CN206470301U - 一种大电流结构测试针 - Google Patents
一种大电流结构测试针 Download PDFInfo
- Publication number
- CN206470301U CN206470301U CN201621403230.3U CN201621403230U CN206470301U CN 206470301 U CN206470301 U CN 206470301U CN 201621403230 U CN201621403230 U CN 201621403230U CN 206470301 U CN206470301 U CN 206470301U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- spring
- insulator
- high current
- needle
- tail end
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型实施例公开了一种大电流结构测试针,用于解决现有技术中,大电流通过测试针内的弹簧时,容易造成弹簧烧毁的问题。本实用新型实施例包括:针轴、针管、弹簧和绝缘体;所述绝缘体与弹簧均设置于针管内;所述针轴包括测试头部和尾端部;所述尾端部套装在针管内;所述测试头部伸出所述针管的开口端;所述绝缘体设置于所述尾端部与弹簧之间;所述绝缘体的一端与所述尾端部连接,另一端与所述弹簧连接。本实施例中,在针轴与弹簧之间增加绝缘体,杜绝了有大电流通过弹簧的风险。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子测试针技术领域,尤其涉及一种大电流结构测试针。
背景技术
测试针,业内也称探针,用于PCB板测试时又分为弹簧针(专用针)和通用针,弹簧针在使用时,需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具,且一般情况下,一个模具只能测试一种PCB板;通用针在使用时,只需有足够的点数即可,故现在很多厂家都在使用通用针;弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针,PCB板探针主要用于PCB板测试,ICT探针主要用于插件后的在线测试,BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。
目前,现有技术中的测试针一般采用1、绝缘珠加上普通弹簧的组合,但是这个组合的测试针接触阻值稳定性不理想;2、钢珠加上普通弹簧的组合,接触阻值稳定,但有弹簧烧毁的风险;3、钢珠加上绝缘弹簧的组合,接触阻值稳定,但是弹簧的绝缘层容易磨损,大电流通过弹簧时,会有弹簧烧毁的风险。
因此,寻找一种可以通过大电流且弹簧不易烧毁的测试针成为本技术领域人员所研究的重要课题。
实用新型内容
本实用新型实施例公开了一种大电流结构测试针,用于解决现有技术中,大电流通过测试针内的弹簧时,容易造成弹簧烧毁的问题。
本实用新型实施例提供了一种大电流结构测试针,包括:针轴、针管、弹簧和绝缘体;
所述绝缘体与弹簧均设置于针管内;
所述针轴包括测试头部和尾端部;所述尾端部套装在针管内;所述测试头部伸出所述针管的开口端;
所述绝缘体设置于所述尾端部与弹簧之间;
所述绝缘体的一端与所述尾端部连接,另一端与所述弹簧连接。
可选地,还包括连接部,用于连接所述针轴的尾端部与所述绝缘体。
可选地,所述连接部为凹槽结构;
所述凹槽结构设置于所述尾端部,用于卡紧所述绝缘体。
可选地,所述连接部为套管;
所述套管设置于所述尾端部与所述绝缘体之间,用于卡紧所述绝缘体。
可选地,所述套管为金属套管。
可选地,所述针管为黄铜针管。
可选地,所述弹簧为琴钢线弹簧。
可选地,所述针轴为黄铜针轴。
可选地,所述绝缘体为橡胶或塑料。
可选地,所述弹簧表面上镀有一层绝缘层。
从以上技术方案可以看出,本实用新型实施例具有以下优点:
本实用新型实施例提供了一种大电流结构测试针包括:针轴、针管、弹簧和绝缘体;所述绝缘体与弹簧均设置于针管内;所述针轴包括测试头部和尾端部;所述尾端部套装在针管内;所述测试头部伸出所述针管的开口端;所述绝缘体设置在所述尾端部与弹簧之间;所述绝缘体的一端与所述尾端部连接,另一端与所述弹簧连接。本实施例中,在测试针的针轴与弹簧之间设置有绝缘体,杜绝了大电流通过弹簧的风险,增加产品的耐用度,而且使用安全。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本实用新型实施例中提供的一种大电流结构测试针的结构示意图;
图2为本实用新型实施例中提供的一种大电流结构测试针的另一种结构示意图;
图3为本实用新型实施例中提供的一种大电流结构测试针的另一种结构示意图;
图示说明:针轴1;针管2;弹簧3;绝缘体4。
具体实施方式
本实用新型实施例公开了一种大电流结构测试针,用于解决现有技术中,大电流通过测试针内的弹簧时,容易造成弹簧烧毁的问题。
请参阅图1,本实用新型实施例中提供的一种大电流结构测试针的一个实施例包括:
针轴1、针管2、弹簧3和绝缘体4;
绝缘体4与弹簧3均设置于针管内;
针轴1包括测试头部和尾端部;尾端部套装在针管2内;测试头部伸出针管的开口端;
绝缘体4设置于尾端部与弹簧3之间;
绝缘体4的一端与尾端部连接,另一端与弹簧3连接。
本实施例中,在弹簧3之间设置有绝缘体4,防止了电流在弹簧3中流过,杜绝了弹簧3被烧毁的风险。绝缘体4的形状具有多种,例如方体型绝缘体、中空绝缘体、圆珠型绝缘体、圆柱型绝缘体等。
