距离信息的测量，解决了对于待测工件整体进行测量难度大的问题，且用于进行距离信息的测量的激光测距仪具有测量精度高的特点，有助于得到较为准确的工件表面形貌的测量结果。
在本实用新型的一个实施例中，工件形貌的测量系统的基座100上还设置有至少一个运动平台；每个运动平台包括旋转台和平移台；每个激光测距仪300安装于一个运动平台上，运动平台的转动和/或平动能够带动激光测距仪转动和/或平动；测量状态下，激光测距仪通过运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件进行扫描，运动平台的步进精度决定了激光测距仪300的扫描精度。激光测距仪300包括：激光器、图像信号传感器和图像信号处理器。激光测距仪300的工作原理是：激光器输出的激光照射到待测工件的表面上的一点处，在该点处发生反射，图像信号传感器接收相应的反射光形成相应的图像信号；图像信号处理器能够对图像传感器输出的图像信号进行处理，获得激光输出平面与激光反射位置之间的距离。
基于上述说明，则图1所示的系统中的激光测距仪300对待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据的具体实施过程是：1、控制运动平台的转动和/或平动，使得激光测距仪300输出的激光照射到待测工件的表面上的一点，激光测距仪300测量该点对应的距离数据；再控制运动平台的转动和/或平动，使得激光测距仪300输出的激光照射到待测工件的表面上的另一点，激光测距仪300测量该点对应的距离数据，……，重复此过程直至扫描完待测工件的表面范围。即工件形貌的测量系统通过控制运动平台的转动和/或平动实现激光测距仪对待测工件的表面进行扫描，得到待测工件的表面上各点与激光测距仪300的激光输出平面之间的距离数据。2、根据待测工件的表面上每个点与激光测距仪300的激光输出平面之间的距离数据、以及激光测距仪300所在的运动平台与基准位置的位置关系，得到待测工件的表面上的该点与基准位置的距离数据。具体地，在测量过程中，激光测距仪300所在的运动平台的每个静止间隔对应于激光测距仪300对于待测工件的表面上的一点的测量，则在激光测距仪300所在的运动平台的每个静止间隔，根据激光测距仪300所在的运动平台的当前位置与预先标定的基准位置获知二者之间的位置关系，进一步根据激光测距仪300所在的运动平台与基准位置之间的位置关系以及激光测距仪300在运动平台上的位置，获知激光测距仪300的激光输出平面与基准位置的位置关系；进而在得到待测工件的表面上每个点与激光测距仪300的激光输出平面之间的距离关系后，辅助以激光测距仪300的激光输出平面与基准位置的位置关系即可得到待测工件的表面上的每个点与基准位置之间距离。
在本实用新型的一个实施例中，待测工件的表面上的每个点与基准位置的距离数据包括：该点的坐标数据以及该点与基准位置之间的距离；则图1所示系统中的数据处理装置200所执行的根据待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据，重构出待测工件的表面形貌的过程包括：根据待测工件的表面上各点的坐标数据以及相应的与基准位置之间的距离，得到不同点之间的相对深度；根据待测工件的表面上各点的坐标数据以及相对深度，重构出待测工件的表面上各点的分布以及相应的相对深度，作为待测工件的表面形貌。
进一步地，为了提高工件表面形貌的测量效率，本方案可以采用多个激光测距仪300并行地对待测工件的不同表面进行扫描测量。在本实用新型的一个实施例中，当该系统包括多个激光测距仪300时，多个激光测距仪300分别安装在不同的运动平台上，不同运动平台相互独立；测量状态下，各激光测距仪300能够通过各运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件的不同表面同时进行扫描。例如，待测工件具有a表面和b表面，将两个激光测距仪300分别安装于两个运动平台上，通过一个运动平台的转动和/或平动实现其上的激光测距仪300对a表面的扫描，通过另一个运动平台的转动和/或平动实现其上的激光测距仪300对b表面的扫描，两个运动平台的运动相互独立互不干扰，两个激光测距仪300的测量过程相互独立互不干扰，能够快速有效地完成待测工件的a表面和b表面的重构。在一些实施例中，用于放置待测工件的置物台110也能够转动和/或平动，置物台110的转动和/或平动带动待测工件的转动和/或平动，而待测工件的转动和/或平动可以作为激光测距仪300所在的运动平台的运动的补偿或辅助，实现对待测工件的表面的扫描。
图2示出了根据本实用新型另一个实施例的一种工件形貌的测量系统的示意图。如图2所示，在上文所述的工件形貌的测量系统的基础上，更优选地，在该系统上还进一步配置有图像传感器400和图像处理器500；其工作原理是预先通过对待测工件的表面进行拍照的方式获得待测工件的表面的二维图像，对于二维图像的分析处理可以获知待测工件的表面的粗略的分布信息，进而可以确定适配于该表面的扫描逻辑，激光测距仪300依据该扫描逻辑对待测工件的表面进行扫描，可以有效地提高扫描效率和扫描结果利用率，减少无效扫描，符合测量需求。
具体地，图像传感器400与图像处理器500电连接；图像处理器500与激光测距仪300所在的运动平台电连接；测量状态下，图像传感器400能够在激光测距仪300对待测工件的表面进行扫描之前，对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器500；图像处理器500对所述待测工件的表面的二维图像进行处理，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪300所在的运动平台；运动平台根据接收到的扫描逻辑进行转动和/或平动。
在一个实施例中，图像传感器400安装于基座100本体上，或者，图像传感器400安装于基座100上的运动平台上；当图像传感器400安装于基座100本体上时，置物台110包括旋转台和平移台，能够相对于图像传感器400转动和/或平动；当图像传感器400安装于基座100上的运动平台上时，运动平台的转动和/或平动能够带动图像传感器100转动和/或平动。
则图2所示的工件形貌的测量系统的工作流程包括：
步骤S210，图像传感器400对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器500。
本步骤中，可以采用CCD光电耦合探测器作为图像传感器400。本方案将图像传感器400安装于运动平台上，通过控制运动平台的转动和/或平动带动图像传感器的运动，具体地，控制运动平台的运动使得图像传感器400能够接收到待测工件的表面的散射光，进而能够对待测工件的表面进行成像，得到相应的二维图像。或者，图像传感器400静止不动，待测工件置于运动平台上，通过控制运动平台的转动和/或平动带动待测工件的运动，具体地，控制运动平台的运动将待测工件移动到一定位置使得图像传感器400能够接收到待测工件的表面的散射光，进而能够对待测工件的表面进行成像，得到相应的二维图像。
步骤S220，图像处理器500根据待测工件的表面的二维图像，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑。
本步骤中得到的待测工件的表面对应的扫描逻辑指示了待测工件的表面的扫描范围和/或扫描精度等信息，不同的表面适配于不同的扫描逻辑。
步骤S230，图像处理器500根据待测工件的表面对应的扫描逻辑控制激光测距仪300所在的运动平台的转动和/或平动，实现激光测距仪300对待测工件的表面的扫描，测量得到待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置200。
步骤S240，数据处理装置200根据待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据，重构出待测工件的表面形貌。
在另一个实施例中，基座100上还设置有至少一个运动平台；每个运动平台包括平移台，即运动平台可以平动但不可以转动；置物台110包括旋转台和平移台；置物台110的转动和/或平动能够带动放置于置物台上的待测工件转动和/或平动；每个激光测距仪300安装于一个运动平台上，运动平台的平动能够带动激光测距仪300平动；测量状态下，通过激光测距仪300所在的运动平台的平动，和/或，置物台的转动和/或平动，二者相互配合激光测距仪300能够对待测工件进行扫描。
则在本实施例中，对于图2所示的工件形貌的测量系统来说；图像传感器400安装于基座100本体上；图像传感器400与图像处理器500电连接；图像处理器500分别与激光测距仪300所在的运动平台以及置物台110电连接；测量状态下，图像传感器400能够在激光测距仪300对待测工件的表面进行扫描之前，对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器500；图像处理器500对待测工件的表面的二维图像进行处理，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪300所在的运动平台以及置物台110，使得运动平台和置物台110按照所述扫描逻辑进行相对运动，进而实现激光测距仪300对待测工件的表面的扫描。
例如，待测工件为电连接器，待测工件的表面为电连接器的连接端面，通过电连接器的连接端面所具有的较为特殊的结构来说明图2所示的系统的工作原理。具体地，在利用图像传感器400对电连接器的连接端面进行成像探测得到电连接器的连接端面的二维图像后，图像处理器500根据电连接器的连接端面的二维图像，计算该连接端面的分布范围、该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围、以及该连接端面中的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸和分布密度；根据该连接端面的分布范围、以及该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围，确定该连接端面的外围区域的扫描范围和/或扫描精度；根据该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围、以及以及该连接端面中的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸和分布密度，确定该连接端面中的针脚或针孔区域的扫描范围和/或扫描精度。其中，电连接器的连接端面的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸体现出每个针脚或针孔的位置以及每个针脚或针孔的截面尺寸，如直径，针脚或针孔的分布密度体现出针脚与针脚之间或者针孔与针孔之间的间隔尺寸，在确定针脚或针孔区域的扫描精度时可以确定两种扫描精度，在对每个针脚或针孔的截面上的点进行扫描时，扫描精度小于针脚或针孔的直径，在对针脚与针脚之间或者针孔与针孔之间的间隔进行扫描时，扫描精度小于间隔尺寸即可。
更为具体地，图3示出了根据本实用新型一个实施例的一种工件形貌的测量系统的结构图，如图3所示，该工件形貌的测量系统包括：基座100、两个激光测距仪300、图像传感器400、以及未标示出的数据处理装置和图像处理器，其中数据处理装置分别与激光测距仪300连接，图像处理器与图像传感器400连接，数据处理装置与图像处理器可以是同一个装置也可以是两个不同的装置，在此不做限制。
以图中所示垂直于纸面向里的方向为x轴方向，纸面上的水平向左的方向为y轴方向，纸面上的竖直向上的方向为z轴方向，x轴、y轴和z轴构成右手坐标系。基座100上设置有置物台110，置物台110用于放置待测工件，在本实施例中，置物台110包括：x轴电控平移台111、y轴方向电控平移台112,、以及电控转动台113，测量时待测工件放置于电控转动台113上，置物台110中的x轴电控平移台111和y轴方向电控平移台112用于实现置物台110上的待测工件在基座100的水平面上的运动，置物台110中的电控转动台113用于实现对置物台110上的待测工件的转动，以调整待测工件的摆放角度，以实现360度全场测量。基座100上还设置有z轴电控平移台120，安装于基座100的侧方，用于实现竖直方向的运动。
激光测距仪300固定于z轴电控平移台120上，主要作用是用于测量待测工件的表面形貌特征，为了完整地描述待测工件的表面的全部形貌特征，该工件形貌的测量系统配备了两个激光测距仪300，且两个激光测距仪300在z轴电控平移台120上的放置情况使得两个激光测距仪300的输出激光的出射方向相互垂直，每个激光测距仪300皆独立采集距离数据，互不干扰。
如图3所示，图像传感器400也固定于z轴电控平移台120上，图像传感器400采用CCD光电耦合探测器，其主要作用是对待测工件的表面的二维图像进行成像并记录，后续通过图像处理器的图像识别和分析，以获得适配于最佳的扫描运动方式的扫描逻辑。
以一个具体的例子来说明图3所示的工件形貌的测量系统的工作流程。在本例中，待测工件为电连接器，待测工件的表面为电连接器的连接端面。在进行测量之前，将电连接器放置于电控转动台113上，使得电连接器的连接端面朝上垂直于z轴方向。控制y轴方向电控平移台112带动电连接器向y轴负方向移动，移动至图像传感器400能够对电连接器的连接端面进行成像探测的位置。图像传感器400对电连接器的连接端面进行拍照，得到电连接器的连接端面的二维图像并发送至图像处理器；图像处理器用于根据电连接器的连接端面的二维图像，计算该连接端面的分布范围、该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围、以及该连接端面中的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸和分布密度；根据该连接端面的分布范围、以及该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围，确定该连接端面的外围区域的扫描范围和/或扫描精度；根据该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围、以及以及该连接端面中的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸和分布密度，确定该连接端面中的针脚或针孔区域的扫描范围和/或扫描精度；即确定了连接端面对应的扫描逻辑，图4A示出了根据本实用新型一个实施例的工件形貌的测量系统在确定待测工件的表面的扫描逻辑时的结构，图中虚线框中标示出了y轴方向电控平移台112带动待测工件移动到适于图像传感器400拍照的位置。
在确定电连接器的连接端面对应的扫描逻辑之后，控制y轴方向电控平移台112带动电连接器向y轴正方向移动，将电连接器送入激光测距仪300的扫描测距区域，图4B示出了根据本实用新型一个实施例的工件形貌的测量系统在对待测工件的表面进行扫描时的结构图，图中虚线框中标示出了y轴方向电控平移台112带动待测工件移动到适于激光测距仪300进行扫描测距的位置。此时，依据已确定的扫描逻辑，通过控制x轴方向电控平移台111、y轴方向电控平移台112、电控转动台113、以及z轴方向电控平移台120的平动和转动相结合，实现激光测距仪300对待测工件的表面的详细的扫描。依据此原则，多个电控平移台和电控转动台的联合运动，能够实现对待测工件的五个表面的快速扫描。针对表面结构不同的待测工件，使用不同的扫描逻辑，基于双激光测距仪的扫描机械结果，可以保证扫描的速度与精度，实现多维扫描。在上述例子中，待测工件的表面对应的扫描逻辑也可根据电连接器的连接端面的针脚或针孔的密度和高度/深度来决定，且使用两个激光测距仪300的主要目的在于并行进行多面扫描以及确保系统自身坐标系的正确定，相互正交的激光测距仪300与运动导轨相互配合，可以实现六个自由度的扫描测量，进一步地，也可使用一个或者两个以上的激光测距仪300，在此均不做限制。
其中，图4A与图4B中的各部件与图3所标示的完全一致，仅仅由于置物台110的运动而产生了位置的变化，图4A与图4B旨在用于说明位置的变化情况，因此不再重复标示各部分的数字标识。
在本实用新型的一个实施例中，上述工件形貌的测量系统的机械控制部分与数据采集部分可以由同一个程序控制实现，待测工件的表面形貌的重构过程需要单独的程序控制实现，该系统的扫描精度可以控制在10微米左右或更小。
综上所述，本实用新型提供的技术方案通过激光测距仪对待测工件的表面的扫描测量来实现对于待测工件的表面形貌的重构，具体地，依据激光测距仪测量得到的待测工件的表面上的每个点对应的距离数据可以获知待测工件的表面上的每个点的形貌特征，各个点的形貌特征共同组成了待测工件的表面的形貌特征。本方案将对于待测工件的表面形貌的测量细化为对于待测工件的表面上的各个点的距离信息的测量，解决了对于待测工件整体进行测量难度大的问题，且用于进行距离信息的测量的激光测距仪具有测量精度高的特点，有助于得到较为准确的工件表面形貌的测量结果。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的保护范围。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本实用新型的保护范围内。
Claims (9)
1.一种工件形貌的测量系统，其特征在于，包括：基座，数据处理装置，以及至少一个激光测距仪；
基座上设置有置物台，置物台用于放置待测工件；激光测距仪与数据处理装置电连接；
激光测距仪能够对置物台上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置；
数据处理装置对所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，基座上还设置有至少一个运动平台；
每个运动平台包括旋转台和平移台；
每个激光测距仪安装于一个运动平台上，运动平台的转动和/或平动能够带动激光测距仪转动和/或平动；
测量状态下，激光测距仪通过运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件进行扫描。
3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，当该系统包括多个激光测距仪时，
多个激光测距仪分别安装在不同的运动平台上，不同运动平台相互独立；
测量状态下，各激光测距仪能够通过各运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件的不同表面同时进行扫描。
4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，该系统进一步包括：图像传感器和图像处理器；
图像传感器与图像处理器电连接；图像处理器与激光测距仪所在的运动平台电连接；
测量状态下，图像传感器能够在激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前，对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器；
图像处理器对所述待测工件的表面的二维图像进行处理，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪所在的运动平台；
运动平台根据接收到的扫描逻辑进行转动和/或平动。
5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，图像传感器安装于基座本体上，或者，图像传感器安装于基座上的运动平台上；
当图像传感器安装于基座本体上时，置物台包括旋转台和平移台，能够相对于图像传感器转动和/或平动；
当图像传感器安装于基座上的运动平台上时，运动平台的转动和/或平动能够带动图像传感器转动和/或平动。
6.如权利要求1所述的系统，其特征在于，基座上还设置有至少一个运动平台；每个运动平台包括平移台；
置物台包括旋转台和平移台；置物台的转动和/或平动能够带动放置于置物台上的待测工件转动和/或平动；
每个激光测距仪安装于一个运动平台上，运动平台的平动能够带动激光测距仪平动；
测量状态下，通过激光测距仪所在的运动平台的平动，和/或，置物台的转动和/或平动，激光测距仪能够对待测工件进行扫描。
7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，该系统进一步包括：图像传感器和图像处理器；
图像传感器安装于基座本体上；图像传感器与图像处理器电连接；图像处理器分别与激光测距仪所在的运动平台以及置物台电连接；
测量状态下，图像传感器能够在激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前，对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器；
图像处理器对所述待测工件的表面的二维图像进行处理，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪所在的运动平台以及置物台，使得运动平台和置物台按照所述扫描逻辑进行相对运动。
8.如权利要求5或7所述的系统，其特征在于，待测工件为电连接器，待测工件的表面为电连接器的连接端面；
图像传感器能够对电连接器的表面进行成像探测，得到电连接器的连接端面的二维图像并发送至图像处理器
图像处理器对电连接器的连接端面的二维图像进行处理，确定该连接端面的外围区域的扫描范围和/或扫描精度、以及该连接端面中的针脚或针孔区域的扫描范围和/或扫描精度。
9.如权利要求1所述的系统，其特征在于，每个激光测距仪包括：激光器、图像信号传感器和图像信号处理器；
激光器能够输出激光；
图像信号传感器能够接收激光器输出的激光的反射光，形成相应的图像信号；
图像信号处理器能够对图像传感器输出的图像信号进行处理，获得激光输出平面与激光反射位置之间的距离。
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2017
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