进一步地,还包括连接部,用于连接针轴1的尾端部与绝缘体4。
进一步地,连接部为凹槽结构;
凹槽结构设置于尾端部,用于卡紧绝缘体4;
本实施例中,凹槽结构没有固定的形状,可以为V型槽、U型槽、卡槽等形状。
进一步地,针管2为黄铜针管。
进一步地,弹簧3为琴钢线弹簧。
进一步地,针轴1为黄铜针轴。
进一步地,绝缘体4为橡胶或塑料。
进一步地,弹簧3表面上镀有一层绝缘层。
本实施例中,在弹簧3表面上加多一层绝缘层,更好地防止电流流过弹簧3。通常情况下,弹簧3没有设置有绝缘层,因为镀上一层绝缘层后有可能会使得弹簧3变脆,但是目前很多研发商已经找到弹簧3电镀的临界值,在确保弹簧3的韧性之余,同时也增强弹簧3的绝缘性能。
上述是对本实用新型实施例提供的一种大电流结构测试针的结构进行详细的描述,下面将以另一个实施例对本大电流结构测试针的另一种结构进行详细的描述,请参阅图2,本实用新型实施例提供的一种大电流结构测试针的另一个实施例包括:
针轴1、针管2、弹簧3和绝缘体4;
绝缘体4与弹簧3均设置于针管内;
针轴1包括测试头部和尾端部;尾端部套装在针管2内;测试头部伸出针管的开口端;
绝缘体4设置于尾端部与弹簧3之间;
绝缘体4的一端与尾端部连接,另一端与弹簧3连接。
本实施例中,在弹簧之间设置有绝缘体4,防止了电流在弹簧3中流过,杜绝了弹簧3被烧毁的风险。绝缘体4的形状具有多种,例如方体型绝缘体、中空绝缘体、圆珠型绝缘体、圆柱型绝缘体等。
进一步地,还包括连接部,用于连接针轴1的尾端部与绝缘体4。
进一步地,连接部为套管5;
所述套管5设置于尾端部与所述绝缘体之间,用于卡紧绝缘体4;
本实施例中,该连接部为套管5,与上述实施例的连接部设置在针轴尾端部不同,该套管用于卡紧绝缘体4,而且套管5为金属套管,电流可以流过该套管5。
进一步地,套管5为金属套管。
进一步地,针管2为黄铜针管。
进一步地,弹簧3为琴钢线弹簧。
进一步地,针轴1为黄铜针轴。
进一步地,绝缘体4为橡胶或塑料。
进一步地,弹簧3表面上镀有一层绝缘层。
上述是对本实用新型实施例提供的一种大电流结构测试针的另一种结构进行详细的描述,下面将以另一个实施例对本大电流测试针的另一种结构进行详细的描述,请参阅图3,本实用新型实施例提供的一种大电流测试针的另一个实施例包括:
两个针轴1、针管2、弹簧3和两个绝缘体4;
两个绝缘体4与弹簧3均设置于针管内;
针轴1包括测试头部和尾端部;尾端部套装在针管2内;测试头部伸出针管的其中一个开口端;另一个针轴同样的包括测试头部和尾端部,测试头部伸出针管的另一个开口端;
绝缘体4设置于尾端部与弹簧3之间;
其中一个绝缘体4的一端与尾端部连接,另一端与弹簧3连接;另一个绝缘体4同样一端与尾端部连接,另一端与弹簧连接。
进一步地,还包括两个连接部,用于连接针轴1的尾端部与绝缘体4。
进一步地,连接部为套管5;
所述套管5设置于尾端部与所述绝缘体之间,用于卡紧绝缘体4;
本实施例中,该连接部为套管5,与第一个实施例的连接部设置在针轴尾端部不同,该套管用于卡紧绝缘体4,而且套管5为金属套管,电流可以流过该套管5。
进一步地,套管5为金属套管。
进一步地,针管2为黄铜针管。
进一步地,弹簧3为琴钢线弹簧。
进一步地,针轴1为黄铜针轴。
进一步地,绝缘体4为橡胶或塑料。
进一步地,弹簧3表面上镀有一层绝缘层。
综上所述,为了适合不同的测试情况,该大电流结构可适用于上述实施例所述的双头测试针。
上述是对本实用新型实施例提供的一种大电流结构测试针的另一种结构进行详细的描述,下面将以另一个应用方法对本大电流结构测试针进行详细的描述,本实用新型实施例提供的一种大电流结构测试针的一个应用例包括:
电流或者电压信号通过测试针的传输来测试线路板的开路或者短路,其中大电流结构的测试针的应用方法:
参数测试系统将电流或者电压输入被测器件,然后测量该器件对于输入信号的影响。
信号的传输路径:从测试仪通过电缆束至测试针管,然后通过测试针针轴至待测的焊点,到达被测器件,并最后沿原路返回至测试仪器。
测试针分析:测试针针轴尾端部压缩弹簧,测试时弹簧整体受力,确保压力垂直作用于弹簧,测试时大电流通过针轴,但由于在针轴与弹簧之间设置有绝缘体,使得电流从测试针的套管上直接通过,弹簧上没有电流通过,提高整个测试针的耐用度。
以上对本实用新型所提供的一种大电流结构测试针进行了详细介绍,对于本领域的一般技术人员,依据本实用新型实施例的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (10)
1.一种大电流结构测试针,其特征在于,包括:针轴、针管、弹簧和绝缘体;
所述绝缘体与弹簧均设置于针管内;
所述针轴包括测试头部和尾端部;所述尾端部套装在针管内;所述测试头部伸出所述针管的开口端;
所述绝缘体设置于所述尾端部与弹簧之间;
所述绝缘体的一端与所述尾端部连接,另一端与所述弹簧连接。
2.根据权利要求1所述的大电流结构测试针,其特征在于,还包括连接部,用于连接所述针轴的尾端部与所述绝缘体。
3.根据权利要求2所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述连接部为凹槽结构;
所述凹槽结构设置于所述尾端部,用于卡紧所述绝缘体。
4.根据权利要求2所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述连接部为套管;
所述套管设置于所述尾端部与所述绝缘体之间,用于卡紧所述绝缘体。
5.根据权利要求4所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述套管为金属套管。
6.根据权利要求1所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述针管为黄铜针管。
7.根据权利要求1所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述弹簧为琴钢线弹簧。
8.根据权利要求1所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述针轴为黄铜针轴。
9.根据权利要求1所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述绝缘体为橡胶或塑料。
10.根据权利要求1所述的大电流结构测试针,其特征在于,所述弹簧表面上镀有一层绝缘层。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201621403230.3U CN206470301U (zh) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | 一种大电流结构测试针 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201621403230.3U CN206470301U (zh) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | 一种大电流结构测试针 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN206470301U true CN206470301U (zh) | 2017-09-05 |
Family
ID=59711505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201621403230.3U Active CN206470301U (zh) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | 一种大电流结构测试针 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN206470301U (zh) |
-
2016
- 2016-12-20 CN CN201621403230.3U patent/CN206470301U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20130018939A (ko) | 콘택트 프로브 및 프로브 유닛 | |
US9791473B2 (en) | Test probe, test probe component and test platform | |
CN107942109A (zh) | 一种用于传输高频信号的测试针 | |
KR20070075699A (ko) | 검사용 탐침 장치 | |
ATE554522T1 (de) | Vorrichtung für eine verbindungsstelle zwischen zwei elektrischen hochspannungskabeln mit unterschiedlichen durchmessern | |
KR20170000572A (ko) | 전자 디바이스 테스트용 탐침 장치 | |
CN206470301U (zh) | 一种大电流结构测试针 | |
CN206420918U (zh) | 一种双级压缩测试针 | |
CN201673179U (zh) | Av端口专用测试探针 | |
CN206193056U (zh) | 一种大电流单头单动探针 | |
CN107478972B (zh) | 电缆附件的测试装置及方法 | |
JP3878578B2 (ja) | コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置 | |
CN206420907U (zh) | 一种组合式测试针 | |
TWI582434B (zh) | 探針裝置 | |
CN206479561U (zh) | 一种带螺牙的测试针 | |
CN207730835U (zh) | 一种tds检测器及其封装工艺 | |
CN207096433U (zh) | 一种电能表校验台接线端子及装置 | |
US9880198B2 (en) | High bandwidth signal probe tip | |
CN202333379U (zh) | 微带线或smd线路板微波测试转接头 | |
KR101500609B1 (ko) | 검사장치 | |
CN206420916U (zh) | 一种测试针 | |
CN206420917U (zh) | 一种2合1测试针 | |
CN207662944U (zh) | 一种测试针 | |
CN207457304U (zh) | 一种高频测试探针 | |
US9081036B2 (en) | Adjustable measurement device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |